电子元器件检测

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电子元器件检测相关的厂商

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    德瑞检测设备是一家集研发、设计、生产、销售于一体的模拟环境测试设备的高科技生产企业,大陆新总部及研发基地设立于制造之城广东省东莞市。公司自成立以来,始终坚持“以质量求生存、以诚信求发展、以管理求效益”的经营理念,不断引进国内外先进技术、积累丰富的经验,所有产品的主要部件均采用欧、美、日及中国台湾等国家和地区的进口元器件,确保产品的品质与性能,优化产品设计,走绿色、低碳、环保的可持续发展道路,为实现企业自身的转型与升级而努力前进。公司产品系列包括:恒温恒湿试验箱、步入式恒温恒湿房、步入式高低温湿热室、冷热冲击试验箱、快速温变试验箱、恒温恒湿防爆试验箱、高低温试验箱、低温试验箱、老化房、hast高压加速老化试验箱、PCT加速老化试验箱、高空低气压试验箱、氙灯老化试验箱、UV紫外线试验箱、砂尘试验箱、IP淋雨试验箱、盐雾试验箱、三综合试验箱、拉力试验机、跌落试验机、振动试验台、臭氧老化试验箱、甲醛试验箱、耐黄老化试验箱、电池检测设备等等;软件开发、计量检测及维修咨询整包服务。产品广泛用于:科研单位、质检机构、大专院校、电子电器、新能源电池、汽车船舶、LED照明、电线电缆、航空航天、五金配件、橡胶塑料、金属、包装、建材等行业和领域;成为材料开发、特性试验、教学研究、品质管制、进料检验的得力助手。生产的检测设备符合:GB、GJB、ISO、IEC、ASTM、EN、JIS、TAPPI、ISTA、DIN、BS、CE、UL、BS、GMP、FDA等标准。
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  • 东莞市勋威检测仪器有限公司是一家致力于“为对广大企业的原材料和产品的各项性能指标进行检测评估”之质量检测仪器、材料物性实验仪器的生产、研发、销售、服务为一体的专业生产商。产品涵盖制鞋、皮革、橡胶、塑胶、化工等众多产业所有可能的品检范畴。为材料开发、物性试验、教学研究、品保管制、进料检验提供可靠保证。 公司严把质量关,产品皆采用进口元器件,本着“质量第一、信誉至上”的宗旨,以产品过硬的质量,合理的价格,齐全的品种和真诚守信赢得客户。坚持科技创新,致力于开发新品,吸收改进先进的工艺流程,建立完善的质量保障体系。公司产品均严格采用ISO、ASTM、BS、DIN、EN、GB、JIS、……等世界规范,并提供相关的测试标准和完善的服务,以满足不同行业应用的需求,其产品在广泛运用各类大中小企业生产实验使用外,也为广大大中专院校、科研单位在实验教学、技术研发提供了数据支持和硬件保障。专业的生产制造技术,最优质的售后服务。我们用心经营每一个日子,兢兢业业、精益求精。我们期盼自己不断壮大的同时也推动行业的技术进步,提升客户产品的质量竞争力,为振兴民族检测仪器和试验机产业做出自己的贡献。勋威全体同仁随时欢迎关联企业和个人来电、来函或莅临参观指
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电子元器件检测相关的仪器

  • 对于陆续登场的高新电子元器件,表面的检测已经无法满足现在客户的检测要求。由于内部电子电路的连接短路断路不可直接观测,所以高性能的X射线实时检测显得如此重要并且有效。针对BGA检测,多层PCB焊锡检测而专门开发出来的XTV130 X射线检测专用系统,让PCB电路板的缺陷检测分析变得更加迅速灵活。其中配置的Inspect-X软件,让自动检测以及电路板自动识别(选配)成为可能,以得到高效的检测处理能力。 主要特点 • 焦点尺寸为3微米的特制微焦点枪源 • 16位色深高解析度图像与图像处理工具 • 可以同时放置多块样品电路板的大型托盘 • *大可达60°的倾斜角度观测 • 旋转样品托盘(360°连续旋转)(选配) *大可到320倍对感兴趣观测区域放大 *大可倾斜60°的灵活观测可以发现立体连接处的问题 引进功能 • 电子元器件品质保证检测用X射线工作站 • 不需要特别的编程技术的基于宏的自动化功能 • 针对零件特性的合格与否自动判定,离线的可视化检测以及报告生成 • 基于VBA可以让复杂的工序变得简单自动化 • 多轴的方向操作杆让在线的导航更加直观 • X射线开管式技术让维护成本更加低廉 • 不需要额外保护措施的射线计量安全系统 • 占用空间小,重量轻,安装设置简单 用途 BGA缺陷检测 • 电子零件、电路零件 • 金线引脚连接故障点、球形虚焊点、金线弧度、芯片粘合、干接合、桥接/短路、内部气泡、BGA等等 • 装配前/装配后PCB • 零件的位置偏差,焊缝空隙、桥接、表面装配等缺陷显示 • 通孔镀层,多层排列详细检查 • 晶圆片级芯片规模封装(WLCSP) • BGA以及CSP检测 • 非铅焊锡检查 • 微机电系统MEMS,微光机电系统MOEMS • 电缆,连接器,塑料件等等
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  • 对于小型的高装配密度的印刷电路板,上面大量的焊接的零件互相重合遮挡,X射线的透视功能是唯一的高效无损检测手段。XTV160为设计制造与质量分析部门提供简捷高效的印刷电路装配与电子元器件检查系统。在自动检测模式下可对样品进行快速检测,手动模式下可以在软件中直观的进行高精度操作,操作者可以对样品中微小的故障缺陷进行可视化确认分析以及保存结果。主要特点 • 亚微米级的焦点尺寸NanoTech™ 射线管 • 快速获取高品质的图像 • 可以同时放置多件样品的大托盘载物台 • 可以自定义宏让工作流程自动化引进功能 • 灵活的操作集成到一个紧凑的系统里 • 人机交互式的可视化功能 • 全自动X射线检测功能 • 详细分析用的CT功能(选配) • 最大可达75°的倾斜观测角度 • 直观的GUI界面与交互式操作杆导航功能进行快速检测 • 便于维护的开管式设计使得维护成本被降低到最小 • 不需要额外保护措施的射线计量安全系统 • 占用空间小,重量轻,安装设置简便 用途 • BGA检测分析 • 焊锡空洞检测 • 通孔检测 • 芯片银胶空洞检测 • 球形引脚连接检测 • 压线连接检测 • 微小BGA检测 • Padarray检测
