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X荧光小菜鸟一个,之前有用过斯派克的XEPOS的偏振仪器。从他的元素曲线线性和准确度结果上看,很牛B。对于这一技术很疑惑,有没有大佬帮忙解答一下,特别是他的二次靶怎么能从小Z到后面的重金属都有很好的检测能力。
偏振光强度差技术是库尔特仪器中的一项专利技术,对这一技术有如下疑问,请专家解答。1、从其结构图上看,样品中先以传统傅立透镜光路测量后,再经过偏振光强度差测量单元,然后再将这两部分测量信息合成处理?2、在傅立叶光路中,没有背向检测器,也说是说小颗粒的信息完全是由偏振光强度差检测单元来获得?3、这一仪器是干湿两用吗?
荧光分光光度计激发偏振器与发射偏振器互相垂直的荧光强度怎么测?(目的是测荧光各项异性)F4500有个荧光偏振附件 两个镜子角度可调 我想问一下 测平行的荧光强度是两个都调到0度, 但测垂直的荧光强度是两个都是90度还是 0°,90°或是90°,0°呢?这样测出的值都不一样啊