纳粒粒径谱仪

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纳粒粒径谱仪相关的厂商

  • 济南微纳颗粒仪器股份有限公司是集研发、生产、销售颗粒测试相关仪器设备于一体的高新技术企业。 公司的前身为山东建材学院颗粒测试研究所,研究激光粒度测试技术自1982年承担国家七五科技攻关项目开始,至今已有30余年的历史。 微纳一直以“发展与普及当代先进的颗粒测试技术”为己任,研制的便携式、台式、干粉等系列的激光粒度仪均代表了国内行业高水平,并于2006年推出国内首台在线测试激光粒度仪,2007年推出国内首台动态颗粒图像分析仪,2009年推出国内首台动态光散射原理的光相关纳米粒度仪,将中国颗粒测试技术推向一个全新的高度。 为追求公司的长远战略,实现更大空间的跨越式发展。我公司于2014年作为中国颗粒测试行业的首支上市企业,证券名称为:“微纳颗粒”,证券代码为:430410;微纳公司成功登陆新三版,实现了中国颗粒仪器界在股市上零的突破,代表着一个行业走向成熟的里程碑。 微纳公司将秉承自身作为中国颗粒测试技术牵头者的职责,再接再厉为中国粒度测试技术赶超世界主流水平做出不懈努力。
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  • 中国第一台激光粒度仪、中国第一台干法激光粒度仪、中国第一台动态颗粒图像仪、中国第一台纳米激光粒度仪、中国第一台在线测试粒度仪在颗粒测试领域我们不但技术遥遥领先,而且引领着中国颗粒测试技术的发展方向企业简介   济南微纳颗粒仪器股份有限公司是专门研发、生产、销售颗粒测试相关仪器设备的高科技企业。公司的前身为山东建材学院颗粒测试研究所,研究激光粒度测试技术自上世纪80年代承担国家七五科技攻关项目开始,至今已有近30年的历史。微纳一直以“普及当代最先进的颗粒测试技术”为己任,研制的便携式、台式、干粉等类型的激光粒度仪均代表了国内最高水平,进入新世纪,更相继推出了“动态颗粒图像仪”“在线激光粒度仪”“光相关纳米粒度仪”等产品,引领中国颗粒测试的技术发展方向。将中国颗粒测试水平推向一个全新的高度。 济南微纳公司以高校为依托,培养了一流的技术开发团队,其中包括光学、电子、计算机、化工、材料各方面的专家和教授。公司的首席专家任中京教授是我国激光粒度分析技术的开创者,在颗粒测试领域享有极高声誉。微纳公司还与国内许多大学、研究机构建立了良好的合作关系,经常进行新技术的交流并合作进行大型科研项目的开发,增强了技术实力。以激光粒度仪为代表的微纳品牌颗粒测试系列仪器分为7大类近三十种产品可以满足各种用户的测试需求。不但畅销国内,还大量销往海外,以其过硬的质量和坚强的技术支持与服务获得广大用户的好评。获得中国业内最具创新实力的企业、中国颗粒测试技术的领航者等荣誉称号。被国际权威组织排入亚洲粉体企业50强。---------------------------------------------------------------------------专家介绍: 微纳公司董事长、首席专家任中京教授,1982年毕业于中国海洋大学物理系光学专业。1986年任山东建材学院颗粒测试研究所所长。从事激光颗粒分析理论与技术研究工作20余年间,主持并完成国家省部科技攻关项目4项。发表论文60余篇,其中收入美国工程索引(EI)研究论文20余篇,在国际颗粒学研究领域享有很高声誉。参与创建中国粉体技术杂志,任《中国粉体技术》常务副主编。中国颗粒学会务理事,颗粒测试专业委员会主任,历任山东颗粒学会理事长。并成为国际光学工程学会(SPIE)会员。1996年被授予国家有突出贡献专家称号。主要国家级成果: 国家七五科技攻关项目“水泥颗粒级配在线分析仪”负责人 山东八五科技攻关项目“JL9200便携式高分辨激光粒度分析仪”负责人 山东九五科技攻关项目“JL9300干粉激光粒度仪”负责人 国家教委仪器研究项目“YP750空间频谱演示仪”负责人---------------------------------------------------------------------------发展历史:1986年 济南微纳的前身“山东建材学院颗粒测试研究所”成立。 1990年 承担国家七五科技攻关项目,研制成功国内第一台激光粒度分析设备“水泥颗粒级配在线分析仪”。 