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  • 因产品配置不同, 价格货期需要电议, 图片仅供参考, 一切以实际成交合同为准模块化检漏仪应用于电子元器件检漏系统上海伯东某生产氦气检漏系统公司, 其研发的小型氦检漏系统内部集成伯东 Pfeiffer 检漏模块 ASI 35 用于电子元器件检漏. 真空模式下, 漏率 5x10-7 mbar l/s.电子元器件检漏系统功能定制腔体内放入经过压氦的电子元器件, 真空模式下, 测试元件的整体漏率值.鉴于客户信息保密, 若您需要进一步的了解电子元器件检漏系统, 请联络上海伯东叶女士
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电子元器件检测相关的资讯

  • 航空航天电子元器件检测项目落户空港新城
    p style="text-align: justify text-indent: 2em "近日,西咸新区空港新城与北京君普科技有限公司就航空航天电子元器件检测项目正式签订投资协议,标志着空港新城在电子信息产业细分领域迈上新台阶。同时,这一项目的落地将助推新城特种芯片产业链条打造,为空港的芯片产业发展提供新动能。/pp style="text-align: center text-indent: 0em "img style="max-width:100% max-height:100% " src="http://p5.itc.cn/images01/20200921/b2bdfc27ada9474da6ce44f19f18ca13.jpeg"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "中国科学院院士、西安电子科技大学教授郝跃,空港新城党委书记、管委会主任贺键,空港集团公司领导蒙彬斌、张绍春、邵元锦等共同见证项目签约。br//pp style="text-align: center text-indent: 0em "img style="max-width:100% max-height:100% " src="http://p0.itc.cn/images01/20200921/a0f6599fcdeb4cf6b8514cada5493e63.jpeg"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "签约仪式上,空港新城党委委员、管委会副主任杨博与北京君普科技有限公司总经理王中旭代表双方签定协议。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "近年来,随着我国电子元器件市场应用范围的逐渐扩大,参与电子元器件研发、设计及生产企业越来越多,对航天电子元器件的质量特别是产品的使用寿命、可靠性及抗辐照等都提出了更高的要求。空港新城航空航天电子元器件检测项目的建成,将成为国内唯一能够对航天领域电子元器件及电路系统在地外极端环境下的性能表现提供完整试验分析及应用评估报告的机构。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "仪式开始前,双方就项目落地及企业未来发展前景进行了交流会谈。郝跃表示,空港新城近年来在社会经济发展方面成效显著,在区位优势、产业集聚、人才服务、城市配套等方面持续发力,优势凸显,将为项目的快速发展提供极大的战略支撑和保障。希望双方能够持续深化合作,推动整个特种芯片产业链条的落地,实现区域和企业的协同发展。/pp style="text-align: center text-indent: 0em "img style="max-width:100% max-height:100% " src="http://p8.itc.cn/images01/20200921/0759341ccf1144ec9eace5d78ddc4734.jpeg"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "贺键表示,目前空港已落户了七七一研究所集成电路测筛与特种计算机研发制造项目、中科钢研碳化硅半导体衬底片制造等一批高新技术产业类项目。航空航天电子元器件检测项目将助力空港在特种芯片产业链条上持续发力,吸引上下游企业进一步集聚发展。项目平台的落地对进一步强化电子信息产业布局空港,促进经济社会高质量发展具有十分重要的意义。空港新城将以良好的营商环境、优质的服务保障,与企业一同携手,共谋美好未来。 /p
  • 关键电子元器件发展亟待突破瓶颈
    制造LED芯片所使用的金属有机物化学气相沉积(MOCVD)设备主要由德国和美国两家公司供货,生产触摸屏所用的玻璃基板主要由美国和日本的几大厂商控制,有机半导体发光器件的发光材料专利主要掌握在日本与韩国厂商的手中……  目前,我国在关键性电子元器件方面虽多年攻关仍举步维艰,那么,问题到底出在哪儿?  “这里已经没有理论和设计问题了。”中国科学院电子学研究所研究员郭开周近日接受《中国科学报》记者采访时说,研制出在线、无损、实时检测以及质量控制的技术平台,比单纯的产品设计困难得多 研制出实用的技术平台的意义,比掌握某种设计技术重要得多。  公差问题不容小视  电子元器件是电子产品的最基本单元,其质量直接关系到整个系统、分系统、单机产品的质量。没有高可靠性的电子元器件,设计再好的电子产品也难以发挥作用。  一位业内人士给记者打了个形象的比喻:元器件之于电子产品,就像建筑高楼大厦所用的钢筋水泥、砖瓦灰石一样,再好的建筑师如果使用的是低劣的建筑材料,盖出的楼房也必定是“豆腐渣”。  “对于产品质量,公差的影响巨大。”郭开周说。  所谓公差,就是实际参数值的允许变动量。理论计算是不考虑公差的 而实际产品中,所有的元器件参量乃至一根金属线的尺寸都有公差。  完成一件高质量的产品,要妥善处理各种各样的公差,比如:尺寸公差、介质材料介电常数和厚度的公差、工艺环境(温度、压力等)的公差等。  “一些公差的组合是允许的,会导致成品产生 而另一些公差的组合则是不允许的,会导致废品产生。”郭开周说,公差控制不严,器件传递的信号就会出现种种问题,如短路或漏电等。  中科院微电子所高性能模拟集成电路项目组负责人赵野告诉记者,企业在生产制造中通常采用良率(良品/产品总数)作为控制质量的指标。“普通的电子元器件产品,良率至少要达到96%~97%,否则报废太多,企业无法赢利。”  因此,郭开周认为,要获得“成品”,必须建立合适的质量控制体系,包括实时质量监测和控制的技术平台。  “尽管控制产品质量与生产工艺的调整有关,但在产品设计时就要考虑如何避免出现质量问题。”赵野补充道。  技术平台研制须加强  在我国电子元器件行业发展的过程中,由于国内企业普遍规模较小,技术研发起步较晚,故在产业链上游的原材料和设备环节缺乏竞争力,主要集中在代工制造的环节,企业综合竞争能力普遍较弱。  究其原因,赵野认为,一方面,我国生产制造电子元器件的开放性商业平台较缺乏,较先进的工艺平台有待完善 另一方面,在设计上也还有欠缺,一些核心技术还没掌握。  对此,郭开周建议,在生产流程中,对阶段成品的质量实施在线、实时、无损检测。“有经验的工作人员可以及时找到故障点并分析出产生故障的原因,及时调节工艺参数,不至于连续生产废品 同时可以对各种不合格情况进行实验、分析,找到在工艺流程中进行改善和控制的办法。”  实际上,制造出精细的集成电路并实现实时质量监控并不容易。有的单位花了大量经费、人力和时间,一直保持着与西方国家的技术联系,还采用了国外软件进行设计,可是要研制出某些任务要求的芯片,仍然是困难重重。  “重理论、重设计而轻视工艺、技术平台,必然会出现瓶颈。”郭开周说。  中国探月工程三期总设计师胡浩在接受采访时曾透露,“嫦娥一号”绕月探测卫星所使用的CCD相机中的芯片属于引进的高端元器件,它的订单比原计划推迟了半年多,对项目进程产生不利影响。  他坦言:“中国航天元器件引进遭遇拖延的情况时有发生,技术基础相对薄弱使得我们在一些方面受制于人。”  “初期购买国外设备是必要的,但在解剖、仿制的过程中,不重视实用技术平台的建立会吃大亏。”郭开周说,“现在应该是花大力气解决关键国产部件、器件、元件及材料研发瓶颈问题的时候了。解决这些瓶颈问题,将会把我国的科技水平提到一个更高的层次,我国的科技事业将会形成一个完整的体系。”
  • 电子元器件测试筛选仪器配置清单
    p style="text-indent:28px"电子元器件测试筛选服务也称之为电子元器件二次筛选。电子元器件的二次筛选是指在元器件厂家筛选的基础上,由使用方或其委托的第三方对电子元器件进行的筛选。二次筛选是在电子元器件各种失效模式的基础上,进行的一系列有针对性的试验,从而达到有效剔除早期失效的目的。介于目前我国电子元器件设计、制造和工艺等方面的现状,以及进口元器件采购中的诸多不可控因素,电子元器件二次筛选已成为激发电子元器件潜在设计、生产缺陷,有效剔除早期失效产品,提高整机系统的可靠性等方面必不可少的一环。/pp style="text-indent:28px"电子元器件测试贯穿产品设计元器件选型、生产阶段元器件接收和选用、产品交付阶段的产品“二次”筛选。设法在一批元器件中剔除那些由于原材料、设备、工艺、人为等方面潜在的不良因素所造成的有缺陷的,或可能发生早期失效的器件,而挑选出具有一定特性的合格元器件或判定批次产品是否合格接收,提高产品使用可靠性,特别是针对进口元器件,通过“二次筛选”保证产品质量可控,提高装备整体可靠性。/pp style="text-indent:28px"电子元器件测试筛选一般要求:span1./span不改变元器件固有可靠性,非破坏性试验;span2./span对批次产品进行span100%/span筛选;span3./span剔除早期失效品,提高元器件使用可靠性;span4. /span筛选等级由元器件预期工作条件和使用寿命决定。/pp style="text-indent:28px"电子元器件测试筛选涉及到大量种类的仪器设备,以下为电子元器件测试筛选的相关测试项目及检测仪器设备清单:/ptable border="1" cellspacing="0" cellpadding="0" style="border-collapse:collapse border:none"tbodytr class="firstRow"td width="141" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " align="center"p style="text-align:center"测试项目/p/tdtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " align="center"p style="text-align:center"span检测仪器设备/span/p/td/trtrtd width="141" rowspan="13" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " align="center"p style="text-align:center"电测试/p/tdtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " align="center"p style="text-align:center background:white"span style=" color:black"阻抗分析仪/span/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " align="center"p style="text-align:center background:white"span style=" color:black"高阻计/span/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " align="center"p style="text-align:center background:white"span