热瞬态测试仪

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热瞬态测试仪相关的厂商

  • HT ITALIA来自于美丽的欧洲小镇——意大利法恩莎,公司自1983年成立以来,产品年销售额超过4000万欧元。并在2009年在中国广州建立办事处,负责中国地区的产品销售和售后服务。 HT ITALIA公司设立专业的研发团队,在1992年研制生产出HT2038,1999年研制生产了世界上第一台带电能质量分析仪功能的便携式多功能电气安全测试仪——GENUIS 5080,在2001推出具有三相电能质量分析仪功能的多功能电气安全测试——GSC系列,刷新了便携式仪器的多功能之最。2007年HT公司开始涉及太阳能光伏系统测试,以提供太阳能光伏电站的现场测试仪表,HT可提供全面的太阳能光伏电站测试仪表:并网太阳能光伏电站性能验证测试SOLAR300N,太阳能电池I-V特性曲线分析测试仪I-V400,离网太阳能光伏电站性能验证测试SOLAR I-V等。近年来,HT公司又基于自身的设计现场测试理念,推出自主品牌的全新系列红外热像仪产品,以充分满足客户的个性化需求,HT品牌的红外热像仪家族包括:THT41/42/44的经济型系列,THT49的专业级红外热像仪和THT50专家型红外热像仪。现在HT公司拥有:红外热成像仪,电气安全测试仪(含:绝缘电阻测试仪,接地电阻测试仪,漏电保护开关-RCD测试仪,耐压测试仪和多功能电气安全测试仪)、电能质量分析仪、通用测试仪表(含:数字万用表,数字电流钳表,红外测温仪,数字测温仪,数字噪声计,激光测距仪等)、GEF专业绝缘工具(含:绝缘镙丝批,各种绝缘剪钳,各种型号的工具套包,工具箱等)等系列产品。
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  • 西安尚博益电子科技有限公司是一家专门从事于大功率直流电源、专用测试仪器、试验设备、老化台、振动检测设备的研发、生产和销售于一起的高科技企业。公司成立于 2021 年,注册资金 1000 万元,公司现有员工 50 余人。西安尚博益电子科技有限公司拥有完善到位的售前、售后服务,公司在坚持技术创新的基础上,狠抓质量管理,不断提高产品技术服务水平,我们也热诚欢迎新老客户来公司考察、指导、共图发展! 主要经营产品:SY1108继电器抖动故障检测仪、SY1203继电器时间参数测试仪、SY1305A 型电磁继电器低电平故障检测台、SY1302 型瞬态抑制测试仪、SY1102 型继电器测试仪、SY1107A 型电磁铁寿命检测仪、SY1005A 型直流继电器老练仪、SY5266-24 型控制器测试仪、SY1007 型时间继电器测量仪、SY12A 型直流接触器检测台等继电器测试仪器设备。
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  • 400-860-5168转0264
    环球分析测试仪器有限公司(UATIL)成立于1982年,总部设在香港,是国外多家知名的高新科技仪器生产制造商在中国的独家总代理。主要产品电化学仪器:电化学工作站、光电化学测试设备 化学合成仪器:全自动反应系统、反应量热仪、超声波结晶系统、平行合成仪、高温高压釜、流动化学系统 萃取及纯化仪器:超临界萃取仪、快速制备色谱、固相萃取、溶剂蒸发仪、气体纯化系统 生命科学仪器:生物反应器、发酵罐、冷冻干燥机、移液工作站、离心浓缩仪 乳品分析仪器:乳品成分分析仪、体细胞计数器、奶牛生产性能测试仪 材料测试仪器:网格应变测试仪、杯凸试验机 惰性环境仪器:手套箱 微流控仪器:单细胞测序、细胞包裹、微流控芯片、微流泵、液滴微流控系统、3D芯片打印机
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热瞬态测试仪相关的仪器

  • 本系统主要是针对光电器件的动力学分析,利用周期性的脉冲单色光源,产生光电流或者光电压的信号。 并对此信号进行时域或者频域的分析,得到光生电的响应时间,如上升 / 下降时间,瞬态光电流与 瞬态光电压曲线 , 从而可以分析器件内部的动力学过程,如载流子的迁移率、载流子的寿命、 载流子的扩散长度等。