荧光光谱分析

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在文献上只看到利用荧光光谱分析如Al2O3等陶瓷材料的应力，但不知道有哪位知道除了陶瓷材料，荧光光谱是不是还可以用来分析其他材料的残余应力，尤其是界面处的生长应力，或者哪位有关于这方面的好的资料，以及荧光光谱分析分析应力的原理方面的资料，希望能够不吝赐教，小弟在这里先谢过了。

原子荧光光谱分析常见问题在日常原子荧光光谱分析中，特别是当仪器使用时间长、频率高时，常会出现一些问题，常见的有：灵敏度突然降低；无荧光信号；空白信号很高；荧光信号不稳定；工作曲线线性差；图形不正常等情况。有资料对这些问题及其解决办法进行了总结。这些现象的出现通常与以下因素有关：1．空心阴极灯由 于受到设计和制造工艺的限制，目前生产的高强度空心阴极灯在稳定性和使用寿命方面还存在一些问题，尤其是Hg、Bi、Te、Se灯。因此，在原子荧光光谱分析中要特别注意由空心阴极灯引起的问题。a、灵敏度降低;稳定性差,空心阴极灯老化。适当提高灯电流或负高压；更换空心阴极灯。b、新 购置的空心阴极灯，但基线空白不稳定。空心阴极灯预热时间不够。空心阴极灯预热30分钟，并空载运行10-20分钟。c、测定灵敏度变化较大。双 道不平衡，空心阴极灯照射氩氢火焰的位置不正确。用调光器调节空心阴极灯至合理位置。d、没有信号。空心阴极灯未点燃。点燃空心阴极灯。2． 光路系统光路系统的问题主要是由空心阴极灯的聚焦和照射氩氢火焰的位置引起,常出现基线信号值很高现象，特别是在测定Hg和Pb的时候。主要是因 为石英炉的高度和透镜聚焦点没有调节到最佳位置。另一个光路系统的问题是双道干扰。a、基线信号值很高，原子化器的高度不合适。调节原子化器高 度。b、一些元素灵敏度很低，透镜聚焦点不合适。调节透镜聚焦点。c、一道荧光信号很强,另一道测定结果偏高或低。双道干扰。单道测定。3． 管道系统原子荧光光谱分析中，管道系统是仪器非常重要的部分，也是使用中常出问题的部分。特别是仪器使用频率高、工作量大时，由于硅胶老化、破 裂、管道积水和反应沉淀物堵塞管道系统等原因，经常使仪器不能正常工作。a、灵敏度降低；信号图形改变；积分时间增加。泵管老化、破裂。压紧泵管 或更换泵管。b、没有荧光信号或很低；图形有尖峰状。气路系统积水、漏气、堵塞；连接件破裂。清洗、疏通或更换管道；更换连接件。c、图 形有锯齿状，不稳定。通风口风量太大。调小通风口风量。d、稳定性差；灵敏度降低；“记忆效应”严重。石英炉芯、气液分离器、反应模块玷污。取下用15%HC煮沸30分钟。4．试剂空白原子荧光光谱法常用于痕量元素分析中，试剂空白是影响分析质量的重要因素，特别是在汞、锑、硒、 铅和镉的测定中，试剂空白的影响尤其突出。使用时必须对所用试剂进行检查，选择生产厂家、试剂级别和生产批号。测定元素 主要试剂影响 解决方法Hg HCl 选择生产厂家,进行检查Sb 酒石酸 选择生产厂家,进行检查Se H2SO4 选择生产厂家,进行检查；NaBr/HBr除硒Pb HCl和铁氰化钾 重结晶或吸附提纯试剂Cd HCl 选择生产厂家,进行检查

我想要到外校做焊渣焊剂的X荧光光谱分析，需要获得两者的光谱图，并定量计算化学组成。需要注意那些问题？ 需要了解哪些知识为以后论文做准备。请各位给个建议。ARL 9800 X荧光光谱仪 制样，检测等知识一概不知，请详细告知。