style=" color:black"耐压测试仪/span/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " align="center"p style="text-align:center background:white"a href="https://www.instrument.com.cn/zc/1746.html" target="_self"span style=" color:black"半导体参数测试系统/span/a/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " align="center"p style="text-align:center background:white"span style=" color:black"高精度图示仪/span/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " align="center"p style="text-align:center background:white"a href="https://www.instrument.com.cn/list/sort/231.shtml" target="_self"span style=" color:black"网络分析仪/span/a/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " align="center"p style="text-align:center background:white"a href="https://www.instrument.com.cn/zc/2437.html" target="_self"span style=" color:black"信号发生器/span/a/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " align="center"p style="text-align:center background:white"a href="https://www.instrument.com.cn/zc/2489.html" target="_self"span style=" color:black"频谱分析仪/span/a/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " align="center"p style="text-align:center background:white"a href="https://www.instrument.com.cn/zc/2457.html" target="_self"span style=" color:black"数字集成电路测试系统/span/a/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " align="center"p style="text-align:center background:white"a href="https://www.instrument.com.cn/zc/2458.html" target="_self"span style=" color:black"模拟集成电路测试系统/span/a/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " align="center"p style="text-align:center background:white"span style=" color:black"继电器测试系统/span/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " align="center"p style="text-align:center background:white"a href="https://www.instrument.com.cn/zc/2473.html" target="_self"span style=" color:black"LCR/spanspan style=" color:black"、电阻计等/span/a/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " align="center"p style="text-align:center"span style=" color:black"电源模块测试系统/span/p/td/trtrtd width="141" rowspan="6" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " align="center"p style="text-align:center"环境、应力筛选/p/tdtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " align="center"p style="text-align:center"高低温试验箱:热循环试验/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " align="center"p style="text-align:center"a href="https://www.instrument.com.cn/zc/386.html" target="_self"振动台:振动试验/a/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " align="center"p style="text-align:center"恒定加速度试验台:恒定加速度试验/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " align="center"p