电压瞬降测试仪

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电压瞬降测试仪相关的厂商

  • 400-860-5168转4077
    上海华龙测试仪器有限公司是智能化、数字化、自动化试验机产品专业生产企业,是经国家批准授权的“中华人民共和国进出口企业”。 1999年通过 ISO9001(1994版)国际质量体系认证,2002年通过 ISO9001(2000版)中国和美国国际质量体系认证。2000年被上海市政府认定批准为“上海市高新技术企业”。2008年被国家科学技术委员会等部委认定批准为“国家高新技术企业”。2002年起连续被上海市浦东新区质量技术监督局授予企业 “质量管理先进集体”称号。2007公司研发中心年被上海市浦东新区人民政府认定批准为“浦东新区企业技术开发机构”和2004-2006年度“浦东新区先进集体”,被上海市政府授予2004-2006年度“上海市劳模集体”, 2007年公司被浦东新区人民政府考核评定为“浦东新区科技创新基地”在全国各省区重点城市设置26个营销技术服务中心,在美国、法国、西班牙、新加坡、马来西亚、香港设立了国外营销代理机构。产品广泛应用于航空航天、国防军工、机械制造、车辆船舶、钢铁冶金、电线电缆、塑料橡胶、建筑建材、大专院校、科研院所、商检质检等国民经济各领域,对各类金属、非金属、构件、成品、新材料的各项物理力学性能测试、分析和研究。企业现有员工300余人,其中大专以上学历员工为161人,16年来,企业共研发完成79大系列800余个产品种的试验机,先后有四大系列产品荣获“上海市重点新产品”,两大系列产品荣获“国家重点新产品”,八大系列产品被市科委评定为“上海市高新技术成果转化项目”。产品遍布国内各省区,并远销美国、德国、西班牙、南非、韩国、巴基斯坦、巴布亚新几内亚、马来西亚、泰国、新加坡等国际市场。上海华龙测试仪器有限公司位于上海市浦东新区川沙经济园区,企业占地23500 m2,建筑面积16800m2,绿化面积3800 m2,企业资产总计9600余万元,具有科研办公大楼、电装调试楼、工装工艺楼、总装车间、机加车间、下料车间、冷作车间、计量室、样机室等齐全的生产和办公设施。本公司拥有大型精密镗床、微控线切割、龙门刨床、数控铣床、卧式数控车床、高精外圆磨床、平面磨床、数控氩弧焊、剪板机、折弯机等各类精密加工设备和检测设备386台套。企业年产试验机生产能力可达1500余台。我公司研发的所有产品均具独立自主知识产权,拥有38项“中华人民共和国专利”。在提高产品质量,提升品牌价值的同时,公司注重工艺、工装设计,提高标准化、系列化、规范化能力,将产品研制生产的全过程纳入ISO9001质量体系,全面进行受控管理。公司将竭诚为国内外客户,为世界计量检测工作的发展,做出新的贡献。
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  • HT ITALIA来自于美丽的欧洲小镇——意大利法恩莎,公司自1983年成立以来,产品年销售额超过4000万欧元。并在2009年在中国广州建立办事处,负责中国地区的产品销售和售后服务。 HT ITALIA公司设立专业的研发团队,在1992年研制生产出HT2038,1999年研制生产了世界上第一台带电能质量分析仪功能的便携式多功能电气安全测试仪——GENUIS 5080,在2001推出具有三相电能质量分析仪功能的多功能电气安全测试——GSC系列,刷新了便携式仪器的多功能之最。2007年HT公司开始涉及太阳能光伏系统测试,以提供太阳能光伏电站的现场测试仪表,HT可提供全面的太阳能光伏电站测试仪表:并网太阳能光伏电站性能验证测试SOLAR300N,太阳能电池I-V特性曲线分析测试仪I-V400,离网太阳能光伏电站性能验证测试SOLAR I-V等。近年来,HT公司又基于自身的设计现场测试理念,推出自主品牌的全新系列红外热像仪产品,以充分满足客户的个性化需求,HT品牌的红外热像仪家族包括:THT41/42/44的经济型系列,THT49的专业级红外热像仪和THT50专家型红外热像仪。现在HT公司拥有:红外热成像仪,电气安全测试仪(含:绝缘电阻测试仪,接地电阻测试仪,漏电保护开关-RCD测试仪,耐压测试仪和多功能电气安全测试仪)、电能质量分析仪、通用测试仪表(含:数字万用表,数字电流钳表,红外测温仪,数字测温仪,数字噪声计,激光测距仪等)、GEF专业绝缘工具(含:绝缘镙丝批,各种绝缘剪钳,各种型号的工具套包,工具箱等)等系列产品。
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  • 400-860-5168转0264
    环球分析测试仪器有限公司(UATIL)成立于1982年,总部设在香港,是国外多家知名的高新科技仪器生产制造商在中国的独家总代理。主要产品电化学仪器:电化学工作站、光电化学测试设备 化学合成仪器:全自动反应系统、反应量热仪、超声波结晶系统、平行合成仪、高温高压釜、流动化学系统 萃取及纯化仪器:超临界萃取仪、快速制备色谱、固相萃取、溶剂蒸发仪、气体纯化系统 生命科学仪器:生物反应器、发酵罐、冷冻干燥机、移液工作站、离心浓缩仪 乳品分析仪器:乳品成分分析仪、体细胞计数器、奶牛生产性能测试仪 材料测试仪器:网格应变测试仪、杯凸试验机 惰性环境仪器:手套箱 微流控仪器:单细胞测序、细胞包裹、微流控芯片、微流泵、液滴微流控系统、3D芯片打印机
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电压瞬降测试仪相关的仪器