X荧光光谱分析时需要小心哪些样品？是不是有些样品不能测？

X荧光光谱液体样品分析装置需要多少RMB？

原子荧光光谱分析中，测定条件中有个高度参数是什么是意思啊？例如：Pb的测定条件中有，原子化器温度是200度，高度18mm， 这其中的高度啥意思啊？谢谢那位前辈指教！

欢迎大家前来与zhangjiancn老师一起就X荧光光谱分析中存在的一些问题进行探讨~！活动时间：2012年4月04日——2012年4月18日【线上讲座167期】关于X荧光光谱分析中存在的一些误区主讲人：zhangjiancn XRF版面版主活动时间：2012年4月04日——2012年4月18日我们热烈欢迎zhangjiancn老师光临X荧光光谱版面进行讲座！http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191656_646315_1766615_3.gif导言： X 射线荧光分析技术（XRF）作为一种快速分析手段，为我国的相关生产企业提供了一种可行的、低成本的、并且是及时的，检测、筛选和控制有害元素含量的有效途径；相对于其他分析方法（如发射光谱、吸收光谱、分光光度计、色谱质谱等），XRF 具有无需对样品进行特别的化学处理、快速、方便、测量成本低等明显优势，特别适合用于各类相关生产企业作为过程控制和检测使用。 那么，在X荧光光谱仪的分析应用当中，存在着哪些检测分析方面的误区呢？我们有请zhangjiancn专家详细到来，更欢迎同行版友到版面交流学习、切磋探讨，共同进步！http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191656_646315_1766615_3.gif目录：1、关于X荧光光谱分析特点2、灵活应用3、方法对仪器的影响4、样品对仪器的影响5、那种压片精度高？6、不要忘记基体校正7、熔融要灵活http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191656_646315_1766615_3.gif欢迎大家前来与zhangjiancn老师一起就X荧光光谱分析中的应用知识进行交流~！以上为zhangjiancn老师所著,未经zhangjiancn老师和仪器信息网同意任何个人和单位禁止转载!!! 提问时间：2012年4月04日--4月18日答疑时间: 2012年4月04日--4月18日特邀佳宾：数据处理版面的版主以及从事此行业的专家参与人员：仪器论坛全体注册用户活动细则：1、请大家就X荧光光谱分析应用遇到的相关问题进行提问，直接回复本帖子即可，自即日起提问截至日期2012年4月18日2、凡积极参与且有自己的观点或言论的都有积分奖励（1-50分不等），提问的也有奖励3、提问格式：为了规范大家的提问格式，请按下面的规则来提问 ：zhangjiancn老师您好！我有以下问题想请教，请问：……http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191656_646315_1766615_3.gif说明：本讲座内容仅用于个人学习，请勿用于商业用途，由此引发的法律纠纷本人概不负责。虽然讲座的内容主要是对知识与经验的讲解、整理和总结，但是也凝聚着笔者大量心血，版权归zhangjiancn和仪器信息网所有。本讲座是根据笔者对资料的理解写的，理解片面、错误之处肯定是有，欢迎大家指正。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191656_646315_1766615_3.gif

请教大家，如何对一生物组织体的荧光光谱进行定量分析呢，通常，我们说的定量分析是对荧光组分的定量分析，那是如何实现的，请教，我的e-mail：lls009663@163.com

我是做材料的，没有用过光谱。想把立方BN做成宽禁带半导体材料，这是si掺杂后荧光光谱，不同的激发波长，突出的峰是高次衍射峰吧？从图上面看能不能够说明在特定的光激发下产生光致发光现象？进一步的分析该怎么进行？[~84256~][~84257~]

X射线荧光光谱分析(XRF)基础[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=182463]X射线荧光光谱分析(XRF)基础.pdf[/url]

