标线反射系量仪

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标线反射系量仪相关的厂商

  • 400-860-5168转4877
    广州玉科仪器有限公司成立于2015年,位于广州市白云区。我们拥有多年光谱快速检测经验,为手机屏幕检测、光色电测量、物理光电、功能材料、化学化工、环境科学、食品科学、生物医药等领域提供最优的测量方案,尤其在手机3D玻璃盖板小孔透过率测试、膜厚度、镜面反射率等领域获得了丰富的案例经验。目前公司主要产品有透过率测试仪、显微透过率测试仪及反射率测试仪,透反射测量系统,吸光度测量系统,拉曼测量系统等光谱光学测量仪器。广州玉科仪器有限公司具有强大的研发设计能力,自成立以来不断探索创新,以客户需求和行业应用为导向,专注于光谱仪器和系统开发,为用户提供了品质卓越的产品以及综合的解决方案和服务。在产品方面,我们已经拥有了IR孔透过率测量、压力气体的拉曼原位分析一整套的解决方案并已经申请产品专利。公司已在各大科院院所和企业用户单位获得一致好评。未来的发展道路上,玉科将继续秉持“创新、合作、共赢”的经营理念,依托强大的技术研发实力,不断推陈出新,以持续的创新科技提升客户价值,分享时代创新形势下的发展红利。
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  • 深圳市中建工仪器设备有限公司(简称“中建工”)是专营全球先进建筑与工业测试仪器的中国地区集成供应商。“中建工”总部设于深圳,并在香港设立办事处,为中国大陆及港澳台地区引进高科技、高质量、高增值、高效益的先进测试仪器及提供专业可靠的售后服务。 “中建工”衷心感谢各政府部门、大学、科学研究所、检测中心、设计院、工程公司、制造商、管理及公共机构等数以千计客户的一直信赖及大力支持。“中建工”将一贯秉承诚信、专业、创新的理念致力为广大客户提供先进测试仪器及提供专业可靠的服务,并努力成为中国地区建筑与工业测试仪器全面解决方案最佳提供者。 “中建工”经营范围:建筑公路测试仪器(钢筋扫描仪、钢筋锈蚀仪、回弹仪、超声波检测仪、冲击回波仪、混凝土雷达、混凝土湿度仪、渗漏巡检仪、无核密度仪、泄漏探测仪、标线测厚仪、标线标志逆反射系数测试仪……)工业无损检测仪器(光泽度计、百格刀、湿膜厚度计、细度计、硬度计、自动涂布机、涂布器涂布棒、附着力测试仪、涂层测厚仪、露点仪、粗糙度仪、电火花检漏仪、盐分检测仪……) “中建工”合作伙伴:瑞士杰恩尔Zehntner、英国易高Elcometer、美国迪芙斯高DeFelsko、英国派特PTE、瑞士博势PROCEQ、美国NDTJAMES、爱尔兰TRAMEX、美国费舍尔Fisher、美国特克斯勒Troxler、美国汉堡Humboldt、英国普洛蒂Protimeter、英国GMI。 “中建工”公司文化:公司口号:中建工 高科技公司理念:诚信、专业、创新公司愿景:中国建筑与工业测试仪器全面解决方案提供者公司使命:引进高科技、高质量、高增值、高效益的先进测试仪器
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  • 上海楚光仪器技术有限公司是美国Gamma Scientific,德国Opsira的总代理,其公司主要的产品有AR/VR近眼显示测量仪器、多角度光谱照度计、光谱成像亮度色度计以及照明及材料光学的测量检测仪器、逆反射测试仪器等。
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标线反射系量仪相关的仪器

