荧光光谱分析

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荧光光谱分析相关的厂商

  • 青岛佳鼎分析仪器有限公司创建于2011年,公司主营实验室分析检测仪器设备,以实验室整体建设为发展方向。公司目前涉及电子电器、医药生物、石油化工、食品、机械、新材料、环境、科研高校等诸多领域。联合山东医药化工设计院,美国安捷伦、美国热电、日本岛津、江苏天瑞等众多品牌及多个重点实验室从实验室布局设计出图、基础设施建设、仪器设备供应、方法开发建立、后期运营管理,形成完整的专业实验室建设体系,达到一站式服务,为众多行业客户提供更为完善的整体解决方案。公司主营产品分为四大类,光谱仪、色谱仪、质谱仪和环境在线检测。能量色散X荧光光谱仪(EDX)、波长色散X荧光光谱仪(WDX)、等离子体发射光谱仪(ICP)、光电直读光谱仪(OES)、原子吸收分光光度计(AAS)、原子荧光光谱仪(AFS)、拉曼光谱仪(Raman)、碳硫分析仪(CS)、红外光谱仪、矿浆载流分析仪(OSA)、气相色谱仪(GC)、液相色谱仪(LC)、气相色谱-质谱联用仪(GC-MS)、液相色谱-质谱联用仪(LC-MS)、电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS)、水质在线分析仪(WAOL);
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  • 我们是一家全球性的日立公司,通过互联材料分析解决方案帮助我们的客户变得更加成功和可持续,这些解决方案使生产和开发过程更加高效、自动化和绿色,以确保产品质量、安全性和合规性。我们提供实验室级和强大高性能现场检测设备如光电直读光谱仪、X射线荧光光谱(XRF)、X荧光测厚仪(镀层测厚仪)、激光诱导击穿光谱仪(LIBS)、热分析仪、锂电池异物分析仪、油品分析仪、土壤分析仪等。
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  • 400-860-5168转1430
    天津天光光学仪器有限公司在技术装备上拥有较全面的机械、光学加工能力及手段。近年来,为提高企业整体实力,尤其在光学非球面和超薄平面冷加工技术、光学复制技术、平涉滤光片制造技术及红外制导技术等方面都独具特色。 是红外分光光度计的生产基地,主导产品有红外分光光度计、紫外分光光度计、荧光分光光度计、看谱镜及药典仪器等系列产品。长期以来,公司以市场为导向,以高质量的服务为目标,在巩固原有成熟产品的基础上,不断开发、研制新产品,现有几十种满足不同行业需要的高质量的分析检测仪器产品。仪器以光、机、电为一体,具有先进的自动化和智能化等特点。公司产品已被广泛用于各大专院校、各级药品检查单位、各大药厂、环保、水晶、石化及光学透反射测量等行业,满足各单位分析测试工作的需要。公司产品遍布全国,具有优秀的质量服务信誉,深受广大用户的欢迎和好评。
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荧光光谱分析相关的仪器