1993年 “水泥颗粒级配在线分析仪”获得中国首届科技博览会金奖。 1994年 承担山东省八五科技攻关项目,研制成功“JL9200便携式高分辨率激光粒度分析仪”,同年获得国家专利。 1995年 “JL9200便携式激光粒度分析仪”列为国家级重点新产品 1996年 承担山东省九五科技攻关项目,研制成功“JL9300干法激光粒度分析仪” 该产品获得山东省科技进步三等奖。2000年 济南微纳公司正式成立。 2002年 微纳激光粒度分析仪产品通过国家标准物质研究中心定型鉴定。 2003年 微纳激光粒度分析仪获得山东省质量技术监督局计量器具新产品证书 2004年 全面通过中华人民共和国制造计量器具许可证CMC认证。 2005年 微纳公司搬迁至济南高新技术开发区。 2006年 微纳公司获得济南高新技术企业称号 2007年 微纳公司通过ISO9001:2000国际质量管理体系认证。2007年 研制成功我国第一台动态颗粒图像分析仪,通过济南市科技局的鉴定,专家评价为国内首创,达到国际先进水平 2008年 微纳研制的数字相关器CR128取得重大突破2009年微纳推出中国第一台使用数字相关器的“光相关纳米激光粒度分析仪”。销售热线:济南总部:0531-88873312、0531-88870139北京办事处:010-80767402 13683140751 公司网站:www.jnwinner.com 联系地址:济南总部:济南市高新区大学科技园北区F座东二单元 北京办事处:昌平区发展路8号中天科技园9号楼203
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  • 400-860-5168转4012
    苏州纳微科技股份有限公司(简称:纳微)是专注于研发和生产高精度、高性能和高附加值微球材料的国家高新技术企业,致力于打造世界领先的纳微米球精准制备和应用技术平台,已成为世界上能够提供最多品种和规格的纳微米球材料的公司之一。纳微可以提供粒径从5 nm到1000 μm范围内、不同结构、不同材料组成、任意大小单分散微球,产品种类超过3000种。目前公司已拥有40多项发明专利,产品成功地应用在生物制药、食品安全检测、环境监测、医疗诊断、 液晶显示及LED照明等重要领域。纳微微球产品包括LCD间隔物塑胶球、边框硅球、导电金球、光扩散微球、标准颗粒、聚合物层析介质、硅胶色谱填料、磁珠等。公司生产的微球不仅具有精确的粒径大小和高度的均一性,且可对微球形态、孔径结构、比表面积及表面功能基团进行精准调控。纳微的多项技术和产品不仅打破了国外的垄断,填补国内空白,还开创多项世界独有的微球精准制造技术,赢得国际同行的高度认可。中文网站:www.nanomicrotech.comEnglish Website: http://en.nanomicrotech.com/ 客户服务电话:400-828-1622公司总部地址:苏州工业园区百川街2号 苏州 中国QQ:1987330343 3181821292邮箱:info@nanomicrotech.com微信:Nanomicro Tech
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纳粒粒径谱仪相关的仪器

  • 产品简介  粒径谱分析仪以激光二极管作为光源,31个粒径通道测量模块可准确计算颗粒物质量浓度和分布基础。该分析仪可检测固体颗粒物和小液滴粒径分布,测量过程没有半挥发性物质损失,适合官方作为PM10和PM2.5测量的组网仪器。在解决环境监测中需要解决的大气可吸入颗粒物等多种污染物的连续、实时、自动监测问题,特别是对颗粒物源解析、数浓度谱的研究有着重要的作用。功能特点  全自动无人值守在线实时监测,19寸机柜安装;  可同时测量PM1,PM2.5,PM10(可选配31个粒径通道),获得PM10,PM2.5 所有的EU及US-EPA认证;  粒径分布、相对温湿度探头、大气压力(三种选项);  不受震动影响,没有放射源,维护少,具有自动跟踪系统;  使用NAFION 作为除湿方法,使得SVC没有损失;  可做为大气监测系统的组网仪器;  维护费用、监测成本低。