产品特点:■ 支持多路激光器■ 系统采用显微光路,多种物镜可以切换■ 样品台三维可移动,方便光斑与样品重合■ 支持探针台结构■ 支持高稳定性高亮度可程控LED光源支持高速频闪,响应时间低于100ns, 频闪响应时间低至10μszolix瞬态光电性能测试系统DSR800适用范围:■ 钙钛矿太阳能电池,有机太阳能电池,有机无机杂化太阳能电池,薄膜太阳能电池,燃料敏化太阳能电池■ 金属半导体异质结器件■ 光电传感器件测量模式:■ 稳态IV测试(Steady State Current-Voltage Characterization)■ 瞬态光电压/光电流测试(Transient Photovoltage/Transient Photocurrent)■ 开路光电压衰减/电荷抽取(Open-Circuit Voltage Decay/Time-Resolved Charge Extraction)■ 电压调制瞬态光电压/光电流(Electrical Modulated Transient Photovoltage/Transient Photocurrent)■ 自定义测量模式(Customized Measurement)配置参数:更多配置说明咨询销售激光光源a纳秒激光器:可选波长:375nm-1310nm范围内多种波长可选,具体咨询销售半导体激光器:可选波长:266nm-2200nm范围内多种波长可选,具体咨询销售高稳定性高亮度可程控LED光源支持高速频闪,响应时间低于100ns, 频闪响应时间低至10μs 显微镜模块4个显微镜安装孔,支持多个显微物镜切换内置LED照明模块 多个显微物镜:10x ,20X ,50X等 数据采集模块时间分辨率:4ns/2ns/1.14ns/800ps/400ps可选通道:2/4通道可选 采样率:2.5 GS/s 记录长度:10M 输入阻抗:1MΩ,50Ω 样品台探针台适正面电极或者异面电极的样品3M夹子样品台适用于:间距为2.54mm的背电极样品 支持定制样品台,适用多种器件结构IPCE测试(扩展功能)波长范围300-1100nm,可以扩展到1700nm功能:光谱响应度,量子效率,单色光IV特性a,根据不同寿命测试需要选择不同类型的,如测试上升或者下降沿需求为μs量级,选择纳秒激光器。zolix瞬态光电性能测试系统DSR800 应用测量结果■ 光电器件表征上图为使用ps 激光器测试的不同类型的探测器的瞬态光电流曲线,点线是实测曲线,实线为拟合曲线。样品1 硅基探测器,样品感光面积10mm×10mm,下降时间2.99μs ;样品2 氮化镓,样品感光面积1mm2,下降时间82ns ;样品3,氮化镓器件,样品感光面积0.04mm2,下降时间6ns。■ 光伏器件表征大功率LED 光源作为白光偏光光源,也可以选择不同波长LED 光源。对于瞬态测试,532nm 纳秒脉冲激光作为脉冲光源。硅基太阳能电池在无偏置光情况下瞬态光电压信号随脉冲光强的变化硅基太阳能电池瞬态光电压信号随偏置光强的变化硅基太阳能电池瞬态光电流信号随偏置光强的变化硅基太阳能电池器件微分电容和偏置光电压的关系曲线硅基太阳能电池器件电荷量和偏置光电压的关系曲线
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  • OmniFluo990稳态瞬态光谱仪 OmniFluo900系列荧光光谱仪拥有稳态荧光和瞬态荧光光谱仪两大系列产品。本系统以高性能Omni-λ 系列单色/光谱仪、高亮度复色光源及多波长单色光源、高灵敏度单光子探测器和大容量样品室为主要核心部件,配合精心优化的激发与发射光路设计,显著地提高了荧光信号探测的灵敏度,纯水拉曼信噪比可达10,000:1 以上。OmniFluo900系列以模块化设计为原则,以我公司 15 年丰富的光谱系统设计、制造及品控经验为基础,搭配时间分辨率达到皮秒量级多通道扫描单光子计数器,可方便地实现荧光(PL)光谱、激光诱导荧光(LIF)光谱、电致发光(EL)光谱及荧光量子产率(QY)等多种稳态、瞬态测试功能。本系列荧光光谱仪,还可搭配牛津仪器(Oxford Instruments)公司的温控单元及滨松(Hamamatsu)公司的各类高灵敏度探测器,便捷地在不同波段范围内获取荧光信号的温度扫描光谱,从而有效地从根本上消除传统荧光分光光度计波长测量范围有限及光谱测试种类不足等各类缺陷。在红外波段测试的稳态和瞬态数据,以及时间分辨的光谱OmniFluo990稳态瞬态光谱仪参数指标型号OmniFluo990主要功能稳态、瞬态寿命测试水拉曼信噪比?≥10000:1寿命时间范围≥500ps-ns- -10s稳态测试激发光源Gloria75X-75W光谱仪发射光谱仪 Omni-λ3027i焦距(mm)320杂散光1*10-5光谱分辨率(nm)?0.08波长准确度(nm)?±0.2波长重复性(nm)?