反射光谱仪

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反射光谱仪相关的厂商

  • 400-860-5168转4674
    光谱时代(北京)科技有限公司作为专业的光谱解决方案提供商,秉承用专业创造价值的服务理念,致力于将光谱应用技术服务于科学研究、工业检测以及改善生活品质等各个领域。光谱时代还是世界各大知名光谱仪品牌及相关领域软硬件产品品牌的官方签约代理平台如Zemax,Vifocus,LightMachinery,GraceLaser 等。光谱时代一直在光学设备及技术引进等领域不遗余力,自成立以来,已为国内各大知名高校、科研机构以及国内知名企业提供成功的光谱解决方案,并与国内众多高校及科研单位建立良好的产学研合作关系。光谱时代(北京)科技有限公司拥有多名在光谱、激光、图像等领域具备丰富经验的高级工程师和市场销售人员。在代理国际知名品牌如Zemax,Vifocus,LightMachinery的同时,光谱时代一直致力产品解决方案的集中提供与技术应用产品的自主研发。自主研发的产品已经覆盖LIBS 检测方案、等离子测试、反射测量、颜色检测等多个领域。光谱时代正在努力用专业创造价值,将不断创新的科技成果融入到社会经济发展的诸多领域。
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  • 上海楚光仪器技术有限公司是美国Gamma Scientific,德国Opsira的总代理,其公司主要的产品有AR/VR近眼显示测量仪器、多角度光谱照度计、光谱成像亮度色度计以及照明及材料光学的测量检测仪器、逆反射测试仪器等。
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  • 上海倍蓝光电科技有限公司于2012年成立,是世界上最早也是目前规模最大的生产积分球及以积分球为核心的光电仪器厂商Labsphere在中国最大的代理经销商。 目前公司产品包括针对 LED、半导体照明产品、通用照明光源和激光器的光测量系统、反射率透射率测试组件,成像设备校准用均匀光源等,广泛应用于光学计量,光学检测,照明领域测试及研究、遥感成像定标,化妆品、纺织品紫外透过率及防晒指数分析等。目前主要产品包括: (1) 用于检测LED、SSL及其他光源的光色电测试系统 (2) 用于空间研究、遥感、观测、计量等科研机构的辐射标定均匀光源系统 (3) 用于大功率密度或大发散角的激光功率测试系统 (4) 用于众多行业的反射率及透射率测试系统 (5) 用于化妆品及纺织行业的紫外透过率及防晒指数分析仪 (6) 光学元件杂散光、雾度、平板显示器特性等专业应用检测仪器 (7) 用于光谱测量设备的全球最高漫反射率反射材料
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反射光谱仪相关的仪器

  • 透射、反射/吸收光谱测量系统介绍 透射、反射/吸收率是光学元件(如光学材料、滤光片、镀膜等)与多种生活材料(玻璃、布料、汽车贴膜等)的重要光学特性指标,我公司ZLX-AS系列 透射、反射/吸收光谱测量系统正是针对此应用需求,而设计的高集成度,自动化的测量系统,它能帮助研发人员或品管人员在实验室轻易、快捷的完成透射率/反射率的光谱测试。系统组成:光源系统+分光系统+样品检测系统+数据采集及处理系统+软件系统+计算机系统■ ZLX-AS系列吸收、透射/反射光谱测量系统
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  • 显微反射光谱仪 400-860-5168转6044
    显微反射光谱仪,YOA-8405 描述YOA-8405显微反射光谱仪结合了显微镜对微小区域实时成像和微型光谱仪实时光谱采集的特点,实现了微米级样品反射光谱和色度学参数的测量。该仪器模块化设计,用户可以根据实际应用需求灵活配置光谱仪和显微镜,采用标准化和一体化设计的显微光谱模块更是可以灵活安装在大部分显微镜上,搭配专业的分析和数据采集软件,可以广泛应用于司法鉴定、材料分析和生化检测等领域。特点微米级别的样品测量模块的设计,配置灵活,根据不同的需求配置光谱仪和显微镜丰富的光谱仪配置:常规型、面阵型和制冷型光谱仪一体化的显微反射光谱模块安装便捷:通过标准接口固定安装于显微镜上专业的测试软件,提供色度坐标和色品图支持深度定制和二次开发应用司法鉴定生化样品分析材料分析防伪分析技术参数典型测试数据更多精彩内容,请关注下方!
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  • 反射光谱膜厚仪SD-SR-100是一款专为薄膜厚度测量而设计的先进仪器。以下是对该产品的详细介绍:1. 测量范围与精度: - 该仪器能够测量从2纳米到3000微米的薄膜厚度,具有高达0.1纳米的测量精度。2. 测量功能: - 在折射率未知的情况下,SD-SR-100不仅可以测量薄膜的厚度,还能同时测量其折射率。 - 可用于测量半导体镀膜、手机触摸屏ITO等镀膜厚度、PET柔性涂布的胶厚、LED镀膜厚度、建筑玻璃镀膜厚度等多种应用场景。3. 测试原理: - 利用薄膜干涉光学原理进行厚度测量及分析。通过从深紫外到近红外可选配的宽光谱光源照射薄膜表面,探头同位接收反射光线,并根据反射回来的干涉光,用反复校准的算法快速反演计算出薄膜的厚度。4.软件支持: - 配备易于安装和操作的基于视窗结构的软件,界面友好,操作简便。 - 软件功能强大,支持多层膜厚的测试,并可对多层膜厚参数进行测量。 - 提供大量的光学常数数据及数据库,支持多种折射率模型,如Cauchy, Cauchy-Urbach, Sellmeier等。5. 特点与优势: - 先进的光学设计和探测器系统,确保系统性能优越和快速测量。 - 光源设计独特,具有较好的光源强度稳定性。 - 提供多种方法来调整光的强度,以满足不同测量需求。 - 配备微电脑控制系统,大液晶显示和PLC操作面板,便于用户进行试验操作和数据查看。 - 支持自动和手动两种测量模式,以及实时显示测量结果的较小值、平均值以及标准偏差等分析数据。6. 应用领域: - 广泛应用于医疗卫生、生物产业、农业、印刷包装、纺织皮革等多个行业,特别是在薄膜分析领域表现出色。综上所述,反射光谱膜厚仪SD-SR-100凭借其高精度、多功能和广泛的应用领域,成为薄膜厚度测量领域的理想选择。
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反射光谱仪相关的资讯

