干涉成像光谱仪

仪器信息网干涉成像光谱仪专题为您提供2024年最新干涉成像光谱仪价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括干涉成像光谱仪参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的干涉成像光谱仪您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合干涉成像光谱仪相关的耗材配件、试剂标物,还有干涉成像光谱仪相关的最新资讯、资料,以及干涉成像光谱仪相关的解决方案。
当前位置: 仪器信息网 > 行业主题 > >

干涉成像光谱仪相关的厂商

  • 联合光科技(北京)有限公司创立于2016年, 由国内多家知名光学企业联手创办, 致力于为用户提供优质激光光学元件、工业成像镜头、进口高精度光学检测系统和快捷、专业的解决方案。我们的产品涵盖了大多数光学领域,包括元件类,机械类,光学检测服务,光学冷加工及镀膜,并提供光学产品的定制服务,在高功率激光和特殊镀膜应用尤为突出。总部位于北京,在深圳和香港设有分公司,在济南、上海设有办事处,并且在长春,锦州,昆明和重庆设有工厂。为了将更好的产品提供给用户,我们在北京建立了先进的检测实验室和较完善的检测体系,并且采用国际知名品牌检测仪器。 主要产品:l 光学元件(标准光学镜片、高功率激光窗口镜片、定制光学元件、偏振元件)l 英国ULO CO2红外光学材料、镜片、光学器件l 光机械部件(压电电控平台,光学防震桌,光学调整架,手动位移台,光机组件,光桥系统)l 全系列高品质工业成像镜头(定焦/远心/线扫/变焦变倍/特殊定制镜头)、照明光源l 光学测量仪器? 德国MarOpto- 轮廓仪、干涉仪(倾斜波干涉仪、斐索干涉仪、动态干涉仪、干涉测量软件、断面检测、表面检测)? 德国Dioptic- ARGOS 表面疵病检测仪、光纤端面缺陷检测? 日本壶坂Tsubosaka-镜头/相机鬼影、杂散光测试系统;可调色温、亮度光源;镜头焦点偏差、光圈、闪光灯、快门测量、手机防抖测试系统;太阳灯? 美国 Bristol- 非接触式测厚仪? 美国Optometrics- 衍射光栅、分光器件、线栅偏振片、Minichrom? 单色仪等? 德国Artifex-光功率计、跨阻抗放大器、门控积分放大器、LIV激光二极管和LED特性测试系统、积分球、激光二极管驱动器? 波兰inframet-可见光电视相机测试系统(TVT)、红外热像仪测试系统(DT、LAFT、SAFT)、夜视仪测试系统(NVT、NVS、NVB)、激光测距机测试系统(LT、LTF、LTE)、二代像管像增强器测试系统(ITS-I、ITS-P、ITS-R)、条纹管测试系统(SPT、STT)、多传感器测试系统(JT、MS)、被动式THz成像仪测试系统(THP)、短波成像仪测试系统(ST)、紫外成像仪测试系统(UT)以及红外热像仪计算机模拟器(Simterm)等? 美国Headwall -高光谱成像、拉曼光谱仪、衍射光学元件? 其他-SPF防晒指数测试仪;大气测量辐射计/光度计;Mini-Chrom单色仪;激光二极管测试分析系统;积分球;激光功率探测器;光伏测试太阳模拟器;固态光电倍增管等等
    留言咨询
  • 400-860-5168转2499
    广州市固润光电科技有限公司是一家从事光电子高科技产品研发、生产及销售的科技型企业,面向国内各大高校、科研院所及国内外著名光电子企业提供优质的产品和专业的项目服务,产品种类涉及各种工业和通信光电子器件,光电子测试仪器、半导体生产及检测设备,射频测试仪器等,涉及工业自动化,信息自动化,光电子、光纤通讯、光纤传感,工业激光、微电子和雷达与微波通信等领域。我们一直专注于为每一个客户提供完善专业的解决方案。结合自身在光电测试行业多年的经验,积极跟踪前沿科学技术并和全球各大光电技术研究单位建立合作伙伴关系。我们选择的产品的可靠性来源鉴于该产品已经得到最严格的用户测试并成为行业最领先产品,经过多年的努力,我们的合作伙伴包括: 1. Herzan 品牌代理:高精度主动隔振台、被动隔振台、隔声隔振箱,声学附件2. JETI 品牌代理: 光谱辐射计,表面光谱色度计,光强及光通量测量系统等3. GL Optic 品牌代理:触摸屏智能光谱辐射计,便携积分球,亮度探头4. Mesaphotonics 品牌代理:频率分辨光学开关仪(FROG二维相位恢复)激光自相关仪5. Westboro Photonics 品牌代理:成像亮度计,成像亮度色度计,成像光谱辐射计,视角测试系统6. Quest-Innovations 品牌代理:多光谱相机,高光谱相机7. Nanofoot 品牌代理:LD在线实时老化测试系统,LED老化测试系统,LED&LD特性分析仪LED&LD光源远场测试仪8. J&M 品牌代理:光谱色度发分析仪,显微光谱仪等9. Metrolux 品牌代理:CW光束分析仪,紫外光束分析仪,X-RAY光束分析仪,多功能激光光束分析仪,激光衰减器,光学器件等10. Semiconsoft 品牌代理:薄膜测试仪11. GBS 品牌代理: 白光干涉仪,3D显微镜,便携式3D显微镜,3D 成像CCD12. Phasics 品牌代理:3D活细胞显微镜,台式3D数字显微镜,便携式数字显微镜,波前分析仪,透镜测试仪13. Scientech 品牌代理:高精度电子天平、光功率计14. WT&T 品牌代理:光纤激光模块,窄光谱超稳定激光模块,光纤探头15. OptoKnowledg 品牌代理:多光谱扫描仪 广州市固润光电科技有限公司联系人:徐先生 地址:广州市天河区翰景路1号金星大厦1101房自编D、H部位手机:13925135190电话:02085666701 传真:02085581700 邮箱:info@guruntech.com
    留言咨询
  • 北京杏林睿光科技有限公司是杏林集团出资创立的一家光电领域的高新技术企业。公司致力于精密光学器件、激光器、光电实验设备、视觉检测设备的开发、生产与销售。 多年来,我们设计开发各种高精度光刻器件,为光学、成像、显微、机器视觉、信息识别、光电子等行业研制标准板产品。公司拥有一支来自清华大学、北京大学、中科院半导体所、天津大学、北京理工大学等知名院校,具有丰富的光电系统集成能力的研发团队,相继开发出不同系列产品,如空间光调制器、光电实验设备、机器视觉检测设备、激光测试设备等,获得了国内外众多科研单位和企业的好评。 作为专业从事激光器及相关设备研制的厂家,我公司拥有多项发明专利和成熟的制造工艺。我公司已成功研制出氦氖激光器系列、单频固体激光器系列、光纤耦合半导体激光器系列、2um激光器系列、激光相关设备,如:共焦球面扫描干涉仪、光纤准直聚焦镜、激光功率指示计、紫外固化仪、半导体激光电源等系列产品。 睿光科技真诚希望与您合作。截止目前,我公司与多家世界知名企业如爱万提斯(Avantes)、爱特蒙特(Edmund)、大族、HOLO/OR等达成合作。我们愿在激光加工、医疗、光电检测、科研等多个领域为广大客户提供产品服务和技术支持。www.real-light.com
    留言咨询