  • 荧光光谱分析仪Flex One性能特点:● 一体化的光学调校——整机设计,结构稳固,光路稳定,确保高效性和易用性● 简单易用的双样品光路设计——可随意在水平和垂直光路上进行切换,适用于各种常见的样品夹具● 超宽光谱范围**——200nm-2500nm● 视频监视光路 ——通过监视器,查找微米级样品,可供精确调整,定位测试样品点● 多种激发波长可选**——266nm,325nm,405nm,442nm,473nm,532nm,633nm,785nm等● 自动mapping功能可选*——50mm×50mm标准测量区间,可定制特殊规格,步进精度1μm特殊规格● 电致发光(EL)功能可选*——扩展选项● 显微拉曼光谱测量功能可选*——扩展选项● 超低温测量附件可选*——可配置多种低温样品台*选配项,请详细咨询; **需根据实际需要进行配置确定荧光光谱分析仪Flex One产品简介: 光致发光(photoluminescence) 即PL,是用紫外、可见或红外辐射激发发光材料而产生的发光,在半导体材料的发光特性测量应用中通常是用激光(波长如325nm、532nm、785nm 等)激发材料(如GaN、ZnO、GaAs 等)产生荧光,通过对其荧光光谱(即PL 谱)的测量,分析该材料的光学特性,如禁带宽度等。光致发光可以提供有关材料的结构、成分及环境原子排列的信息,是一种非破坏性的、高灵敏度的分析方法,因而在物理学、材料科学、化学及分子生物学等相关领域被广泛应用。 传统的显微光致发光光谱仪都是采用标准的显微镜与荧光光谱仪的结合,但是传统的显微镜在材料的PL 谱测量中,存在很大的局限性,比如无法灵活的选择实验所需的激光器(特别对于UV 波段的激光器,没有足够适用的配件),无法方便的与超低温制冷机配合使用,采用光纤作为光收集装置时耦合效率太低等等问题,都是采用标准显微镜难以回避的问题。 北京卓立汉光仪器有限公司结合了公司十余年荧光光谱仪和光谱系统的设计经验和普遍用户的实际需求,推出了“Flex One( 微光)”系列显微光致发光光谱仪,有效的解决了上述问题,是目前市场上高性价比的的显微PL 光谱测量的解决方案。荧光光谱分析仪Flex One系统组成● 激发光源部分:紫外-近红外波段各种波长激光器● 显微光路部分:优化设计的专用型显微光路● 光谱采集部分:影像校正光谱和高灵敏型科学级CCD或单点探测器和数据采集器● 样品台支架部分:xyz三维可调样品台(手动或自动)、超低温样品台荧光光谱分析仪Flex One参数规格表:主型号Flex One光谱范围300-2200nm光谱分辨率0.1nm激发光可选波长266nm,325nm,405nm,442nm,473nm,532nm,633nm,785nm等探测器类型单点Si单点PMT单点InGaAs制冷型CCD2000×256制冷型InGaAs阵列512×1制冷型InGaAs阵列512×1有效范围200-1100nm200-870nm800-2500nm300-1000nm800-1700nm800nm-2200nm空间分辨率50μm注*:以上为参考规格,详细规格依据不同配置的选择会有差异,详情请咨询!