style="text-align:center"可编程电源:电压、功率老炼试验/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " align="center"p style="text-align:center"电子负载:电流、功率老炼/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " align="center"p style="text-align:center"颗粒碰撞噪声测试仪/p/td/trtrtd width="141" rowspan="11" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " align="center"p style="text-align:center"寿命span//span老化span//span老炼试验/p/tdtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " align="center"p style="text-align:center"单片集成电路高温动态老炼系统/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " align="center"p style="text-align:center"混合集成电路高温动态老炼系统/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " align="center"p style="text-align:center"电源模块高温老炼检测系统/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " align="center"p style="text-align:center"晶体振荡器高温老化测试系统/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " align="center"p style="text-align:center"分立器件综合老炼检测系统/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " align="center"p style="text-align:center"分立器件间歇寿命试验系统/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " align="center"p电容器高温老炼检测系统/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " align="center"p大功率晶体管老炼检测系统/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " align="center"p继电器低电平寿命筛选系统/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " align="center"p继电器中电平寿命筛选系统/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " align="center"p继电器高电平寿命筛选系统/p/td/trtrtd width="141" rowspan="2" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " align="center"p外观检查/p/tdtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " align="center"pa href="https://www.instrument.com.cn/list/sort/5.shtml" target="_self"光学显微镜/a/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " align="center"pa href="https://www.instrument.com.cn/zc/58.html" target="_self"金相显微镜/a/p/td/trtrtd width="141" rowspan="2" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " align="center"p密封检测/p/tdtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " align="center"pa href="https://www.instrument.com.cn/zc/488.html" target="_self"氦质谱检漏仪/a/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " align="center"p碳氟化合物粗检漏仪/p/td/trtrtd width="141" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " align="center"pspanX/span射线照相/p/tdtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " align="center"pspanX-RAY/span透射系统/p/td/trtrtd width="141" rowspan="2" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " align="center"p扫描声学显微镜检查/p/tdtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " align="center"p声扫检测设备/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " align="center"pa href="https://www.instrument.com.cn/zc/420.html" target="_self"超声扫描显微镜/a/p/td/tr/tbody/tablepbr//p