±0.1光栅配置1200g/mm BLZ@500nm600g/mm BLZ@750nm300g/mm BLZ@1250nm通用样品室SAC-FLS样品架③标配比色皿样品架、粉末、固体样品架遮光板配有自动遮光板,防止更换样品时探测器曝光探测器带制冷的红敏光电倍增管 CR131光谱范围④185-900nm暗计数≤100CPS(制冷至 -10℃)数据采集器DCS900PC主要性能指标计数率:100Mcps分辨率:16ps/128ps-1.024ns/2.048ns--33.55us;通道数:65535时间扫描:1.05us@64ps 2.2s@33.55输入信号:±触发沿,高阻/50Ω 阈值±2V可调控制软件新版ZolixScan控制、数据采集、分析软件稳态测试功能:激发扫描,发射扫描,同步扫描,三维扫描可选功能:偏置测试,温度控制扫描瞬态测试功能:动力学扫描,寿命扫描,时间分辨光谱扫描数据处理功能:量子产率计算,TRES Slicing,光谱校正标配计算机Intel i3 双核CPU、4G内存、显示器1920*1080分辨率标配操作系统Windows 10 Home Edition注? 水拉曼测试条件:激发波长350nm,扫描范围370-450nm,狭缝带宽5nm,积分时间1s注? 测试条件:1200g/mm 500nm闪耀光栅,435.84nm,狭缝高4mm,宽10注③ 可选旋转、磁搅拌、水浴样品架注④ 可选R928(200-900nm),R13456(185-980nm),H10330C-75(950-1700nm), R5509-73(300-1700nm)
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  • 闪烁体是一类吸收高能粒子或射线后能够发光(探测器灵敏波段)的材料,可分为有机和无机两大类,按其形态又可分为固体、液体和气体三种。 当闪烁体受到高能粒子或射线照射后能够发生能级跃迁,且产生的紫外可见光强度可被光电探测器探测到。当X射线与闪烁体作用时,一个X射线光子,可以产生多个光子,与紫外可见光不同,因为X射线的能量足以使物体电离,使电子脱离能级的束缚。能量越高的X射线光子,通过产生俄歇电子,康普顿散射等产生更多的电离电子(二次电子),二次电子热能化退至激发能级,通过荧光或磷光的方式发光。因此闪烁体对辐射具有能量分辨率。在医学上,闪烁体是核医学影像设备的核心部件,通过它可以快速诊断出人体各器官的病变大小和位置。闪烁体在行李安检、集装箱检查、大型工业设备无损探伤、石油测井、放射性探测、环境监测等领域也都发挥着不可替代的作用。闪烁体还是制造各类对撞机中电磁量能器的重要材料,它可捕捉核反应后产生的各种粒子的信息,是人类探索微观世界及宇宙演变的重要工具。稳态瞬态荧光-闪烁体综合性能表征系统可综合测试稳态瞬态光致发光以及X射线辐射发光。X射线辐射样品仓安装可控屏蔽快门,在辐射光源最大功率下关闭快门时,样品位置辐射剂量小于10uSv/h,辐射防护满足国标GBZ115-2023《低能射线装置放射防护标准》的要求。 该系统可根据用户需要搭建以下功能● 稳态荧光/瞬态荧光● 稳态X射线荧光/瞬态X射线荧光● X射线荧光成像● 显微荧光/显微荧光寿命成像● 温度相关光谱 X射线荧光成像瞬态X射线荧光寿命测试技术参数X射线荧光成像TYP 39分辨率卡的X射线图像。测试1mm厚的YAG(Ce)时,分辨率可以达到20pl/mm以上。
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热瞬态测试仪相关的资讯

  • TTE系列半导体器件瞬态温升热阻测试仪研制
    table border="1" cellspacing="0" cellpadding="0"tbodytrtd width="83" style="word-break: break-all "p style="line-height: 1.75em "成果名称/p/tdtd width="538" colspan="3" style="word-break: break-all "p style="text-align: center line-height: 1.75em "strongTTE/strongstrong系列半导体器件瞬态温升热阻测试仪 /strong/p/td/trtrtd width="91"p style="line-height: 1.75em "单位名称/p/tdtd width="538" colspan="3"p style="line-height: 1.75em "北京工业大学新型半导体器件可靠性物理实验室/p/td/trtrtd width="91"p style="line-height: 1.75em "联系人/p/tdtd width="167"p style="line-height: 1.75em "冯士维/p/tdtd width="161"p style="line-height: 1.75em "联系邮箱/p/tdtd width="187"p style="line-height: 1.75em "shwfeng@bjut.edu.cn/p/td/trtrtd