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  • 组合式荧光光谱测量系统-OmniFluo系列荧光光谱测量系统介绍系统组成:在许多应用领域如材料学、生物学(叶绿素和类胡萝卜素)、生物医学(恶性病的荧光诊断)和环境应用中都需要用到荧光检测技术。荧光检测通常需要高灵敏度光谱仪,在大多数应用中荧光能量仅为激发光能量的0.1%,波长要长于激发光,而且是散射光。在荧光测量系统中,一定要避免激发光进入到光谱仪中。荧光实验光学布局中的一个重点是如何避免激发光进入光谱仪, 以下几种方法提供给各位参考:1. 选择TLS或TLSE系列可调单色光源作为荧光激发源,因其具有良好的单色性,杂散光低,能够较少的影响荧光的检测;2. 在光路上使用垂直90°配置,避免激发光直射或镜面反射至荧光光谱仪,可大幅降低激发光对荧光的干扰。可调单色光源+样品室+荧光光谱仪+数据采集及处理系统+软件+计算机系统优点:可同时做激发谱及发射谱,对于未知激发谱之材料可提供更有效分析工具。OmniFluo系列组合式荧光光谱测量系统OmniFluo 系列荧光光谱测量系统采用模块化的组合方式集成而成,通过不同配件的选择,不仅可以实现荧光光谱测量,还能够实现功能的多样化,如PL、拉曼、透射反射吸收、探测器定标等光谱测量;系统采用一体化的光学调校,可以完全固定在一块精密光学平板上,只需要在初次安装时进行调校,实际应用过程中只需要对样品进行简单调整,确保在仪器使用中始终保持高效率的操作。OmniFluo-113型光子计数级稳态荧光光谱系统主要技术参数:● 激发光源:TLSE1805i-X150可调单色光源,采用150W氙灯● 激发光功率:0.3mW(@500nm,单色)● 激发光谱范围:250-1500nm(可选200-1500nm)● 激发光谱带宽:0.15-10nm(连续可调@1200g/mm光栅)● 荧光光谱仪光谱范围:200-2500nm● 荧光光谱带宽:0.1-8nm(连续可调@1200g/mm光栅)● 波长准确度:±0.25nm(Ex),±0.2nm(Em)● 波长重复性:±0.1nm(Ex,Em)● 光探测器:光子计数级光电倍增管,200-850nm● 数据采集器:DCS200PC单光子计数器,计数率:100Mcps● 系统灵敏度:纯水拉曼峰信噪比:1,000:1(RMS@带宽5nm,积分时间1s)● 超大样品室设计,便于操作,并可选配多种滤光片附件及偏振附件● 提供荧光量子产率测量附件● 可选配闭循环超低温制冷机,最低温度可达2K● 系统扩展性:采用模块化设计,可扩展至近红外波段光谱测量● 可选配锁相放大器,特别适合红外波段测量时提升系统信噪比● 软件提供灵活的实验运行步骤自定义功能,可随时储存和提取图谱,并能够进行复杂的光谱处理及光谱数据间的四则运算
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  • X荧光光谱分析仪专用高频熔样机 X荧光光谱分析仪制样用的自动成形高频感应加热,快速熔样机。高频熔样机是将盛放于铂—金合金坩埚中的岩石、土壤、矿物、矿石、煤灰、炉渣等物料与熔剂混合物进行自动升温预氧化—升温熔融–均匀混合—成形—冷却—剥离,最后制成适合于X荧光分析用的玻璃状圆片。熔样机,配套预氧化温度在600-800℃可调,后用铂金干锅熔融温度在1000-1300℃。鞍山新启源科技有限公司研发的高频熔样机能够高效快速完成制样工作,有手动、自动,单头和多头,满足用户需求。熔样机型号:XQ Toptech-OX2.3主要优点:1、设备组件实现国产化,感应区装置采用陶瓷材质,国内首创,避免同类产品金属材质发热的弊端;2、设备采用PLC电气控制装置,使得设备运行稳定。3、设备采用模块化结构,结构简单,维护、操作方便;4、自带循环风冷系统,结构紧凑,加之采用陶瓷装置,降温效果明显,确保该设备可以连续工作。5、与电阻加热熔样机相比较,启动快速,随用随开,节约电能,方便实用。
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荧光光谱分析相关的资讯