  • 基于177.3nm激光的真空紫外光调制反射光谱仪
    CPB仪器与测量栏目最新发文:基于177.3nm激光的真空紫外光调制反射光谱仪,此装置将有望成为高效无损地探测宽禁带半导体材料电子能带结构高阶临界点的有效光学表征手段,并广泛用于超宽禁带半导体材料及其异质结的电子能带结构研究。光调制反射光谱是通过斩波器周期性地改变泵浦光源对样品的照射来测量半导体材料反射率相对变化的一种光谱分析技术。由于所测差分反射率作为能量的函数在材料电子能带结构的联合态密度奇点附近表现出明显的特征,光调制反射光谱已成为研究具有显著电子能带结构的半导体、金属、半金属及其微纳结构和异质结等材料联合态密度临界点的重要实验技术之一。光调制反射光谱中所使用的泵浦激光的光子能量一般要高于被研究材料的带隙,随着第三代宽禁带与超宽禁带半导体材料相关研究和应用的不断深入,需要更高能量的紫外激光作为光调制反射光谱的泵浦光源。目前国际上已报道的光调制反射光谱系统中,配备的泵浦光最大光子能量约5 eV,尚未到达真空紫外波段。因此,迫切需要发展新一代配备高光子能量和高光通量的泵浦光源的光调制反射光谱仪,使其具备探测超宽带隙材料的带隙和一般材料的超高能量临界点的能力。中科院理化所研制的深紫外固态激光源使我国成为世界上唯一一个能够制造实用化深紫外全固态激光器的国家,已成功与多种尖端科研设备相结合并取得重要成果。此文详细介绍了由中科院半导体所谭平恒研究员课题组利用该深紫外固态激光源搭建的国际上首台真空紫外光调制反射光谱仪(图1)的系统设计和构造,将光谱仪器技术、真空技术、低温技术与中科院理化所研制的177.3 nm深紫外激光源相结合,同时采用双单色仪扫描技术和双调制探测技术,有效避免了光调制反射光谱采集中的荧光信号的干扰,提高了采集灵敏度。该系统将光调制反射技术的能量探测范围从常规的近红外至可见光波段扩展至深紫外波段,光谱分辨率优于0.06 nm,控温范围8 K~300 K,真空度低至10-6 hPa, 光调制反射信号强度可达10-4。通过对典型半导体材料GaAs和GaN在近红外波段至深紫外波段的光调制反射信号的测量对其探测能力进行了性能验证(图2)。此装置将有望成为高效无损地探测宽禁带半导体材料电子能带结构高阶临界点的有效光学表征手段,并广泛用于超宽禁带半导体材料及其异质结的电子能带结构研究。该系统基于中科院半导体所承担的国家重大科研装备研制项目“深紫外固态激光源前沿装备研制(二期)”子项目“深紫外激光调制反射光谱仪”,目前已经初步应用于多种半导体材料在深紫外能量范围内的能带结构和物性研究,并入选《中国科学院自主研制科学仪器》产品名录,将有望在推动超宽禁带半导体材料的电子能带结构研究、优化超宽禁带光电子器件的性能方面发挥重要作用。图1. 深紫外激光调制反射光谱仪图2. 177.3 nm(7.0 eV)激光泵浦下的GaAs在1.2 eV至6 eV内的双调制反射光谱及对应能级跃迁
  • 基于步进扫描的光调制反射光谱方法及装置获国家专利授权
    近日,一种“基于步进扫描的光调制反射光谱方法及装置”近日获得国家知识产权局专利授权。该专利由中科院上海技术物理研究所邵军、陆卫等科研人员发明。该装置包括傅立叶变换红外光谱测量系统、作为泵浦光源的激光器、以及联结傅立叶变换红外光谱仪中探测器与电路控制板的锁相放大器和低通滤波器,置于样品与激光器之间光路上的斩波器,从而使连续泵浦激光变为调制激光,并馈入锁相放大器的输入参考端来控制锁相。该方法使用上述装置进行光调制反射光谱测量,包括消除泵浦光的漫反射信号以及泵浦光产生的光致发光信号的干扰;消除傅立叶频率和增强中、远红外波段微弱光信号的探测能力三个功能。经过对分子束外延生长GaNxAs1-x/GaAs 单量子阱样品和Ga1-xInxP/AlGaInP多量子阱材料的光调制反射光谱实际测试。表明本发明显著提高探测灵敏度和光谱信噪比,并具有快速、便捷的优点,特别适用于中、远红外光电材料微弱光特性的检测。
  • 中国大鲵近红外反射光谱(NIRS)研究获得新进展
    近期,陕西省动物研究所大鲵科研团队与美国孟菲斯动物学会、密西西比州立大学联合攻关的&ldquo 利用近红外技术判定大鲵性别的研究&rdquo 项目取得了部分成果,在英国IM出版社的新闻通讯部分(2015年第26卷第2期)发表,并被选做杂志封面。  NIR 讯息是国际近红外光谱学协会的新闻通讯,提供最新的近红外界内新闻。它以全面,有趣的文章展示近红外光谱学的实际应用。  近红外反射光谱研究,是通过扫描样品的近红外光谱,可以得到样品的特征信息,收集数据建立模型,进而对未知样品进行准确预测。利用近红外光谱技术分析样品具有方便、快速、高效、准确和成本较低,不破坏样品,不消耗化学试剂,不污染环境等优点,广泛应用于动物生理、营养、健康,特别是动物行为、数量统计、繁殖和疾病等方面。此技术将为我国大鲵研究提供新的技术和手段。  Near infrared reflectance spectroscopy studies of Chinese giant salamanders in aquaculture production  Carrie K. Vance, Andrew J. Kouba, Hong-Xing Zhang, Hu Zhao, Qijun Wang and Scott T. Willard  http://www.impublications.com/content/nir-news-table-contents?issue=26_2  大鲵近红外扫描