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  • 颗粒实时原位表征-看见、测量颗粒梅特勒托利多公司提供的EasyViewer100是一款探头式图像工具,可以实时在线采集过程中晶体、颗粒与液滴的高分辨率图像。它能在线追踪颗粒及液滴的粒度、粒数及形状的变化。超薄,智能控制聚焦和即插即用连接的设计,EasyViewer可以实现无人值守下在更小的尺度下轻松地捕捉图像。当与一款易操作的图像分析软件iC-Vision结合使用时,EasyViewer将成为一个强大的颗粒粒度分析工具,可以实时监测过程变化和量化颗粒尺寸与形貌。帮助科学家和工程师实时测量颗粒和液滴的粒径、形貌,从而快速决策与过程开发。EasyViewer在原位条件下,实时在线追踪颗粒和液滴的变化情况,而不需要取样和制样。能提供实时在线、高固含量的粒径和粒数、形貌信息。适用于固-液,液-液及固-气等体系下的粒子监测。并能适应不同温度、压力和化学环境的要求。仪器特点/功能:1) 实时在线的、安装简便的探头式系统;2) 能在各固相或分散相的浓度中测量;3) 在两相界面提供多个选定粒径范围内的粒径、粒数与形貌信息4) 既能对默认或选定粒径范围(如:小颗粒范围或大颗粒范围)粒子的变化情况进行高精度、高灵敏度的实时监测,也能对重要的动力学研究提供的早期的监测诊断5) 通过粒径、晶形、粒数、浊度等指纹式信息能有效表征间歇反应的实验终点6) 结合iC Vision图像分析软件,将成为强大的颗粒粒度分析工具7) 在短时间内就能获得实用性强、附加值高的数据信息8) 哈氏合金材料,耐酸碱,耐化学腐蚀技术参数:观测范围:1mm × 1mm精度:1.5um光纤长度:3m(标准);13m(带USB延长线)重量:0.66kg[包含探头与光纤]探头温度范围:-20oC-135oC压力:0-10bar材料:哈氏合金 C22应用领域:广泛应用于结晶/沉淀、絮凝、分散、乳液等方面。该颗粒测量仪既能用于学术研究,也可用于实验室过程开发。
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  • NanoScan SMPS纳米颗粒粒径谱仪 - 3910型产品详情TSI 3910 型NanoScan SMPS 打开纳米颗粒粒径常规测量的大门。此粒径谱仪将TSI 公司的SMPSTM 粒径谱仪集成在约一个篮球大小的便携箱内。容易使用,重量轻,电池供电等优点使NanoScanSMPS 让研究人员多点采集纳米颗粒粒径分布数据成为可能。由TSI 核心技术中衍生而来,NanoScan SMPS 是一个创新的,低成本的实时纳米粒径测量的有效解决方案。新型的 3914 将纳米颗粒粒径谱仪和 光学颗粒物粒径谱仪 整合在一起, 可以实现经济、便携、实时的测量 10 纳米到 10微米大小的粒子 。特点下降到 10 纳米的粒度分布两种测量模式: SCAN - 实时粒径分布 SINGLE-单个粒径浓度监测 1 分钟粒径分布 1 秒钟单个粒径数据 简单,独立操作内置的数据记录小巧便携的~ 6 小时的电池寿命,热插拔,充电电池浓度高达 1000000 粒 / 立方厘米NanoScan Manager 管理软件包无放射性材料多仪器管理软件使用光粒度仪模型 3910优势实时纳米尺寸的测量理想的应用需求的可移植性 道路工作场所调查领域的研究点源识别允许用户从多个站点收集更多的数据开辟了同步的时间和空间测量的可能性提供了新的研究机遇进入纳米微粒的发射 / 曝光测量和纳米技术易于学生和工人操作简化数据分析和数据报告里是否有管理软件应用 一般的应用研究室内 / 室外空气质量调查纳米 / 纳米颗粒的应用燃烧和排放的研究移动研究 健康影响 / 吸入毒理学 职业卫生 / 工作场所暴露监测 点源识别 包含项目 Nanoscan SMPS 纳米粒度仪Nanoscan 经理软件光盘Nanoscan 配件包关于TSI公司TSI公司研究、确定和解决各种测量问题,为全球市场服务。作为精密仪器设计和生产的行业领导者,TSI与世界各地的科研机构和客户合作,确立与气溶胶科学、气流、健康和安全、室内空气质量、流体力学及生物危害检测有关的测量标准。TSI总部位于美国,在欧洲和亚洲设有代表处,在其服务的全球各个市场建立了机构。每天,我们专业的员工都在把科研成果转化成现实。
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纳粒粒径谱仪相关的资讯