  • X荧光光谱分析仪“会诊”电力设备
    “只要轻松按发射按钮,仪器就会发射出X荧光,在短短的10秒内,就可以通过仪器的液晶显示屏,清楚设备的健康状态了。”昨天,在衢州电力局110千伏湖镇变电所,该局试验人员正在“会诊”110千伏闸刀连杆的机械强度。  原来,电力人员使用的是X荧光光谱分析仪,这是浙江省电力公司的科技攻关项目,现已率先在我市试点使用。  据试验人员介绍,以往利用红外测温、肉眼观测、查听声音来间接会诊设备,设备轻度隐患不易察觉。如今,X荧光光谱分析仪显示监控设备的各项数据,可在较短的时间内清楚电网设备的机械强度、抗腐蚀能力等,实现提早发现隐患。  目前,市电力局已用X荧光光谱分析仪,完成了110千伏常山变、辉埠变、湖镇变的电力设备检测。
  • 多项新技术写入《分子荧光光谱分析方法通则》
    日前,全国教育装备标准化技术委员会印发教育行业标准《分子荧光光谱分析方法通则》修订版的征求意见稿,实施了20年的《JY/T025-1996光栅型荧光分光光度方法通则》(JY/T 002—1996)迎来了一次"大修订"。说是“大修订”,是因为新《通则》增加了多项分子荧光光谱的新技术和新方法。  《JY/T025-1996光栅型荧光分光光度方法通则》编写于1996年,1997年4月1日实施。原有标准主要是针对传统有机荧光化合物的分析,而在近20年的发展中,荧光分析的范畴得到了极大的拓展,包括荧光粉体材料、量子点等一大批的新型荧光材料不断涌现,它们均能够用分子荧光的技术进行分析和测试。  此外,20年来,荧光光谱仪性能有了较大的发展,荧光寿命和绝对量子产率、时间分辨发射(激发)光谱等技术不断完善。  为了更有效地发挥标准的作用,指导用户利用荧光光谱仪正确地实施检测分析,并作为制定具体分析方法标准的主要指导性技术文件,修订组根据原有标准的内容和荧光光谱分析在上次标准发布后的技术更新,并区分X-射线荧光分析,将标准名称更新为“分子荧光光谱分析方法通则”。  与原通则相比,新通则增加了荧光偏振、荧光寿命和量子产率、同步荧光扫描、三维荧光光谱、时间分辨发射(激发)光谱测试等新的方法原理、分析步骤和结果表述。  在原有试剂和材料的基础上,新《通则》补充了Nd-YAG、罗丹明101、Ludox、毛玻璃等,分别用于近红外区发射波长确认、绝对光致发光量子产率确认和校正、荧光寿命测试中灯谱测定、激发波长和发射波长精度的确认等。  此外,在仪器方面,新《通则》还分别介绍了稳态荧光光谱仪、瞬态荧光光谱仪的相关情况,并给出了稳态荧光光谱仪的技术指标。  本标准修订编写建议稿由四川大学分析测试中心作为主持修订单位,北京大学分析测试中心、东华大学分析测试中心、兰州大学分析测试中心作为辅助修订单位一起完成。具体来说,四川大学吴鹏负责范围、定义、方法原理和仪器 北京大学陈明星负责试剂和材料、分析步骤、仪器 东华大学徐洪耀负责样品和仪器 兰州大学巨正花负责分析结果的表述、安全注意事项、仪器。而且,工作组还邀请了Horriba Jobin Yvon公司技术中心应用专家对初稿进行审定和修正。  详细内容参见附件:分子荧光光谱分析方法通则(征求意见稿).doc
  • 瑞利参加厦门原子荧光光谱分析培训班
    由中国仪器仪表学会分析仪器分会和中仪标化技术咨询中心举办的原子荧光光谱分析技术及应用培训班,于8月6日在厦门曦阁酒店圆满结束了;北京瑞利分析仪器公司与厦门西盟(国际)科技有限公司联合协助本次培训班,并取得了学员们的一致感谢。 8月3日北京瑞利分析仪器公司高级工程师张锦茂先生(瑞利公司“原子荧光研究室”技术负责、顾问;国土资源部物化探研究所,高级工程师(教授)。中国第一台双道原子荧光光谱仪创始人之一(1981年与郭小伟教授合作),长期从事原子荧光光谱仪的研制及分析方法的研究;主持起草和制定了《原子荧光光谱仪》国家标准(GB/T 21191-2007)),与瑞利公司原子吸收事业部副部长梁敬(兼原子荧光研究室主任。2001年至今一直从事色谱-原子荧光联用技术的研发,先后担任“十一五” 国家科技支撑计划项目2006BAK03A14的子课题2“色谱-原子荧光联用仪”项目负责人及“十一五” 食品安全重大专项2006BAK02A10中,“液相色谱-原子荧光联用技术研究”子课题项目负责人。拥有两项国家专利。 )飞抵厦门,拉来了本次培训班的序幕,学员来自各行各业以及各地域,在理论学习之后,在厦门西盟(国际)科技有限公司的实验室上机实际操作,进一步巩固了原子荧光的理论与实际相结合。使本次培训大家受益非浅,获得了学员们的一致认可!图1:张锦茂教授在现场授课图2:梁敬副部长在授课现场图3:培训会上图4:在厦门西盟(国际)科技有限公司实验室,图中仪器为瑞利AF-610D2型色谱-原子荧光联用仪