干涉成像光谱仪相关的仪器

  • 干涉滤光片 400-628-5299
    A. JSL系列窄带干涉滤光片JSL系列,窄带干涉滤光片(Narrow Bandpass Interference Filters)选型表型号名称中心波长(nm)半宽FWHM(nm)峰值透射率(%)JSL394-25窄带干涉滤光片3941530JSL400-25窄带干涉滤光片4001530JSL420-25窄带干涉滤光片4201530JSL440-25窄带干涉滤光片4401530JSL460-25窄带干涉滤光片4601530JSL480-25窄带干涉滤光片4801530JSL500-25窄带干涉滤光片5001530JSL520-25窄带干涉滤光片5201530JSL526-25窄带干涉滤光片5261530JSL540-25窄带干涉滤光片5401530JSL560-25窄带干涉滤光片5601530JSL580-25窄带干涉滤光片5801530JSL589-50窄带干涉滤光片5891530JSL600-25窄带干涉滤光片6001530JSL620-25窄带干涉滤光片6201530JSL620-50窄带干涉滤光片6201530JSL640-25窄带干涉滤光片6401530JSL660-25窄带干涉滤光片6601530JSL670-50窄带干涉滤光片6701530JSL680-25窄带干涉滤光片6801530JSL700-25窄带干涉滤光片7001530JSL750-25窄带干涉滤光片7501530B. 美国CVI Melles Griot窄带干涉滤光片 相关参数: 选型表:C.美国Andover滤光片 美国Andover公司提供种类非常丰富的窄带和带通滤光片,被广泛应用于各种领域,如:基本激光谱线研究领域、汞灯特征谱线研究领域、生物医学及光谱分析学领域。Andover的滤光片,具有其专利技术,可防止波长随时间的漂移,每个滤光片都配有一个密封铝框,能有效的防碎,防划伤和防潮。主要参数: 1.直径公差:+0/-0.25mm 2.封装: 氧化黑铝合金外框 3.主要尺寸:&Phi 12.5mm,&Phi 25mm,&Phi 50mm (及&Phi 9mm,&Phi 21mm,&Phi 45mm) 4.波长范围:194nm~1550nm 谱线类型: Andover的滤光片,有多种谱线类型,请参看下表,也请在选型时注意相应的谱线类型(MDM=Metal-Dielectric-Metal):选型表(部分产品)表1:直径&Phi 12.5mm直径&Phi 25mm直径&Phi 50mm中心波长(nm)半波宽(nm)谱线类型最小透过率(%)厚度(mm)193FS15-12.5193FS15-25193FS15-50193.0± 3.515± 37124200FS10-12.5200FS10-25200FS10-50200.0+3/-010± 27124214FS10-12.5214FS10-25214FS10-50214.0+3/-010± 27124214FS22-12.5214FS22-25214FS22-50214.0± 322± 48204220FS10-12.5220FS10-25220FS10-50220.0+3-010± 27124228FS10-12.5228FS10-25228FS10-50228.0+3-010± 27154228FS25-12.5228FS25-25228FS25-50228.0± 325± 58204232FS10-12.5232FS10-25232FS10-50232.0+3/-010± 27154239FS10-12.5239FS10-25239FS10-50239.0+3-010± 27154239FS25-12.5239FS25-25239FS25-50239.0± 325± 58204248FS10-12.5248FS10-25248FS10-50248.0+3-010± 27124250FS10-12.5250FS10-25250FS10-50250.0+3-010± 27124254FS10-12.5254FS10-25254FS10-50253.7+3-010± 27124254FS25-12.5254FS25-25254FS25-50253.7± 325± 58184260FS10-12.5260FS10-25260FS10-50260.0+3/-010± 27124265FS10-12.5265FS10-25265FS10-50265.0+3/-010± 27124265FS25-12.5265FS25-25265FS25-50265.0± 325± 58204270FS10-12.5270FS10-25270FS10-50270.0+3/-010± 27124280FS10-12.5280FS10-25280FS10-50280.0+3/-010± 27124280FS25-12.5280FS25-25280FS25-50280.0± 325± 58204289FS10-12.5289FS10-25289FS10-50289.0+3-010± 27154297FS10-12.5297FS10-25297FS10-50296.7+3/-010± 27154300FS10-12.5300FS10-25300FS10-50300.0+3/-010± 27154300FS25-12.5300FS25-25300FS25-50300.0± 325± 58204307FS10-12.5307FS10-25307FS10-50307.1+3/-010± 27154307FS25-12.5307FS25-25307FS25-50307.1± 325± 58204310FS10-12.5310FS10-25310FS10-50310.0+3-010± 27154313FS10-12.5313FS10-25313FS10-50313.0+3/-010± 27154313FS25-12.5313FS25-25313FS25-50313.0± 325± 58204320FS10-12.5320FS10-25320FS10-50320.0+3/-010± 23258326FS03-12.5326FS03-25326FS03-50326.1+0.5/-03± 0.52158326FS10-12.5326FS10-25326FS10-50326.1+2/-010± 23258326FS25-12.5326FS25-25326FS25-50326.1± 325± 53258330FS10-12.5330FS10-25330FS10-50330.0+3/-010± 23258334FS10-12.5334FS10-25334FS10-50334.0+2/-010± 23258337FS03-12.5337FS03-25337FS03-50337.1+0.5/-03± 0.52207337FS10-12.5337FS10-25337FS10-50337.1+2/-010± 23257340FS08-12.5340FS08-25340FS08-50340.0+2/-08± 23357340FS10-12.5340FS10-25340FS10-50340.0+3/-010± 23257选型表(部分产品)表2:直径&Phi 12.5mm直径&Phi 25mm直径&Phi 50mm中心波长(nm)半波宽(nm)谱线类型最小透过率(%)厚度(mm)340FS25-12.5340FS25-25340FS25-50340.0± 325± 53257350FS10-12.5350FS10-25350FS10-50350.0+3/-010± 23257350FS25-12.5350FS25-25350FS25-50350.0± 325± 53257350FS40-12.5350FS40-25350FS40-50350.0± 540± 83257355FS10-12.5355FS10-25355FS10-50355.0+2/-010± 23257360FS10-12.5360FS10-25360FS10-50360.0+3/-010± 23257365FS05-12.5365FS05-25365FS05-50365.0+1/-05± 