width="91"p style="line-height: 1.75em "成果成熟度/p/tdtd width="535" colspan="3" style="word-break: break-all "p style="line-height: 1.75em "□正在研发 □已有样机 □通过小试 □通过中试 √可以量产/p/td/trtrtd width="91"p style="line-height: 1.75em "合作方式/p/tdtd width="535" colspan="3" style="word-break: break-all "p style="line-height: 1.75em "□技术转让 √技术入股 √合作开发 √其他/p/td/trtrtd width="648" colspan="4" style="word-break: break-all " align="center" valign="top"p style="line-height: 1.75em "strong成果简介: /strong/pp style="text-align:center"strongimg src="http://img1.17img.cn/17img/images/201604/insimg/017b0e04-691a-4c5a-826e-5879aa1d7a7a.jpg" title="1.jpg.png"//strong/pp style="line-height: 1.75em "TTE-400 LED灯具模组热阻测试仪 br//pp style="text-align:center"img src="http://img1.17img.cn/17img/images/201607/insimg/1a6e4129-15a9-479d-84c9-cb11df28231c.jpg" title="54c453eb-3470-4a19-9f93-e8a1b5170517.jpg" width="400" height="203" border="0" hspace="0" vspace="0" style="width: 400px height: 203px "//pp TTE-500 多通道瞬态热阻分析仪/pp style="text-align:center"img src="http://img1.17img.cn/17img/images/201604/insimg/06a37914-c0ba-48cf-9bb6-d25fdea82661.jpg" title="3.png" width="400" height="146" border="0" hspace="0" vspace="0" style="width: 400px height: 146px "//pp TTE-LD100 激光器用瞬态热阻分析仪/pp style="text-align:center"img src="http://img1.17img.cn/17img/images/201604/insimg/887237ea-942e-46c5-8591-1dea99e6c712.jpg" title="4.png" width="400" height="143" border="0" hspace="0" vspace="0" style="width: 400px height: 143px "//ppTTE-M100 功率器件用瞬态热阻分析仪/pp style="text-align:center"img src="http://img1.17img.cn/17img/images/201604/insimg/aded4b1e-7f39-41c2-9e79-8177484f76d7.jpg" title="5.png" width="400" height="185" border="0" hspace="0" vspace="0" style="width: 400px height: 185px "//pp TTE-H100 HEMT用瞬态热阻分析仪/pp style="text-align:center"img src="http://img1.17img.cn/17img/images/201604/insimg/d45a2e5c-776e-4e71-9412-67d87c17f875.jpg" title="6.png"//ppTTE-S200 LED热特性快速筛选仪/pp style="line-height: 1.75em text-indent: 0em " TTE系列半导体器件瞬态温升热阻测试仪是用于半导体器件(LED、MOSFET、HEMT、IC、激光器、散热器、热管等)的先进热特性分析仪,依据国际JEDEC51的瞬态热测试方法,能够实时采集器件瞬态温度响应曲线(包括升温曲线与降温曲线),采样间隔高达1微秒,结温分辨率高达0.01℃。