荧光光谱分析相关的方案

荧光光谱分析相关的资料

荧光光谱分析相关的论坛

  • 【讨论】关于利用荧光光谱分析残余应力

    在文献上只看到利用荧光光谱分析如Al2O3等陶瓷材料的应力,但不知道有哪位知道除了陶瓷材料,荧光光谱是不是还可以用来分析其他材料的残余应力,尤其是界面处的生长应力,或者哪位有关于这方面的好的资料,以及荧光光谱分析分析应力的原理方面的资料,希望能够不吝赐教,小弟在这里先谢过了。

  • 原子荧光光谱分析常见问题

    原子荧光光谱分析常见问题在日常原子荧光光谱分析中,特别是当仪器使用时间长、频率高时,常会出现一些问题,常见的有:灵敏度突然降低;无荧光信号;空白信号很高;荧光信号不稳定;工作曲线线性差;图形不正常等情况。有资料对这些问题及其解决办法进行了总结。这些现象的出现通常与以下因素有关:1.空心阴极灯由 于受到设计和制造工艺的限制,目前生产的高强度空心阴极灯在稳定性和使用寿命方面还存在一些问题,尤其是Hg、Bi、Te、Se灯。因此,在原子荧光光谱分析中要特别注意由空心阴极灯引起的问题。a、灵敏度降低;稳定性差,空心阴极灯老化。适当提高灯电流或负高压;更换空心阴极灯。b、新 购置的空心阴极灯,但基线空白不稳定。空心阴极灯预热时间不够。空心阴极灯预热30分钟,并空载运行10-20分钟。c、测定灵敏度变化较大。双 道不平衡,空心阴极灯照射氩氢火焰的位置不正确。用调光器调节空心阴极灯至合理位置。d、没有信号。空心阴极灯未点燃。点燃空心阴极灯。2. 光路系统光路系统的问题主要是由空心阴极灯的聚焦和照射氩氢火焰的位置引起,常出现基线信号值很高现象,特别是在测定Hg和Pb的时候。主要是因 为石英炉的高度和透镜聚焦点没有调节到最佳位置。另一个光路系统的问题是双道干扰。a、基线信号值很高,原子化器的高度不合适。调节原子化器高 度。b、一些元素灵敏度很低,透镜聚焦点不合适。调节透镜聚焦点。c、一道荧光信号很强,另一道测定结果偏高或低。双道干扰。单道测定。3. 管道系统原子荧光光谱分析中,管道系统是仪器非常重要的部分,也是使用中常出问题的部分。特别是仪器使用频率高、工作量大时,由于硅胶老化、破 裂、管道积水和反应沉淀物堵塞管道系统等原因,经常使仪器不能正常工作。a、灵敏度降低;信号图形改变;积分时间增加。泵管老化、破裂。压紧泵管 或更换泵管。b、没有荧光信号或很低;图形有尖峰状。气路系统积水、漏气、堵塞;连接件破裂。清洗、疏通或更换管道;更换连接件。c、图 形有锯齿状,不稳定。通风口风量太大。调小通风口风量。d、稳定性差;灵敏度降低;“记忆效应”严重。石英炉芯、气液分离器、反应模块玷污。取下用15%HC煮沸30分钟。4.试剂空白原子荧光光谱法常用于痕量元素分析中,试剂空白是影响分析质量的重要因素,特别是在汞、锑、硒、 铅和镉的测定中,试剂空白的影响尤其突出。使用时必须对所用试剂进行检查,选择生产厂家、试剂级别和生产批号。测定元素 主要试剂影响 解决方法Hg HCl 选择生产厂家,进行检查Sb 酒石酸 选择生产厂家,进行检查Se H2SO4 选择生产厂家,进行检查;NaBr/HBr除硒Pb HCl和铁氰化钾 重结晶或吸附提纯试剂Cd HCl 选择生产厂家,进行检查