  • 【标准解读】透射电镜图像法测量多相体系中纳米颗粒粒径
    透射电子显微镜(TEM)具有原子水平的分辨能力,它不仅可以在观察样品微观形态,还可以对所观察区域的内部结构进行表征,成为纳米技术研究与发展不可或缺的工具。特别是TEM配合图像分析技术对多相体系中纳米颗粒粒度进行分析具有一定的优势。本文将对已实施的GB/T 42208-2022 《纳米技术 多相体系中纳米颗粒粒径测量透射电镜图像法》进行解读。多相体系是指体系内部不均匀的体系,在物理化学中也称为非均相体系、混相体系或者复相体系。而纳米颗粒受尺寸限制往往存在于材料基体中,形成多相体系来增加整个材料特性,这可能关系到后续产品的性能和安全性,因此对多相体系中纳米颗粒的评价尤为重要。透射电镜能作为最直观、准确的设备能够对样品内部进行评价,在多相体系中的纳米颗粒粒径表征中不可或缺。本标准从很大程度上完善和补充国内现有标准的不足,给出较为完整的多相体系中纳米颗粒粒径分析评价方法,不仅对于多相体系中纳米颗粒的粒径这种需要探讨体系内部的颗粒测量给出了方案,而且对于不同TEM的颗粒测量结果一致性评判具有重要的参考价值。本文件适用于固相多相体系中的粒径测量。考虑到多相体系的多样性,胶体和生物组织中的纳米颗粒,只要样品制备满足透射电子显微镜观察的要求,也适用本文件.一、背景纳米材料由于表面效应、量子尺寸效应、体积效应和量子隧道效应等,使材料表现出传统固体不具有的化学、电学、磁学、光学等特异性能。同时,受到尺寸的限制,纳米材料单独使用的场合有限,往往存在于材料基体中,形成多相体系来增加整个材料特性。但是由于纳米颗粒粒径较小、比表面积较大、表面能较大,极易团聚,致使其在多相体系中很难表征和评价。研究多相体系中纳米颗粒的粒度测量,对优化材料结构,改善材料的性能有着极大的促进作用,对推动纳米材料的应用和发展具有重要的意义。多相体系中纳米颗粒不同于单一的纳米颗粒,它对检测方法、样品处理及样品制备都有较高的要求。扫描电子显微镜和原子力显微镜由于成像原理的问题,不利于多相体系中纳米颗粒的测量。因此在本标准发布之前,国内该内容处于空白,本标准聚焦透射电镜的成像原理,对样品制备、图像获取、图像分析、结果表示、测量不确定度等技术内容给出了充分的、系统的说明。二、规范性引用文件和参考资料本标准在制定过程中,在符合GB/T1.1-2020《标准化工作导则 第1部分:标准的结构和编写》国家标准编写要求的基础上,充分参照了现行相关国家标准中的相关术语及技术内容的表述,包括颗粒系统术语、纳米材料术语、微束分析、粒度分析、纳米技术等各个专业领域;同时,在规范表达上,也充分征求了行业专家、资深从业者、用户的意见和建议,力求做到专业、通俗、易懂。 三、制定过程本标准涉及的领域较为专业,因此集合了国内相关领域的一批权威代表性机构合作完成。牵头单位为国家纳米科学中心,主要参加单位包括国标(北京)检验认证有限公司、北京市科学技术研究院分析测试研究所(北京市理化分析测试中心)、深圳市德方纳米科技股份有限公司、中国计量大学、北京粉体技术协会等。对于标准中的重要技术内容,如实验步骤、不同多相体系样品的制备方法、图像获取方式、图像分析、数据处理等均进行了实验验证,确定了标准中相关技术的操作可行性。四、适用范围本文件适用于固相多相体系中纳米颗粒的粒径测量和粒径分布。胶体和生物组织中的纳米颗粒,只要样品制备满足透射电子显微镜观察的要求,也适用本文件。 五、主要内容本标准描述了利用透射电子显微镜图像处理和分析技术进行纳米颗粒在多相体系中分散的粒径测量方法的全流程,包含了标准所涉及的术语和定义,TEM的成像原理,不同类型样品的制备方法,详尽的实验步骤,结果表示以及测量不确定度的来源,并在附录中针对不同的样品类型给出了实用案例。术语及定义:即包括了纳米颗粒、分散的术语定义,还包括了TEM中明场相、暗场像、扫描透射电子显微图像和高角环形暗场像等几种成像方式的定义。一般原理:利用透射电镜图像评估纳米颗粒在多相体系中的粒径测量,主要基于透射电子显微镜中电子束穿透样品成像的原理,并对图像进行处理,通常需要借助粒径分析软件进行粒径测量,以避免人为因素的干扰。样品制备:纳米颗粒在多相体系中的分散,由于多相体系材料不同,样品制备方法不同,系统的介绍了纳米复合材料的制备、多相固态金属材料的制备以及多相生物材料的制备方法,这包含了超薄切片技术、离子减薄技术、生物染色技术等。