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  • 常用电子元器件检测方法(一)

    如何准确检测元器件的相关参数,判断元器件是否正常,不是一件千篇一律的事,必须根据不同的元器件采用不同的方法。以下对常用电子元器件的检测方法进行介绍。 一、电阻的检测方法:   1固定电阻的检测 A将两表笔(不分正负)分别与电阻的两端引脚相接,即可测出实际电阻值。为了提高测量精度,应根据被测电阻标称值的大小来选择量程。由于欧姆挡刻度的非线性关系,它的中间一段分度较为精细,因此应使指针指示值尽可能落到刻度的中段位置,即全刻度起始的20%~80%弧度范围内,以使测量更准确。根据电阻误差等级不同。读数与标称阻值之间分别允许有±5%、±10%或±20%的误差。如不相符,超出误差范围,则说明该电阻值变值了。 B注意:测试时,特别是在测几十kΩ以上阻值的电阻时,手不要触及表笔和电阻的导电部分;被检测的电阻从电路中焊下来,至少要焊开一个头,以免电路中的其他元件对测试产生影响,造成测量误差;色环电阻的阻值虽然能以色环标志来确定,但在使用时最好还是用万用表测试一下其实际阻值。   2熔断电阻器的检测 在电路中,当熔断电阻器熔断开路后,可根据经验作出判断:若发现熔断电阻器表面发黑或烧焦,可断定是其负荷过重,通过它的电流超过额定值很多倍所致;如果其表面无任何痕迹而开路,则表明流过的电流刚好等于或稍大于其额定熔断值。对于表面无任何痕迹的熔断电阻器好坏的判断,可借助万用表R×1挡来测量,为保证测量准确,应将熔断电阻器一端从电路上焊下。若测得的阻值为无穷大,则说明此熔断电阻器已失效开路,若测得的阻值与标称值相差甚远,表明电阻变值,也不宜再使用。在维修实践中发现,也有少数熔断电阻器在电路中被击穿短路的现象,检测时也应予以注意。   3电位器的检测。检查电位器时,首先要转动旋柄,看看旋柄转动是否平滑,开关是否灵活,开关通、断时“喀哒”声是否清脆,并听一听电位器内部接触点和电阻体摩擦的声音,如有“沙沙”声,说明质量不好。用万用表测试时,先根据被测电位器阻值的大小,选择好万用表的合适电阻挡位,然后可按下述方法进行检测。 A 用万用表的欧姆挡测“1”、“2”两端,其读数应为电位器的标称阻值,如万用表的指针不动或阻值相差很多,则表明该电位器已损坏。 B 检测电位器的活动臂与电阻片的接触是否良好。用万用表的欧姆档测“1”、“2”(或“2”、“3”)两端,将电位器的转轴按逆时针方向旋至接近“关”的位置,这时电阻值越小越好。再顺时针慢慢旋转轴柄,电阻值应逐渐增大,表头中的指针应平稳移动。当轴柄旋至极端位置“3”时,阻值应接近电位器的标称值。如万用表的指针在电位器的轴柄转动过程中有跳动现象,说明活动触点有接触不良的故障。   4正温度系数热敏电阻(PTC)的检测 检测时,用万用表R×1挡,具体可分两步操作: A 常温检测(室内温度接近25℃) 将两表笔接触PTC热敏电阻的两引脚测出其实际阻值,并与标称阻值相对比,二者相差在±2Ω内即为正常。实际阻值若与标称阻值相差过大,则说明其性能不良或已损坏。 B 加温检测 在常温测试正常的基础上,即可进行第二步测试—加温检测,将一热源(例如电烙铁)靠近PTC热敏电阻对其加热,同时用万用表监测其电阻值是否随温度的升高而增大,如是,说明热敏电阻正常,若阻值无变化,说明其性能变劣,不能继续使用。注意不要使热源与PTC热敏电阻靠得过近或直接接触热敏电阻,以防止将其烫坏。   5负温度系数热敏电阻(NTC)的检测 (1) 测量标称电阻值Rt :用万用表测量NTC热敏电阻的方法与测量普通固定电阻的方法相同,即根据NTC热敏电阻的标称阻值选择合适的电阻挡可直接测出Rt的实际值。但因NTC热敏电阻对温度很敏感,故测试时应注意以下几点:A Rt是生产厂家在环境温度为25℃时所测得的,所以用万用表测量Rt时,亦应在环境温度接近25℃时进行,以保证测试的可信度。 B 测量功率不得超过规定值,以免电流热效应引起测量误差。 C 注意正确操作。测试时,不要用手捏住热敏电阻体,以防止人体温度对测试产生影响。 (2) 估测温度系数αt :先在室温t1下测得电阻值Rt1,再用电烙铁作热源,靠近热敏电阻Rt,测出电阻值RT2,同时用温度计测出此时热敏电阻RT表面的平均温度t2再进行计算。   6压敏电阻的检测 用万用表的R×1k挡测量压敏电阻两引脚之间的正、反向绝缘电阻,均为无穷大,否则,说明漏电流大。若所测电阻很小,说明压敏电阻已损坏,不能使用。   7光敏电阻的检测。 A 用一黑纸片将光敏电阻的透光窗口遮住,此时万用表的指针基本保持不动,阻值接近无穷大。此值越大说明光敏电阻性能越好。若此值很小或接近为零,说明光敏电阻已烧穿损坏,不能再继续使用。 B 将一光源对准光敏电阻的透光窗口,此时万用表的指针应有较大幅度的摆动,阻值明显减小。此值越小说明光敏电阻性能越好。若此值很大甚至无穷大,表明光敏电阻内部开路损坏,也不能再继续使用。 C 将光敏电阻透光窗口对准入射光线,用小黑纸片在光敏电阻的遮光窗上部晃动,使其间断受光,此时万用表指针应随黑纸片的晃动而左右摆动。如果万用表指针始终停在某一位置不随纸片晃动而摆动,说明光敏电阻的光敏材料已经损坏。

  • ROHS要求,电子元器件检测问题

    为符合ROHS要求,很多厂检测电子元器件,但下面的问题不知各位有什么样的见解:电阻中的排阻/铅:整体测试小于100ppm,如剪碎至很小颗粒,则高达2000-4000ppm,且数据会随着剪碎的颗粒大小而增加。据生产商介绍,他们生产的时候有加入氧化铅和硅酸盐。所以以上的结果可以理解。但是ROHS要求排阻整个测试,铅含量小于1000ppm为合格,SONY的SS-00259也这样要求。但是他们都没说明“整体”测试应该是剪碎还是不剪碎。SGS给出的资料也是整体测试,但没有说明是否剪碎。以上的问题,请大家给出你们的意见和解释,非常感谢。

  • 电子元器件检测经验和技巧有哪些?

