反射光谱仪

透射、反射/吸收光谱测量系统介绍 透射、反射/吸收率是光学元件（如光学材料、滤光片、镀膜等）与多种生活材料（玻璃、布料、汽车贴膜等）的重要光学特性指标，我公司ZLX-AS系列 透射、反射/吸收光谱测量系统正是针对此应用需求，而设计的高集成度，自动化的测量系统，它能帮助研发人员或品管人员在实验室轻易、快捷的完成透射率/反射率的光谱测试。系统组成：光源系统+分光系统＋样品检测系统＋数据采集及处理系统＋软件系统＋计算机系统■ ZLX-AS系列吸收、透射/反射光谱测量系统

显微反射光谱仪，YOA-8405 描述YOA-8405显微反射光谱仪结合了显微镜对微小区域实时成像和微型光谱仪实时光谱采集的特点，实现了微米级样品反射光谱和色度学参数的测量。该仪器模块化设计，用户可以根据实际应用需求灵活配置光谱仪和显微镜，采用标准化和一体化设计的显微光谱模块更是可以灵活安装在大部分显微镜上，搭配专业的分析和数据采集软件，可以广泛应用于司法鉴定、材料分析和生化检测等领域。特点微米级别的样品测量模块的设计，配置灵活，根据不同的需求配置光谱仪和显微镜丰富的光谱仪配置：常规型、面阵型和制冷型光谱仪一体化的显微反射光谱模块安装便捷：通过标准接口固定安装于显微镜上专业的测试软件，提供色度坐标和色品图支持深度定制和二次开发应用司法鉴定生化样品分析材料分析防伪分析技术参数典型测试数据更多精彩内容，请关注下方！

反射光谱膜厚仪SD-SR-100是一款专为薄膜厚度测量而设计的先进仪器。以下是对该产品的详细介绍：1. 测量范围与精度： - 该仪器能够测量从2纳米到3000微米的薄膜厚度，具有高达0.1纳米的测量精度。2. 测量功能： - 在折射率未知的情况下，SD-SR-100不仅可以测量薄膜的厚度，还能同时测量其折射率。 - 可用于测量半导体镀膜、手机触摸屏ITO等镀膜厚度、PET柔性涂布的胶厚、LED镀膜厚度、建筑玻璃镀膜厚度等多种应用场景。3. 测试原理： - 利用薄膜干涉光学原理进行厚度测量及分析。通过从深紫外到近红外可选配的宽光谱光源照射薄膜表面，探头同位接收反射光线，并根据反射回来的干涉光，用反复校准的算法快速反演计算出薄膜的厚度。4.软件支持： - 配备易于安装和操作的基于视窗结构的软件，界面友好，操作简便。 - 软件功能强大，支持多层膜厚的测试，并可对多层膜厚参数进行测量。 - 提供大量的光学常数数据及数据库，支持多种折射率模型，如Cauchy, Cauchy-Urbach, Sellmeier等。5. 特点与优势： - 先进的光学设计和探测器系统，确保系统性能优越和快速测量。 - 光源设计独特，具有较好的光源强度稳定性。 - 提供多种方法来调整光的强度，以满足不同测量需求。 - 配备微电脑控制系统，大液晶显示和PLC操作面板，便于用户进行试验操作和数据查看。 - 支持自动和手动两种测量模式，以及实时显示测量结果的较小值、平均值以及标准偏差等分析数据。6. 应用领域： - 广泛应用于医疗卫生、生物产业、农业、印刷包装、纺织皮革等多个行业，特别是在薄膜分析领域表现出色。综上所述，反射光谱膜厚仪SD-SR-100凭借其高精度、多功能和广泛的应用领域，成为薄膜厚度测量领域的理想选择。

R3 反射光谱测量系统 多角度反射率光谱测量 反射是光谱测量的基本手段，实现反射光谱测量通常需要光谱仪、光源、光纤、测量支架、标准参比样品和测量软件等。对于不同种类的样品，为了获取较好的光谱数据，反射这种基本模式又会演化为更多的形式。 复享光学为用户提供了以光谱仪为核心的反射光谱测量仪器，可以搭建个性化的光谱测量系统。复享光学 R3 反射光谱测量系统可以配置 1 个或者 2 个支架，用于固体和粉末样品的反射率测量。R3 光谱测量支架也可以用来固定光纤探头和光源，具备高灵活性和强实用性。　注：以上参数如有差异，以官网为准。

Y型反射光纤采用6绕1光纤束设计，6根光纤连接到光源，1根光纤连接到光谱仪，实现最佳测试性能。光纤芯径105/200/300/400/600/800/1000μm可选，波长范围UV/VIS，VIS/NIR，光纤跳线长度可定制，光纤耐受50N的拉力，耦合效率＞80%，多次插拔一致性好。可用于反射光谱、透射光谱测量。产品简介Y型光纤，多用于反射光谱测量。光纤芯径105/200/300/400/600/800/1000μm可选，可应用于紫外、可见、近红外波段，光纤跳线长度可根据客户需求定制。在光谱检测过程中，光纤是一种必不可少的连接器件，可以简化光路的搭建过程。 产品特点? 产品耐用不易折断；? 即使在信号发生微小变化时，仍能获得一致的结果；? 跳线长度可随客户需求定制； 规格参数型号Y型光纤应用波长紫外光纤、可见近红外光纤光纤芯径105/200/300/400/600/800/1000μm数值孔径0.22/0.37光纤数多芯最小弯曲半径120倍直径光缆护套材质塑料空管/包塑不锈钢护套条线长度可定制工作温度-40℃～85℃