  • 光电流、开路电压的瞬态特性、载流子迁移率、载流子寿命、载流子动力学过程等是表征新型太阳电池器件的重要参数。由于新型太阳电池器件存在面积小、光电流小等特性,非常难以准确测量出光电流随时间的变化,我们可以利用光焱科技TPC/TPV钙钛矿太阳能电池瞬态光电流光电压测试仪,对有机太阳能电池OPV、钙钛矿太阳能电池PSC、量子点太阳能电池、染料敏化太阳能电池DSSC、无机太阳能电池等光电器件进行微观机理测试,进而全面分析光电器件中的载流子特性和瞬态过程。光焱科技-钙钛矿太阳能电池瞬态光电流光电压测试仪(TPC/TPV)钙钛矿太阳能电池瞬态光电流光电压测试仪原理钙钛矿太阳能电池瞬态光电流光电压测试仪是研究半导体光生载流子动力学过程和反应历程的强有力手段之一,它可以获得半导体体内光生载流子产生、俘获、复合、分离过程的重要微观信息。钙钛矿太阳能电池瞬态光电流光电压测试仪实现了对电荷抽取和电荷传输能力的表征,研究光生电子的传输行为,其光电压响应包括上升和衰退两部分,光电压上升部分在物理上对应于导电基底电子浓度增加,此过程由光生电子扩散到达基底引起,光电压下降部分主要对应于电子离开导电基底的复合过程,是光生载流子动力学及光生电子的传输行为的研究利器。钙钛矿太阳能电池瞬态光电流光电压测试仪范围有机太阳能电池OPV无机半导体光电器件有机半导体光电器件染料敏化太阳能电池DSSC钙钛矿太阳能电池Perovskite Solar Cell,钙钛矿LED无机太阳能电池(例如:单晶硅、多晶硅、非晶硅等硅基太阳能电池)钙钛矿太阳能电池瞬态光电流光电压测试仪测试数据TPVTPC
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  • LX-9830插头电压降测试仪 LX-9830插头电压降测试仪适用范围:该仪器适用于测量不可重接插头插销与连接插头引出线等类似接线口的电压降,从而判断接线口优劣,也可检查插头线在完成标准规定的弯曲试验次数后的断线情况。该仪器同时适用于测量开关触点、继电器、开关、线材线束、压接线端子、连接器等相关产品之压降测试本仪器有可调的大电流输出,微电压测试,数码管显示。,本仪器有交流和直流两种款型(选购),满足不同测试要求,直流恒流源输出,电路设计合理,操作方便.同时可以选购辅助测试治具. 满足标准:QC/T 730-2005 ISO 6722:2002 GB/T 2951—1997 GB/T 3048—1994 QC/T29106-2004 QC/T413-2002 QC/T413-2002 同时满足德国、法国、韩国、日本、等国家标准要求和测试规范,电压降实验按QC/T29106-2004标准5.7进行实验 QC/T29106-2004标准:5.7端子与电线压接处的电压降实验按图2所示,在端子与电线压接处中间 位置致电线75mm长的电线处(剥去绝缘层钎焊牢固)的两点间测量,扣除75mm长的电线电压降后即为端子与电线压接处的电压降。当一个端子同时连接两根或两根以上电线时对个根电线分别施加电流以测量电压降.LX-9830插头电压降测试仪主要参数:1)输入电压:AC220V+10%,50Hz 2)工作电流:0~40A任意可调3)电压降范围:0~200mV 4)电压表精度:±1%+3个字5)电流表精度:±1%+3个字 瑞柯仪器公司以“质量为本”、“服务先行”之经营方针。满足广大客户之需求。公司本着“科技、创造、创新、求进”的企业精神,引进先进的生产设备和制造工艺,通过不断的技术改进和管理上的完善,努力为广大用户提供 质的产品和服务!
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  • 瞬态光电流/光电压测试系统用于太阳能电池瞬态光电性能测量(载流子迁移率测量,瞬态光电流测量、光电压测量、瞬态光电性能测量、强度调制光电压谱IMVS、强度调制光电流谱IMPS),对于光电器件微观机理研究提供了有力的测试工具;多功能一体化高性能瞬态测试平台,不但可以测量器件的载流子迁移率、载流子寿命、载流子动力学过程、阻抗谱等,还可以对瞬态光电流谱TPC,瞬态光电压谱TPV、调制光电流谱IMPS、瞬态光电压谱IMVS等进行测量分析,全面分析器件中的载流子特性和瞬态过程。