急需X荧光光谱分析仪的安全操作规程，请大家帮忙

荧光光谱得出的数据应该用什么软件分析

XRF荧光光谱仪能做定量分析吗？

求助各位大侠x荧光光谱分析法分析卫生纸，怎样制样？建曲线？谢谢！

X射线荧光光谱分析电解质的实际经验有哪些？

X射线荧光光谱法进行定量分析的根据是元素的荧光X射线强度Ii与试样中该元素的含量Ci成正比:Ii=Is×Ci式中Is为Ci=100%时，该元素的荧光X射线的强度。根据上式，可以采用标准曲线法、增量法、内标法等进行定量分析。但是这些方法都要使标准样品的组成与试样的组成尽可能相同或相似，否则试样的基体效应是指样品的基本化学组成和物理化学状态的变化对X射线荧光强度所造成的影响。化学组成的变化，会影响样品对一次X射线和X射线荧光的吸收，也会改变荧光增强效应。例如，在测定不锈钢中Fe和Ni等元素时，由于一次X射线的激发会产生Nika荧光X射线，Nika在样品中可能被Fe吸收，使Fe激发产生Feka。测定Ni时，因为Fe的吸收效应使结果偏低，测定Fe时，由于荧光增强效应使结果偏高。

石灰石用X荧光光谱仪分析的方法

[color=#333333]X[/color][color=#333333]射线荧光光谱分析的结构有哪些，求大佬科普[/color]

请教：有没有使用X射线荧光光谱分析纯铝块/锭的方法？是采用差减法吗？

哪位大侠能介绍：X荧光光谱法分析硅铁的有不？谢谢

大家有没有用X射线荧光光谱粉末压片法分析水泥的啊 在试验过程中主要有哪些因素对分析会有影响啊

各位大侠，请问XRF荧光光谱分析经常要用到的试剂、耗材主要有哪些？规格、型号？一般在哪里可以采购到？

我公司的高低碳铬铁，生铁、锰铁，镍铁、硅铁等铁合金分析量较大（每天近300个试样），且主元素和残余元素都要分析，想用仪器分析的话想请教大家买X荧光光谱和ICP那种设备更适合我们的需要，或两者都要。谢谢大家

X射线是一种电磁辐射，其波长介于紫外线和γ射线之间。它的波长没有一个严格的界限，一般来说是指波长为0.001-50nm的电磁辐射。对分析化学家来说，最感兴趣的波段是0.01-24nm，0.01nm左右是超铀元素的K系谱线，24nm则是最轻元素Li的K系谱线。1923年赫维西(Hevesy, G. Von)提出了应用X射线荧光光谱进行定量分析，但由于受到当时探测技术水平的限制，该法并未得到实际应用，直到20世纪40年代后期，随着X射线管和分光技术的改进，X荧光分析才开始进入蓬勃发展的时期，成为一种极为重要的分析手段。