PolyPen RP 410手持式植物光谱测量仪通过内部光源（氙气白炽灯380-1050nm）测定植物叶片的反射光谱，也可以测定其他光源的透光度和吸光率。PolyPen在软件中内置了几乎所有常用的植物反射光谱指数公式，例如NDVI，PRI，NDGI等。测得的数据以图形或数据表的形式实时显示在仪器的显示屏上。这些数据都可以储存在仪器的内存里并传输到电脑里。PolyPen RP 410由可充电锂电池供电，不需要使用电脑即可独立进行测量。仪器配备全彩色触屏显示器、内置光源、内置GPS和用于固定样品的无损叶夹。叶夹具备进行光源和检测器校准的标准参照物。应用领域：? 植物反射光谱测量? 植物胁迫响应? 色素组成变化? 氮素含量变化? 产量估测 PolyPen RP 410手持式植物光谱测量仪技术特点：? 目前最便携的测量植物叶片反射光谱的高光谱测量仪。? 自动计算常用的植物反射光谱指数，也可计算用户定制的指数，同时提供高精度反射光谱图。? 非破坏性原位测量。? 手持式仪器，电池供电，无需外部电脑，便于野外测量。? 内置GPS，USB/蓝牙双通讯模式技术参数：? 光谱检测范围：PolyPen RP 410 UVIS光谱响应范围为380-790nmPolyPen RP 410 NIR光谱响应范围为640-1050nm? 内置植被指数：PolyPen RP 410 UVIS：NDVI、SR、绿度指数、MCARI、TCARI、TVI、ZMI、SRPI、NPQI、PRI、NPCI、Carter指数、SIPI、GM1。PolyPen RP 410 NIR：NDVI、SR、MCARI1、OSAVI、MCARI、TCARI、ZMI、Ctr2、GM2

PolyPen RP 410手持式植物光谱测量仪通过内部光源（氙气白炽灯380-1050nm）测定植物叶片的反射光谱，也可以测定其他光源的透光度和吸光率。PolyPen在软件中内置了几乎所有常用的植物反射光谱指数公式，例如NDVI，PRI，NDGI等。测得的数据以图形或数据表的形式实时显示在仪器的显示屏上。这些数据都可以储存在仪器的内存里并传输到电脑里。PolyPen RP 410由可充电锂电池供电，不需要使用电脑即可独立进行测量。仪器配备全彩色触屏显示器、内置光源、内置GPS和用于固定样品的无损叶夹。叶夹具备进行光源和检测器校准的标准参照物。应用领域：? 植物反射光谱测量? 植物胁迫响应? 色素组成变化? 氮素含量变化? 产量估测 技术特点：? 目前最便携的测量植物叶片反射光谱的高光谱测量仪。? 自动计算常用的植物反射光谱指数，也可计算用户定制的指数，同时提供高精度反射光谱图。? 非破坏性原位测量。? 手持式仪器，电池供电，无需外部电脑，便于野外测量。? 内置GPS，USB/蓝牙双通讯模式技术参数：? 光谱检测范围：PolyPen RP 410 UVIS光谱响应范围为380-790nmPolyPen RP 410 NIR光谱响应范围为640-1050nm? 内置植被指数：PolyPen RP 410 UVIS：NDVI、SR、绿度指数、MCARI、TCARI、TVI、ZMI、SRPI、NPQI、PRI、NPCI、Carter指数、SIPI、GM1。PolyPen RP 410 NIR：NDVI、SR、MCARI1、OSAVI、MCARI、TCARI、ZMI、Ctr2、GM2? 光源：氙气白炽灯380-1050nm? 光谱响应半宽度：8nm? 光谱杂散光：-30dB? 光学孔径：7mm? 扫描速度：约100ms? 触控屏：240×320像素，65535色? 内存：32MB（可存储8000组以上测量数据）? 系统数据：16位数模转换? 动态范围：高增益 1:4300；低增益 1:13000? GPS：内置? 通讯方式：USB/蓝牙双通讯模式? 软件功能：自动计算内置植被指数、计算用户自定义植被指数、实时显示数据图和数据表、数据导出为Excel、GPS地图、固件升级，Windows XP及以上系统适用? 光谱反射标准配件（选配）：提供最高的漫反射值（99%）。光谱平面涵盖UV-VIS-NIR光谱，保证+/-1%的光学平面。用于光源和检测器的校准。? 尺寸：15×7.5×4cm? 重量：300g? 外壳：防水溅外壳? 电池：锂电池，通过USB接口充电? 续航时间：可连续测量48小时? 工作温度：0~50℃? 存放温度：-20~70℃ 软件界面应用案例扁桃树红色叶斑病造成叶片反射光谱及相应植被指数变化（M López-López, et al. 2016）参考文献1. A Niglas, et al. 2017. Short-term effects of light quality on leaf gas exchange and hydraulic properties of silver birch (Betula pendula). Tree Physiology 37(9): 1218-12282. M Ashrafuzzaman, et al. 2017. Diagnosing ozone stress and differential tolerance in rice (Oryza sativa L.) with ethylenediurea (EDU). Environmental Pollution 230: 339-3503. M López-López, et al. 2016. Early Detection and Quantification of Almond Red Leaf Blotch Using High-Resolution Hyperspectral and Thermal Imagery. Remote Sens. 8(4): 2764. PJ Zarco-Tejada, et al. 2016. Seasonal stability of chlorophyll fluorescence quantified from airborne hyperspectral imagery as an indicator of net photosynthesis in the context of precision agriculture. Remote Sensing of Environment 179: 89-1035. VV Ptushenko, et al. 2015. Possible reasons of a decline in growth of Chinese cabbage under a combined narrowband red and blue light in comparison with illumination by high-pressure sodium lamp. Scientia Horticulturae 194: 267-2776. VV Ptushenko, et al. 2014. Chlorophyll fluorescence induction, chlorophyll content, and chromaticity characteristics of leaves as indicators of photosynthetic apparatus senescence in arboreous plants. Biochemistry (Moscow) 79: 260-272内置计算公式的植物光谱指数：? 归一化差值植被指数Normalized Difference Vegetation Index (NDVI)参考文献：Rouse et al. (1974)公式：NDVI = (RNIR - RRED ) / (RNIR + RRED )? 简单比值植被指数Simple Ratio Index (SR)参考文献：Jordan (1969) Rouse et al. (1974)公式：SR = RNIR / RRED? 改进的叶绿素吸收反射指数1 Modified Chlorophyll Absorption in Reflectance Index 1 (MCARI1)参考文献：Haboudane et al. (2004)公式：MCARI1 = 1.2 * [2.5 * (R790- R670) - 1.3 * (R790- R550)]? 最优化土壤调整植被指数Optimized Soil-Adjusted Vegetation Index (OSAVI)参考文献：Rondeaux et al. (1996)公式：OSAVI = (1 + 0.16) * (R790- R670) / (R790- R670 + 0.16)? 绿度指数Greenness Index (G) 公式：G = R554 / R677? 改进的叶绿素吸收反射指数Modified Chlorophyll Absorption in Reflectance Index (MCARI)参考文献：Daughtry et al. (2000)公式：MCARI = [(R700- R670) - 0.2 * (R700- R550)] * (R700/ R670)? 转换类胡萝卜素指数Transformed CAR Index (TCARI)参考文献：Haboudane et al. (2002)公式：TSARI = 3 * [(R700- R670) - 0.2 * (R700- R550) * (R700/ R670)]? 三角植被指数Triangular Vegetation Index (TVI)参考文献：Broge and Leblanc (2000)公式：TVI = 0.5 * [120 * (R750- R550) - 200 * (R670- R550)]? Zarco-Tejada & Miller 指数Zarco-Tejada & Miller Index (ZMI)参考文献：Zarco-Tejada et al. (2001)公式：ZMI = R750 / R710? 简单比值色素指数Simple Ratio Pigment Index (SRPI)参考文献：Pe?uelas et al. (1995)公式：SRPI = R430 / R680? 归一化脱镁作用指数Normalized Phaeophytinization Index (NPQI)参考文献：Barnes et al. (1992)公式：NPQI = (R415- R435) / (R415+ R435)? 光化学植被反射指数Photochemical Reflectance Index (PRI)参考文献：Gamon et al. (1992)公式：PRI = (R531- R570) / (R531+ R570)? 归一化色素叶绿素指数Normalized Pigment Chlorophyll Index (NPCI)参考文献：Pe?uelas et al. (1994)公式：NPCI = (R680- R430) / (R680+ R430)? Carter指数Carter Indices参考文献：Carter (1994), Carter et al. (1996)公式：Ctr1 = R695 / R420 Ctr2 = R695 / R760? 结构加强色素指数Structure Intensive Pigment Index (SIPI)参考文献：Pe?uelas et al. (1995)公式：SIPI = (R790- R450) / (R790+ R650)? Gitelson and Merzlyak 指数 Gitelson and Merzlyak Indices参考文献：Gitelson & Merzlyak (1997)公式：GM1 = R750/ R550 GM2 = R750/ R700 产地：欧洲