利用结构函数算法能方便快捷地测得器件热传导路径上每层结构的热学性能,构建等效热学模型,是器件封装工艺、可靠性研究和测试的强大支持工具,具有精确、无损伤、测试便捷、测试成本低等优点。该成果已在公司和科研院所等20多家单位应用,并可定制化生产。/p/td/trtrtd width="648" colspan="4" style="word-break: break-all "p style="line-height: 1.75em "strong应用前景: /strongbr/ 本产品已投入市场应用五年时间,产品型号在不断丰富以适应庞大的市场需求,技术指标国内领先地位,可替代国外同类产品,拥有独立的自主知识产权。 br/ 应用范围:功率半导体器件(LED、MOSFET、HEMT、IC、激光器、散热系统、热管等)结温热阻无损测量和流水线快速筛选。 br/ 应用情况:国内已有20多家客户的生产线或实验室使用本产品,包括军工单位、芯片厂商、封装厂商、高等院校、高科技制造企业。成果适用于开展半导体晶圆及芯片设计、生产的高校、科研院所及企业。 br/ 预计国内市场年需求量在500台,市场规模约5亿元。/p/td/trtrtd width="648" colspan="4" style="word-break: break-all "p style="line-height: 1.75em "strong知识产权及项目获奖情况: /strongbr/ 拥有核心技术,国家发明专利24项,获中国发明博览会金奖1项。 br/ (1)专利名称:一种快速测量半导体器件电学参数温度变化系数的方法和装置(申请号:201410266126.3); br/ (2)专利名称:一种LED灯具热阻构成测试装置和方法(申请号:201310000861.5); br/ (3)专利名称:功率半导体LED热阻快速批量筛选装置(申请号:201120249012.X)。/p/td/tr/tbody/tablepbr//p
  • 国家标准《稳态/瞬态荧光光谱仪性能测试方法》拟立项
    国家市场监督管理总局对《三重串联四极杆电感耦合等离子体质谱仪性能测试方法》等36项拟立项国家标准项目公开征求意见,征求意见截止时间为2024年7月3日。其中,国家标准计划《稳态/瞬态荧光光谱仪性能测试方法》由 TC481(全国仪器分析测试标准化技术委员会)归口 ,主管部门为科学技术部。主要起草单位全国仪器分析测试标准化技术委员会 。与国家标准同步制定外文版编号语种翻译承担单位国内外需求情况1EN兰州大学国内外有关荧光光谱仪生产及使用、管理的单位有需求。目的意义荧光光谱仪是一种常用仪器,应用广泛。本项目拟制定出稳态/瞬态荧光光谱仪主要性能测试与评价方法标准,以适应荧光光谱技术的新发展状况,改变现有标准落后于技术发展的局面,推进荧光光谱仪性能测试方法的规范化、标准化发展。范围和主要技术内容范围:本标准规定了稳态/瞬态荧光光谱仪性能测试方法。本标准适用于波长范围为 200-900 nm 的稳态/瞬态荧光光谱仪、稳态荧光光谱仪、瞬态荧光光谱仪主要性能测试与评价。主要技术内容:规定了波长范围为 200-900 nm 稳态/瞬态荧光光谱仪的波长准确性、波长重复性、灵敏度、检出限、线性、稳定性、瞬态性能的测试与评价方法。
  • 160万!内蒙古大学计划采购稳态瞬态荧光光谱仪
    一、项目基本情况项目编号:NMGZCS-G-H-221008项目名称:稳态瞬态荧光光谱仪设备采购采购方式:公开招标预算金额:1,600,000.00元采购需求:合同包1(稳态瞬态荧光光谱仪设备采购):合同包预算金额:1,600,000.00元品目号品目名称采购标的数量(单位)技术规格、参数及要求品目预算(元)最高限价(元)1-1光学测试仪器稳态瞬态荧光光谱仪设备采购1(套)详见采购文件1,600,000.00-本合同包不接受联合体投标合同履行期限:依据招标文件和中标人的投标文件所签订的合同执行。二、申请人的资格要求:1.满足《中华人民共和国政府采购法》第二十二条规定:(1)具有独立承担民事责任的能力;(2)具有良好的商业信誉和健全的财务会计制度;(3)具有履行合同所必需的设备和专业技术能力;(4)有依法缴纳税收和社会保障资金的良好记录;(5)参加政府采购活动前三年内,在经营活动中没有重大违法记录;(6)法律、行政法规规定的其他条件。2.落实政府采购政策需满足的资格要求:合同包1(稳态瞬态荧光光谱仪设备采购)落实政府采购政策需满足的资格要求如下:1.所投货物属国家CCC认证目录内的产品,须取得CCC认证证书。