主要应用: * 无机半导体光电器件,有机半导体光电器件; * 有机太阳能电池OPV; * 钙钛矿太阳能电池Perovskite Solar Cell,钙钛矿LED; * 无机太阳能电池(例如:单晶硅、多晶硅、非晶硅等硅基太阳能电池); * 染料敏化太阳能电池DSSC;主要测量功能 * 功率点MPP、FF、Voc、Isc、VS 光强,迁移率(I-V测试 & I-V-L测试,空间电荷限制电流SCLC法) * 载流子密度,载流子动力学过程(瞬态光电流法 TPC) * 载流子寿命,载流子符合动力学过程(瞬态光电压/瞬态开路电压法 TPV) * 载流子迁移率(暗注入瞬态法 DIT,单载流子器件&OLED) * 串联电阻,几何电容,RC时间(电压脉冲法 Pulse Voltage) * 参杂密度,电容率,串联电阻,载流子迁移率(暗态线性增加载流子瞬态法 Dark-CELIV) * 载流子迁移率,载流子密度(光照线性增加载流子瞬态法 Photo-CELIV) * 载流子复合过程,朗之万函数复合前因子(时间延迟线性增加载流子瞬态法 Delaytime-CELIV) * 不同工作点的载流子强度,载流子迁移率(注入线性增加载流子瞬态法 Injection-CELIV) * 几何电容,电容率(MIS线性增加载流子瞬态法 MIS-CELIV) * 陷阱强弱度,等效电路(阻抗谱测试 IS) * 迁移率,陷阱强弱度,电容,串联电阻(电容VS频率 C-f) * 内建电压,参杂浓度,注入势垒,几何电容(电容VS电压 C-V) * 陷阱分析(深能级瞬态谱DLTS) * 载流子传输时间分析(强度调制光电流谱 IMPS); * 载流子复合时间、收集效率等分析(强度调制光光电压谱IMVS); * 点亮电压(电流电压照度特性 I-V-L) * 发光寿命,载流子迁移率(瞬态电致发光法 TEL) *载流子迁移率(TEL瞬态电致发光,Photo-CELIV线性增压抽取载流子) *OLED/钙钛矿LED发光特性测量(发光器件测量);测量技术: 1)IV/IVL特性:IV和IVL曲线是针对OLED和OPV标准的量测手法,通过曲线可以得到样品的电流电压特性关系、电流电压与光强的特性关系;*对于有机半导体材料可通过空间电荷限制电流SCLC分析Pmax、FF、Voc、Isc和迁移率等; 2)瞬态光电流(TPC):研究载流子动力学过程和载流子密度等; 3)瞬态光电压(TPV):研究载流子寿命和复合过程; 4) 双脉冲瞬态光电流(Double Transient Photocurrent):分析电荷载流子俘获动态过程; 5) 暗注入瞬态法(Dark Injection):对于单载流子器件和OLED,研究其载流子迁移率; 6) 电压脉冲法(Voltage Pulse):串联电阻、几何电容和RC效应分析; 7) 暗态线性增压载流子瞬态法(Dark-CELIV):参杂浓度、相对介电常数、串联电阻、电荷载流子迁移率测量; 8) 光照线性增压载流子瞬态法(Photo-CELIV):提取有机太阳能电池片内载流子迁移率mobility,及载流子浓度分析等; 9) 时间延迟线性增压载流子瞬态法(Delaytime-CELIV):复合动态过程分析和郎之万复合因子分析等; 10)注入线性增压载流子瞬态法(Injection-CELIV):电荷载流子浓度和电荷载流子迁移率测量分析; 11)MIS-CELIV:几何电容和相对介电常数分析; 12)阻抗谱测量(Impedance Spectroscopy):器件等效电路分析等; 13)电容频率测量法(C-f): 迁移率、陷阱、几何电容和串联电阻测量; 14)电容电压测量法(C-V):内建电压、参杂浓度和几何电容等测量; 15) 深能级瞬态谱(DLTS):陷阱分析; 16)强度调制光电流谱(IMPS):载流子传输时间分析; 17)强度调制光光电压谱(IMVS):载流子复合时间、收集效率等分析; 18)瞬态电致发光测试(Transient Electroluminescence):抽取OLED器件的载流子,磷光寿命测量;另外,我公司提供专业太阳能测试设备制造商为客户提供全套专业的设备: 1.太阳能电池光谱响应测试系统、IPCE测试系统、量子效率测试系统; 2.太阳能电池测量系统(光谱响应测试系统,IPCE测试系统,量子效率测试系统,I-V曲线测量系统),太阳能电池测试仪; 3.太阳能电池I-V曲线测量系统; 4.I-V 数据采集系统; 5.大面积太阳能模拟器/太阳光模拟器/全光谱太阳光模拟器; 6.太阳能电池分选机; 7.太阳能电池I-V测试仪; 8.分光辐射度计, 9.参考电池/标准电池, 10.太阳能模拟器均匀性图像分析系统; 11.有机太阳能电池载流子迁移率测量系统; 12.钙钛矿太阳能电池载流子迁移率测量系统; 13.太阳能电池少数载流子测量系统;
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电压瞬降测试仪相关的资讯