实验步骤:包含了装样、仪器准备、图像获取的全过程。需要注意的是根据多相体系材料及其中纳米颗粒的种类和状态的不同,在测试过程中要明确选用明场、暗场、高角环形暗场等合适的成像技术,并保证有足够清晰度和对比度的透射图像,能够准确识别到图像中的纳米颗粒。除此之外,为了使拍摄所得的图像中包含有足够的样品数量进行粒径测量,需要在不同的位置多次拍摄。具体的过程,本标准在附录A中以镍基高温合金多相体系中纳米颗粒为例,给出了详细过程。粒径测量:多相体系中的纳米颗粒的透射电子显微镜图像通常存在背景亮度不均匀、分散相边界与图像背景灰度差小的特点,因此需要图像处理将样品图像从背景中区分出来。总体目标是将数字显微照片从灰度图像转化为由离散颗粒和背景组成的二值化图像。重点采用阈值算法进行单个颗粒的测量。同时,颗粒粒径测量时测量颗粒数量对测量不确定的影响较大,因此需要确认最少测量颗粒数,这也取决于实际的测量需求。在结果表示方面,实验室可以根据实际需求,只评价纳米颗粒粒径的大小,也可以以纳米颗粒的分布范围为评价目标。在标准的附录中给出了两种分布范围方式。不确定度:对多相体系中纳米颗粒的粒径测量的测量不确定度主要来源包含了样品均匀性、样品制备、图像处理和测量所需的颗粒数不足等。在上述基础上,给出了测量报告的信息及内容。本文作者:常怀秋 高级工程师;国家纳米科学中心 技术发展部Email:changhq@nanoctr.c
  • 从专利申请文献统计看近百年颗粒粒径检测技术演进
    p  strong编者按/strong:让PM2.5无所遁形的颗粒粒径检测技术,已被广泛应用于工业、化学、环境安全等诸多领域。本文作者利用中国专利文摘数据库(CNABS)和德温特世界专利索引数据库(DWPI),采用分类号G01N与关键词对2017年7月12日之前的专利申请文献进行了检索,并对颗粒粒径检测方法的各技术分支的发展状况进行了分析和综述,以期对该领域的进一步研究提供一些参考。/pp style="text-align: center"img src="http://img1.17img.cn/17img/images/201803/insimg/8421654c-8b9f-40df-adeb-ff1dbf5948e4.jpg" title="00.jpg"//pp  2011年底,美国驻华大使馆在新浪微博的官方账号发出一条微博:“北京空气质量指数439,PM2.5细颗粒浓度408.0,空气有毒害??”该微博随即在国内引发了对PM2.5(细颗粒物)的强烈关注,最终PM2.5被纳入到常规空气质量监测体系中。事实上,让PM2.5无所遁形的就是颗粒粒径检测技术,其已被广泛应用于工业、化学、环境安全等诸多领域。笔者利用中国专利文摘数据库(CNABS)和德温特世界专利索引数据库(DWPI),采用分类号 G01N与关键词对2017年7月12日之前的专利申请文献进行了检索,并对颗粒粒径检测方法的各技术分支的发展状况进行了分析和综述,以期对该领域的进一步研究提供一些参考。/pp  strong各项技术并行发展/strong/pp  颗粒粒径或粒度分布的检测方法种类繁多,按照测量原理主要有7类技术分支,包括:筛分法、沉降法、显微图像法、光散射法、电阻法、静电法和超声法。笔者对各技术分支的专利申请量进行统计发现,光散射法的专利申请量最高,其早在20世纪70年代就进入人们的视线,是目前最先进、应用最广的一种颗粒测量技术。此外,排名第二的是显微镜法,尤其是电子显微镜图像分析技术是当前比较流行的分析手段,该方法优势明显,除了可得到颗粒的粒径,还可以对颗粒的结构、形状和表面形貌有一定的直观认识和了解。然后分别是沉降法和筛分法,这两种方法是测量颗粒粒径的传统方法,工艺过程简单、成本较低,且操作便捷、装置结构简单。/pp  在颗粒粒径检测技术演进的过程中,主要的发展趋势有2个方面:检测精确度的提高及检测对象的扩展。上世纪 40年代以前,业内主要是采用筛分法、沉降法和显微镜法。其中筛分法最早的专利出现在1933年,公开号为GB402402A 沉降法则是基于 Stokes重力沉降公式来测定粒径,沉降法的专利早期以国外专利申请为主。显微镜法是唯一可直接观测单个或混合颗粒形状、粒度和分布的方法,早期国内相关专利申请较少,从2010年才开始出现激增态势。