2.所投货物属节能产品政府采购品目清单内的标★产品,须取得国家确定的认证机构出具的、处于有效期之内的节能产品认证证书。3.本项目的特定资格要求:合同包1(稳态瞬态荧光光谱仪设备采购)特定资格要求如下:(1)所投货物涉及进口产品时,提供进口货物生产厂家针对本项目的唯一授权书复印件或扫描件,如进口货物授权为在中华人民共和国境内销售的授权代理商(以下简称“进口代理”)授权,须同时提供生产厂家对“进口代理”的授权书,保证从生产厂家到投标供应商授权链的真实完整有效。如授权书为外文的,须附翻译的中文译本。三、获取招标文件时间: 2022年11月23日 至 2022年11月30日 ,每天上午 00:00:00 至 12:00:00 ,下午 12:00:00 至 23:59:59 (北京时间,法定节假日除外)地点:内蒙古自治区政府采购网方式:在线获取。获取采购文件时,需登录“政府采购云平台”,按照“执行交易→应标→项目应标→未参与项目”步骤,填写联系人相关信息确认参与后,即为成功“在线获取”。售价: 免费获取四、提交投标文件截止时间、开标时间和地点2022年12月14日 14时00分00秒 (北京时间)地点: 内蒙古自治区政府采购网(政府采购云平台)五、公告期限自本公告发布之日起5个工作日。六、其他补充事宜本项目开标地点:内蒙古自治区呼和浩特市赛罕区昭乌达路汇商广场A座12层内蒙古新天立工程项目管理有限公司第二开标室无七、对本次招标提出询问,请按以下方式联系。1.采购人信息名称:内蒙古大学地址:呼和浩特市赛罕区大学西路235号联系方式:158489265052.采购代理机构信息名称:内蒙古新天立工程项目管理有限公司地址:内蒙古自治区呼和浩特市赛罕区昭乌达路汇商广场A座12层联系方式:158493215073.项目联系方式项目联系人:丑磊电话:15849321507内蒙古新天立工程项目管理有限公司2022年11月23日

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    1. 测试目的 美国国家标准与技术研究院(NIST)出品的标准参考材料泡沫聚苯乙烯板SRM 1453主要用于281~313 K温度范围内各种热导率测试仪器和设备的标定和校准,是目前国内外各种低热导率测试方法(稳态保护热板法和稳态热流计法)热导率测试的计量溯源,同样此标准参考材料也可以用于瞬态平面热源法热导率测试的标定和校准,以验证测试方法和测试设备的测量准确性。为此,采用上海依阳公司出品的瞬态平面热源法热导率测试系统对NIST SRM 1453标准参考材料进行热导率测试,以期实现以下目的:(1)评测和验证上海依阳公司瞬态平面热源法热导率测试系统的测量准确性,重点验证低导热材料(热导率0.03W/mK左右)测量的准确性。(2)NIST标准参考材料SRM 1453是一种典型的泡沫聚苯乙烯板,由于低密度和具有一定气孔率,所以这种材料的热导率会随真空度增高而减小。因此希望通过在不同真空度下测试SRM 1453的热导率,评估上海依阳公司瞬态平面热源法热导率测试系统测量极低热导率(小于0.03W/mK)的能力。(3)通过真空控制和真空腔提供变真空测试环境,在1E-04~1E+03Pa覆盖七个数量级的真空度变化范围内,测试NIST标准参考材料SRM 1453在不同真空度下的热导率,得到一条热导率随真空度变化的完整曲线,以期获得热导率随真空度变化的规律。2. 低温变真空瞬态平面热源法热导率测量系统 瞬态平面热源法热导率测量系统是依阳公司低温变真空环境热物理性能测试系统的一部分,采用HOTDISK公司配套产品进行热导率测试,配套主机如图1所示。选择HOTDISK公司的这台测量装置进行配套,主要考虑了以下几方面因素:(1)在采用瞬态平面热源法测试过程中,只需要简单地将探头固定在两块被测试样之间,在试样和探头温度恒定后,测试过程迅速。这样使得与试样直接发生关系的相关装置非常简单,便于对被测试样加载各种环境条件,这非常有助于进行低温和真空环境的材料热导率测试。 (2)瞬态平面热源法的热导率测试范围宽泛,基本可以覆盖绝大多数材料的热导率测试。有此采用一台这种测试仪器就可以实现金属和非金属的热导率测试,特别是低温和深低温环境下多涉及隔热材料和金属结构材料,以往至少需要两套大型测试设备才能分别实现隔热材料和金属材料的热导率测试,现在可以通过一套设备完美的解决热导率测试问题。(3)瞬态平面热源法热导率测试核心装置比较小,所需试样尺寸也不大,这就为多试样同时测量提供了可能。低温变真空环境材料热物理性能测试系统如图2所示,这套系统除了可以进行热导率测试能力之外,主要功能是模拟空间低温高真空环境,测试空间材料的低温热辐射性能。