  • 212万!广东工业大学手套箱与电流电压测试仪等设备采购项目
    项目编号:M4400000707015234001项目名称:手套箱与电流电压测试仪等设备采购(四次)采购方式:公开招标预算金额:2,128,500.00元采购需求:合同包1(金相显微镜探针台等设备采购):合同包预算金额:2,128,500.00元品目号品目名称采购标的数量(单位)技术规格、参数及要求品目预算(元)最高限价(元)1-1其他专用仪器仪表金相显微镜探针台1(套)详见采购文件199,000.00-1-2其他专用仪器仪表高温分析探针台1(套)详见采购文件158,000.00-1-3其他专用仪器仪表探针台5(套)详见采购文件245,000.00-1-4其他专用仪器仪表电容电压特性测试仪5(套)详见采购文件180,000.00-1-5其他专用仪器仪表电流电压测试仪10(套)详见采购文件500,000.00-1-6其他专用仪器仪表少子寿命测试仪5(套)详见采购文件150,000.00-1-7其他专用仪器仪表霍尔效应测试仪5(套)详见采购文件27,500.00-1-8其他专用仪器仪表四探针测试仪5(套)详见采购文件115,000.00-1-9其他专用仪器仪表晶体管图示仪5(套)详见采购文件45,000.00-1-10其他专用仪器仪表数字荧光示波器16(套)详见采购文件496,000.00-1-11其他专用仪器仪表万用表10(套)详见采购文件13,000.00-本合同包不接受联合体投标合同履行期限:自合同签订之日起至质保期满之日
  • 我司成功开发出高性能瞬态光电压/光电流测试系统
    经过我司科技人员半年多的技术攻关,成功开发出太阳能电池高性能瞬态光电压/光电流测试系统,适用于钙钛矿结构、量子点结构和有机结构等太阳能电池测试。该系统采用特殊设计的低噪音放大电路确保该测试系统具有极高的灵敏度。同时考虑到材料的弛豫时间与太阳能电池结电容和取样电阻的相关性,采用优化的硬件设计方案确保了信号测量的真实性和完整性,带探针的样品仓夹使得更换样品和电学互联非常方便,基于Labview的测试软件可实时采集数据/图像显示功能。此外,采用外部调制的固体激光器而非昂贵飞秒激光器产生脉冲光(最短脉宽仅7ns)使得该测试具有高性能的前提下成本大大降低。 瞬态光电流/光电压测试系统 光电压测试模块和光电流测试模块 带探针的样品仓夹
  • TTE系列半导体器件瞬态温升热阻测试仪研制
    table border="1" cellspacing="0" cellpadding="0"tbodytrtd width="83" style="word-break: break-all "p style="line-height: 1.75em "成果名称/p/tdtd width="538" colspan="3" style="word-break: break-all "p style="text-align: center line-height: 1.75em "strongTTE/strongstrong系列半导体器件瞬态温升热阻测试仪 /strong/p/td/trtrtd width="91"p style="line-height: 1.75em "单位名称/p/tdtd width="538" colspan="3"p style="line-height: 1.75em "北京工业大学新型半导体器件可靠性物理实验室/p/td/trtrtd width="91"p style="line-height: 1.75em "联系人/p/tdtd width="167"p style="line-height: 1.75em "冯士维/p/tdtd width="161"p style="line-height: 1.75em "联系邮箱/p/tdtd width="187"p style="line-height: 1.75em "shwfeng@bjut.edu.cn/p/td/trtrtd width="91"p style="line-height: 1.75em "成果成熟度/p/tdtd width="535" colspan="3" style="word-break: break-all "p style="line-height: 1.75em "□正在研发 □已有样机 □通过小试 □通过中试 √可以量产/p/td/trtrtd width="91"p style="line-height: 1.75em "合作方式/p/tdtd width="535" colspan="3" style="word-break: break-all "p style="line-height: 1.75em "□技术转让 √技术入股 √合作开发 √其他/p/td/trtrtd width="648" colspan="4" style="word-break: break-all " align="center" valign="top"p style="line-height: 1.75em "strong成果简介: /strong/pp style="text-align:center"strongimg src="http://img1.17img.cn/17img/images/201604/insimg/017b0e04-691a-4c5a-826e-5879aa1d7a7a.jpg" title="1.jpg.png"//strong/pp style="line-height: 1.75em "TTE-400 LED灯具模组热阻测试仪 br//pp style="text-align:center"img src="http://img1.17img.cn/17img/images/201607/insimg/1a6e4129-15a9-479d-84c9-cb11df28231c.jpg" title="54c453eb-3470-4a19-9f93-e8a1b5170517.jpg" width="400" height="203" border="0" hspace="0" vspace="0" style="width: 400px height: 203px "//pp TTE-500 多通道瞬态热阻分析仪/pp style="text-align:center"img src="http://img1.17img.cn/17img/images/201604/insimg/06a37914-c0ba-48cf-9bb6-d25fdea82661.jpg" title="3.png" width="400" height="146" border="0" hspace="0" vspace="0" style="width: 400px height: 146px "//pp TTE-LD100 激光器用瞬态热阻分析仪/pp style="text-align:center"img src="http://img1.17img.cn/17img/images/201604/insimg/887237ea-942e-46c5-8591-1dea99e6c712.jpg" title="4.png" width="400" height="143" border="0" hspace="0" vspace="0" style="width: 400px height: 143px "//ppTTE-M100 功率器件用瞬态热阻分析仪/pp style="text-align:center"img src="http://img1.17img.cn/17img/images/201604/insimg/aded4b1e-7f39-41c2-9e79-8177484f76d7.jpg" title="5.png" width="400" height="185" border="0" hspace="0" vspace="0" style="width: 400px height: 185px "//pp TTE-H100 HEMT用瞬态热阻分析仪/pp style="text-align:center"img src="http://img1.17img.cn/17img/images/201604/insimg/d45a2e5c-776e-4e71-9412-67d87c17f875.jpg" title="6.png"//ppTTE-S200 LED热特性快速筛选仪/pp style="line-height: 1.75em text-indent: 0em " TTE系列半导体器件瞬态温升热阻测试仪是用于半导体器件(LED、MOSFET、HEMT、IC、激光器、散热器、热管等)的先进热特性分析仪,依据国际JEDEC51的瞬态热测试方法,能够实时采集器件瞬态温度响应曲线(包括升温曲线与降温曲线),采样间隔高达1微秒,结温分辨率高达0.01℃。利用结构函数算法能方便快捷地测得器件热传导路径上每层结构的热学性能,构建等效热学模型,是器件封装工艺、可靠性研究和测试的强大支持工具,具有精确、无损伤、测试便捷、测试成本低等优点。该成果已在公司和科研院所等20多家单位应用,并可定制化生产。/p/td/trtrtd width="648" colspan="4" style="word-break: break-all "p style="line-height: 1.75em "strong应用前景: /strongbr/ 本产品已投入市场应用五年时间,产品型号在不断丰富以适应庞大的市场需求,技术指标国内领先地位,可替代国外同类产品,拥有独立的自主知识产权。 br/ 应用范围:功率半导体器件(LED、MOSFET、HEMT、IC、激光器、散热系统、热管等)结温热阻无损测量和流水线快速筛选。 br/ 应用情况:国内已有20多家客户的生产线或实验室使用本产品,包括军工单位、芯片厂商、封装厂商、高等院校、高科技制造企业。成果适用于开展半导体晶圆及芯片设计、生产的高校、科研院所及企业。 br/ 预计国内市场年需求量在500台,市场规模约5亿元。/p/td/trtrtd width="648" colspan="4" style="word-break: break-all "p style="line-height: 1.75em "strong知识产权及项目获奖情况: /strongbr/ 拥有核心技术,国家发明专利24项,获中国发明博览会金奖1项。 br/ (1)专利名称:一种快速测量半导体器件电学参数温度变化系数的方法和装置(申请号:201410266126.3); br/ (2)专利名称:一种LED灯具热阻构成测试装置和方法(申请号:201310000861.5); br/ (3)专利名称:功率半导体LED热阻快速批量筛选装置(申请号:201120249012.X)。/p/td/tr/tbody/tablepbr//p