此外,将显微镜法和其他粒度测试方法结合于一体的装置,是当前显微镜法的研究热点,如上海理工大学公开号为CN102207443A、CN102207444A的专利申请,就是利用传感器件将多种颗粒粒度测量方法融合在一起。/pp  随着计算机、电子和激光等技术的快速发展,20世纪70年代起,颗粒粒径检测逐渐开始实现检测对象的多元化,光散射颗粒粒度测量仪受到市场欢迎。光散射技术的思想最早由前苏联学者Mandelshtam于1926年提出,随后其应用逐步扩展至界面和胶体科学等领域,并开发出了荧光相关光谱法、X射线光子相关光谱法、动态光散射显微术等。近年来,对动态光散射仪器的应用需求明显增长,相关技术研究主要集中在对动态光散射仪器的局部结构改进和采用各种新技术改造传统装置以扩展新应用等方面。/pp  对于电阻法和基于电阻法发展起来的静电法和超声法,其理论基础的发展目前已趋于成熟。其中电阻法最早为美国Coulter公司创始人Wallace H. Coulter于1953年发明,随后Coulter公司将其商品化,开发出库尔特计数器,Coulter公司此后不断对电阻法进行深入研究,其生产的 Multisizer I全自动粒度分析仪仍是目前较为先进的颗粒测量多功能仪器。而其他公司和个人对于电阻法、静电法和超声法的研究,在1980年之后得到迅速发展,大量相关的专利都是基于Coulter公司技术的改进而来。/pp  总体而言,虽然不同检测方法均有其各自的特点和适应的颗粒类型,各技术之间呈现并行发展的趋势,但整体上呈现出向更快速、更准确以及更加便捷检测的方向发展,各分支的专利申请量也均呈现出上升趋势。/pp strong 两家公司平分秋色/strong/pp  笔者分析了排名靠前的主要申请人的核心专利数量和企业综合实力,发现在颗粒粒径检测领域,a style="color: rgb(0, 176, 240) text-decoration: underline " title="" target="_self" href="http://www.instrument.com.cn/netshow/SH100646/"span style="color: rgb(0, 176, 240) "英国马尔文仪器有限公司/span/a(下称马尔文公司)和a style="text-decoration: underline color: rgb(0, 176, 240) " title="" target="_self" href="http://www.instrument.com.cn/netshow/SH100336/"span style="color: rgb(0, 176, 240) "美国贝克曼库尔特公司/span/aspan style="text-decoration: underline color: rgb(0, 176, 240) "(/span下称贝克曼公司)呈现平分秋色的竞争态势。/pp  马尔文公司成立于1963年,早在20世纪80年代,该公司便进行了颗粒粒径测量仪器的技术研发,其最早的研究方向是基于激光技术测定颗粒粒径。随后,该公司研发了利用超声法测量颗粒粒径的相关技术,相关专利包括US5121629A、GB9801667D0、WO2010/041082A2等。在 1980年到2010年间,马尔文公司在颗粒粒径检测的几个主要技术分支上均保持了稳定的专利申请量,在光散射法和超声法检测两个分支的专利申请量最大。/pp  马尔文公司在超声测量方面的主要产品为Ultrasizer MSV超声测量仪,该仪器可根据颗粒粒径与声波衰减之间的关系计算出颗粒粒度分布,同时还可以测出体系的固含量。随后,该公司在初代产品的基础上进行改进,开发出了探头式超声粒度测量仪。近年来,马尔文公司发展迅速,从专利申请分布来看,自2010年至今,该公司提交了50余件关于激光粒度分析的专利申请,这表明该公司可能欲向高精密仪器方向转型。/pp  贝克曼公司于1997年成立,现已成为世界最大的颗粒分析仪器公司,其于1953年制造出了世界上第一台颗粒粒度分析仪,并于1965年对该产品提交了专利申请NL6505468A。/pp  1983年贝克曼公司就进入了中国市场,并在北京、上海等地设立了代表处,此后不断完善专利战略,迅速占领了国内外市场。2000年之后,贝克曼公司进入超声颗粒测量领域,获得了一系列专利权,如公开号为WO0057774A1、US2006001875A1等。