12207365FS10-12.5365FS10-25365FS10-50365.0+2/-010± 23257365FS25-12.5365FS25-25365FS25-50365.0± 325± 53257370FS10-12.5370FS10-25370FS10-50370.0+3/-010± 23257380FS10-12.5380FS10-25380FS10-50380.0+3/-010± 23257390FS10-12.5390FS10-25390FS10-50390.0+3/-010± 23407400FS10-12.5400FS10-25400FS10-50400.0+3/-010± 23457400FS20-12.5400FS20-25400FS20-50400.0± 220± 43457400FS40-12.5400FS40-25400FS40-50400.0+10/-040± 83457405FS05-12.5405FS05-25405FS05-50404.7+1/-05± 12357405FS10-12.5405FS10-25405FS10-50404.7+2/-010± 23457410FS10-12.5410FS10-25410FS10-50410.0+3/-010± 23457415FS10-12.5415FS10-25415FS10-50415.0+2/-010± 23457420FS10-12.5420FS10-25420FS10-50420.0+3/-010± 23457430FS10-12.5430FS10-25430FS10-50430.0+3/-010± 23457436FS05-12.5436FS05-25436FS05-50435.8+1/-05± 12457436FS10-12.5436FS10-25436FS10-50435.8+2/-010± 23457440FS10-12.5440FS10-25440FS10-50440.0+3/-010± 23457442FS02-12.5442FS02-25442FS02-50441.6+0.2/-01± 0.22358.5442FS03-12.5442FS03-25442FS03-50441.6+0.5/-03± .52408.5442FS10-12.5442FS10-25442FS10-50441.6+2/-010± 23457450FS10-12.5450FS10-25450FS10-50450.0+3/-010± 23457450FS20-12.5450FS20-25450FS20-50450.0± 220± 43557450FS40-12.5450FS40-25450FS40-50450.0+10/-040± 83557456FS10-12.5456FS10-25456FS10-50455.5+2/-010± 23507458FS02-12.5458FS02-25458FS02-50457.9+0.2/-01± 0.22408.5458FS03-12.5458FS03-25458FS03-50457.9+0.5/-03± 0.52458.5458FS10-12.5458FS10-25458FS10-50457.9+2/-010± 23507460FS10-12.5460FS10-25460FS10-50460.0+3/-010± 23507470FS10-12.5470FS10-25470FS10-50470.0+3/-010± 23507480FS10-12.5480FS10-25480FS10-50480.0+3/-010± 23507486FS10-12.5486FS10-25486FS10-50486.1+2/-010± 23507488FS02-12.5488FS02-25488FS02-50488.0+0.2/-01± 0.22458.5选型表(部分产品)表3直径&Phi 12.5mm直径&Phi 25mm直径&Phi 50mm中心波长(nm)半波宽(nm)谱线类型最小透过率(%)厚度(mm)488FS03-12.5488FS03-25488FS03-50488.0+0.5/-03± .52508.5488FS10-12.5488FS10-25488FS10-50488.0+2/-010± 23557490FS10-12.5490FS10-25490FS10-50490.0+3/-010± 23557800FS10-12.5800FS10-25800FS10-50800.0+3/-010± 23507800FS20-12.5800FS20-25800FS20-50800.0± 220± 43507800FS40-12.5800FS40-25800FS40-50800.0+10/-040± 83507810FS10-12.5810FS10-25810FS10-50810.0+3/-010± 23507810FS20-12.5810FS20-25810FS20-50810.0± 220± 43507820FS10-12.5820FS10-25820FS10-50820.0+3/-010± 23507830FS10-12.5830FS10-25830FS10-50830.0+3/-010± 23507830FS20-12.5830FS20-25830FS20-50830.0± 220± 43507840FS10-12.5840FS10-25840FS10-50840.0+3/-010± 23507850FS10-12.5850FS10-25850FS10-50850.0+3/-010± 23507850FS20-12.5850FS20-25850FS20-50850.0 ± 220± 43507850FS40-12.5850FS40-25850FS40-50850.0+10/-040± 83507860FS10-12.5860FS10-25860FS10-50860.0+3/-010± 23507870FS10-12.5870FS10-25870FS10-50870.0+3/-010± 23507880FS10-12.5880FS10-25880FS10-50880.0+3/-010± 23507890FS10-12.5890FS10-25890FS10-50890.0+3/-010± 23507100FS10-12.5100FS10-25100FS10-501000.0+3/-010± 23458.5100FS20-12.5100FS20-25100FS20-501000.0± 220± 43458.5100FS40-12.5100FS40-25100FS40-501000.0+10/-040± 83458.5014FS10-12.5014FS10-25014FS10-501014.0+2/-010± 23458.5046FS10-12.5046FS10-25046FS10-501046.0+2/-010± 23458.5050FS10-12.5050FS10-25050FS10-501050.0+3/-09± 23458.5064FS02-12.5064FS02-25064FS02-501064.0+0.2/-.01± 0.22408.5064FS03-12.5064FS03-25064FS03-501064.0+0.5/-.03± .52458.5064FS10-12.5064FS10-25064FS10-501064.0+2/-010± 23408.5110FS10-12.5110FS10-25110FS10-501100.0+3/-010± 23408.5115FS10-12.5115FS10-25115FS10-501150.0+3/-010± 23408.5120FS10-12.5120FS10-25120FS10-501200.0+3/-010± 22358.5125FS10-12.5125FS10-25125FS10-501250.0+3/-010± 22358.5130FS10-12.5130FS10-25130FS10-501300.0+3/-010± 22358.5130FS20-12.5130FS20-25130FS20-501300.0± 320± 53358.5 备注:以上选型表中是Andover紫外和红外的常规滤光片, 可见光部分及其他种类滤光片,型号非常多,由于篇幅限制,不能全部列出,有需求可以联系我们。