电压瞬降测试仪相关的方案

  • 击穿电压测试仪安全保护功能全解
    适用于固体绝缘材料(如:塑料、橡胶、薄膜、树脂、云母、陶瓷、玻璃、绝缘漆等介质)在工频电压或直流电压下击穿强度和耐电压的测试.
  • 电压击穿试验仪选型常识
    2、如何选择合适量程的电压击穿试验仪:在材料的标准要求里或者测试报告中,对材料的耐压等级通常用介电强度来表示,即KV/mm,击穿电压和介电强度的关系可以用如下公式表示: 击穿电压值(KV) 介电强度(KV/mm)=------------------------------------------ 试样厚度(mm)由如上公式可以得出结论,选择多大量程的测试仪器,取决于试样的厚度,即: 击穿电压值(KV)=介电强度(KV/mm)* 试样厚度(mm) 由此公式所得出的击穿电压值是按照试样厚度测试时的有效电压值,所以得出击穿电压值后,在此电压值得基础上适当加宽些量程范围比较合理,建议计算出击穿电压值后增加10KV—20KV
  • 绝缘油耐压测定仪在变压器油击穿电压试验中的应用
    击穿是指在电场作用下,绝缘材料形成贯穿性桥路,进而发生破坏性放电,在一定程度上使电极间的电压降至零或接近零的现象。通常情况下,击穿对固体介质来说是永远失去介电强度,对液体、气体来说,失去介电强度只是暂时性的。在规定的试验条件下绝缘体或试样发生击穿时的电压叫做击穿电压。通常情况下,绝缘性能的好坏直接反应了变压器油的击穿电压的强弱,并且变压器使用的安全性和周期受到直接的影响和制约。同时击穿电压也是客户验收油品的重要测试项目,试验结果受到试验方法、测试仪器,以及环境等因素的影响和制约。TP572型绝缘油耐压试验仪是装置球盖形电极的3油杯试验仪,通过其对变压器油击穿电压的测定试验,分析了测定过程中出现的异常现象及测定值产生误差的原因。

电压瞬降测试仪相关的资料

电压瞬降测试仪相关的试剂

电压瞬降测试仪相关的论坛

  • 【分享】关于对《冲击耐电压测试仪检定规程》、《耐电压测试仪型式评价大纲》

    关于对《冲击耐电压测试仪检定规程》、《耐电压测试仪型式评价大纲》《直流高压高值电阻器检定规程》3个 规程征求意见的通知 各位委员及专家、各有关单位: 根据2010年国家计量技术法规制修订计划,由全国电磁计量管理计量技术委员会负责立项的《冲击耐电压测试仪检定规程》、《耐电压测试仪型式评价大纲》与《直流高压高值电阻器检定规程》3个规程征求意见稿已完成,现开始征求意见。请各位委员、专家及有关单位尽快将《征求意见表》寄回或以电子邮件的形式反馈给起草单位或专业委员会秘书处。 联系人:邵海明 附件下载: 1.《冲击耐电压测试仪检定规程》2.《耐电压测试仪型式评价大纲》3.《直流高压高值电阻器检定规程》二○一一年三月三日

  • 耐电压测试仪即电气绝缘强度试验仪工作原理

    [font=system-ui, -apple-system, BlinkMacSystemFont, &][size=16px][color=rgba(0, 0, 0, 0.9)] 耐电压测试仪又叫电气绝缘强度试验仪或叫介质强度测试仪。将一规定交流或直流高压施加在电器带电部分和非带电部分(一般为外壳)之间以检查电器的绝缘材料所能承受耐压能力的试验。电器在长期工作中,不仅要承受额定工作电压的作用,还要承受操作过程中引起短时间的高于额定工作电压的过电压作用(过电压值可能会高于额定工作电压值的好几倍)。在这些电压的作用下,电气绝缘材料的内部结构将发生变化。当过电压强度达到某一定值时,就会使材料的绝缘击穿,电器将不能正常运行,操作者就可能触电,危及人身安全。[/color][/size][/font]

  • 耐电压测试仪结构及组成和选用

    [align=center][size=18px][color=#131b59][b]1、耐电压测试仪结构及组成[/b][/color][/size][/align][size=14px][b][font=微软雅黑, &][size=14px](1)升压部分[/size][/font][/b][/size][size=14px]调压变压器、升压变压器及升压部分电源接通及切断开关组成。[/size][size=14px]220V电压通过接通,切断开关加到调压变压器上调压变压器输出连接升压变压器。用户只需调节调压器就可以控制升压变压器的输出电压。[/size][size=14px][b][font=微软雅黑, &][size=14px](2)控制部分[/size][/font][/b][/size][size=14px]电流取样,时间电路、报警电路组成。控制部分当收到启动信号,仪器立即在接通升压部分电源。当收到被测回路电流超过设定值及发出声光报警立即切断升压回路电源。当收到复位或者时间到信号后切断升压回路电源。[/size][size=14px][b][font=微软雅黑, &][size=14px](3)显示[/size][/font][/b][/size][size=14px][b][font=微软雅黑, &][size=14px]电路[/size][/font][/b][/size][size=14px]显示器显示升压变压器输出电压值。显示由电流取样部分的电流值,及时间电路的时间值一般为倒计时。[/size][size=14px]以上是传统的耐电压试验仪的结构组成。随着电子技术及单片,计算机技术飞速发展 程控耐电压测试仪这几年也发展很快,程控耐压仪与传统的耐压仪不同之处主要是升压部分。程控耐压仪高压升压不是通过市电由调压器来调节,而是通过单片计算机控制产生一个50Hz或60Hz的正弦波信号再通过功率放大电路进行放大升压,输出电压值也由单片计算机进行控制,其它部分原理与传统耐压仪差别不大。[/size][align=center][/align][align=center][size=18px][color=#131b59][b]2、耐电压测试仪的选用[/b][/color][/size][/align][size=14px] 选用耐压仪最重要的是2个指标,最大输出电压值及最大报警电流值一定要大于你所需要的电压值和报警电流值。一般被试产品标准中规定了施加高压值及报警判定电流值。如果施加的电压越高,报警判定电流越大,那么需要耐压仪升压变压器功率就越大,一般耐压仪升压变压器功率有0.2kVA、0.5kVA、1kVA、2kVA、3kVA等。最高电压可以到几万伏。最大报警电流500mA-1000mA等。所以在选择耐压仪时一定要注意这2个指标。功率选太大就会造成浪费,选的太小耐压试验不能正确判断合格与否。根据IEC414或(GB6738-86)中规定选择耐压仪的功率方法,我们认为是比较科学的。[/size][size=14px]“首先将耐压仪的输出电压调到规定值的50%,然后接上被试品,当观测到的电压降小于该电压值的10%时,则认为耐压仪的功率是足够的。[/size][size=14px] 也就是如果某一产品的耐压试验的电压值为3000伏,先把耐压仪的输出电压调到1500伏后接上被试品,如果此时耐压仪输出电压下降的值不大于150伏,那么耐压仪的功率是足够的。被试品的带电部分与外壳之间存在分布电容。电容存在一个CX容抗,当一个交流电压施加在这CX电容两端就会引成一个电流。这个电流的大小与CX电容的容量成正比与施加的电压值成正比,当这个电流大到或超过耐压仪最大输出电流时,这台耐压仪就不能正确判别试验合格与否。[/size]