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反射光谱仪相关的耗材

  • 透反射测量支架 如海光电 透/反射光谱
    SA-Stage-RT透反射测量支架 关键词:反射/透射/漫反射光谱 1 产品简介SA-Stage-RT透反射测量支架是一个新型的,能满足透射和反射测量的采样支架。适用于分析如硅、金属、玻璃和塑料等一类的材料。SA-Stage-RT与如海光电的光纤光谱仪、光源、积分球有多种组合方式。可以同时满足客户对于反射光谱测量和透射光谱测量的需求。 2 产品功能示意图3 产品参数产品参数SA-Stage-RT底座尺寸φ150mm样品区域尺寸宽度<100mm样品通光口径(透射测量)直径10mm调节高度~150mm(其他长度可以定制)准直镜波长范围200~2500nm台体材料阳极氧化铝反射积分球用于连接38毫米积分球(另外选配)用途专为透反射光纤测量而设计,能有效固定光纤,防止因抖动等人为因素影响检测效果
  • 测量反射光的比色皿
    测量反射光的比色皿①外形尺寸:Φ34×25 ,容积:12.0ml; ②外形尺寸:Φ50×30,容积:32.0ml; ③外形尺寸:Φ60×40.5 ,容积:73.0ml。
  • 测量反射光比色皿 Q-733
    测量反射光比色皿?
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