脉源功量仪

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  • 三丰精密量仪(上海)有限公司(简称“上海三丰”)是日本排名前列的精密测量仪器生产商MITUTOYO在上海的销售子公司。日本MITUTOYO拥有80多年的历史,从小型测量工具到大型测量仪器,共5500多种产品,是世界上为数不多的全方位生产精密测量仪器的企业。在全世界共47家子公司: 日本9家, 美洲11家, 欧洲15家, 亚洲12家。上海三丰于2001年注册在上海外高桥保税区企业,总部设于上海,在全国有12家分公司及事务所,负责MITUTOYO产品在中国华东、华北及中部地区的销售。华南地区由合资公司负责销售。销售产品有:三座标测量仪、画像测量仪、测量投影仪、工具及测量显微镜、硬度计、卡尺、千分尺等。
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  • 山西新晟科学仪器有限公司是一家专业从事实验室智能仪器生产销售的公司。注册地位于革命英雄老区,红色沃土的山西省吕梁市。公司自主研发生产的ZHXS-01型全自动智慧称量仪可针对粉末样品及XRF熔片法专用进行高精度自动称量。ZHXS-01型全自动智慧称量仪在个实验室应用中大大降低了人员工作强度,大幅提高了工作效率。独创的高精度自动称量技术在用户处反复使用与验证,得到一致认可与好评。称量精度与速度均达到国内外一流领先水平。公司有一支强大的科研技术队伍和先进的生产设备,保证了产品始终走在同行的前列!公司以科技创新,用户至上为宗旨,时刻关注市场发展趋势和用户需求,不断创新、提升产品品质,以更优质的产品和服务回报用户!
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  • 东莞忠仪测量仪器有限公司是一家集自主研发,代理销售,技术培训,信息咨询及维修服务於一体的高科技企业。公司与多家零售商和代理商建立了长期稳定的合作关系。為国内的生產加工企业和厂家提供质量可靠的各类仪器设备和专业维修服务,自成立以来凭著良好的信誉、优良的產品品质、热情周到的售后服务赢得了广泛客户的信赖与支持。经长期努力以来,公司集累了一批具有良好素质和专业技术丰富的维修及销售工程师,能及时為您提供最优惠快捷的专业服务。公司主要经营项目如下:1.日本东京光电子(TOE)激光镭射测径仪。2.日本尼康(Nikon)工业测量仪器:投影仪、工具显微镜、工业自动影像仪、高度计,3.日本三丰(Mitutoyo)系列:三坐标、投影仪、工具显微镜、表面粗糙度仪、真圆度测定机、轮廓度测量仪,三丰镭射测定机系列,。4.日本三丰(Mitutoyo)小量具系列:表盘、数显及游标卡尺、分厘卡、厚薄计、杠桿量表、深度规、高度规、高度仪、伸缩规、形状类测针等。5.日本东京精密(ACCRETECH)表面粗糙度仪、真圆度测定机、轮廓度测量仪、形状类测针等。6.瑞士(Trimos)/(TESR)系列各类精密量具,一维/二维精密测高仪,精密长度测长仪. 三维三坐标测量仪,投影仪等等及其它种类精密量测仪器。7.日本AIKOR数显推拉力计系列、手动荷重仪系列(HF-2S)、自动曲线荷重仪系列(1305VR)、硬度计系列的销售和维修、荷重元换新及维修。8.万濠(Rational)万濠投影机、万濠影像量测仪、金像显微镜。9.专业研发量具数据采集管理软件。10.各类进口/国产仪器升级,年度保养,专业维修服务。 本公司销售仪器广泛应用於电子、航空、五金、塑胶、橡胶、模具、硅橡胶按键、油墨涂料等行业,我们不但為客户提供优质的仪器设备,还将通过做好从销售到售后服务的每一个环节来让客户感受到我们细致入微的服务。 公司宗旨:诚信 协作 务实 迅速.