  • SGRM-200反射率测量仪--代理西格玛产品
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  • 一、标线逆反射系数测量仪BX-II产品简介:逆反射标线测量仪是测量反光标线光学性能的专用仪器。标准GB/T16311-2004《道路交通标线质量要求和检测方法》,交通行业标准JT/T280-2004《路面标线涂料》都对反光标线夜间可见度的光学性能规定了技术指标,逆反射标线测量仪为控制施工质量提供了测量仪器。二、标线逆反射系数测量仪BX-II技术参数:◆测量范围: 0~1999 (单位:cd/lx/m² ) ◆确定度: 5% ◆观察角: 1.05° ◆入射角: 88.76° ◆光源色温: A光源 色温2856K ◆接受器: V&fnof 校正 ◆适用环境溫度: -20°~ 50° ◆一次充电连续工作时间: 10小时◆外形尺寸:780X420X180mm◆重量:10kg三、标线逆反射系数测量仪详细描述:反光标线亮度,国际上用逆反射系数来表示,单位mcd/lx/m2。其物理意义是:在单位光照条件下,单位面积上产生的亮度值。将仪器置于被测标线的上面,该仪器以数字的形式显示出逆反射系数值,它反映了行车条件下司机对标线反光亮度的客观评价。该仪器由测量主机、电源、充电器、标准板组成。四、标线逆反射系数测量仪产品特点:◆能分白天、夜间、野外、室内,全天候测量; ◆仪器操作简单,以直观的数字显示出逆反射系数值; ◆仪器配备一套标准板,采用数据传递方式进行标定,准确度高; ◆测量几何条件为观察角1.05°,入射角88.76°,符合**标准《道路交通标准质量要求和检测方法》; ◆仪器体积小,重量轻,携带方便
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  • LTL3500 是DELTA新一代逆反射测量仪,用于测量道路标线的逆反射性能。该仪器集成了最新的技术,采用现代化的设计和材料。LTL3500 像所有其他DELTA 的仪器一样,非常容易校准和操作,用户界面友好。该仪器构造坚固,耐久性好。除此之外,体积小(470 ×280×150mm/ 18.0×11.0×5.9in),重量轻(5.6kg/ 12.3 磅)。LTL3500 特别适合那些需要进行多种测量功能的客户—仪器软件可以支持实现测量,以便在回顾结果时方便地获取查看。LTL3500 提供了许多功能,允许采集附加的信息链接到测量结果,而不仅仅是逆反射结果信息,其中包括了照片文档。可伸缩手柄确保符合人体工程学的正确工作位置。此外,该仪器体积小,重量轻,便于运输。仪器符合 EN1436、ASTM E1710、 ASTM E 2177、ASTM E 2302、ASTM E 2367 和 ASTM E 2832 等
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标线反射系量仪相关的资讯