    留言咨询
  • 多功能光栅光谱仪实验装置,YTR-6308简介YTR-6308多功能光栅光谱仪是一款以光栅作为分光元件的光谱仪,其基本原理是当不同波长的光束以相同的入射角入射到光栅上时,不同波长的光束同一级衍射的主极大位置不同,从而达到分光的目的。其优点是具有较宽的光谱测量范围和较高的分辨率,综合性能突出,是目前使用最为广泛的光谱仪器。该光栅光谱仪专为物理实验教学开采用开放式的结构设计,学生可以直观的观看光谱仪的内部光路和结构。同时采用了光电倍增管和线阵式CCD作为光电传感器,既可以获得高分辨率光谱,也可以快速获得宽光谱。使学生更加充分理解和掌握光谱仪的工作原理。该仪器可以很好的使用在氢氘光谱实验,钠原子光谱等实验。特点对称式C-T光路结构,采用可视化的结构设计,帮助学生理解和掌握光谱仪结构组成和工作原理双光路设计,分别使用高品质光电倍增管和线阵CCD作为光电探测器,使得学生更能深入的理解和掌握探测器的性能和实验仪器优缺点和用途专业的光谱分析实验软件,包含:光谱测量、透过率测量、反射率测量、吸光度测量和色度学测量等多种实验模块(有些实验模块需要另配附件)实验内容热辐射光源光谱测定波长准确性的测定和修正氢原子光谱测定及里德堡常量测量吸收光谱的测量CCD测量的波长定标颜色测透过率测量吸光度测量浓度测量透镜焦距测量实验,YGP-6212简介YGP-6212透镜焦距测量实验学习的知识点有几何光学基本定律、透镜成像、显微镜、望远镜。几何光学是光学的重要分支之一,它的应用十分广泛,尤其是在设计光学仪器的光学系统等方面显得十分方便和实用。透镜作为光学仪器的基本元件,可以组建各种光学系统,在成像系统、图像摄取、遥感等领域中已经得到广泛应用。光学显微镜是一种常见的助视光学仪器,它对推动科技进步,尤其是生物学和医学,起到了重要作用;望远镜是另一种常见的助视光学仪器,它对天文学及物理学的发展起到了重要的推动作用。本实验装置可完成《理工科类大学物理实验课程教学基本要求(2023版)》中透镜焦距测量实验的基础内容、提升内容、进阶内容以及高阶内容。特点器材丰富,可以组建各种光学系统;实验内容满足分层次教学要求;通过配置COMS相机及相应的软件,使实验既有鲜明的数字化特点,又保留了手动读数的特色实验内容a)基础内容用自准直法、位移法测量凸透镜焦距;物像距法测量凹透镜焦距。b)提升内容自准直法测量凹透镜焦距;光学成像系统共轴的粗、细调节;透镜成像的景深、成像位置判断与视差消除。c)进阶内容用薄透镜自组显微镜和望远镜;探究常用显微镜结构和性能参数。d)高阶内容观测凸透镜的球差和色差;观测显微成像系统的像散。光的干涉和衍射实验,YGP-6213简介光的干涉和衍射现象是波动光学的重要内容。光干涉现象曾经是奠定光波动性的基石,在波动光学中有重要的意义。而光衍射现象,则是光束传播中,几何光学无法解释的现象,是光波动性的主要标志之一。研究光的干涉和衍射不仅有助于进一步加深对光的波动性的理解,同时还有助于进一步学习近代光学实验技术,如光谱分析、晶体结构分析、全息照相、光信息处理等。本实验同时用单缝、多缝、圆孔、方孔等进行实验,能够明显地展现出衍射、干涉的特征,并利用光强分布探测器测量光强的相对分布,实时给出光强与位置的关系曲线,以及用面阵相机研究衍射图像的两维光强分布情况,实现实验的数字化。特点采用光强分布探测器,无需扫描结构,实时测量光强一位置的分布曲线,响应时间最快可达毫秒级。利用光强分布探测器可以精确测量8级以上衍射条纹,位置测量精度可达0.01mm。利用面阵相机可以研究衍射图像的两维光强分布情况。一体化狭缝组设计,切换方便,易于实验。实验内容a) 基础内容 研究激光通过双缝后形成的干涉图案,测量双缝形成的干涉光强分布,说明干涉条纹的极大值位置与理论预见的一致性。 研究激光经过单缝后形成的衍射图案,测量单缝形成的衍射光强分布,说明衍射条纹的极小位置与理论预见的一致。b) 提升内容 研究激光通过多缝后形成的干涉图案,理解多缝衍射与多光束干涉的原理。c) 进阶内容 观察激光经过圆孔和方孔后的衍射现象,利用面阵相机研究衍射图像的两维光强分布情况。d) 高阶内容 利用COMS相机研究激光经过多孔后形成的衍射图案,利用COMS相机研究衍射图像的两维光强的分布情况光的偏振实验,YGP-6214简介光的偏振现象是波动光学的重要内容。利用这种现象研制的各种光学元件和仪器,在探测物质结构、激光与光电子技术领域有着极其重要和广泛的应用。YGP-6214光的偏振实验装置主要包含:光传感器、转动传感器、激光光源、精密调节架、升降调节架、连接杆、托板和观察屏组成。该实验装置利用先进的传感器技术和智能软件,可以实现连续的数据采集和实时绘制实验数据曲线,极大的提升了实验效率,使学生将更多的精力用于实验本身的原理学习、数据分析和结果讨论上,更加能够透彻的学习、理解和掌握实验。特点无线光传感器,USB2.0和蓝牙通讯,3档可调,适用于不同强度光源的测量。无线转动传感器,USB2.0和蓝牙通讯,角分辨率0.18°。安全的激光光源。数字实验室分析软件,编辑性强,通用程度高。实验内容理解和掌握偏振片的基本原理,使用方法。理解和掌握激光器的偏振特性。通过研究和验证马吕斯定律,掌握光的起偏和检偏原理和方法。研究3片偏振片光强与偏振片角度的关系曲线,进一步掌握光的偏振特性。等厚干涉实验(含牛顿环实验),YGP-6215简介YGP-6215等厚干涉实验(含牛顿环实验)学习的知识点有牛顿环、等厚干涉、光程差、曲率半径。牛顿环和空气劈尖的等厚干涉原理在生产实践中具有广泛的应用,它可以用于检测透镜的曲率,测量光波的波长,精确的测量微小长度、厚度和角度,检验物体表面的光洁度、平整度等。本实验装置可完成《理工科类大学物理实验课程教学基本要求(2023版)》中牛顿环实验的基础内容、提升内容、进阶内容以及高阶内容。特点开放的构架,可以让学生看到所用镜片的类型和位置。可以让学生练习搭建各种光学系统。配套有测微目镜与CMOS相机两种读数方式,即实现实验数字化的同时,保留了传统手动读数的方式。多种光源,更多的分立器件,便于师生开展各种探索研究,比如:同时观察透射和反射的牛顿环,波长测量等实验内容a)基础内容测定平凸球面透镜的球面半径。b)提升内容用劈尖干涉测量细丝直径。c)进阶内容测定平凹球面透镜的球面半径。d)高阶内容用透射和反射两种方法观察牛顿环,并测量绿光、紫光、黄光的波长。更多精彩,请关注下方!的P-tP
    留言咨询
  • 全光谱干涉仪 400-860-5168转3912
    武汉东隆科技为意大利米兰NIREOS的中国区独家代理,欢迎您来电垂询!GEMINI是一款新颖的紧凑型干涉仪,入射光所产生的两束复制光之间具有极高的稳定性。其卓越的性能可以被应用于许多科研领域,比如时间/频率分辨荧光探测,相干拉曼光谱,泵浦探针,二维光谱以及单分子的研究。主要特点高光通量,高灵敏度(1cm通光孔径,没有任何光栅或输入/输出孔径狭缝)宽光谱范围:标准版400-2300nm、超宽带版250-3500nm≈1阿秒稳定性(对两束复制光)自定义扫描范围对振动不敏感尺寸紧凑(176 x 44 x 54.5mm)轻便(≈400g)应用领域:干涉测量 激光对产生GEMINI在探测端时间/频率分辨荧光泵浦探针光谱相干拉曼光谱GEMINI在激发端单分子表现特征 和TCSPC探测器组成的时间/频率分辨荧光系统实验配置:GEMINI干涉仪放置于和TCSPC连接的单光子探测器之前,可以在保证时间分辨的同时获得荧光的波长信息。 相干拉曼(受激拉曼散射)和泵浦探针光谱实验配置:GEMINI干涉仪置于探针/斯托克斯光束入射样品后方,可以测量受激拉曼散射和MHz调制频率的泵浦探针光谱。单分子激发-发射图GEMINI干涉仪可以在短时间内以异常高的精确度和灵敏度获得单分子的特征描述 技术规格UV-SWIRVIS-MIDIR光谱范围200-3500nm500-5000nm延时稳定性小于1阿秒运行模式阶跃扫描或连续扫描尺寸10×8×8cm重量750g 武汉东隆科技为意大利米兰NIREOS的中国区独家代理,欢迎您来电垂询!
    留言咨询