    小小的电子元器件看似微小,实则是很重要的组成部分之一。因为电子设备出现故障现象,很大一部分情况是由于电子元器件失效或损坏所导致。如此一来,检测电子元器件成为很重要的事,那么对于电子元器件检测经验和技巧有哪些?[b]1.单向晶闸管检测[/b]可用万用表的R×1k或R×100挡测量任意两极之问的正、反向电阻,如果找到一对极的电阻为低阻值(100Ω~lkΩ),则此时黑表笔所接的为控制极,红表笔所接为阴极,另一个极为阳极。晶闸管共有3个PN结,我们可以通过测量PN结正、反向电阻的大小来判别它的好坏。测量控制极(G)与阴极[C)之间的电阻时,如果正、反向电阻均为零或无穷大,表明控制极短路或断路;测量控制极(G)与阳极(A)之间的电阻时,正、反向电阻读数均应很大;测量阳极(A)与阴极(C)之间的电阻时,正、反向电阻都应很大。[b]2.检查发光数码管的好坏[/b]先将万用表置R×10k或R×l00k挡,然后将红表笔与数码管(以共阴数码管为例)的“地”引出端相连,黑表笔依次接数码管其他引出端,七段均应分别发光,否则说明数码管损坏。[b]3.测整流电桥各脚的极性[/b]万用表置R×1k挡,黑表笔接桥堆的任意引脚,红表笔先后测其余三只脚,如果读数均为无穷大,则黑表笔所接为桥堆的输出正极,如果读数为4~10kΩ,则黑表笔所接引脚为桥堆的输出负极,其余的两引脚为桥堆的交流输入端。[b]4.双向晶闸管的极性识别[/b]双向晶闸管有主电极1、主电极2和控制极,如果用万用表R×1k挡测量两个主电极之间的电阻,读数应近似无穷大,而控制极与任一个主电极之间的正、反向电阻读数只有几十欧。根据这一特性,我们很容易通过测量电极之间电阻大小,识别出双向晶闸管的控制极。而当黑表笔接主电极1。红表笔接控制极时所测得的正向电阻总是要比反向电阻小一些,据此我们也很容易通过测量电阻大小来识别主电极1和主电极2。[b]5.判断晶振的好坏[/b]先用万用表(R×10k挡)测晶振两端的电阻值,若为无穷大,说明晶振无短路或漏电;再将试电笔插入市电插孔内,用手指捏住晶振的任一引脚,将另一引脚碰触试电笔顶端的金属部分,若试电笔氖泡发红,说明晶振是好的;若氖泡不亮,则说明晶振损坏。[b]6.判别结型场效应管的电极[/b]将万用表置于R×1k挡,用黑表笔接触假定为栅极G的管脚,然后用红表笔分别接触另外两个管脚,若阻值均比较小(5~10 Ω),再将红、黑表笔交换测量一次。如阻值均大(∞),说明都是反向电阻(PN结反向),属N沟道管,且黑表笔接触的管脚为栅极G,并说明原先假定是正确的。若再次测量的阻值均很小,说明是正向电阻,属于P沟道场效应管,黑表笔所接的也是栅极G。若不出现上述情况,可以调换红、黑表笔,按上述方法进行测试,直至判断出栅极为止。一般结型场效应管的源极与漏极在制造时是对称的,所以,当栅极G确定以后,对于源极S、漏极D不一定要判别,因为这两个极可以互换使用。源极与漏极之间的电阻为几千欧。[b]7.三极管电极的判别[/b]对于一只型号标示不清或无标志的三极管,要想分辨出它们的三个电极,也可用万用表测试。先将万用表量程开关拨在R×100或R×1k电阻挡上。红表笔任意接触三极管的一个电极,黑表笔依次接触另外两个电极,分别测量它们之间的电阻值,若测出均为几百欧低电阻时,则红表笔接触的电极为基极b,此管为PNP管。若测出均为几十至上百千欧的高电阻时,则红表笔接触的电极也为基极b,此管为NPN管。在判别出管型和基极b的基础上,利用三极管正向电流放大系数比反向电流放大系数大的原理确定集电极。任意假定一个电极为c极,另一个电极为e极。将万用表量程开关拨在R×1k电阻挡上。对于:PNP管,令红表笔接c极,黑表笔接e极,再用手同时捏一下管子的b、c极,但不能使b、c两极直接相碰,测出某一阻值。