2000年至2012年,贝克曼公司在颗粒粒度检测的四个主要分支领域均进行了专利布局,其开发了基于电阻原理的Multisizer 3系列粒度分析仪,基于光脉冲原理的HIAC系列液体颗粒检测仪,基于光脉冲和库尔特原理的Multisizer 4e系列粒度分析仪,以及融合了超声与光散射原理的DelsaMax Pro粒径分析仪和DelsaMax CORE系列产品。其最新的DelsaMax Pro系列产品与马尔文公司的Zetasizer Nano系列产品采用的技术都结合了声学和光学颗粒检测技术,可见两家公司在该领域的竞争态势比较激烈。/pp  笔者认为,今后颗粒粒径检测领域的技术发展将更注重提高测量精度和对颗粒特性的多方面测定等方面,将不同颗粒粒径检测技术进行融合以提高检测性能将成为未来专利布局的热点。(詹雪)/pp(本文仅代表作者个人观点)/p
  • 【热点应用】Zetasizer精准表征慢病毒载体 (LV) 颗粒粒径及滴度
    本文摘要本文通过介绍马尔文帕纳科纳米粒度及电位仪Zetasizer Ultra用于慢病毒载体颗粒粒径及载体滴度表征的实验设置及检测结果。让您快速实现慢病毒载体(LV)关键质量属性的评估。慢病毒载体(Lentiviral vector, LV)是在HIV-1病毒基础上改造而成的病毒载体系统,可以将外源基因或外源的shRNA有效地整合到宿主染色体上,从而达到持久性表达目的序列的效果。可有效地感染神经元细胞、肝细胞、心肌细胞、肿瘤细胞、内皮细胞、干细胞等多种类型的细胞,从而达到良好的的基因治疗效果。对于一些较难转染的细胞, 如原代细胞、干细胞、不分化的细胞等,使用慢病毒载体,能大大提高目的基因或目的shRNA的转导效率,且目的基因或目的shRNA整合到宿主细胞基因组的几率大大增加,能够比较方便快捷地实现目的基因或目的shRNA的长期、稳定表达。(部分内容来自百度百科)所以,在体外实验及体内实验的研究中慢病毒载体(LV)与腺病毒(Ad)和腺相关病毒(AAV)同为主流的病毒载体系统。其颗粒粒径约为90-120nm。在慢病毒载体(LV)的生产工艺中,有无团聚体 (aggregate),以及载体滴度(titer)的高低是重点考察的关键质量属性(CQAs)。Zetasizer Ultra纳米粒度仪通过对LV颗粒的粒径及载体滴度的表征,快速实现CQAs的测量。Zetasizer Ultra 纳米粒度电位仪实验方法设定使用Zetasizer Ultra-Red以及小体积石英比色皿(ZEN2112)进行相应的粒径和滴度测定。样品测试体积为20µ L,LV折射率、吸收率分别设置为1.45和0.001。分析结果通过多角度动态光散射(multi-angle DLS, MADLS)技术,我们对LV粒度大小及分布进行表征(图1) 。图中有两个粒径分布峰,分别位于106.4以及430.6nm,这说明体系中除了LV单体,还有团聚体产生。图1 LV样品的光强粒径分布图图2 LV样品的载体滴度此外,除了基于MADLS技术得到的颗粒的准确粒径分布图,我们还得到对应尺寸的载体滴度信息(图2)。可以看到LV单体的颗粒浓度约1x1012个颗粒/mL,团聚体颗粒浓度约为1x1010个颗粒/mL,仅为单体的1%。单体和聚集体浓度相差较大的情况下,Zetasizer仍可很好的区分单体和聚集体。点击拓展阅读:Zetasizer用于rAAV颗粒粒径及衣壳滴度

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  • 颗粒粒径分布 汇美科HMK-200
    颗粒粒径分布简介HMK-200气流筛分仪(空气喷射筛)是一款用来测量粉体粒度分布的实验室用气流筛分仪器,由操作面板、筛盘、标准筛、喷嘴、电机及吸尘器组成。通过7寸液晶显示屏进行控制,实时显示仪器的工作状态。本仪器可以通过RS-232接口与电子称相连。内置微处理器可以对结果进行自动计算。仪器生产厂家与供应商为丹东汇美科仪器有限公司。型号为HMK-200的空气喷射筛分法气流筛分析仪采用国际先进筛分技术设计制造,仪器的主要参数性能与外国进口设备保持一致,而且该仪器价格合理,配套服务完善。汇美科已经成为世界实验室粒度气流筛分析及采购好品牌。工作原理具有专利技术的喷嘴将吸尘器产生的负压转化成动能,驱动粉体上升并与筛盖相碰撞,去除聚合颗粒的粉a体继而被负压吸向标准筛。