[font=宋体]曾在一本书上，其中总结列出了[/font][font=Arial]X[/font][font=宋体]射线荧光光谱分析有如下特点：[font=Arial][/font][/font][font=Arial]1[/font][font=宋体]、可直接对块状、液体、粉末样品进行分析，亦可对小区域或微区试样进行分析，如质子[/font][font=Arial]X[/font][font=宋体]射线荧光通过良好聚焦的带电粒子束可提供[/font][font=Arial]0.5[/font][font=宋体]μ[/font][font=Arial]m[/font][font=宋体]的束斑。[font=Arial][/font][/font][font=Arial]2[/font][font=宋体]、可分析镀层和薄膜的组成和厚度，如用基本参数法薄膜软件可分析多达十层膜的组成和厚度。[font=Arial][/font][/font][font=Arial]3[/font][font=宋体]、波长色散和能量色散[/font][font=Arial]X[/font][font=宋体]射线荧光光谱仪对元素的检测范围为[/font][font=Arial]0.00001[/font][font=宋体]﹪-100﹪，对水样的分析可达10的-9次方能量级；全反射X射线荧光光谱的检测限已达到10的-9次方--10的-12次方g。他们已满足许多物质的分析要求。[/font][font=宋体]4、随着计算机技术的迅猛发展，理论影响系数和基本参数法用于元素间吸收增强效应校正的软件，已可在线用于常规定量分析。这使得目前进行定量分析时，所用标准样品已由过去必须与试样在物理化学形态上相似的标准样品，过渡为可以用于非相似标准样品，如纯元素或氧化物标准样品，因此进行定量分析更方便。[/font][font=宋体]5、谱仪不仅已具有自动化、智能化、小型化和专业化等特点，并在性能上也有很大改进。如顺序式波长色散仪对主、次量元素测定仅需2s，以至于过去必须用于多道波长色散谱仪分析的项目，现在可用于性能优越、价格低廉的顺序式谱仪完成。这位用户根据需要选用相应的仪器提供更多的选择空间。[/font][font=宋体]6、由于仪器光源稳定，保证了长期稳定性，其指标已从20世纪80年代的0.1﹪提高到目前的0.04﹪，保证了分析数据的可靠性和分析结果的高精度。[/font][font=宋体]7、从常规分析的需要来看，其分析结果的准确度可与化学分析相媲美。除电费和简单的样品制备外，分析成本低。虽然一次性投资大，但往往在3-5年内即可收回成本。如在20世纪80年代我国实施的1:2×10的5次方区域地球化学扫面国家计划(RGNR)中，众多实验室采用了以波长色散X射线荧光为骨干的第三代多元素分析系统，可分析24个以上主量和痕量元素，共分析100万个组合化探样品。仅此一项就节约近1.7亿人民币。产生了巨大的社会经济效益。[/font][font=宋体]8、X射线荧光光谱是非破坏分析方法，随其分析技术的发展，已广泛用于古陶瓷、金属屑和首饰的组成分析，为文物的断源和断代提供了可靠的信息。[/font][font=宋体]9、能量色散仪特别是低分辨率谱仪已是在线分析的首选仪器之一，对提高产品质量起很大作用。[/font][font=宋体]10、除提供组成分析外，以波长色散谱仪为代表，该法还可在许多情况下提供待测元素的价态、配位和键性能等化学态信息。[/font][font=Arial][/font]看到这些特点相信大家对X射线光谱分析会有更深的认识和了解。我想其中定有大家感兴趣地方，欢迎大家就其中某些特点展开讨论，提出自己的认识或发表自己独特的见解。

今天一同事，问我有没有X射线荧光光谱分析的教材，我一时不能回答她，大家认为这类教材都有哪些呢，希望提供书名和出版社。

[size=4]中科院研究生教学丛书--X射线荧光光谱分析（扫描清晰版）都是一页一页扫描下来的[color=#DC143C]本书为《中国科学院研究生教学丛书》之一。 本书系统地介绍了X射线荧光光谱分析的理论、测试技术和实际应用，以及近年来的重要进展。书中重点论述了波长色散和能量色散X射线荧光光谱所涉及的基本理论和实验技术、理论强度计算公式、基体校正、样品制备、定量分析和光谱仪结构性能等内容。此外，本书还对近年来提出的半定量分析、薄膜和镀层分析、不确定度评定、化学计量学研究在X射线荧光光谱分析中的应用及普通波长色散X射线荧光光谱仪在化学态分析中的应用等领域作了专门论述。 本书概念清晰、图文并茂、结合实际，既可作为综合性大学及理工科院校化学及化学工程专业学生和教师的教学用书，也可供从事X射线荧光光谱分析的工作者和科学研究人员参考[/color][/size][img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=141485]中科院研究生教学丛书--X射线荧光光谱分析[/url][img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=141487]中科院研究生教学丛书--X射线荧光光谱分析[/url][img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=141488]中科院研究生教学丛书--X射线荧光光谱分析2[/url]