干涉成像光谱仪相关的资讯

  • 新型干涉光谱成像技术研究取得重要进展
    近日,西安光机所新型干涉光谱成像技术研究取得重大进展,以光谱室胡炳樑研究员为首的研究团队在国内率先将离轴三反光学系统应用于短波红外干涉光谱成像系统中,并成功研制了基于M-Z像面干涉光谱成像的离轴三反桌面样机系统。  面向宽覆盖、高分辨率、高光谱分辨率的要求,离轴三反加M-Z像面干涉光谱成像技术可以有效解决大视场光学系统和大尺寸干涉仪的技术瓶颈。M-Z干涉仪放置在系统会聚光路中,在减小系统体积和重量的同时,能量利用率可以达到成像仪的极限 离轴三反光学系统则能够同时实现长焦距与大视场,并且没有中心遮拦,传递函数高。但在基于M-Z像面干涉的光谱成像系统中,离轴全反射系统难以补偿会聚光路中M-Z干涉仪棱镜元件所引入的像差,为此,科研人员将校正补偿系统应用到离轴三反系统中,设计并成功研制了一种新型离轴三反成像光学系统,并针对离轴三反系统装调自由度多,结构非对称性以及离轴系统离轴量需要精确测量调整等问题,解决了离轴非球面微应力装夹、多自由度调整结构形式、离轴三反系统高精度装调等多项技术难点,为高分辨率、高光谱分辨率光谱成像技术奠定了坚实基础,并完成了必要的技术储备,使我所先进光谱成像技术达到了国内领先水平。  此次研究工作取得重大进展的过程,充分体现了我所科研人员勇于攻关、勤于奉献、努力进取的精神。由于是在国内首次开展基于干涉光谱成像的离轴三反光学系统的研究,研制难度大,时间进度紧。在所各级领导的关心支持下,项目负责人胡炳樑研究员积极牵头组织专家进行方案论证,为项目设计、加工和装调,在人员、技术、设备等多方面提供了强有力的支持 白清兰研究员、熊望娥副研究员勇于攻坚克难,通过多次与领域内专家研讨,并组织科研人员无数次的讨论、论证,最终确定了新型离轴三反光机系统的设计和初步装调方案,并亲自带领年轻科研人员赵强、赵稳庄、孙剑、李勇、李立波、邹纯波、张宏建、赵瑞萍等参与项目的设计调试工作,实现了预期的研制目标 刘学斌研究员带领王爽、皮海峰、张雯、王彩玲等年轻科研同志,加班加点顺利完成了低噪声短波红外电路的设计工作,为全系统调试的顺利进行做出了极大贡献 王忠厚研究员、白加光研究员等为项目的前期方案论证和整个过程的研制提供了大量的技术支持和帮助 系统调试过程中,在系统工程部李华主任、检测中心赵建科主任的支持下,段嘉友、张建、李智勇等与项目组密切配合,出色完成了离轴三反光学系统装调任务。  日前,短波红外干涉光谱成像系统的研究工作仍在深入进行中,科研人员将不断创新进取,力争取得更大成绩。
  • 卫星干涉成像光谱仪和CCD立体相机通过鉴定
    由中国科学院西安光学精密机械研究所承担研制,曾为我国首次探月工程做出突出贡献的嫦娥一号卫星干涉成像光谱仪和CCD立体相机,于5月25日在西安通过了中国科学院西安分院组织的成果鉴定。  以中科院国家天文台李春来研究员为组长的专家鉴定委员会认为,嫦娥一号探月卫星干涉成像光谱仪采用干涉光谱成像技术,在国际上首次对月球成功实施了可见-近红外宽谱段连续光谱及光谱图像探测,是国内首台成功应用的星载干涉成像光谱仪 该仪器具有很高的信噪比(S/N)与调制传递函数(MTF),是一台集光、机、电、算为一体的高端光学遥感设备 该项目在“行平场”、“不同光谱仪的对比方法”、“干涉仪胶合时剪切量的精密控制”以及“具有特色的付氏光学系统设计”方面形成一批自主知识产权,申请发明专利四项,已授权三项 该仪器成功应用于嫦娥一号探月卫星,获取了全月面79%区域清晰的多光谱图像,是国际上第一次获取480nm-960nm范围的32谱段的连续光谱和图像,为月球科学家研究月表物质成份提供了具有自主知识产权的原生信息源,并产生了大量的应用成果。  以杨元喜院士为组长的专家鉴定委员会认为,嫦娥一号卫星CCD立体相机优化集成了光、机、电等高新技术,确保了月面高精度成像和摄影测量,获得了与国外现有月球图像相比更为清晰、层次更加丰富的全月面图像 该相机采用广角、远心、消畸变光学系统及带有掩模板的面阵CCD立体成像等技术,有效减小了附加曝光影响、系统体积及定标压力 相机的立体成像系统具有高的信噪比(S/N)与调制传递函数(MTF) CCD立体相机已经成功应用于嫦娥一号探月卫星工程,申请发明专利2项(公开中),授权实用新型1项,为月球科学家研究月球的地形地貌与地质学构造提供了具有自主知识产权的原生信息源,产生了大量的应用成果。  鉴定委员会认为,嫦娥一号探月卫星干涉成像光谱仪和CCD立体相机总体水平为国际先进,并建议这些技术在国防、民用及深空探测等领域进一步推广应用。
  • 3D 白光干涉成像技术的创新及应用
    近年来,3D检测技术发展迅速,广泛应用于工业、国防、医疗、农业等领域。根据其是否应用人造光源作为照明系统,可分为主动式3D成像技术与被动式3D成像技术。无论是哪种方法,为了获得目标的高精度3D轮廓信息,都希望检测仪器具备高精度、高帧率、算法兼容性强、环境适应性强、稳定性强、操作简便、性价比高等特点,这在实际应用中,尤其在微纳米结构检测中有着重要意义。微纳米技术,是指对微纳级材料的测量、加工制造、设计、控制等相关研究技术,它与高精尖装备制造领域的发展息息相关。微纳结构测量最为基础和重要的是表面形貌的3D测量,它包括了轮廓的测量以及表面粗糙度的测量,目前常用的微结构表面形貌测量方法分为接触式和非接触式。接触式测量是目前工业领域内应用最为广泛的测量方法。这种方法在测量时有一个微小的触针,在被测样品表面上做横向移动;在这过程中触针会随着样品表面的轮廓形状垂直起伏,然后通过传感器将这微小的位移信号转换为电信号;对这些信号进行采集和运算处理后,就可以测得表面轮廓或形貌特征。测量中可以使用的传感器有很多,如光栅式、压电式、干涉式以及普遍应用的电感式。这种方法测量量程大,结果稳定可靠,并且仪器操作简单,对测量环境要求低;缺点是触针在测量时有可能会对被测表面造成损伤,且测量速度慢。非接触式测量技术大多基于光学方法,例如干涉显微法、自动聚焦法、激光干涉法等。光学测量方法具有非接触、操作简单、速度快等优点。然而在利用光学方法进行测量时,被测表面的斜率、光学参数等发生变化会引起测量误差。例如,若被测样品表面存在沟槽或其他微细结构,它们引起的散射、衍射等现象会对测量信号造成干扰。另外,若样品表面存在灰尘、细小纤维等,光学测量方法的结果也会有一定失真;而触针式方法由于测量时与样品表面接触,会划去部分表面污染物使测量结果不受影响。因此,根据不同测量要求,每种方法都有其适用性,常用的微纳结构三维测量方法如图1所示。图1:微纳结构三维测量方法接触式检测技术(1)扫描电子显微术利用物质与电子的相互作用,当电子束轰击表面时,会产生多种形式的电子和光电现象,扫描电子显微镜(SEM)利用其中的二次电子和背散射电子与表面具有的关系进行结构分析。