然后两表笔对调进行第二次测量,将两次测的电阻相比较,对于:PNP型管,阻值小的一次,红表笔所接的电极为集电极。对于NPN型管阻值小的一次,黑表笔所接的电极为集电极。[b]8.电位器的好坏判别[/b]先测电位器的标称阻值。用万用表的欧姆挡测“1”、“3”两端(设“2”端为活动触点),其读数应为电位器的标称值,如万用表的指针不动、阻值不动或阻值相差很多,则表明该电位器已损坏。再检查电位器的活动臂与电阻片的接触是否良好。用万用表的欧姆挡测“1”、“2”或“2”、“3”两端,将电位器的转轴按逆时针方向旋至接近“关”的位置,此时电阻应越小越好,再徐徐顺时钟旋转轴柄,电阻应逐渐增大,旋至极端位置时,阻值应接近电位器的标称值。如在电位器的轴柄转动过程中万用表指针有跳动瑚象,描踢活动触』点接触不良。[b]9.激光二极管损坏判别[/b]拆下激光二极管,测量其阻值,正常情况下反向阻值应为无穷大,正向阻值在20kΩ~40kΩ。如果所测的正向阻值已超过50kΩ,说明激光二极管性能已下降;如果其正向阻值已超过90kΩ,说明该管已损坏,不能再使用了。[b]10.判别红外接收头引脚[/b]万用表置R×1k挡,先假设接收头的某脚为接地端,将其与黑表笔相接,用红表笔分别测量另两脚电阻,对比两次所测阻值(一般在4~7k Q范围),电阻较小的一次其红表笔所接为+5V电源引脚,另一阻值较大的则为信号引脚。反之,若用红表笔接已知地脚,黑表笔分别测已知电源脚及信号脚,则阻值都在15kΩ以上,阻值小的引脚为+5V端,阻值偏大的引脚为信号端。如果测量结果符合上述阻值则可判断该接收头完好。[b]11.判断无符号电解电容极性[/b]先将电容短路放电,再将两引线做好A、B标记,万用表置R×100或R×1k挡,黑表笔接A引线,红表笔接B引线,待指针静止不动后读数,测完后短路放电;再将黑表笔接B引线,红表笔接A引线,比较两次读数,阻值较大的一次黑表笔所接为正极,红表笔所接为负极。[b]12.测发光二极管[/b]取一个容量大于100“F的电解电容器(容量越大,现象越明显),先用万用表R×100挡对其充电,黑表笔接电容正极,红表笔接负极,充电完毕后,黑表笔改接电容负极,将被测发光二极管接于红表笔和电容正极之间。如果发光二极管亮后逐渐熄灭,表明它是好的。此时红表笔接的是发光二极管的负极,电容正极接的是发光二极管的正极。如果发光二极管不亮,将其两端对调重新接上测试,还不亮,表明发光二极管已损坏。[b]13. 光电耦合器检测[/b]万用表选用电阻R×100挡,不得选R×10k挡,以防电池电压过高击穿发光二极管。红、黑表笔接输入端,测正、反向电阻,正常时正向电阻为数十欧姆,反向电阻几千欧至几十千欧。若正、反向电阻相近,表明发光二极管已损坏。万用表选电阻R×1挡。红、黑表笔接输出端,测正、反向电阻,正常时均接近于∞,否则受光管损坏。万用表选电阻R×10挡,红、黑表笔分别接输入、输出端测发光管与受光管之间的绝缘电阻(有条件应用兆欧表测其绝缘电阻,此时兆欧表输出额定电压应略低于被测光电耦合器所允许的耐压值),发光管与受光管问绝缘电阻正常应为∞。[b]14.光敏电阻的检测[/b]检测时将万用表拨到R×1kΩ挡,把光敏电阻的受光面与入射光线保持垂直,于是在万用表上直接测得的电阻就是亮阻。再把光敏电阻置于完全黑暗的场所,这时万用表所测出的电阻就是暗阻。如果亮阻为几千欧至几十干欧,暗阻为几至几十兆欧,说明光敏电阻是好的。[b]15.测量大容量电容的漏电电阻[/b]用500型万用表置于R×10或R×100挡,待指针指向最大值时,再立即改用R×1k挡测量,指针会在较短时间内稳定,从而读出漏电电阻阻值。

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