1. 产品概述FTPadv Expert薄膜测量软件具有FTPadv标准软件中包含的用户友好和以配方为导向的操作概念。突出显示拟合参数、测量和计算的反射光谱以及主要结果的光学模型同时显示在操作屏幕上。2. 主要功能与优势n、k 和厚度的测量该软件包设计用于 R（λ） 和 T（λ） 测量的高分析。多层分析可以测量单层薄膜和层叠的每一层的薄膜厚度和折射率。大量的色散模型集成色散模型用于描述所有常见材料的光学特性。通过使用快速拟合算法改变模型参数，将计算出的光谱调整为测量的光谱。3. 灵活性和模块化 SENTECH FTPadv Expert 软件包用于光谱数据的高分析，根据反射和透射测量结果确定薄膜厚度、折射率和消光系数。它扩展了SENTECH FTPadv薄膜厚度探头的标准软件包，适用于更复杂的应用，包括光学特性未知或不稳定的材料。可以在光滑或粗糙、透明或吸收性基材上测量单个透明或半透明薄膜的薄膜厚度、折射率和消光系数。该软件允许分析复杂的层堆栈，并且可以确定堆栈的每一层的参数。我们的FTPadv Expert薄膜测量软件具有FTPadv标准软件中包含的用户友好和以配方为导向的操作概念。突出显示拟合参数、测量和计算的反射光谱以及主要结果的光学模型同时显示在操作屏幕上。该软件包包括一个大型且可扩展的材料库，该库基于表格材料文件以及参数化色散模型。FTPadv Expert 软件可选用于膜厚探头 FTPadv，以及反射仪 RM 1000 和 RM 2000 软件包的一部分。

光谱反射率及颜色测量 描述反射和透射一样是物品的基本光学特性，也是光谱测量的基本内容。对于不同种类的样品，为了获取最佳的光谱测量数据，反射、透射这两种基本模式又会演化为更多的形式。物体表面的反射主要有镜面反射和漫反射两种。光在完美的平整表面上的反射是镜面反射。光在毛糙表面上的反射是漫反射。光在大多数物体表面的反射则介于两者之间。反射测量可以用于测量元件的反射率，测量物体的反射颜色和化学样品中的成分信息。当我们对物体进行反射测量时，判断物体表面主要是哪种反射类型是非常重要的。那些看上去非常晃眼的或者非常光亮的样品表面大多数是镜面反射，因反射光相对入射光而言，角度改变了180度，所以可用光纤来进行取样测量。特点样品放置方便，无须定制样品夹具操作简便、重复性好、检测快速可实时读取透过率值，数据可重复导入读取、使用方便读取反射率值通过积分球采样，还可进一步测量材料的表面颜色典型测试数据不同颜色纸张的光谱反射率光纤型光谱反射测量套件应用测量平整表面的镜面反射材料的光谱反射率。配置清单积分球型光谱反射率测量套件应用适用于平面或曲面材料的漫反射或镜面反射测量，系统经过相对强度定标后，还可进一步测量材料的表面颜色。配置清单更多精彩内容，请关注下方！

