医用微量元素分析仪

新闻背景：微量元素，在人体内的含量少到以毫克计算，却一直是困惑数亿家长的心病，给不给孩子做微量元素检测?这让众多家长很迷茫。而正是由于这种迷茫，目前一些检测机构或医疗单位浑水摸鱼，动不动就推介家长给孩子验血检测。近日，有媒体报道曝出查血钙是最“坑爹”的体检项目，微量元素检测基本没有意义。　　处在舆论风口浪尖中的微量元素检测　　据记者了解，目前国内微量元素检测的内容主要包括铜、锌、钙、镁、铁、铅，检测的方式包括测头发、测尿液、采指血、抽静脉血等，其中后两种居多。很多人都以为微量元素是必查项目，事实却不是，且微量元素的检测结果也并不是最终的检查结果。据业内人士坦言，“除血铅检测外，所谓的微量元素检测除了经济意义以外没有任何临床意义” 而查血钙则是最“坑爹”的体检项目。　　据亚洲儿科营养联盟主席、中国医师协会儿童健康专业委员会主任委员丁宗一直言：“近20年来，国内微量元素检测的方式花样百出，但检测结果都不靠谱。”他指出，微量元素检测对仪器和实验室的环境要求非常高，不是一般的医院实验室能做到。所以国外基本不查，孩子没病不会给抽血。　　其实早在2009年，卫生部就已下文，除血铅检测外，医疗机构临床实验室不得开展其他重金属和类金属的临床检测，不得出具检测报告，但是这一规定在现实中明显遭遇了“软执行”，凸显了监管的乏力。源自新华网　　微量元素检测背后暗藏多重利益链　　有业内人士称，微量元素检测近年来无节制的发展壮大，正是由于其中蕴藏的巨大商业利益导致。据记者调查，我国各地微量元素检测基本都是自费，一次检查五项(除铅外)费用低的40元左右，高的近100元。　　某三甲妇幼保健院检验科医生小苏说，目前医院用的主要是国产试剂，五项检查成本厂家报价7元多，再加上仪器损耗以及人工等成本，这一项目的盈利虽不算太大，但它量大。他所在医院每天就有150个左右标本，每年幼儿园体检还有很多额外的标本，全年将近6万个标本。　　既然存在利益，那谁是最大的赢家?据新华社评论称，最大的赢家就是那些卖补品的商家，还有检测仪器和试剂的生产厂家。源自新华网　　微量元素检测仪器生产厂家有话说　　那在目前境况下，微量元素检测仪器生产厂家是否受到了影响?日前，《新闻晨报》记者以微量元素检测仪购买者身份联系到吉林一家生产企业。该企业网站上宣称，已生产医用微量元素分析仪20多年，是国内该仪器使用用户最多的厂家。该企业客服人员告诉记者，其生产的微量元素检测仪技术全部源自德国，仪器本身及检测试剂则在国内生产。而该公司负责长三角业务的销售经理林毅(化名)向记者详细描述了该企业目前主推的5款微量元素检测仪，其中最贵的一款推车型微量元素检测仪售价为32000元。　　林经理称，目前国内进行微量元素检测的方法众多，而该公司的产品采用的是“电化学检测法”，大部分二甲及以上医院使用的检测设备则是“原子吸收法”检测仪器。“那个设备成本比我们高多了，他们一套设备够买我们十套了。”以长三角市场为例，该公司产品主要销往一些小型医院、诊所，大型医院基本都是采购十五六万元一套的“原子吸收法”检测设备，“那个设备肯定比我们的检测结果要准，但是成本也高啊!”林经理坦言，“电化学检测法”的结果的确不如“原子吸收法”，结果会有一些偏差，但如果仅供用户参考的话，影响不大。前这家企业生产的电化学检测法医用微量元素检测仪，主要销往二甲以及二甲以下的医院，公司宣称全国有2万多家医院正在使用其生产的医用微量元素分析仪。源自《新闻晨报》　　此外，《广州日报》记者亦联系到了该厂工作人员李小姐，李小姐表示，由于该检测越来越普及，公司的仪器卖得很好。她并不认为这次事件会对他们的产品销量产生影响。源自《广州日报》　　不能“一竿子打死”微量元素检测　　很多人都说，人体中只有1%的钙在血液中，即便缺钙也很难在血液中发现，通过验血来判断缺钙完全没有意义。并且使用不同的仪器，检测结果也有差别。如微量元素的专用仪器，检测的结果更精准，而普通仪器则不一定能检测出来。　　对此，银川市妇幼保健院儿保科主任王宝珍表示，“并不能将微量元素一竿子打死，因为一旦孩子出现了症状，对症下药的前提就是要查清楚到底是哪里出现了问题。而微量元素缺乏很多是没有特别明显症状的，微量元素检测能够成为参考指标之一，特别是血铅，还有一些先天性代谢疾病，微量元素检测的灵敏度非常高。有一次，一个来自灵武的儿童出现了疑似多动症的病情，我们决定给他做微量元素检测，结果发现孩子体内的铅严重超标。”源自《银川晚报》