电压瞬降测试仪相关的耗材

  • 少子寿命测试仪
    少子寿命测试仪性能参数? 测量原理 QSSPC(准稳态光电导) 少子寿命测量范围 100 ns-10 ms 测试模式:QSSPC,瞬态,寿命归一化分析 电阻率测量范围 3&ndash 600 (undoped) Ohms/sq. 注入范围:1013-1016cm-3 感测器范围 直径40-mm 测量样品规格 标准直径: 40&ndash 210 mm (或更小尺寸) 硅片厚度范围 10&ndash 2000 &mu m 外界环境温度 20° C&ndash 25° C 功率要求 测试仪: 40 W 电脑控制器:200W 光源:60W 通用电源电压 100&ndash 240 VAC 50/60 Hz -------------------------------------------------------------------------------- 少子寿命测试仪成功使用用户? 江苏,上海,北京,浙江,西安,四川,河北,河南等地的硅料生产企业及半导体光伏拉晶企业等等。 一、采购项目名称:硅片少子寿命测试系统、溶剂净化系统等 二、采购代理机构 :杭州求是招标代理有限公司 三、确定成交日期:2010年11月16日 四、本项目公告日期: 2010年11月4日、11月5日 五、项目成交单位: 硅片少子寿命测试系统(z9264):上海瞬渺光电技术有限公司 -------------------------------------------------------------------------------- 相关资料下载 少子寿命测试仪一款功能强大的少子寿命测试仪,不仅适用于硅片少子寿命的测量,更适用于硅棒、硅芯、检磷棒、检硼棒、籽晶等多种不规则形状硅少子寿命的测量。少子测试量程从1&mu s到6000&mu s,硅料电阻率下限达0.1&Omega .cm(可扩展至0.01&Omega .cm)。测试过程全程动态曲线监控,少子寿命测量可灵敏地反映单晶体重金属污染及陷阱效应表面复合效应等缺陷情况,是原生多晶硅料及半导体及太阳能拉晶企业不可多得少子寿命测量仪器。 少子,即少数载流子,是半导体物理的概念。 它相对于多子而言。   半导体材料中有电子和空穴两种载流子。如果在半导体材料中某种载流子占少数,导电中起到次要作用,则称它为少子。如,在 N型半导体中,空穴是少数载流子,电子是多数载流子;在P型半导体中,空穴是多数载流子,电子是少数载流子。   多子和少子的形成:五价元素的原子有五个价电子,当它顶替晶格中的四价硅原子时,每个五价元素原子中的四个价电子与周围四个硅原子以共价键形式相结合,而余下的一个就不受共价键束缚,它在室温时所获得的热能足以便它挣脱原子核的吸引而变成自由电子。出于该电子不是共价键中的价电子,因而不会同时产生空穴。而对于每个五价元素原子,尽管它释放出一个自由电子后变成带一个电子电荷量的正离子,但它束缚在晶格中,不能象载流子那样起导电作用。这样,与本征激发浓度相比,N型半导体中自由电子浓度大大增加了,而空穴因与自由电子相遇而复合的机会增大,其浓度反而更小了。  少子浓度主要由本征激发决定,所以受温度影响较大。 少数载流子寿命(简称少子寿命)是半导体晶体硅材料的一项重要参数,它对半导体器件的性能、晶体硅太阳能电池的光电转换效率都有重要的影响.分别介绍了常用的测量晶体硅和晶体硅太阳电池少子寿命的各种方法,包括微波光电导衰减法(MW-PCD),准稳态光电导方法(QSSPC),表面光电压(SPV),IR浓度载流子浓度成像(CDI),调制自由载流子吸收(MFCA)和光束(电子束)诱导电流(LBIC,EBLC) 少子寿命是描述半导体 材料特征方程的基本参数之一,对器件特性的精确描述起着重要作用,特别是对以PN结为基本结构的器件,额外载流子的产生与复合在PN结的状态转换过程中起着决定性的作用,因而少子寿命是决定PN结型器件工作特性的关键材料参数之一。   太阳电池的转换效率主要依赖于基区的少子寿命.少子寿命越长光照产生的过剩载流子越可能到达PN结,受PN结电场分离后对外产生光电流,同样由于暗电流的降低可增加太阳电池的开路电压,所以大部分生产商都在生产前检验原始材料的一些关键性参数,光伏工业生产中最常见的测试就是少子寿命的测试,通过对原始材料的寿命测量预测成品太阳电池的效率。   少子寿命测试仪采用微波光电导衰减法(ASTM国际标准-1535)的测试原理,提供低成本、快速、无接触、无损伤的少数载流子寿命的测试,主要是通过904nm波长的激光激发出硅片,硅棒或硅锭体内的非平衡载流子,再通过微波反射的探测手段来测试少数载流子引起的电导率的变化,从而判断该硅片,硅棒或硅锭的缺陷、沾污情况。该设备主要应用于硅棒,硅片的出厂、进厂检查,生产工艺过程的沾污检测等。特别是在太阳能领域,少子寿命将直接关系到成品电池的效率,是必备的检测手段。   少子寿命测量仪可测量半导体的少子寿命。少子寿命值反映了太阳电池表面和基体对光生载流子的复合程度,即反映了光生载流子的利用程度。