  • 玻璃行业中的透射与反射色彩质量测量—色差仪
    玻璃作为一种常见的材料,广泛应用于建筑、汽车、家具等领域。在玻璃行业中,透射和反射是两个重要的性质。透射涉及玻璃对可见光的透明程度和色彩表现,而反射关乎玻璃表面镀膜的效果。本文将介绍如何使用在线ERX55分光光度仪和ColorXRAG3色度分析仪来监控色彩质量和测量玻璃镀膜的反射率。透射是玻璃行业中最重要的光学性质之一,它决定了玻璃对可见光的透明程度和色彩表现。当光穿过玻璃时,会受到折射现象的影响。折射是光在从一种介质传播到另一种介质时改变方向的现象。这种折射现象使得玻璃能够将光有效地传播到玻璃的另一侧,使我们能够透过玻璃看到外面的世界。在玻璃行业中,透射率是一个重要的参数。透射率定义为通过玻璃的光强与入射光强的比值。透射率越高,玻璃对光的透明度就越好。而对于特定波长的光,其透过玻璃的能量与光谱分布有关,因此,不同类型的玻璃可能对不同波长的光具有不同的透射率。透射率的测量通常使用分光光度计来完成。在线ERX55分光光度仪是高精度的测量仪器,可以用于测量透明薄膜的色彩、可见光透射和雾度,持续监控色彩质量。通过持续监控透明薄膜的色彩质量,生产厂家可以确保产品的一致性和稳定性。反射是另一个在玻璃行业中需要关注的光学现象。反射率是一个指标,用于衡量光线在物体表面反射的程度。在玻璃制造过程中,常常会在玻璃表面进行涂层处理,这些涂层能够改变玻璃的反射性能。通过合理设计涂层,可以实现特定的反射率,使玻璃在特定波长范围内表现出所需的特殊光学效果,如防紫外线、隐私保护等。玻璃作为非散射性物体,在传统的直接照明测量设备中无法准确提供色彩数据。为解决这一问题,ColorXRAG3色度分析仪成为了一种重要工具。该设备具备宽波长范围(330nm到1,000nm)和高光学分辨率(1nm),可在实验室中安装在支架上,对放置在样品支架上的玻璃板进行测量。同时,它也可用于在线测量,安装在玻璃板上方的横梁用于测量低辐射玻璃,或安装在玻璃板下方用于测量遮阳镀膜。ColorXRAG3色度分析仪具有紧凑型设计,可从距离玻璃板10mm处捕获非散射性样品的光谱数据和色彩反射值,甚至能鉴定多银层镀膜。该仪器采用氙气闪光灯,同时采用+15°:-15°、+45°:-45°和+60°:-60°三种光学结构,每秒进行一次测量,以实现全方位的色彩数据获取。其中,±15°的测量值与传统实验室测量的积分球光学结构结果相同,而±45°和±60°的测量值则可以显示不同观察角度下的色彩变化。ColorXRAG3色度分析仪的应用为玻璃行业提供了一种高效、准确的色彩测量解决方案,使生产厂家能够更好地控制透射与反射性能,提高产品质量,并满足不同市场需求,推动玻璃行业的持续发展。透射和反射是玻璃行业中非常重要的光学现象。透射性能决定了玻璃的透明度和色彩表现,而反射率则与玻璃表面的涂层处理密切相关。使用在线ERX55分光光度仪和ColorXRAG3色度分析仪,可以对玻璃产品的透射性能和反射性能进行精确测量和监控,从而保证玻璃产品的质量和性能达到预期要求。“爱色丽彩通”是丹纳赫公司旗下的品牌,总部位于美国密歇根州,成立于1958年。作为全球领先的色彩趋势、科学和技术公司,爱色丽彩通提供服务和解决方案,帮助品牌、制造商和供应商管理从设计到最终产品的色彩。
  • 基于地物光谱应用,干旱胁迫下的水稻反射率表现
    水资源短缺是目前制约农业生产的一个全球性问题,近年来,全球水资源供需矛盾更加突出。对于中国而言,有43%的面积为干旱和半干旱地区,并且中国的水量分布在时间和空间上也存在非常巨大的不均衡性,这使得中国的水资源供需矛盾更加尖锐,是中国农业生产面临的最?大危机之一。自21世纪以来,中国每年都会发生大强度的干旱,受灾面积往往波及数个省,如2010年西南地区发生的大旱灾,有将近5000000hm2的农作物受害,造成190多亿元的经济损失。水稻作为中国第?一大粮食作物,研究不同干旱胁迫对水稻的影响以及研发出抗干旱品种对农业发展尤为重要。在遥感领域中,为了研究各种不同地物或环境在野外自然条件下的可见和近红外波段反射光谱,需要适用于野外测量的光谱仪器。地物光谱仪在户外主要利用太阳辐射作为照明光源,利用响应度定标数据,可测量并获得地物目标的光谱辐亮度 利用漫反射参考板对比测量,可获得目标的反射率光谱信息。实验过程及结果本实验旨在理解不同干旱胁迫下水稻基本型的表现,测量了10种在不同干旱威胁水平下导致相对含水量(RWC)不同的水稻的光谱数据,如图1所示。图1该实验显示了不同干旱胁迫下水稻的反射率模式。1) 在水稻含水量(RWC)降低时,由于1400nm和1900nm这两处水吸收特征峰减弱,导致近红外区域反射率增加。2) 对于350-700nm波长区域也有着类似的变化,在叶绿素a和叶绿素b的吸收范围中,反射率随着RWC降低而升高。3) 其次,随着RWC的降低,1400-1925nm波长向较短波长移动,且反射率增加。4) 在810-1350nm的海绵状叶肉中的散射也反映出反射率随RWC降低而增加的相同趋势。5) 最?后,在1100-2500nm波段位置的吸收也是一个强烈的吸收区域,随着RWC降低,叶片枯萎主要通过新鲜叶片中的水,其次是通过如蛋白质、木质素和纤维素的干物质而变得更加明显。结论这项实验的结果表明不同干旱威胁下的水稻的光谱反射率具有明显且规律的特征。因而可根据特征位置的差异建立预测模型,在精?准的模型分析下定量的分析出水稻含水量乃至干旱威胁程度,最终用于开发抗旱水稻品种的研究,为我国的农业生产作出巨大的贡献。
  • SpectraBlack 超低反射率漫反射目标板
    更易表征激光雷达和飞行时间 (ToF) 传感系统由于缺乏光谱平坦的光学反射材料,因此很难了解激光雷达和 ToF 系统在低反射率 (5%) 下的灵敏度。Labsphere (蓝菲光学)的 Spectrablack 漫反射目标板和材料有效解决了这个问题。Spectrablack 是一种低反射率、耐磨损的吸光材料,非常适合用于室内近标准传感器测试应用,以及OEM光学系统中的遮光/预防散射光。应用:ToF 和 LIDAR 低反射率范围测试遮光/吸光:利用微孔表面的吸光效果预防光学系统、光学测量仪器、相机等中的散射光降低光谱仪和分光光度计杂散光非反光片和一般遮光材料典型反射率*250 – 380 nm:1.5%380 – 780 nm:1.0 %780 – 2500 nm:1.1 %*反射值可能会有所不同。