SEM具有大视场、大倍率、大景深等优点,但其测量样品制备复杂,种类有限,常用于微结构缺陷检测等定性分析。(2)扫描探针显微术被测样品表面的相关信息利用探针与样品的相互作用特性获得,扫描探针显微镜(SPM)及其衍生而来其他测量方法,具有较高的测量分辨力,但其测量过程需要对测量表面逐点扫描,且只有微米级别成像范围,测试效率较低。(3)机械探针轮廓术探针始终与被测表面接触,被测表面结构的变化会使探针产生垂直位移,通过位移的感知即能获得被测表面特性。该方法在工业特别是制造业领域广泛使用,也是国际社会公认的表面粗糙度测量的标准方法。但是其作为接触式测量方法,容易对被测表面造成划伤,逐点测量的办法效率较低,也难以测量复杂器件。非接触式检测技术(1)激光干涉术通过干涉条纹变化与被测物位置变化的对应关系,获得位移信息,从而达到几何量测的目的。(2)自动聚焦法基于几何光学的物象共轭关系,当照明光斑汇聚在被测面时,进一步调整检测头与表面的距离,直至光斑像尺寸最小而得到该被测位置的相对高度。该方法简单易操作,但水平分辨力受光斑大小的限制较大,且垂直高分辨力对成像分析和调节能力要求高。(3)激光共焦扫描显微术首先利用精密共焦空间滤波结构,通过物象共轭关系滤除焦点外的反射光,极大地提高成像的可见度。通过聚焦光对样品垂直扫描,样品在垂直方向被分层成像,光学切片图像经三维重构,可得到样品的三维结构。该方法一次测量过程就能实现该视场三维形貌的测量,兼具高效和高精度的优点,但其分辨率易受扫描步长和物镜数值孔径的限制。(4)光学显微干涉术传统的干涉测量方法,主要是通过观测干涉条纹的位置、间距等的变化来实现精确测量。典型方法是单色光相移干涉术和白光扫描干涉术。单色光相移干涉术的测量思路为:参考臂和测量臂的反射光发生干涉后,利用相移法引入相位变化,根据该相位变化所引起的干涉光强变化,求解出每个数据点的相位,其结果不连续,位于(-p,p]之间,因此需要对该结果进行解包裹运算,然后根据高度与相位的关系,得到被测样品的表面形貌。这种方法在测量时对背景光强不敏感,测量分辨率高;但无法确定干涉条纹的零级位置和相位差的周期数,存在相位模糊问题;若被测样品表面的相邻高度超过1/4波长则不能测准,因此只能应用于对表面连续或光滑的结构的测试。白光扫描干涉法由单色光相移技术发展而来,由于使用白光作为光源,在干涉时有一个确切的零点位置,其相干长度短,干涉条纹只出现在很小的范围内;当光程差为零时,干涉信号出现最大值,该点就代表对应点的高度信息,通过Z向扫描能够还原被测样品的整体形貌。光谱分光型白光干涉由上述方法发展而来的光谱分光型白光干涉技术,则是基于频域干涉的理论,利用光谱仪将传统方法对条纹的测量转变成为对不同波长光谱的测量。包含有被测表面信息的干涉信号,由含有色散元件和阵列探测器的光谱仪接收,通过分析该频域干涉信号来实现信息获取。相比于单色光干涉技术,光谱分光型白光干涉技术具有更大的测量范围,同时与白光扫描干涉术相比,它在测量时不需要大量的Z向扫描过程,极大提高了测量效率。利用光谱分光型白光干涉技术可以测量绝对距离、位移、微结构表面形貌、薄膜厚度等。在测量微结构三维形貌时,光谱分光型白光干涉技术,比于其他方法操作更简单,测量精度更高。在微纳测量领域,为了提高光学测量系统的水平分辨率,通常采用显微物镜放大的方法。在光谱分光型白光干涉测量系统中可以采用几种显微结构,如Michelson型、Mirau型和Linnik型,图2显示了这三种显微干涉结构的构成原理。图2:三种显微干涉结构的构成原理高精度仪器设备需求不断推动着微纳米技术向前发展,因此高精度的微纳检测技术也成为了必然需求。微纳结构测量的对象有表面形貌、电子特性、材料特性、力学特性等,其中表面形貌3D测量最为基础和重要,它包括轮廓测量(如长、宽、高等)和表面粗糙度等参数的测量。对于尺寸处于微纳米量级的微纳结构器件而言,其静电力、黏附力和结构应力等因素对其本身的影响,会随着其表面积和体积之比的增大而增加,使器件的功能和质量发生变化,从而影响器件的使用。因此,对微纳结构表面形貌的检测非常必要。光谱分光型白光干涉技术,用于测量微纳米结构三维形貌的研究及其进一步产业化,填补国内空白。光谱分光型白光干涉仪(见图3)具备高精度、高帧率、算法兼容性强、环境适应性强、稳定性强、操作简便、性价比高等优点,其在新型成像/检测系统中的应用及产业化,将打破国外垄断。图3:光谱分光型白光干涉仪整机系统原理图光源是超辐射发光二极管(SLD),从光源发出的光进入光纤耦合器,从耦合器输出的光经消色差准直器准直成平行光,使用分光棱镜将准直光分为参考光和样品光。参考光经透镜3聚焦于反射镜,样品光经XY扫描振镜和透镜4,聚焦于样品。经反射的参考光和样品光由光纤耦合器的另一端输出,进入光谱仪中。光谱仪由透镜1、光栅、透镜2以及相机组成。输出的光经透镜1准直为平行光,照射到光栅上;光栅衍射分光,经透镜2汇聚于线阵相机;线阵相机记录参考光和样品光的干涉光谱,传给电脑进行处理。该系统使用振镜代替昂贵的高精密位移台进行二维扫描,可用于位移、振动及厚度测量(点测量);线轮廓测量(线测量);表面轮廓成像(面成像)。中科行智最新研发的白光干涉仪,用于对各种精密器件表面进行纳米级测量,专业用于超高精度、高反光及透明材质的尺寸测量。该白光干涉仪采用非接触式测量方式,避免物件受损,可进行精密零部件重点部位的表面粗糙度、微小形貌轮廓及尺寸测量。目前,在3D测量领域,白光干涉仪是精度最高的测量仪器之一。中科行智重点开发的3D飞点分光干涉仪,重复精度达30nm,扫描速度70kHz,扫描范围广,最大直径可达40mm;适应性强,可适用于测量最强反射、弱反射及透明物体等;稳定性强,分光模块与光学振镜模块化设计,加入光学振镜扫描,可替代昂贵的高精密位移台。主要特点如下:大视野:采用高精度光学振镜扫描方案,实现水平方向大视野扫描,避免使用昂贵的高精度水平位移台;大景深:高分辨率光谱仪进行信号采集,经分光元件将白光分光,具备mm级测量深度特性,无需深度方向扫描装置;高精度:大测量深度高分辨率相敏谱域干涉调解算法,重复精度30nm;高速度:采用FPGA硬件加速设计,帧率70kHz;灵活性:信号采集端和接收端分离式设计,采集端安装更灵活;用户设置自定义扫描区域、扫描间隔,也可重点获取感兴趣区域;适用性:适用于透明、弱反光、高反光、狭缝等材料类型的表面形貌以及厚度检测(见图4、图5)。目前白光干涉仪相关技术处于国际领先,苏州中科行智智能科技有限公司已发布的3D飞点分光干涉仪为国内首家,可广泛应用于半导体晶片、微机电系统、精密加工表面、材料研究等领域,为国内半导体行业及高精密行业赋能,高质量解决环节价值,可趋于替代国外高精密传感器,赋能国内高精密、高价值智能制造!