少子寿命是半导体晶体硅材料的一项关键性参数,它对晶体硅太阳能电池的光电转换效率有重要的影响,可以说硅电池的转化效率和少子寿命成正向相关对应关系。   少子寿命测量仪采用微波光电导衰减法(SEMI国际标准-1535)的测试原理,即通过激光激发出硅体内的非平衡载流子,再通过微波反射的探测手段来测试少数载流子引起的电导率的变化,从而计算出少子寿命值,为半导体提供低成本、快速、无接触、无损伤的少数载流子寿命的测试。该仪器测量少子寿命的精度达到ns级,分辨率达1%,测试结果准确性好、重复性高,完全能满足太阳能级硅电池的少子寿命测试。目前该方法是最受市场接受的少子寿命测试方法 主要特点:   适应低电阻率样片的测试需要,最小样品电阻率可达0.1ohmcm   全自动操作及数据处理   对太阳能级硅片,测试前一般不需钝化处理   能够测试单晶或多晶硅棒、片或硅锭   可以选择测试样品上任意位置   能提供专利的表面化学钝化处理方法   对各道工序的样品均可进行质量监控:   硅棒、切片的出厂、进厂检查   扩散后的硅片   表面镀膜后的硅片以及成品电池常见问题: WT-2000与WCT-120测少子寿命的差异? WCT用的是Quasi-Steady-State Photoconductance(QSSPC准稳态光电导)而WT2000是微波光电导。 WCT-120准稳态光电导法测少子寿命的原理? WCT用的是Quasi-Steady-State Photoconductance(QSSPC准稳态光电导) 准稳态光电导衰减法(QSSPC)和微波光电导衰减法(MWPCD)的比较? QSSPC方法优越于其他测试寿命方法的一个重要之处在于它能够在大范围光强变化区间内对过剩载流子进行绝对测量,同时可以结合 SRH模型,得出各种复合寿命,如体内缺陷复合中心引起的少子复合寿命、表面复合速度等随着载流子浓度的变化关系。 MWPCD方法测试的信号是一个微分信号,而QSSPC方法能够测试少子寿命的真实值,MWPCD在加偏置光的情况下,结合理论计算可以得出少子寿命随着过剩载流子的变化曲线,而QSSPC直接就能够测得过剩载流子浓度,因此可以直接得出少子寿命与过剩载流子浓度的关系曲线,并且得到PN结的暗饱和电流密度;MWPCD由于使用的脉冲激光的光斑可以做到几个到十几个,甚至更小的尺寸,在照射过程中,只有这个尺寸范围的区域才会被激发产生光生载流子,也就是得到的结果是局域区域的差额寿命值,这对于寿命分布不均匀的样品来说,结果并不具备代表性。
  • 耐压测试仪
    耐压测试仪是测量耐压强度的仪器,可以直观、准确、快速地测试各种被测对象的击穿电压、漏电流等电气安全性能指标,并可以作为高压源用来测试元器件和整机性能。性能特点:1、交直流5KV通用型耐压测试仪2、输出电压通过调压器调节输出,具有高可靠性、高耐用性的特点3、采用高亮度的LED数码管显示测试时间、电压、电流、能实时显示击穿电流值和电压值4、报警电流值可连续任意预置5、测试时间采用三位数码管显示6、配备PLC所需的信号输入、输出接口,可方便地与PLC组成综合测试系统主要技术参数:型号RK2672AMRK2672BMRK2672CMRK2672DM输出电压AC0~5kV0~5kV0~5kVDC0~5kV__0~5kV测试电流AC0~2/20mA0~2/20/100mA0~2/20/100mA0~2/20/200mADC0~2/10mA__0~2/20mA0~2/20mA测试精度±(5%+3个字)测试时间0.0s~999s 0.0=连续测试变压器容量100VA500VA1000VAPLC接口RS232选配电源要求AC:220V±10% 50Hz/60Hz±3Hz工作环境温度:(0-40)℃ 湿度≤75%RH外型尺寸390×270×180mm440×380×180mm重量9.5㎏14㎏18.5㎏24.5㎏配件高压测试线、高压棒、接地线、电源线
  • 防雷装置检测土壤电阻率测试仪
    HL-1615T接地电阻土壤电阻率测试仪又叫四线接地电阻测试仪或者土壤电阻率测试仪是检验测量接地电阻常用仪表的常用仪表,他采用了超大LCD灰白屏背光显示和微处理机技术,通过微处理器控制的2线、3线、4线法式接地电阻测试及土壤电阻率测试。  汇集了许多接地测试功能,可快速全面的测量接地网络中的各项参数。,是代替传统摇表测量的新一代接地测量仪表。广泛应用于电信、电力、气象、机房、油田、电力配电线路、铁塔输电线路、加油站、工厂接地网、避雷针等。仪表具有测试快速、简捷、稳定可靠等特点。  由微处理器控制,可检测接地电阻、土壤电阻率、接地电压。其使用了快速滤波技术可将干扰减至最小。同时存储500组数据。