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脉源功量仪相关的仪器

  • 一、小麦亩穗数测量仪 麦穗形态测量仪产品简介:小麦育种研究中,小麦表型参数至关重要,小麦表型检测仪可用于小麦株高、夹角、基粗、小麦亩穗数、理论产量、穗长、小穗数、总粒数和千粒重等指标的测量,可多点快速取样数据可批量分析并获取平均值。这些表型参数在小麦品种筛选、小麦产量预测、麦穗动态发育、基因定位、功能解析和小麦遗传育种中发挥着至关重要的作用。软件集合多方面功能为一体,一站式解决小麦的表型参数测量问题。广泛适用于各农科院、高校、育种公司、种子站的小麦研究。二、小麦亩穗数测量仪 麦穗形态测量仪应用广泛:1、小麦亩穗数检测合适时期: 小麦抽穗期、开花期、灌浆期、成熟前期的小麦。2、麦穗形态测量的时期:室内考种时期:3、小麦夹角测量时期:抽穗期、开花期、灌浆期、乳熟期。4、千粒重测量时期: 室内考种时期。5、小麦株高测量时期: 各个生育时期。三、小麦亩穗数测量仪 麦穗形态测量仪技术参数:测量范围和误差:1、小麦亩穗数测量误差: ≤±5%。2、麦穗形态测量范围: 5——20cm。穗长误差: ±2%。小穗数误差: ≤ 3个。3、小麦夹角测量范围: 0-180°。作物粗: 0-5.2cm。夹角测量误差: +5%。4、作物茎粗测量误差: ±1%。5、千粒重测量误差: ±2%。6、株高测量范围: 0.1-1.1m。测量误差: ±1%。1.1 小麦亩穗数测量仪1.1简介小麦亩穗数测量仪也称小麦亩穗数测量系统,采用图像识别技术、深度学习的方法获取数据,可多点快速取样,数据批量分析,且数据互联互通。可以测量小麦的亩穗数、理论产量、种子数量和千粒重指标,为小麦的品种筛选、小麦产量预测、产量基因定位和功能解析发挥着至关重要的作用。小麦产量是由单位面积上的穗数、每穗数(每颖花数)和粒重三个基本因素构成,穗数是小麦产量重要构成要素之一,快速、准确地获取小麦穗数和千粒重对智能测产意义重大。1.2外形尺寸1、小麦亩穗数740mm*740*(620——1500)mm2、标定杆可上下伸缩调节高度3、背光板尺寸: 47cm*35cm*0.8cm4、图像分辨率:1600*7205、摄像头:1300W像素1.3测量误差1、小麦亩穗数误差±5%。2、千粒重误差±2%,修正后可达100%。1.4适用范围1、麦穗检测合适时期:小麦灌浆期至成熟前期的小麦2、千粒重可测量小麦种子的数量和千粒重2.小麦株高测量仪2.2.1简介小麦株高测量仪用于测量小麦的株高。在小麦不同时期测量株高的标准不同。小麦株高一般是指植株基部至主茎顶部即主茎生长点之间的距离。幼苗期:(1)伪茎高度:植株基部(或分粟节处)到最上部展开叶叶鞘顶部(即叶耳处)的距离为伪茎高度(或长度);(2)植株全长:植株基部到最上部展开叶的叶尖的距离做为植株全长。2.苗期:伪茎高度:植株基部(或分粟节处)到最上部展开叶叶鞘顶部(即叶耳处)的距离为伪茎高度(或长度);真茎高度:各节间的总长为真茎高度(或长度);(3)植株全长:植株基部到最上部展开叶的叶尖的距离做为植株全长。3.拔节期:(1)伪茎高度:植株基部(或分粟节处)到最上部展开叶叶鞘顶部(即叶耳处)的距离为伪茎高度(或长度);(2)真茎高度:各节间的总长为真茎高度(或长度);(3)植株全长:植株基部到最上部展开叶的叶尖的距离做为植株全长。4.灌浆期:从植株基部(或分蘖节处)量到穗顶(不包括芒)的距离则为株高。2.2.2技术参数测量杆高度:375mm+375mm+350mm测量精度: 1mm测量范围: 10——1100mm外壳材质: 铝合金软件系统: Android2.2.3小麦亩穗数测量仪 麦穗形态测量仪功能特点1、仪器带有数据管理云平台和APP,可通过电脑网页或手机查看数据。由测量杆,手机,识别APP软件组成。2、手机对准测量杆上的刻度,拍照自动识别刻度数据实时传输到手机。3、测量杆带有水平仪,使测量过程更规范,更准确。4、完善识别内容:自动识别结果中显示识别的高度数据,手动录入作物数据(如:品种、生育期等)完善作物信息。首页界面上可显示所有测量结果。5、可根据检测日期,种类,测量人,区组名称进行测量结果查询。6、数据分析管理:分析结果可查看,可将图片和数据excel导出。7、数据上传:自动在wifi/4G网络链接正常下上传至云平台,实现管理、查看、分析数据。平台数据可下载、分析、打印。3.小麦夹角茎粗测量仪3.1仪器简介小麦夹角茎粗测量仪可快速测定和分析小麦夹角、茎粗等作物性状参数,方便开展科学研究和育种分析。也适用于水稻、油菜等作物品种。