标线反射系量仪相关的方案

标线反射系量仪相关的资料

标线反射系量仪相关的试剂

标线反射系量仪相关的论坛

  • 反射吸收法

    用于样品表面、金属板上涂层薄膜的红外光谱测定。甚至用于单分子层的解析。入射光经反射镜照射到样品表面,其反射光再经另一反射镜进入仪器。反射吸收测定的原理是,只有与基板垂直的偶极矩变化可以被选择性地检测。

  • 【转帖】便携全反射X射线荧光分析仪

    转录 请自己 google 搜索 便携全反射X射线荧光分析仪 全反射X射线荧光分析仪 等文章全反射X荧儿(TXRF)分析技术是十多年前才发展起来的多元素同时分析技术,它突出的优点是检出限低(pg、ng/mL 级以下)、用样量少(Μl、ng级)、准确高度(可用内标法)、简便、快速,而且要进行无损分析,成为一种不可替代的全亲的元素分析方法。国际上每两年召开一次TXRF分析技术国际讨论会。该技术被誉为在分析领域是最具有竞争力的分析手段,在原子谱仪领域内处于领先地位。从整个分析领域看,与质谱仪中的ICP-MS和GDMS、原子吸收谱仪中的ETAAS和EAAS以及中子活化分析NAA等方法相比较,TXRF分析在检出限低、定量性好、用样量少、快速、简便、经济、多元素同时分析等方面有着综合优势。在X荧光谱仪范围内,能谱仪(XRF)和波谱仪(WXRF)在最低检出限、定量性、简便性、准确性、经济性等方面,都明显比TXRF差。在表面分析领域内,尤其在微电子工业的大面积硅片表面质量控制中,TXRF已在国际上得到广泛应用。1. TXRF分析仪工作原理:TXRF利用全反射技术,会使样品荧光的杂散本底比XRF降低约四个量级,从而大大提高了能量分辨率和灵敏率,避免了XRF和WXRF测量中通常遇到的木底增强或减北效应,大大缩减了定量分析的工作量和工作时间,同时提高了测量的精确度。测量系统的最低探测限(MDL)可由公式计算: (2)这里, 是木底计数率,t为测量计数时间,M为被测量元素质量,l代表被测量元素产生的特征峰净计数率,S=I/M就是系统灵敏度,由公式可以看出,提高灵敏底、降低木底计数率、增加计数时间是降低MDL的有效办法。木氏低、灵敏度高正是TXRF方法的长处,因而MDL很低。