1. 产品概述RM 1000 和 RM 2000 光谱反射仪可测量表面光滑或粗糙的平面或弯曲样品的反射率。使用SENTECH FTPadv Expert软件计算单膜或层叠的厚度、消光系数和折射率。厚度分别为 2 nm 和 50 μm （RM 2000） 或 100 μm （RM 1000） 的单片、层叠和基板可以在 UV-VIS-NIR 光谱范围内进行分析。2. 主要功能与优势突破折光率测量的限SENTECH反射仪通过样品的高度和倾斜调整以及光学布局的高光导率，具有精密的单光束反射率测量功能，允许对n和k进行可重复的测量，在粗糙表面上进行测量，以及对非常薄的薄膜进行厚度测量。紫外到近红外光谱范围RM1000 410 纳米 – 1000 纳米RM2000 200 纳米 – 1000 纳米高分辨率映射RM 1000 和 RM 2000 反射仪可选配 x-y 成像台和成像软件以及用于小光斑尺寸的物镜。3. 灵活性和模块化SENTECH RM 1000 和 RM 2000 代表我们的反射仪。桌面设备包括高度稳定的光源、带有自动准直望远镜和显微镜的反射光学器件、摄像机、高度和倾斜度可调的样品平台、光谱光度计和电源。它可以选配 x-y 成像台和成像软件，以及用于第二种光斑尺寸的物镜。除了薄膜厚度和光学常数外，薄膜的组成（例如氮化镓上的AlGaN，硅上的SiGe），增透膜（例如在纹理硅太阳能电池上，紫外线敏感的GaN器件）以及小型医疗支架上的涂层都可以通过我们的反射仪进行测量。这些反射仪支持微电子、微系统技术、光电子、玻璃涂层、平板技术、生命科学、生物技术等域的应用。用于我们的反射仪 RM 1000 / 2000 的综合性、以配方为导向的 SENTECH FTPadv EXPERT 软件包括测量设置、数据采集、建模、拟合和报告。已经内置了一个包含预定义、客户验证和即用型应用程序的广泛数据库。“自动建模”选项允许从光谱库中自动选择样本模型。基于SENTECH在椭圆偏振光谱方面的业知识，庞大的材料库和各种色散模型使我们的光谱反射仪能够分析几乎所有的材料和薄膜。操作员可以很容易地使用新的光学数据更新数据库。SENTECH通过椭圆偏振光谱法测量具有未知光学特性的新材料，为客户提供支持。

描述反射和透射一样是物品的基本光学特性，也是光谱测量的基本内容。对于不同种类的样品，为了获取最佳的光谱测量数据，反射、透射这两种基本模式又会演化为更多的形式。物体表面的反射主要有镜面反射和漫反射两种。光在完美的平整表面上的反射是镜面反射。光在毛糙表面上的反射是漫反射。光在大多数物体表面的反射则介于两者之间。反射测量可以用于测量元件的反射率，测量物体的反射颜色和化学样品中的成分信息。当我们对物体进行反射测量时，判断物体表面主要是哪种反射类型是非常重要的。那些看上去非常晃眼的或者非常光亮的样品表面大多数是镜面反射，因反射光相对入射光而言，角度改变了180度，所以可用光纤来进行取样测量。特点样品放置方便，无须定制样品夹具操作简便、重复性好、检测快速可实时读取透过率值，数据可重复导入读取、使用方便读取反射率值应用测量平整表面的镜面反射材料的光谱透过率配置清单波长范围UV-VISVIS-NIR光谱仪BIM-6002A-01200-900nm，分辨率~1nmBIM-6002A-13400-1100nm，分辨率~1nm光源BIM-6203，氘钨灯光源，230-2500nm光纤SIM-6102-1015-TA/SMA，石英光纤支架BIM-6303，单双臂支架标准板SIM-6326，镜面反射标准板软件BSV光谱分析软件*需要了解各部件的详细参数，请点击表格中的链接测量案例：纸张的光谱反射率不同颜色纸张的光谱反射率

1 产品简介传统测量样品反射率的反射光纤探头光斑直径最小仅能达到1-2mm左右，光斑直径限制了样品的大小以及光谱空间分辨率，而若要获得样品更微小的尺度的光谱信息，通常的做法是与显微系统连用。微区反射光谱测量系统即是将光谱分析技术与显微光路结合，可在微米级尺度上采集样品的光谱信息，广泛应用于物理、化学、生物等行业材料光谱性能研究。 图1：微区反射光谱测量系统本系统采用光纤共焦照明方式，与传统的科勒式照明相比，共焦照明方式可获得更小的采样直径，即具有更高的空间光谱分辨率。如图所示，光源经由光纤接入显微系统，通过显微物镜将光斑大小压缩至微米级别并汇聚在样品平面，样品产生的反射光经由显微系统汇聚在接收光纤端面处，发射光纤端面、接收光纤端面、成像相机平面以及样品平面四面属于共轭关系，从而使得可以实现高精度原位光谱测量。图2：微区反射测量系统原理示意图 此外，系统中所用到的微区反射率转接模块中预留一光谱通道，此通道可支持在反射率光谱基础上拓展添加透射率测量、拉曼光谱测量或荧光光谱测量功能，实现多光谱综合测量。 2 规格参数 光谱模块光谱范围200-2500nm光斑大小取决于显微镜物镜倍数及光纤芯径积分时间1ms-65s光源寿命氘灯：5000hrs钨灯：10000hrs显微模块物镜无限远长工作距平场消色差金相物镜10X 20X 50X转换器内定位5孔转换器CCD成像可成像载物台双层机械式载物台，尺寸：210mm×140mm；移动范围：63mm×50mm落射照明系统6V30W卤素灯，亮度可调调焦结构粗微调同轴，配有限位装置和锁紧装置，粗动行程每圈：30mm，微调手轮格值2μm整机参数尺寸拉曼模块：160×140×42mm显微模块：550×280×380mm工作温度0-45℃工作湿度5%-80%3 产品特点l 模块设计：通过在显微镜中加装拓展模块实现光谱测量，同时可在客户现有显微镜基础上定制相应检测模块。l 共焦设计：光源光路与光谱仪接收光路共轴，独特的共焦设计使得测量“所见即所得”，并且系统的杂散光可以得到有效抑制。l 宽光谱检测范围：搭配如海光电的光纤光谱仪，可实现200~2500nm宽光谱测量。l 灵活选配与升级：该系统除可实现反射测量外，同时可根据客户需求在此基础上添加特定测量模块从而实现反射+透射+拉曼+荧光多光谱测量。l 高精度测量：自动移动平台最小步进1μm，可实现微小区域光谱扫描测量。4 测试实例图