1、量程及精度误差测量功能测量范围精度分辨率接地电阻(R)0.00Ω~30.00Ω±2%rdg±5dgt (注1)0.01Ω30.0Ω~300.0Ω±2%rdg±3dgt0.1Ω300Ω~3000Ω±2%rdg±3dgt1Ω3.00kΩ~30.00kΩ±2%rdg±3dgt10Ω土壤电(ρ)0.00Ωm~99.99Ωmρ=2πaR (注2)0.01Ωm100.0Ωm~999.9Ωm0.1Ωm1000Ωm~9999Ωm1Ωm10.00kΩm~99.99kΩm10Ωm100.0kΩm~999.9kΩm100Ωm1000kΩm~9999kΩm1kΩm接地电压AC 0.00~600V±2%rdg±3dgt0.01V注:1. 基准条件:Rh Rs工作条件:Rh max=3kΩ+100R2.取决于R的测量精度而定,π=3.14, a:1 m~100m;2、一般规格功 能二三四线测量接地电阻、土壤电阻率;接地电压测量环境温度湿度23℃±5℃,75%rh以下电 源1.5V(LR14)碱性电池6节干扰电压干扰电流测R时电极间距a>5d测ρ时电极间距a>20h辅助接地电阻值基准条件量 程接地电阻:0.00Ω~30.00kΩ土壤电阻率:0.00Ωm~9999kΩm接地电压:0.00V~600V测量方式精密4线、3线法测量、简易2线测量接地电阻测量方法接地电阻:额定电流变极法土壤电阻率:四极法接地电压:平均值整流(S-ES接口间)测试频率128Hz短路测试电流AC>20mA(正弦波)开路测试电压AC 28V max测试电压波形正弦波电极间距范围可设定1m~100m换 档接地电阻:0.00Ω~30.00kΩ全自动换档土壤电阻率:0.00Ωm~9999kΩm全自动换档背 光可控灰白色背光,适合昏暗场所使用显示模式4位超大LCD显示,灰白色背光测量指示测量中LED闪烁LCD显示域108mm×65mm仪表尺寸240mm (长)×188mm (宽)×85mm (高)标准测试线4条:红色15m,黑色15m,黄色10m,绿色10m各1条简易测试线2条:黄色1.5m,绿色1.5m各1条辅助接地棒4根测量时间对地电压:约2次/秒接地电阻、土壤电阻率:约7秒/次接地电压AC 600V以下测量 (接地电压测量功能不能用于测量商用电)数据存储500组,“MEM”存储指示,显示“FULL”符号表示存储已满数据保持保持数据时“HOLD”符号指示数据查阅查阅数据时“READ”符号指示溢出显示超量程溢出时“OL”符号指示报警功能测量值超过报警设定值时发出报警提示电池电压电池电量实时显示,电池电压低时及时更换电池自动关机“APO”指示,开机15分钟后自动关机功 耗待机: 40mA Max(背光关闭)开机开背光: 43mA Max测量:120mA Max(背光关闭)质 量仪表: 1280g(含电池)测试线:890g(含简易测试线)辅助接地棒:720g(4根)工作温湿度-10℃~40℃;80%rh以下存放温湿度-20℃~60℃;70%rh以下过载保护测量接地电阻:H-E、S-ES各端口间AC 280V/3秒绝缘电阻20MΩ以上(电路与外壳之间500V)耐 压AC 3700V/rms(电路与外壳之间)外型尺寸55*24*15cm适合安规IEC61010-1(CATⅢ 300V、CAT IV 150V、污染度2);IEC61010-031;IEC61557-1(接地电阻);IEC61557-5(土壤电阻率);JJG 366-2004。接地装置的检测;土壤电阻率的测量北京朋利驰科技有限公司生产产品:可燃气体测试仪,接地电阻测试仪,大地网测试仪,土壤电阻率测试仪,等电位测试仪,环路电阻测试仪,回路电阻测试仪,直流电阻测试仪,防雷元件测试仪,浪涌保护器安全巡检仪,智能高压绝缘电阻测试仪,压敏电阻测试仪,标准电阻,感烟探测器功能试验器,感温探测器功能试验器,数字照度计,线型光束感烟探测器滤光片,超声波流量计等。序号仪器设备名称配置台数主要性能要求甲级乙级1. 激光测距仪√√量程:0-150m2. 测厚仪√√金属厚度测量,超声波3. 经纬仪√√量程:0-360°,分辨率:2″4. 拉力计√√量程:0-40kgf;指针式5. 可燃气体测试仪√√适用气体:可燃气体6. 接地电阻测试仪√√测试电流:20mA(正弦波),分辨率:0.01Ω7. 大地网测试仪√测试电流:3A,分辨率:0.001~99.999Ω,频率可选8. 土壤电阻率测试仪√√四线法测量,测试电流:20mA(正弦波)分辨率:0.01Ω9. 等电位测试仪√√测试电流: ≥1A,四线法测试,分辨率:0.001Ω,具备大容量锂电池;10.环路电阻测试仪√√电阻测量分辨率:0.001Ω,电流测量分辨率:1μA 11.防雷元件测试仪√√测试器件:MOV,具备大容量锂电池。12.绝缘电阻测试仪√√0-1000MΩ13.表面阻抗测试仪√√测量范围:103-1010Ω14.静电电位测试仪√√测量范围:±20kv15.数字万用表√√电压、电流、电阻测量,分辨率:3位半16.防爆对讲机√防爆对讲17.标准电阻√√10-3~105欧姆,功率1/2w,线绕型18.钢卷尺√√分辨率:0.01m19.游标卡尺√√量程:0-150mm20.防雷检测仪器携带箱(选配)●●用于上述设备的存放和携带,内衬激光开模高倍海绵:对仪器提供坚实保护。
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