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/02/201602041708_584268_3384_3.png图1 瑞典HOTDISK公司热常数分析仪http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/02/201602041721_584269_3384_3.jpg 图2 低温变真空环境材料热物理性能测试系统低温变真空瞬态平面热源法热导率测量系统主要技术指标如下:(1)温度范围:-200℃~200℃(任一点可控)。 (2)真空度范围: 1E-06Pa~1E+05Pa(可控制范围 1E-01Pa~1E+05Pa)(3)热导率测试范围:400W/mK以下。3. 试样和测试卡具 将购置的厚度为14mm的NIST标准材料材料SRM 1453切割成100mm见方的正方形,如图3所示。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/02/201602041721_584270_3384_3.jpg图3 NIST标准材料材料SRM 1453测试试样和测试卡具整体放置在如图4所示的真空腔体内,如图5所示将被测的NIST标准材料材料SRM 1453放入测试卡具内,如图6所示试样和探测器压紧后关闭真空腔,即可进行真空度的控制和热导率测试。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/02/201602041721_584271_3384_3.jpg图4 低温高真空腔体 http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/02/201602041721_584272_3384_3.jpg图5 测试试样和测试卡具http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/02/201602041721_584273_3384_3.jpg图6 试样安装完毕后的待测状态4. 测试结果 在NIST标准参考材料SRM 1453不同真空度下热导率测试过程中,首先在常温常压下进行测试,然后再逐渐提高真空度并进行真空度控制,真空度控制精度达到5‰,稳定性优于1%。每个真空度至少恒定半小时后再开始热导率测量,每个真空度下进行2次重复性测量,任何2次测量间隔至少30分钟以上。由于NIST标准参考材料SRM 1453比较薄,厚度为14mm,由此在测试中采用了小尺寸的探头,编号C5501。整个测试过程中,试样温度保持在室温范围内,温度范围为22℃~23℃。为了便于测量控制及描述,真空度单位采用Torr,测试结果如下表所示。表中的试验参数表示测试过程中的探头加热功率(豪瓦)和测试时间(秒)。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/02/201602041722_584275_3384_3.png将以上测试结果绘制成横坐标为真空度、纵坐标为热导率的对数坐标曲线,如图7所示。 http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/02/201602041721_584274_3384_3.jpg图7 NIST标准参考材料SRM 1453常温不同真空度下的热导率测试结果5. 分析与结论 按照NIST所提供的SRM 1453热导率标准数据,在常温22℃的常压环境下,热导率标准数据为0.03348W/mK。按照上述的测试结果,在常温22℃的常压环境下,多次热导率重复性测量测试结果范围为0.03226~0.03251 W/mK,偏差范围为2.90%~3.65%,完全处于±5%的误差范围内。另外,从图7所示的测试结果可以看出,整

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    瞬态平面热源法热导率测试中的各种参考材料

    摘要:瞬态平面热源法是一种准确、快速的材料热物理性能测试方法,其热导率测试范围可以覆盖从绝热材料到高导热材料。为了验证和考核瞬态平面热源法的测量准确性,对美国ANTER公司提供的各种热导率数值的参考材料进行测试。本文罗列出所有这些参考材料以及相应的热导率数据以供在具体测试中的应用。1. 前言瞬态平面热源法作为一种绝对测量方法,在理论上可以达到很高的测量精度。在试样尺寸满足测试方法规定的边界条件基础上,热导率的测量范围可以没有限制。因此,对于均质材料,采用HOTDISK瞬态平面热源法不失为一种操作简便和测量精度高的有效方法,在温度不高的范围内(200℃以下),这种方法可以作为一种标准方法来使用,并与其它热导率测试方法一起形成有效的补充和相互比对,甚至可以用于校准其它测试方法。