反射透射平台反射平台是做反射测量时候的探头支架，可以放置小于150mm的光学镀层和基底样品。支架可以安装6.35直径的反射探头，并且可以在高度上调整大约63.5mm。平台上刻有不同直径的圆，可以更方便的对准样品。 Stage-RTL-T型平台是一种新型取样系统，用来分析如硅、金属、玻璃和塑料一类的材料。RTL-T与我们的光谱仪和光源多种组合方式，配合进行反射和传输测量Stage-RTL-T包括一个附着在基座上的可调轨夹。有三个用螺丝固定在轨夹上的设备，包括一个带 UV-VIS校准镜头的光纤固定器；一个反射和传送的样品盒；一个光阱用来减少背射光和 环境光的影响。 STAGESTAGE-RTL-T尺寸:152.4 mm 直径(base)206.3 mm 直径(base)尺寸:101.6 mm 直径(样品区域)152.4 mm 直径 (采样支架)(样品区域)重量:620 g4.5kg高度:导轨高度可调 63.5 mm导轨高度可调 400 mm材质:阳极氧化铝底盘, 不锈钢支杆阳极氧化铝 对于简易的反射测量需求，我们也可以提供STAGE平台。 为了提高调整的精度和更加灵活的应用场合，我们开发了增强型的STAGE-RM平台，透反射样品支架是常用的光谱测量附件，与反射探头共用可实现反射光谱测量，与两根光纤跳线共用可实现透射光谱测量。透反射样品支架包括可调滑轨、底座、样品调整座以及两个准直透镜，型号为STAGE-RM的增强型透反射样品支架还包括一维平移台以及万向杆架。该产品广泛应用于硅、金属、玻璃、塑料、珠宝等样品的透射和反射光谱测量。 透反射样品支架 - 实现透射和反射光谱测量 - 测量高度可调 - 测量高度可通过一维平移台微调 - 自带两个准直透镜 - 可定制配合安装孔尺寸 如果需要其他相关配件，例如光源，光谱仪，光纤，积分球等，可以联系韵翔光电。

FTPadv Expert 综合薄膜测量软件 光谱反射测量软件FTPadv Expert是专门为测量和分析R(λ)和T(λ)而设计的。用于确定各种材料的薄膜厚度、消光系数或折射率的光谱数据分析，这些参数都被加载到SENTECH光谱反射测量软件中，使得能够根据Cauchy色散、Drude振荡给出的参数描述和拟合材料。 测量n, k,和膜厚该软件包是为R(λ)和T(λ)测量的高级分析而设计的。 叠层膜分析可以测量单个薄膜和层叠膜的每一层的薄膜厚度和折射率。 大量色散模型集成的色散模型用于描述所有常用材料的光学特性。利用快速拟合算法，通过改变模型参数将计算得到的光谱调整到实测光谱。 用于光谱数据的高级分析的SENTECH FTPadv Expert软件包基于反射和透射测量确定薄膜厚度、折射率指数和消光系数。它扩展了薄膜厚度探针FTPadv的标准软件包，用于更复杂的应用，包括未知或非恒定光学性质的材料。可以在光滑或粗糙、透明或吸收衬底上测量单个透明或半透明膜的膜厚、折射率指数和消光系数。该软件允许对复杂层叠进行分析，可以确定各叠层的参数。 FTPadv Expert 薄膜测量软件具有FTPadv标准软件中的用户友好和基于配方操作的概念。具有突出拟合参数的光学模型、测量和计算的反射光谱，并且结果同时显示在操作屏幕上。 该软件包包括基于表格化材料文件以及参数化分散模型的大型和可扩展的材料库。 FTPadv Expert软件可选配用于膜厚探针FTPadv和反射仪RM 1000和RM 2000软件包的一部分。

描述反射和透射一样是物品的基本光学特性，也是光谱测量的基本内容。对于不同种类的样品，为了获取最佳的光谱测量数据，反射、透射这两种基本模式又会演化为更多的形式。物体表面的反射主要有镜面反射和漫反射两种。光在完美的平整表面上的反射是镜面反射。光在毛糙表面上的反射是漫反射。光在大多数物体表面的反射则介于两者之间。反射测量可以用于测量元件的反射率，测量物体的反射颜色和化学样品中的成分信息。测量反射率的时候，必须考虑样品的反射是镜面反射还是漫反射。我们观察到物体的颜色大多数是基于漫反射，而那些非常晃眼的或者非常光亮的样品表面大多数是镜面反射和漫反射同时存在。当我们对物体进行反射测量时，判断物体表面主要是哪种反射类型是非常重要的，另外需要判断我们是否要接收全部还是部分的反射光。在食品应用中，大多数反射测量都是基于漫反射来测定的。特点样品放置方便，无须定制样品夹具操作简便、重复性好、检测快速可实时读取反射率值，数据可重复导入读取、使用无需暗室操作应用适用于平面或曲面材料的漫反射或镜面反射测量配置清单波长范围UV-VISVIS-NIR光谱仪BIM-6002A-01200-900nm，分辨率~1nmBIM-6002A-13400-1100nm，分辨率~1nm光源BIM-6203，氘钨灯光源，230-2500nm光纤SIM-6102-1010，石英光纤。光纤数量：2积分球SIM-3003-02501，1英寸反射用测光积分球积分球支架BIM-6316-25，积分球支架标准板SIM-6326-30，镜面反射标准板 或 SIM-6304-20，漫反射标准板软件BSV光谱分析软件*需要了解各部件的详细参数，请点击表格中的链接测量案例：纸张的光谱反射率不同颜色纸张的光谱反射率