干涉成像光谱仪相关的方案

  • 等效350米光学望远镜的长基线光学干涉成像
    长基线光学干涉仪是地面观测站在高分辨率、可见光和红外波长下研究宇宙的仪器。干涉仪的工作原理与传统成像望远镜是不同的。星光用一些小望远镜捕捉到,这些望远镜之间的间距可达几百米。每个望远镜的输出都是一个直径约10cm的准直光束。这些光束被中继到集中实验室,尺寸缩小直径约1cm,然后与来自其它望远镜光束结合在探测上形成干涉条纹,通过对多对组合光束的条纹图形分析,可以重建被观察目标的图像。
  • 激光干涉仪精确测量的局限性
    激光干涉测试方法常用于高精度测量和定位,这是由于这种方法具有较高的测量分辨率和精度,甚至可以用于大尺寸范围的测量。本文重点讨论了外差式和单频式干涉仪的基本原理,并进行了相应的计量分析来描述激光干涉法的优势和局限性。本文还讨论了光纤耦合式微型干涉仪的设计和功能,以及在显微技术、纳米技术和高精度机电一体化等方面的广泛应用。
  • 皮米精度位移测量激光干涉仪助力声子四拓扑缘体观测
    苏黎世邦理工大学的Sebastian Huber教授课题组巧妙地利用一种机械超材料结构来模拟二维的拓扑缘体,次在实验上观测到了声子四拓扑缘体。这一具有重要意义的结果时间被刊登在nature上。研究人员通过测试一种机械超材料的体、边缘和拐角的物理属性,发现了理论预言的带隙边缘和隙内拐角态。这为实验实现高维度的拓扑超材料奠定了重要基石。本实验利用attocube皮米精度激光干涉仪IDS3010成功实现声子四拓扑缘体的次观测。IDS3010皮米精度位移测量激光干涉仪体积小、测量精度高,分辨率高达1 pm,适合集成到工业应用与同步辐射应用中,包括闭环位移反馈系统搭建、振动测量、轴承误差测量等。

干涉成像光谱仪相关的资料

干涉成像光谱仪相关的论坛

  • 新型干涉光谱成像技术研究取得重要进展

    近日,西安光机所新型干涉光谱成像技术研究取得重大进展,以光谱室胡炳樑研究员为首的研究团队在国内率先将离轴三反光学系统应用于短波红外干涉光谱成像系统中,并成功研制了基于M-Z像面干涉光谱成像的离轴三反桌面样机系统。  面向宽覆盖、高分辨率、高光谱分辨率的要求,离轴三反加M-Z像面干涉光谱成像技术可以有效解决大视场光学系统和大尺寸干涉仪的技术瓶颈。M-Z干涉仪放置在系统会聚光路中,在减小系统体积和重量的同时,能量利用率可以达到成像仪的极限;离轴三反光学系统则能够同时实现长焦距与大视场,并且没有中心遮拦,传递函数高。但在基于M-Z像面干涉的光谱成像系统中,离轴全反射系统难以补偿会聚光路中M-Z干涉仪棱镜元件所引入的像差,为此,科研人员将校正补偿系统应用到离轴三反系统中,设计并成功研制了一种新型离轴三反成像光学系统,并针对离轴三反系统装调自由度多,结构非对称性以及离轴系统离轴量需要精确测量调整等问题,解决了离轴非球面微应力装夹、多自由度调整结构形式、离轴三反系统高精度装调等多项技术难点,为高分辨率、高光谱分辨率光谱成像技术奠定了坚实基础,并完成了必要的技术储备,使我所先进光谱成像技术达到了国内领先水平。

  • 红外光谱仪中干涉仪部分疑问?

    1. 单色光的干涉图是正弦波,波长与单色光相同2. 既然干涉波的波长与单色光相同,那两者岂不是一样的光,干嘛要多此一举转化成干涉光呢?3. 当连续光源发生干涉后,自然产生对应的正弦波,这些.波是同时产生的,自然相互作用,应该不是呈分开的谱带状,即没有呈色散状,这样一起作用在样品上,咋就能成连续波数的光谱图,有点想不通?注:本人看了红外光谱检测技术这本书