荧光光谱分析相关的耗材

  • HAF 高性能原子荧光光谱分析用空心阴极灯
    HAF 高性能原子荧光光谱分析用空心阴极灯 规格:Φ50mm适用仪器:配套国内各厂家生产的原子荧光仪器 性能指标:高性能空心阴极灯用作原子吸收和原子荧光光源,具有谱线发射强度高、稳定性好的优点,使用高性能空心阴极灯可提高测定灵敏度、改善标准曲线的线性、降低检出限。可提供二十多种元素灯,寿命:5 Ah。订货信息:HAF 高性能原子荧光光谱分析用空心阴极灯 元素元素Ag银Mo钼Al铝Na钠As砷Nb铌Au金Nd钕B硼Ni镍Ba钡Os锇Be铍Pb铅Bi铋Pd钯Ca钙Pr镨Cd镉Pt铂Ce铈Rb铷Co钴Re铼Cr铬Rh铑Cs铯Ru钌Cu铜Sb锑Dy镝Sc钪Er铒Se硒Eu铕Si硅Fe铁Sm钐Ga镓Sn锡Gd钆Sr锶Ge锗Ta钽Hf铪Tb铽Ho钬Te碲Hg汞Ti钛In铟Tl铊Ir铱Tm铥K钾W钨La镧V钒Li锂Y钇Lu镥Yb镱Mg镁Zn锌Mn锰Zr锆Ca-MgFe-MgK-NaPb-CdAg-CdZn-CuSeSn/ SePbCuZnFeCaMg
  • X荧光光谱分析薄膜TF-260
    土壤样品杯膜、XRF測試用的麥拉膜材質、美国Premier样品膜TF-260#(SKY-260)permier新产品SKY-260: 裁剪更方便catalong NoFilm TypeSKY-115TF-115SKY-125TF-125SKY-130TF-130SKY-135TF-135SKY-160TF-160SKY-240TF-240SKY-260TF-260迈拉膜、样品薄膜、麦拉膜、XRF样品膜、XRF测试薄膜、EDX样品薄膜、EDX薄膜、样品薄膜、ROHS测试膜、X荧光光谱仪用样品膜、光谱仪样品薄膜本公司供应美国premier所有型号产品,欢迎采购,卷:(直径:3.0" (76mm);91.4m卷/盒)序号CAT.No薄膜材料厚度1TF-260#Polypropylene膜6.0μ(0.24mil) 品名:XRF样品膜Sample Film 型号: CAT. NO TF-260# 品牌:美国Premier Lab (原装进口) 货期:现货 起订量:1盒以上。一、美国Premier XRF样品膜:美国Premier Lab Supply公司专注于X射线光谱分析XRF的样品制备领域,以高质量和全面的X射线的样品制备产品线享誉。美国Premier X-ray样品膜(X-ray Film)以其极低的(几乎不含)杂质和厚度均匀而严格生产,极好的柔韧性和抗化学腐蚀性,保证检测结果的可靠性和重现性,被广泛应用于XRF样品制备、检测过程,适用于各类X-ray光谱仪(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。X-ray Film能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测,适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。二、Premier 样品膜特点: 有卷状和片状,多种规格、尺寸、数量可供选择; 柔韧性强、方便、耐用; 的X-ray射线穿透性,适合各类XRF光谱仪; 的抗化学腐蚀性能,不溶于有机溶剂,不污染待测样品; (几乎不含)痕量杂质,特别适合于轻质元素的限量检测。三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF:日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。四、XRF样品膜目录:美国Premier X-ray样品膜种类:(1)、Hostaphan膜;(2)、Kapton膜:聚酰亚胺膜,卡普顿膜;(3)、Mylar膜:聚酯薄膜,迈拉膜,麦拉膜;(4)、Polypropylene膜:聚丙烯膜。目录编号:CAT. NO 薄膜材料 厚度 长度 数量 描述TF-260 Polypropylene膜 6.0μ(0.24mil) 76mm x 91.4m 1卷/盒 Polypropylene Rolls连续卷轴
  • X射线荧光光谱分析专用标准物质
    X射线荧光光谱分析专用标准物质制造商:美国ARMI公司主要分析方法:X射线荧光法用途:校准仪器和装置、评价方法、工作标准、质量保证/质量控制、其他。美国ARMI公司提供的这套重金属检测标准物质,是封装在PE或PVC材料中,用于校准仪器和装置、评价方法、工作标准、质量保证/质量控制等工作。直径31mm, 厚度13mm.PE MaterialsBrHgCrPbCdPE-H-04A-ppm1100110010011200300PE-L-04A- ppm502201400400100PE-02A- ppm00000PACK-High - ppm-100-100-100-100PACK-Low - ppm-30-30-30-60SAC305 & SAC405 Check SetSnPbCuBiAgHgPSAC305- % wt11001100100112003000.00160.004SAC405- % wt5022014004001000.00020.006PVC MaterialsBrHgCrPbCdPVC-H-03A- ppm1101110110011201300PVC-L-04A- ppm500200400400100PVC-01A- ppm00000XRF Glasses*BrHgCrPbCdBR-ROHS 1/3- ppm00000BR-ROHS 2/3- ppm1000010001000100BR ROHS 3/3- ppm50000500050001000*Matrix: SiO2=53%, Na2O=17%, CaO=10%, Al2O3=7%, MgO=6%, B2O3=4%, Sb2O3=1%
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