本系统可以测试平面光学元件（如棱镜、滤光片、光栅、镀膜等）、和各种材料（溶液、玻璃等）等吸收、透射和反射光谱。系统型号系统特点7-TRASpec I扫描型7-TRASpec MMini 摄谱型技术指标光谱范围：200-2500nm (可根据实际需要选择）光电源电流漂移： 0.04%/h波长准确度：± 0.2nm光谱分辨率：0.1nm光谱带宽：0.2-10nm 可调系统特点用高灵敏度光电倍增管和铟镓砷探测器或CCD模块化设计，结构灵活，方便升级

反射用测光积分球 XME-2203 描述反射用积分球相比辐射用积分球而言，在底部多了一个斜8°的进光口，用于连接光源，使来自标准光源的光能够径直照射到积分球顶部的样品口，标准光在接触到样品表面后将反射回积分球内部，并通过其它测量口对反射光进行测量与分析。反射用积分球配合光谱仪、光纤、光源以及各种光学测量设备一起可以组合成一套系统，用以测量不同样品的表面反射率，其中包括平面不规则样品和曲面不规则样品。。特点具有紧凑型设计，两个或三个SMA905光纤接口，垂直光路8°设计。输出端口为90°垂直积分球输出。应用照明光学、纤维光学、激光技术、照相化学、材料分析和医学技术等领域。测量不透光材料的反射特性：反射比、漫反射比、光谱分布特性。技术参数材料反射率PTFE、BaSO4两种涂料的反射率选配件反射用积分球专用支架【YME-2069】可以根据积分球的尺寸来定制。 更多精彩内容，请关注下方！

光谱反射仪（SR）系列是一款相对较低成本和操作简单的工具。SR 系列特征：简单易操作 最佳系统性能基于先进的光学设计 基于阵列的探测器系统保证快速测量 测量薄膜厚度和折射率可达5层 允许在毫秒内获得反射、透射和吸收光谱 可用于实时或在线厚度，折射率的监测 系统具有全面的光学常数数据库 先进的TFprobe软件允许用户使用NK表、分散或有效介质近似（EMA）每个单独的膜。 可升级到MSP（显微分光光度计）系统，SRM映射系统，多通道系统，大点的直接测量图案或功能结构 适用于多种不同厚度的基材 各种附件可用于特殊配置，如运行曲线测量曲面 2D和3D输出图形和用户友好的数据管理接口光谱反射仪型号：SR100SR300SR500

蓝菲光学LFHH-1000手持光谱反射率测试仪基于安卓平台集成了可见到近红外CCD光谱仪，获取反射光谱并计算反射率。便携式的设计便于应用于多种场景，特别是户外使用。测试数据可以保存或上传，便于离线分析。反射率测试应用广泛，可以用来分析物体表面颜色，物质构成甚至土壤或植被状态等。采用光谱仪测试反射率可以迅速准确的一次性获取一段光谱上的反射率。蓝菲光学拥有逾40年的光谱分析系统设计与应用经验。LFHH-1000是蓝菲光学将传统的光谱仪与安卓移动设备相结合的产品，旨在为用户带来便捷的测试体验。LFHH-1000完全基于安卓系统开发，外形如普通手机，使用简易明了，无需培训即可上手。除了测试光谱外，还内置了反射率计算功能，可以将待测物光谱与蓝菲标准白板光谱进行比较，直接获取并显示反射率。LFHH-1000除了标配25°接受角的收光元件外还可以外接SMA905光纤，方便用户完成特殊的测试需求。蓝菲光学Spectralon标准白板是业界普遍使用的参考板，提供不同的尺寸和反射率选择，并且可以选择NIST可溯源的反射率数据。为精确测量反射率提供可靠保障。系统特点便携式设计，使用与手机类似可视化操作，现场得到光谱反射率25°角收光，提高进光量SMA905接口，可扩展其他探测形式GPS定位，测试地理位置直接获取数据拷贝功能长达6小时不需充电软件暗电流扣除功能规格参数型 号:LFHH-1000料 号:LAA-00101-100探测器:Hamamatsu S11639光谱范围（nm）:350-1050像素:2048*1光谱分辨率(nm):约1.5信噪比：300:1波长准确性:0.2nmA/D采样:16bit收光角度:25°暗电流修正:软件积分时间（ms）: 10-65标准板大小（cm）:30*30标准板反射率：99%，其他反射率可选供电:内置锂电池仪器尺寸(L*W*H/cm):17.5*9*3.5仪器重量（kg）:1

SSR-ER太阳光谱反射率仪提供准确的材料漫反射和镜面反射测量，材料样品最小厚度可至6.4mm，太阳反射比和吸收比精确到0.001，重复性达到0.003。采用钨丝提供漫反射光源，测量4个滤光探测器、20度近法线入射角的样品辐射反射。探测器主要覆盖紫外、蓝光、红光和IR光谱范围。2个额外的探测器用来重采样低色温情况下红光和IR光源。SSR 漫反射和镜面反射标准体随机提供，标准体通过美国National Bureau of Standards Materials 标定，仪器经过标准体定标后即可开始测量。默认操作模式下，仪器每完成一个测量循环的时间为8秒钟，钨灯亮6秒的同时并记录检测器偏移值，灯亮两秒钟后6个探测器进行反射率测量并存储，计算太阳反射比并显示在LCD上，然后关闭光源。通过键盘可切换6个探测器的反射比或吸收比显示。

一、概述 SR-C 紧凑型高精度反射膜厚仪，利用光学干涉原理，通过分析薄膜表面反射光和薄膜与基底界面反射光相干涉形成的反射光谱，快速准确测量薄膜厚度、光学常数等信息。■ 光学薄膜测量解决方案；■ 非接触、非破坏测量；■ 核心算法支持薄膜到厚膜、单层到多层薄膜分析；■ 是膜厚重复性测量精度：0.02nm■ 配置灵活、支持定制化二、产品特点■ 采用高强度卤素灯光源，光谱覆盖深紫外到近红外范围；■ 采用光机电高度整合一体化设计，体积小，操作简便；■ 基于薄膜层上界面与下界面的反射光相干涉原理，轻松解析单层薄膜到多层；■ 配置强大核心分析算法：FFT分析厚膜、曲线拟合分析法分析薄膜的物理参数信息；三、产品应用 反射膜厚仪广泛应用于各种介质保护膜、有机薄膜、无机薄膜、金属膜、涂层等薄膜测量。技术参数