干涉成像光谱仪相关的耗材

  • 全光纤麦克尔逊干涉仪MFI
    全光纤迈克逊干涉仪-MFI Michelson Fiber Interferometer产品介绍:量青光电提供的美国Optiphase公司全光纤迈克逊干涉仪(Fiber Michelson Interferometer)不但可以用来作为精密的测试测量仪器,还可以应用在精密的干涉传感系统。光纤干涉仪内部采用PZ1小尺寸光纤拉伸器(参见PZ1光纤拉伸器产品资料),内置的PZT通过前面板的BNC连接器驱动。全光纤迈克逊干涉仪标准产品的工作波长从1064nm到1550nm。每个光纤干涉仪都具有“零米”光路偏差的设计,用于方便用户根据不同的测试应用来改变光路延迟长度。标准产品的延迟光纤长度为50米,我们能够根据用户的实际要求提供各种定制的光纤干涉仪,请联系我们的销售人员.产品参数:参数单位指标产品型号MFI-10-50MFI-13-50MFI-15-50工作波长nm106413101550调制常数rad/V2.52.01.6两臂光路失配长度(无延迟)m0m0m0m两臂光路失陪长度偏差cm+/-10cm+/-10cm+/-10cm调制器接口BNCBNCBNC光纤类型HI-1060(或指定)SMF-28eSMF-28e光路接口FC/APCFC/APCFC/APC最大功率承受能力mW250250250封装尺寸(长x宽x高)mm260x160x90260x160x90260x160x90重量kg~2.7~2.7~2.7可定制的延迟范围m0.5m~1000m标准产品的延迟长度m50光纤连接器FC/APC产品应用:激光器相位噪声测试激光器频率噪声测试干涉型光纤传感系统模拟科研实验室应用应用列举:1.激光器相位/频率噪声测试(1)被测试的激光器经过衰减器后输入到光纤干涉仪,干涉仪的光路失配(光路差)可以由用户选择采用或者控制延迟线圈(延迟线圈)来设定。OPD-4000解调输出电压应用到PZ1光纤拉伸器的BNC接口上,作为PZ1光纤拉伸器的驱动电压。OPD-4000的相位解调输出可以选择数字信号输出或者模拟信号输出,数字信号输出通过PC进行后续处理,模拟信号通过信号分析仪进行分析。2.激光器相位/频率噪声测试(2)被测试的激光器经过衰减器后输入到光纤干涉仪,干涉仪的光路失配(光路差)可以由用户选择采用或者控制延迟线圈(延迟线圈)来设定。通过为PZ1型光纤拉伸器BNC接口提供控制电压保持其处于正交偏置(Quadrature Bias)。输出光信号由光接收机接收处理,输出信号进一步处理。3.光纤干涉仪传感器模拟(3)输入光信号代表干涉型光纤传感器的光源。选择合适的延迟光纤线圈,延迟长度作为需要模拟的传感器的长度。输出光信号通过光接收器件到信号分析仪进行处理分析。订货信息:MFI-10-50:1064nm光纤迈克逊干涉仪MFI-13-50:1310nm光纤迈克逊干涉仪MFI-15-50:1550nm光纤迈克逊干涉仪
  • Altechna 干涉滤光片
    干涉滤光片安装直径25.4 mm (+0/-0.2 mm)通光孔径 18 mm表面质量60-40 S-D闭塞带宽容差±20 %Altechna有限公司在250 nm到5000 nm的光谱范围内提供高质量的标准和定制的干涉滤光片。我们还可以提供专为生物医学仪器设计的生物医学带通滤波器,包括化学分析仪和酶标仪。这些带通滤波器包括标准或自定义匹配滤波器。我们可以提供的荧光滤光片包括诸如陡坡,深度阻挡(达到OD 6),最小光谱串扰,高透射率和环境耐久性等特征。1)通常,干涉滤光片被用作天体物理学,临床化学,材料分析,质量控制和生成中的波长选择器Altechna计量实验室应用以下产品检验:目视检查 - 根据MIL 13830和ISO 10110标准进行表面质量评估尺寸 - 测量几何尺寸,如直径,厚度等透射率(分光光度计,激光)*平坦度(干涉仪)波前畸变(干涉仪)平行度(测角仪,干涉仪)*(...)使用的设备带通滤光片带宽(FWHM),nm中心波长,nm峰透射,%产品编号UV20254201-IF-0254UV16280151-IF-0280UV10352351-IF-0352VIS10405351-IF-0405VIS10510451-IF-0510VIS10515501-IF-0515VIS10532551-IF-0532VIS10633551-IF-0633VIS10650501-IF-0650VIS10670551-IF-0670NIR10795501-IF-0795NIR10830701-IF-0830NIR10850701-IF-0850NIR10880701-IF-0880NIR10940701-IF-0940NIR101064701-IF-1064NIR101550501-IF-1550UV15248121-IF-0248UV10313351-IF-0313UV12350351-IF-0350UV12394451-IF-0394VIS10410351-IF-0410VIS20426501-IF-0426VIS8436351-IF-0436VIS10442501-IF-0442VIS10486601-IF-0486VIS10488451-IF-0488VIS10520501-IF-0520VIS10522501-IF-0522VIS10525501-IF-0525VIS10542501-IF-0542VIS10546501-IF-0546VIS10578501-IF-0578VIS10595501-IF-0595VIS10630551-IF-0630VIS10660501-IF-0660VIS10680451-IF-0680NIR10702451-IF-0702NIR10710451-IF-0710NIR10780701-IF-0780NIR10789451-IF-0789NIR10805701-IF-0805NIR10808701-IF-0808NIR20904701-IF-0904NIR10980551-IF-0980定制你可以根据您的需求定制这个产品。如果您没有找到适合您的应用,请与我们联系,以便定制解决方案。
  • TYDEX太赫兹扫描法布里 - 珀罗干涉仪
    太赫兹扫描法布里 - 珀罗干涉仪太赫兹扫描法布里 - 珀罗干涉仪(TSFPI)设计用于测量窄带THz辐射的波长和强度。 TSFPI可以与脉冲以及连续的窄带THz辐射源一起使用。TSFPI由两个半透明的平行硅镜组成,其中一个安装在电机驱动的线性驱动器上。THz辐射参数的测量是通过移动反射镜的平移(扫描)来完成的,如图2所示。1。图1. TSFPI的原理图。TSFPI可与以下来源一起使用:?回旋管 ?光泵浦亚毫米波激光器 ?返波振荡器 ?自由电子激光器 ?差频THz发生器 ?混频太赫兹发生器 量子级联激光器 ?p-Ge激光器 ?新型太赫兹源。太赫兹扫描法布里-珀罗干涉仪还能够测量宽带太赫兹源的波长和强度,以及根据法布里-珀罗干涉仪透射光谱(图2)过滤太赫兹辐射。TSFPI支持许多镜像转换模式,例如将镜像移动到给定位置,将镜像转换为给定的距离、连续的和循环的转换。镜像转换速度,转换的间隔,开始和结束位置也可以调整。图2.TFP光谱仪测量的镜面间距为500μm的TSFPI透射光谱Menlo Systems TERA K8。图3示出了由TSFPI执行的光泵浦超声波波长激光器的振荡波长的测量结果。 从图中可以看出,相邻TSFPI透射zui大值之间的距离约为216μm(433μm-216μm=217μm 647μm-433μm=214μm 865μm-647μm=218μm),其对应于 一半的激光波长。 此结果与理论TSFPI透射zui大值一致:λ= 2 * d / m,其中d是TSFPI反射镜之间的间距,单位为μm,m是干涉级数,λ是以μm为单位测量的波长。图3.光声探测器Tydex GP-1P与TSFPI反射镜间距的信号幅度。 太赫兹辐射是由光泵浦的亚毫米波激光器产生的,λlas=432μm。规格规格Value工作频率范围THz0,1-15自由光谱范围,太赫兹0,01-1,8毫米镜之间的间距0-9,5间距设置精度,μm± 1.25光轴高度,毫米110自由孔径,毫米52尺寸(长x宽x高),毫米232х151х120质量,公斤5,0主要特征:?TSFPI广泛操作范围,0.1 - 15 THz ?高击穿阈值 ?大光圈,52毫米 ?镜面定位精度高,±1.25μm?易于使用。TSFPI包包括以下内容:?TSFPI干涉仪装置 ?电源和控制装置 ?镜像转换控制软件 ?电缆 ?用户指南。TSFPI以下配件可以单独提供:?光声Golay探测器GC-1P / T / D ?0.1-15 THz范围内指定波长的BPF(带通滤波器) ?低通滤光片(LPF)过滤IR辐射,其截止频率分别为:23.4 THz,23.3 THz,23.1 THz,14.3 THz,10.9 THz,8.8 THz,5.5 THz,4.3 THz,4 THz,3.2 THz ?一组透射率为1%,3%,10%和30%的衰减器 ?TPX和HRFZ-Si镜片。
Instrument.com.cn Copyright©1999- 2023 ,All Rights Reserved版权所有,未经书面授权,页面内容不得以任何形式进行复制