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Hi,各位大侠好。我们提供各种规格的氮化硅薄膜窗口产品,主要应用于:软X射线显微术、透射电镜、微加工、SEM、UV等等,具有良好的透光性、平整性、耐高温、耐化学腐蚀、亲水性、实用性、稳定性。因为有一批产品工艺摸索更新,目前有价值500元的免费氮化硅薄膜窗口试样可以提供。也正是因为工艺摸索阶段的产品,所以希望拿到免费试样的大侠,能够在短期能给予回复,评论产品的优缺点,以便我们进行工艺改进,生产出更好的产品。免费试样领取名额有限,原则上限定前20名联系人,特殊情况,适当放宽。其他参与者,有机会另外获得AFM/STM 探针免费赠送鼓励。领取条件:1、提供单位名称、联系方式(包括电话、邮箱);2、研究/工作方向,希望用氮化硅薄膜窗口主要应用于什么方向;3、最好能够在收到试样一个月内回复使用情况的;附件是氮化硅薄膜窗口的一些资料,及部分应用成果。站内联系,留下联系方式,前20名,我们会很快联系您,并将免费试样寄给您。(来信请注明:氮化硅薄膜窗口试样免费领取)寄语版主:版主大虾,您好……鉴于我们也是出于为产品质量考虑,借用下群众雪亮的眼睛,在贵宝地求证,还望多多照顾。不要以广告论处!谢谢您的谅解!如果您也支持的话,不妨偶尔将帖子置顶下,谢谢啦。
有谁可以指导下氮化硅薄膜窗口可以用在哪里研究,哪些仪器上呢?为什么?非常感谢……
[color=#444444]在钛酸锶(SrTiO3)基片上沉积陶瓷薄膜CTNA,如图,由XRD可以看出是外延生长薄膜,现如今想计算该薄膜的晶格常数,怎么算??[/color][color=#444444]用Jade拟合,然后晶胞参数精修行不通(拟合之后的误差因子非常大);[/color][color=#444444]如果手动计算,条件好像不够(薄膜样为正交结构,a不等于b不等于c。由同一晶面族的三个晶面算不出来,一个方程两个未知数。)[/color][color=#444444]如果采用GSAS结构精修,是否可行? XRD图谱里面既有薄膜样的衍射峰又有基底的衍射峰,并且又是外延薄膜,和pdf卡片上面的标准衍射峰不可能完全对应,怎么处理?或者有没有其他的计算方法。。[/color][color=#444444] 请大侠赐教,不胜感激![img=,690,478]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/07/201707041523_01_3226112_3.jpg[/img][/color]