天津能谱科技自主研发的ATRS-01衰减全反射附件样品无需前处理，简化了样品的制作过程，被广泛应用于各种固体和液体样品测试，如塑料、纤维、橡胶、涂料、粘合剂等高分子材料制品的表面成份分析。ATRS-01主要采用ZnSe晶体，具有硬度好透过率高可以满足各种常规样品的测试，同时可配合我公司生产iCAN 9傅立叶红外光谱仪进行使用，更方便快捷。衰减全反射技术 (ATR)是目前比较广泛的采样技术。ATR可以进行原位定性或定量测试，样品基本不需要制备，直接将样品放在ATR晶体上就可以进行测试。因此可以大大加快测试速度、提高测试效率。　　ATR的工作原理是红外光束进入折光指数较高的晶体中红外光束从晶体表面反射回来，但同时在样品中有一个衰减波区域，这部分红外光束有部分被样品吸收而反射出来到达检测器以获得样品的红外光谱的信息。全反射现象不完全是在两种介质的界面上进行，部分光束要进入到样品介质一段距离后才反射回来，透入到样品介质的光束，在样品的透光区，反射光能几乎等于入射光能，而在样品的吸收区，则有部分入射光被吸收。“全反射"是衰减的，其衰减程度与样品的吸收系数的大小有关。因此扫描整个中红外区即可得到一个非常类似于透光光谱的红外光谱，一般称为ATR光谱。衰减全反射中谱带的强度除了取决于样品本身的吸收性质以外，还和光线在样品表面反射的次数以及穿透样品的深度有关，一般来说，穿透越深，吸收越强。

1. 产品概要SENTECH RM 1000 QC反射仪设计用于快速简单地测量透明或吸收基材上的透明和半透明薄膜的厚度，用于工业生产过程中的质量控制。该工具涵盖 20 nm 至 50 μm 的膜厚范围，可用于 100 μm 的测试图案。2. 主要功能与优势半自动桌面质量控制SENTECH RM 1000 QC是一款光学反射仪，用于对图案化基板上的薄膜和散装材料进行质量控制。它是小规模和大规模生产中随机抽样、工具鉴定和统计过程控制 （SPC） 的理想选择。通过手动晶圆处理对图案化晶圆进行质量控制SENTECH RM 1000 QC 易于手动装载。然后，对于图案化的 200 mm 晶圆，模式识别、映射测量、分析以及报告结果和统计信息都自动化。集成到实验室和晶圆厂环境中SENTECH RM 1000 QC 可选择通过 SECS/GEM 集成到制造执行系统中。3. 灵活性和模块化SENTECH RM 1000 QC 光谱反射仪提供法向入射的反射率光谱，SENTECH SpectraRay/4 软件分析的参数包括薄膜厚度、吸收、成分、能隙、颜色和光谱带宽。模式识别用于测量结构化样本。该工具的操作流程其简单，只需放置晶圆，启动自动化过程，工具就会返回准确的模式识别、测量和映射，以及精确、可重复的统计结果。SpectraRay/4 是用于 SENTECH RM 1000 QC 的综合光谱椭偏仪软件。它包括两种操作模式：配方模式和交互模式。配方模式允许轻松执行常规应用程序。交互模式通过交互式图形用户界面引导椭圆测量。

光纤反射测试支架 上海闻奕光电的反射型光学测量台是光学多角度反射率光谱测量的一个经典案例，本公司主要针对科研、工业检测、食品安全、医疗美容等领域有较为丰富的经验。 上海闻奕光电科技有限公司生产的反射型光学反射率测试平台具有中心稳，多方向控制光纤入射和出射角度的特点。广泛用于需要非固定角度测量。 闻奕光电的反射是光谱测量的基本手段。实现反射光谱测量，通常需要光谱仪、光源、光纤、测量支架、标准参比样品、和测量软件等。对于不同种类的样品，为了获取最佳的光谱数据，反射这种基本模式又会演化为更多的形式。 闻奕光电利用这些配置丰富的设备，就可以搭建各种常见的光谱测量系统。反射光谱测量系统可以配置1个或者2个支架，用于固体和粉末样品的反射率测量。本产品也可以用来固定光纤探头和光源，具有非常好的灵活性和实用性。更多详细信息：

SPL-STAGE-TR规格和价格表 谱镭光电提供的透反射样品支架是常用的光谱测量附件，与反射探头共用可实现反射光谱测量，与两根光纤跳线共用可实现透射光谱测量。透反射样品支架包括可调滑轨、底座、样品调整座以及两个COL-UV准直透镜，还包括一维平移台以及万向杆架。该产品广泛应用于硅、金属、玻璃、塑料、珠宝等样品的透射和反射光谱测量。 特点· 实现透射和反射光谱测量· 测量高度可调· 测量高度可通过一维平移台微调· 自带两个准直透镜· 可定制配合安装孔尺寸 型号型号说明备注SPL-STAGE-TR应用场合:透射/反射光谱测量,高度既可粗调，又可微调带两个COL-UV准直透镜、一个一维平移台、一个万向杆架 技术规格型 号SPL-STAGE-TR应用场合透射/反射光谱测量可调高度210mm(可定制)一维平移台行程25mm(可定制)探头安装配合Ф6.35mm探头(可定制)底座尺寸Ф180mm自带准直透镜工作波长：200-2000nm(型号:COL-UV)材 料铝材(发黑处理)