《RISE大招》前情回顾：与RISE之相遇、相知、相恋和相爱。本系列前几集讲述了RISE拉曼-电镜一体化系统在传统扫描电镜“心有余而力不足”的分析困境下一跃而出到它对于无机材料分析的武功路数：无机相鉴定、金属夹杂分析、结构和结晶度分析等等。（前三集链接：点击下列文字即可快速查看）。01 “我的前半生”结束了，后面的科研之路就靠它了！02 无机材料分析，RISE还有这些大招！03 《RISE大招》无机材料之结构分析和结晶度分析今天呢，主要给大家讲讲RISE对于无机材料中微量元素分析、取向分析和取向应力分析的解决方案。无机材料之微量元素分析在传统的电镜中，由于EDS的检出限为0.1%，所以对于一些微量元素的分析来说较为困难。尤其是要做微量元素或者差异很小的面分布来说，EDS往往不能满足我们的需要。虽然拉曼光谱并不能直接得到元素含量和分布分析，但是有时候微量元素的变化足以引起对应的特征拉曼峰的变化。此时便可利用拉曼光谱去进行微量元素的分析。 如下图，为某矿物试样。Nd元素含量较低，EDS无法通过Mapping将其分布准确的显示。 如果要点扫描，虽然单点数据可以比mapping更准确的测出Nd的含量，但是无法得到分布。如果要仔细分析，需要用户选择很多个测试点进行分析。但是这样得到的数据工作效率很低，数据整理困难，且准确性也难以评价。 而在RISE下则可以先进行拉曼面扫描，发现Nd元素对应的特征峰的积分强度随元素含量而有变化。元素Nd含量偏高的区域的拉曼光谱和红色接近，含量偏低的和蓝色谱图接近，所以根据谱图拟合后得到了根据Nd元素含量而得到的RISE图像。很快的可以找到Nd元素含量偏高或偏低的区域。根据RISE图像，我们还可以再去进行EDS分析，对含量偏高或偏低的区域做更精确的EDS定量分析。这比没有RISE图像仅根据SEM图像随机选点采集很多个数据点，再进行后期分析，无论是准确度还是效率上均要提高很多！无机材料之取向分析取向是晶体材料的重要基本参数，拉曼光谱虽然不能像EBSD一样直接进行晶面指数的分析，但是对于很多无机材料来说，取向不同其拉曼特征峰也会产生积分强度不同或者峰位有所偏移的情况。 如下图，试样为白铁矿晶体，主要成分为FeS2，结构属斜方双锥晶类，对称性较低。在RISE系统下，SEM图像获得了明显的ECC衬度，然后再进行拉曼光谱面扫描，发现不同晶粒的拉曼特征谱线有一定的变化，其峰的积分强度和峰的位置都随取向有一定的关系。进行谱线拟合后，得到了随取向变化的RISE图像。虽然我们不能得到每个晶粒的精确的取向，但是晶粒的分布及大小却可用非常清楚的从RISE图像获得。RISE不同于EBSD识别衍射花样，它另一个角度为分析晶粒提供了一定新的方法。 无机材料之取向应力分析应力测试也是无机材料分析的重要方面，目前微区应力分布测试主要手段是EBSD，通过测试取向差的分布来间接的反应的情况下。但是EBSD分析手段又有一定的局限性。 拉曼光谱也可以间接的反应应力的情况。如果存在压缩应力，特征峰会往高波数方向移动；反之，若存在拉伸应力，特征峰会向低波数方向移动。且应力越大，特征峰的位移越大。 RISE系统的拉曼成像能力非常强大，可以用特征谱线的位移来进行成像。如下图，对做过纳米压痕的单晶硅表面进行RISE成像。发现压痕中心区，特征峰往高波数方向移动，周边往低波数方向移动。