较大颗粒被留在筛网上面,较小颗粒被吸入吸尘器,从而实现对粉体的理想筛分。技术参数测量范围:5-5,000 um筛分量:0.1-2,000 g标准筛直径:200 mm/75 mm喷嘴旋转速度:低、中、高或者0-35 rpm无级变速可调计时范围:固定模式2-10 min任选或者持续模式切换气压范围:0-10 Kpa喷嘴间隙:2 mm仪器尺寸:58x35x35 cm电压:220 V/50 Hz/25 W重量:14.8 Kgs产品特点7寸大屏,液晶显示,触屏点击精确控制筛分操作。负气压筛前标定,筛中实时监测,并可实时调节,保证筛分精度。喷嘴转速在合理区间内可任意设定,并可选中低高速,提高效率。筛分时间在常规时间内任选,并可设定循环筛分模式,方便操作。世界先进开筛(Open Mesh)功能,有效防止近筛颗粒堵塞筛网。筛分结束后自动计算出筛下物料百分比。国际先进的样品收集装置,使筛下颗粒收集率可达99.99%应用领域常规筛析无法分析的干粉体:粉体质量轻粉体易静电颗粒易团聚被广泛应用于筛分以下粉末:医药、面粉、调味料化学物质粉末水泥、石墨、煤灰、涂料、陶土粉树脂、橡胶、塑料等
  • 如何计算颗粒粒径 汇美科HMK-200
    如何计算颗粒粒径简介HMK-200气流筛分仪(空气喷射筛)是一款用来测量粉体粒度分布的实验室用气流筛分仪器,由操作面板、筛盘、标准筛、喷嘴、电机及吸尘器组成。通过7寸液晶显示屏进行控制,实时显示仪器的工作状态。本仪器可以通过RS-232接口与电子称相连。内置微处理器可以对结果进行自动计算。仪器生产厂家与供应商为丹东汇美科仪器有限公司。型号为HMK-200的空气喷射筛分法气流筛分析仪采用国际先进筛分技术设计制造,仪器的主要参数性能与外国进口设备保持一致,而且该仪器价格合理,配套服务完善。汇美科已经成为世界实验室粒度气流筛分析及采购好品牌。工作原理具有专利技术的喷嘴将吸尘器产生的负压转化成动能,驱动粉体上升并与筛盖相碰撞,去除聚合颗粒的粉a体继而被负压吸向标准筛。较大颗粒被留在筛网上面,较小颗粒被吸入吸尘器,从而实现对粉体的理想筛分。技术参数测量范围:5-5,000 um筛分量:0.1-2,000 g标准筛直径:200 mm/75 mm喷嘴旋转速度:低、中、高或者0-35 rpm无级变速可调计时范围:固定模式2-10 min任选或者持续模式切换气压范围:0-10 Kpa喷嘴间隙:2 mm仪器尺寸:58x35x35 cm电压:220 V/50 Hz/25 W重量:14.8 Kgs产品特点7寸大屏,液晶显示,触屏点击精确控制筛分操作。负气压筛前标定,筛中实时监测,并可实时调节,保证筛分精度。喷嘴转速在合理区间内可任意设定,并可选中低高速,提高效率。筛分时间在常规时间内任选,并可设定循环筛分模式,方便操作。世界先进开筛(Open Mesh)功能,有效防止近筛颗粒堵塞筛网。筛分结束后自动计算出筛下物料百分比。国际先进的样品收集装置,使筛下颗粒收集率可达99.99%应用领域常规筛析无法分析的干粉体:粉体质量轻粉体易静电颗粒易团聚被广泛应用于筛分以下粉末:医药、面粉、调味料化学物质粉末水泥、石墨、煤灰、涂料、陶土粉树脂、橡胶、塑料等
  • 陶瓷ICP、ICP-MS雾化器用于PE、VARIAN、Thermo、SHIMADZU等(最适用于高颗粒粒径和总溶解固体量溶剂的分析)
    陶瓷 VeeSpray - 最适用于高颗粒粒径和总溶解固体量溶剂的分析 陶瓷 VeeSpray 雾化器用氧化铝陶瓷制造,非常适合 HF 分析。当测定含有高颗粒粒径的样品时,它能提供极佳的重现性。此雾化器与标准同轴和氧化铝材质雾化器具有相同的 6mm 直径,是最耐用和抗磨蚀的 ICP 雾化器。 材质:99.8% 氧化铝陶瓷 高加工精度误差: 样品总固体溶解量TDS:通常高达 30% 大颗粒粒径容限:通常高达 300um 必须泵送 - 不能自吸 设计汲取量范围: 0.6 - 3ml/min 在 1.5 - 2.5ml/min工作最佳 全部陶瓷 VeeSpray 雾化器提供时均附带:700mm 长的 VSS-075,VeeSpray 取样管(取样管 0.75mm 内径 x 1.3mm 外径)1 x SNP-1 雾化器软管夹 美国原装进口,保您满意的价格。
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