标线反射系量仪相关的耗材

  • 雾度测量仪配件
    雾度测量仪配件能够精确测量在玻璃或硅晶圆衬底上薄膜的总透过率和漫透过率,根据公式Haze(λ)=DT(λ)/TT(λ)从而获得雾度值,测量光谱范围为400-900nm。薄膜的总透过率,总反射率,漫透过率对于太阳能光伏制造非常重要,雾度测量仪配件通过三个光谱仪测量400-900nm范围内的光谱,不需要移动或改变任何部件,保证测量精度和使用寿命。雾度测量仪配件采用模块化设计,具有高度的可拓展性,充分满足不同客户的多种需要。例如,自动光学窗口可更换,简化操作,减少用户的人工干预操作。还有厚度和反射率测量模块可集成,从而满足客户测量薄膜厚度和折射率的需求。除此之外,还可以根据用户的预算情况配备自动扫描或手动扫描的机制,可以适合任何尺寸的样品,包括面积大于1平方米的玻璃板。
  • 多功能翘曲度测量仪配件
    多功能翘曲度测量仪配件是孚光精仪公司进口的全球领先的翘曲度检测仪器,一套翘曲度测试仪器可以测量:热沉,晶圆(wafer),太阳能电池和硅片翘曲度,应力以及表面形貌。多功能翘曲度测量仪配件是特别为半导体晶圆(wafer)和太阳能电池(solar cell)的翘曲度(warp) 和弯曲度(bow)以及表面形貌(topography)的测量而设计,可以测量晶圆翘曲度(wafer warpage) 和晶圆表面形貌, 晶圆应力,硅片张力,太阳能电池量子效率,既适合科研单位使用,也适合工业客户大产品、高效率的晶圆翘曲度和表面形貌的检测的需要。我们还根据不同晶圆类型提供如下两种硅片翘曲度测量仪:1. 非反射型:适合晶圆表面覆盖晶圆保护膜/胶带(wafer tape),图案化晶圆 /图样化晶圆(patterned wafer),粗糙的晶圆的应用;2. 高反射型: 适合晶圆表面光滑 / 镜反射的应用。多功能翘曲度测量仪配件特点:× 适合不同尺寸的晶圆检测,从0.5’‘到12' ' 的直径;* 标准检测能力为: 每小时可检测2000个晶圆或更多太阳能电池;× 同时测量多个晶圆或太阳能电池;× 测量镀膜后的晶圆或solar cell * 分析太阳能电池或晶圆应力和张力;* 对晶圆表面进行图像分析;* 测量图案化晶圆或非图案化的晶圆;* 具有太阳能电池的量子效率测量选项供选择多功能翘曲度测量仪配件参数:× 翘曲度测量范围:1-20微米;* 重复精度: 百分之0.5 (1 sigma) * 给出结果:曲率半径,晶圆弯曲高度,翘曲度,测量日期和时间;* RMS粗糙度mapping: 0.5-20A (可选项);* 光源:根据用户的应用而配备不同光源;* 探测器:高分辨率探测器阵列并配备亚像素软件;
  • 显微薄膜测量仪配件
    显微薄膜测量仪配件是一款超级紧凑而功能多样的薄膜测试仪系统,可以结合显微镜测量薄膜的吸收率,透过率,反射率以及测量点的荧光。薄膜测试仪通过反射率的测量,测量点处的薄膜厚度,薄膜光学常量(n &k)以及thick film stacks都能在瞬间测量出来。整套显微薄膜测量仪的组成是:光栅光谱仪(200-1100nm)+显微镜目镜 适配器+软件+显微镜(可选)。其中目镜适配器包含镜头,可增加光的收集。标准的40X物镜可做到测量点直径约200微米。更高倍数的物镜的测量点更小。整套薄膜测量仪和薄膜测试仪到货即可使用,仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可,操作非常方便。 安装到显微镜上的薄膜测量仪照片 薄膜测试仪SiO2薄膜测量结果(20X物镜)薄膜厚度测试仪配件软件这款薄膜测试仪配备专业的仪器控制,光谱测量和薄膜测量功能的软件,具有广阔的应用范围。该薄膜厚度测试仪软件能够实时采集吸收率,透过率,反射率和荧光光谱,并且能够能够快速计算出结果。对于吸收率/透过率模式的配置,所有的典型参数如 A, T可快速计算出来。其他的非标准参数,如signal integration也能测量出来。对于反射率测量,该薄膜厚度测试仪软件能够精确测量膜层小于10层薄膜厚度(《10nm到100微米), 光学常量(n & k)。薄膜厚度测试仪配件参数 可测膜厚: 10nm-150微米;波长范围:200-1100nm精度:0.5%分辨率:0.02nm光源:使用显微镜光源光斑大小:由显微镜物镜决定计算机要求:Windows XP, vista, Win7均可,USB接口;尺寸:120x120x120mm重量:1.2kg薄膜厚度测试仪配件应用测量薄膜吸收率,透过率测量化学薄膜和生物薄膜测量光电子薄膜结构测量半导体制造聚合物测量在线测量光学镀膜测量
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