TX3000全反射X射线荧光光谱仪是浪声科学经过多年XRF技术沉淀，专门设计研发用于元素分析和痕量分析的便携式光谱仪。其能够在极低的背景噪声条件下实现高灵敏度检测，可快速针对液体、悬浮液、固体和污染物，进行定量和半定量多重元素微量分析，为痕量元素分析领域提供了一种高效率、高灵敏度的解决方案。TX3000体积小巧，便于携带和运输，非常适合现场分析或移动实验室的需求。其具有制样简单、高性能、易用性、环保性和经济效益等特点，是科研、质量控制和环境监测等领域中不可或缺的分析工具。使用优势一键智能操作具备用户友好的操作界面，使得操作简单、直观，即便是非专业人员也能轻松掌握。多元素同时分析仪器可以同时检测铬、铅等8大主要重金属元素，也可以根据检测需求进行元素扩展，分析近30个元素，大大节省了分析时间。轻便易携设备小巧，一体化结构设计，不需要任何辅助设备及气体、液氮等，可拿到现场或野外进行检测分析。环境友好与传统X射线荧光光谱仪相比，TXRF采用特殊几何配置，有效降低了辐射暴露风险，更能保障操作人员安全。本土化服务国内生产厂家能够提供更快速的售后服务和技术支持，确保用户在使用过程中的问题能够得到及时解决。 微量样品需求该方法只需极少量的样品即可进行准确分析，非常适用于样品量有限的情况。高精度与高灵敏度仪器采用多层膜单色器和全反射光路设计，缩短了探测器到样品距离，提高了荧光产量，适用于痕量元素的精确测定。低背景噪声X光束以掠射角照射样品，降低了散射和荧光背景，实现了更低的背景噪声，检测低限可降低几个数量级。低运行成本相比进口设备，国产TXRF通常具有更高的性价比，同时设计用于低能耗运行，需要的样品量少，减少了对昂贵试剂和标准物质的需求，另外样品溶解程序不需要使用设备以及危害性化学品，成本效益极高。应用领域环境科学土壤、空气和水质的微量元素分析材料科学食品安全生物医学/生物制药文化遗产地质/冶金法医学化妆品规格参数尺寸360 ×365 × 265mm（L×H×W）重量≤15KG（不含电池）核心技术全反射X射线荧光（TXRF）元素范围Al(铝)—U(铀)含量范围ppb至100%样品类型液体、悬浮液、粉末、颗粒、金属、薄膜、组织、擦拭物、过滤材料等样品体积液体及悬浮液从1μl到50μl，颗粒最大直径为100μm,粉末最大为10μg样品座载玻片X射线管高亮度微焦斑固定靶点光源光学系统真空正交背靠背X射线人工多层反射聚焦镜探测器50mm2超大面积SDD探测器数据显示系统仪器一体自带显示器，超大工业级电容屏附件移液枪、移液枪吸头、研钵、抹刀、加热干燥装置等

反射样品支架，YME-2063/2067 描述反射样品支架可用于固体和粉末样品材料多角度反射率的测量。我们提供了单臂、双臂和倒置三种不同的形态，方便用户应用于不同的测试应用中。YME-2063-01单臂形态主要用于固定Y型光纤探头，可测量光垂直入射的情况。YME-2063-02双臂形态主要用于固定两根石英光纤探头，可测量光不同角度入射的情况。单双臂形态可以方便地互相切换，具备高灵活性和强实用性。YME-2603-03倒置式反射支架更加适合于需要精确测量光谱反射率的场合，可以保持样品至反射光纤的距离和标准参比样品至反射光纤的距离精确等。特点多形态可选，适用更多的应用底盘可定位多种标准尺寸多方向控制光纤入射和出射的角度技术参数更多精彩内容，请关注下方！

P-TIP 光纤探头 更加丰富的反射、透射、固体荧光、液体荧光、吸收光纤探头 P-TIP是闻奕光电的光纤探头系列产品，涵盖了反射、透射、固体荧光、液体荧光和吸收等多种光纤探头。 对于光谱测量，选择合适的光纤探头和选择合适的光谱仪、光源以及光纤同等重要。由于光纤探头的复杂性，我们提供各种光纤探头的试用。在您选择好合适的产品再行购买。欢迎致电。 P-TIP-0045漫反射荧光光谱探头 在 P-TIP-0045漫反射光纤探头中，可以加载2片滤光片，一片安装于激发光路，用于消除激发光源除主峰外的杂峰，另一片安装于收集光路，用 于滤除荧光辐射光谱中的激发光成分。因此，P-TIP-0045探头除了可以测量漫反射光谱，还可以检测固体表面的荧光光谱。更多信息访问：

产品详情 FLB反射测试支架是测试支架的一种，用于测量反射光谱时一般连接多芯光纤使用，尤其是Y型多芯光纤，可以与光谱仪，光源及其他配件组合成反射光谱测量系统。灵活可变 — 支架高度可方便改变，方便集成 — 尺寸更小、更薄、即插即用，方便拆卸，满足实验室测试需求产品参数材质：铝+不锈钢底盘尺寸：&emptyv 200mm* 20mm最大可调高度：200mm

一、概述 RT-V 系列反射透射测量仪，采用进口氘卤二合一光源，结合高性能分光光谱仪，可测量获得紫外到近红外光谱范围内薄膜的反射率和透射率光谱，并进一步计算获得样品色坐标，以及薄膜厚度、光学常数等信息。 ■ 高性价比穿透率、反射率测量解决方案 ■ 色坐标计算和薄膜特征解析 ■ 模块化定制，支持在线集成应用二、产品特点■ 采用高性能进口氘卤二合一光源，光谱范围覆盖可见光到近红外范围；■ 支持全光谱范围反射率高精度量测，基于薄膜层上下界面反射光干涉原理，轻松解析单层至多层薄膜特征；三、产品应用 RT系列反射透射测量仪，可实现各种透明、低对比度、高反射率样品反射率和穿透率光谱快速精准测量，并进一步计算获得样品色坐标、薄膜样品厚度及光学常数。广泛应用于各种滤光片、滤镜、镜头、玻璃、染色液、薄膜的测量。技术参数