瞬态平面热源法是一种绝对测试方法,自身并不需要进行校准。但为了验证和考核瞬态平面热源法的测量准确性和测试范围,我们为瞬态平面热源法配置了各个不同热导率数值范围的参考材料,这些参考材料的直径都在50mm以上以便各种瞬态平面热源法热导率测试探头使用。本文罗列出所有这些参考材料以及相应的热导率数据以供在具体测试中的应用。2. 参考材料清单按照热导率数据从小达到的顺序,以下是各种参考材料的名称和实物照片。(1)美国NIST标准参考材料:SRM 1453(发泡聚苯乙烯板),尺寸100×100×10mm,热导率范围为0.03W/mK以下。标准参考材料实物如图1所示。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/01/201601311858_584006_3384_3.jpg图1 美国NIST标准参考材料SRM 1453(2)美国ANTER公司参考材料:Vespel(纯聚酰亚胺),尺寸Φ50.8×25.4mm,热导率范围为0.3W/mK以下。参考材料实物如图2所示。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/01/201601311904_584007_3384_3.jpg图2 美国ANTER公司参考材料 纯聚酰亚胺Vespel(3)美国ANTER公司参考材料:Pyroceram 9606(高温陶瓷),尺寸Φ50.8×25.4mm,热导率范围为4W/mK以下。参考材料实物如图3所示。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/01/201601311905_584008_3384_3.jpg图3 美国ANTER公司参考材料 Pyroceram 9606(高温陶瓷)(4)美国ANTER公司参考材料:304不锈钢,尺寸Φ50.8×25.4mm,热导率范围为14W/mK以下。参考材料实物如图4所示。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/01/201601311906_584009_3384_3.jpg图4 美国ANTER公司参考材料 304不锈钢(5)瑞典HOTDISK公司参考材料:304不锈钢,尺寸Φ50×30mm,热导率范围为14W/mK以下。参考材料实物如图5所示。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/01/201601311906_584011_3384_3.jpg图5 瑞典HOTDISK公司参考材料 304不锈钢(6)美国ANTER公司参考材料:氧化铝,尺寸Φ50.8×25.4mm,热导率范围为35W/mK以下。参考材料实物如图6所示。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/01/201601311906_584012_3384_3.jpg图6 美国ANTER公司参考材料 氧化铝(7)美国ANTER公司参考材料:电解纯铁,尺寸Φ50.8×25.4mm,热导率范围为60W/mK以下。参考材料实物如图7所示。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/01/201601311907_584013_3384_3.jpg图7 美国ANTER公司参考材料 电解纯铁(8)美国ANTER公司参考材料:纯镍,尺寸Φ50.8×50.8mm,热导率范围为60W/mK以下。参考材料实物如图8所示。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/01/201601311907_584014_3384_3.jpg图8 美国ANTER公司参考材料 纯镍(9)美国ANTER公司参考材料:AXM-5Q石墨,尺寸Φ50.8×50.8mm,热导率范围为110W/mK以下。参考材料实物如图9所示。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/01/201601311908_584015_3384_3.jpg图9 美国ANTER公司参考材料 AXM-5Q石墨通过以上参考材料可以看出,所配置的参考材料覆盖了0.03至110W/mK五个数量级范围的热导率,基本能满足绝大多数材料热导率性能测试的校对和验证。3. 参考材料热导率数据由于所涉及到的八种典型材料的热导率数据包含了大量拟合公式,很不方便用网页的形式表达,详细公式和图表数据可以参看附件中的研究报告。

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