根据此规律成像后，得到了纳米压痕区域，硅表面的压缩和拉伸应力分布图。 RISE七十二般武艺，招招新奇，但一招一式，每一个路数都为更好地帮助您的科研分析而生。除了应对传统扫描电镜分析能力薄弱的问题，RISE系统还切实突破并解决了传统意义上的电镜-拉曼联用系统的种种分析弊端，采用了扫描电镜-拉曼光谱一体化的硬件和软件设计，使得综合分析更加行之有效。《RISE大招》下集看点：说了这么多，是时候总结一下啦~Hahaha...关于TESCANTESCAN发源于全球最大的电镜制造基地-捷克Brno，是电子显微镜及聚焦离子束系统领域全球知名的跨国公司，有超过60年的电子显微镜研发和制造历史，是扫描电子显微镜与拉曼光谱仪联用技术、聚焦离子束与飞行时间质谱仪联用技术以及氙等离子聚焦离子束技术的开拓者，也是行业领域的技术领导者。↓ ↓ ↓ 观看RISE大招全系列，请戳：01 “我的前半生”结束了，后面的科研之路就靠它了！02 无机材料分析，RISE还有这些大招！03 《RISE大招》无机材料之结构分析和结晶度分析

EPMA无铅焊锡材料 随着微型电子电器的发展以及根据国家信息产业部《电子信息产品生产污染防治管理办法》的规定，无铅焊锡（lead-free solder）已逐渐成为电子电器行业中的主流焊料。相较普通焊锡，无铅焊锡具有以下三大优势： 1. 溶化后出渣量比普通焊锡少，且具有优良的抗氧化性能；2. 溶化后粘度低，流动性好，可焊性高，适用于波峰焊接工艺；3. 由于氧化夹杂极少，可以更大限度地减少拉尖、桥联现象，焊接质量可靠，焊点光亮饱满。 无铅焊锡中杂质元素含量及分布的控制决定了焊料的质量及最终的上锡效果，因此工厂需要借助电子探针（EPMA）的元素含量和图像分析功能对无铅焊锡中的杂质含量和微观分布进行检测。图1. 岛津场发射电子探针EPMA-8050G 岛津EPMA-8050G型电子探针（图1）搭载高质量场发射电子光学系统，结合岛津特有的52.5°高X射线取出角和全聚焦晶体，可以实现： 1 优越的空间分辨率EPMA-8050G可达到的更高级别的二次电子图像分辨率3nm（加速电压30kV）。 （加速电压10kV时20nm@10nA/50nm@100nA/150nm@1μA） 2 大束流更高灵敏度分析可实现其他仪器所不能达到的大束流（加速电压30kV时可达3μA）。在超微量元素的检测灵敏度上实现了质的飞跃，将元素面分析时超微量元素成分分布的可视化成为现实。 岛津研发部门使用EPMA-8050G仪器在低加速电压（7kV）条件下对电子元件和印刷电路板连接处的焊料层进行了背散射（BSE）和元素面分布分析，图2 展示了微米尺度（刻度尺5μm）上杂质元素以点状Ag颗粒沉积为主，少量Cu颗粒沉积，确定了杂质元素的种类。 图2. 焊料层背散射和元素面分布图像分析（刻度尺5μm） 扩大放大倍数（刻度尺500nm）对富集Ag颗粒区域进行背散射和元素面分布分析，图3展示清晰区分Ag颗粒所需的横向空间分辨率大致为100nm甚至更小。 图3. 焊料层背散射和元素面分布图像分析（刻度尺500nm） 使用高加速电压（25kV）条件对相同视域进行分析，图4 展示Ag颗粒在高加速电压条件下具有更广的分布范围（C、D点区域均有Ag颗粒分布），结合岛津的电子传播路径显示程序（Electron penetration display program）分析，图5 展示高加速电压条件下X射线出射深度更大，根据以上信息可模拟推断出Ag杂质颗粒在焊料层纵向上的分布（图6）。 图4. 不同加速电压（7kV和25kV）条件下背散射和Ag元素分布图像 图5. 不同加速电压条件下电子束作用范围（红色）和X射线出射深度（绿色） 图6. 推断的Ag颗粒在焊料层内的纵向分布 更多电子探针仪器信息和相关应用敬请关注岛津科技资讯通推文内容。 本文内容非商业广告，仅供专业人士参考。