3.2小麦亩穗数测量仪 麦穗形态测量仪技术参数1、支撑材料:不锈钢2、支架材料:黑色塑料3、背景材质:白色树脂4、测量范围:作物夹角:0——180°;作物茎粗:0——6cm5、测量误差:作物夹角±1°;作物茎粗:±1mm3.3功能特点1、超轻便手持式设计,方便田间和室内测量使用;2、大屏幕彩色手触摸屏,安卓系统,1300万像素+200万像素双摄;3、测量速度快,拍照3秒即出结果,可先拍照后批量处理;4、手动修正功能强大,手动触摸屏幕进行修正,使结果更准;5、手机和作物之间可以进行自由距离设置,适合多种植物的测量,适应性强;6、压板和转轴柄一体式连接,方便固定作物茎部,减少风吹草动对作物角度拍摄的影响;7、环境适应性广,无需做遮光处理,可以在离体或活体情况下测量作物夹角和茎粗数据;8、自动调节白平衡,不受天气、光照等环境条件的影响;9、数据查看多样化:拍照分析后即可查看测量结果,可在历史记录中查看数据报表,可导成Excel格式,并可分享至微信、QQ和钉钉;10、自动生成数据列表:测量时间,图片,作物夹角、作物茎粗等信息,节约数据整理时间;11、作物夹角适用的作物:水稻、小麦、油菜;作物茎粗对各种作物的茎粗都能测量。4.麦穗形态测量仪4.1仪器简介麦穗形态测量仪也叫麦穗形态测定仪,基于机器视觉技术,利用手机摄像头获取麦穗的图像,利用图像处理算法现场分析,获取麦穗形态参数,AI智能识别利用透视变化矫正图像、光照补偿算法、距离变化等技术,自动计算出小麦的穗长。麦穗形态测量仪一次测定,可同时获得麦穗穗长、小穗数等多项指标,主要应用于应用于小麦育种、小麦遗传研究等领域,4.2技术参数外形尺寸: 460*320*10mmEVA背板尺寸: 420*295*2mm底板材料: 黑色双面细磨砂亚克力测量范围: 5——20cm测量误差: ±2%图像分辨率: 1600*7204.3功能特点1、超轻便手持式设计: 方便室内和室外测量使用 2、大屏幕彩色手触摸屏: 安卓系统,1300万像素 3、多穗同时测量: 麦形态测量仪一次可以测量10个麦穗长度:4、测量速度快: 拍照3秒即出结果,可先拍照后批量处理 5、比例尺自动标定: 对倾斜拍照的图片可自动进行图片矫正,提高测量的精确度。6、适应性广: 无需做遮光处理,可以在离体或活体情况下测量麦穗形态。7、自动调节白平衡: 不受天气、光照等环境条件的影响 8、存储容量大: 50G存储数据,可看历史记录,相对生长速率等。9、数据查看多样化: 拍照分析后即可滑动查看结果,也可在历史记录中查看数据报表,可导成Excel格式10、自动生成数据列表: 测量时间,图片,GPS位置信息,穗长等信息,节约数据整理时间。小麦亩穗数测量仪 麦穗形态测量仪配置清单1、十字标定钢管 *42、伸缩杆 *13、地钉+转接器 *14、麦穗背板装置 *15、小麦夹角手持装置 *16、小麦株高标定杆 *17、小麦株高伸缩架 *18、可调光背光板 *19、超大彩色屏手机(已安装软件) *110、航空箱 *111、使用说明书 *1
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  • 随着科技发展,二次元测量仪对各种工件和零件的测量精度越来越高,对测量仪器的要求也是越来越苛刻,二次元影像测量仪是对传统的测量技术的飞跃性发展,是将传统的光学投影和计算机完美结合的产物。接下来和妙机专业人士一起探讨二次元测量仪的技术奥秘。  二次元影像测量仪是当今工业检测与计量技术领域中的一个新名词,它代表的是数字化科技溶入工业检测与计量,进行空间几何运算的先进测量技术。  二次元影像测量仪能快速读取光学尺的位移数值,通过建立在空间几何基础上的软件模块运算,瞬间得出所要的结果;并在屏幕上产生图形,供操作员进行图影对照,从而能够直观地分辨测量结果可能存在的偏差。这一切,在今天强大的计算机运算能力面前都是实时完成的,操作者本人无法察觉。妙机二次元测量仪生产商认为这种能够利用CCD数位图像,通过电脑软件运算,满足复杂测量需要的精密仪器才是真正意义上的二次元影像测量仪。  希望影像测量仪厂家小编说的能够帮得上广大朋友们,有需要购买的可以随时联系妙机科技客服人员,我们妙机精密科技有限公司提供定制化服务,我们的自动化测量仪器能大大提高工作效率,节省人力成本,保质期长达18个月,远超同行的12个月。
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  • 加野麦克斯风速测量仪器6006Kanomax 6006热式风速仪使用简单,单一按钮即可进行全部的操作Kanomax 6006热式风速仪探头具有互换性,并保持很高的精度Kanomax 6006热式风速仪测试范围广,风速0.01~20m/s,温度—20~70℃内部设有温度补偿回路,在可测试的温度范围内能保持很高的精度(10~40℃)在所有的领域内都能灵活运用,是一种非常难得的热式风速仪加野麦克斯风速测量仪器6006技术参数热式风速仪规格型 号Kanomax 6006热式风速仪测 定 对 象常温、常压下的空气流测定范围风速0.01~20.0m/s风温—20~70℃测定精度风速读数的5% m/s风温±1°C显示分辨率风速0.1~9.99m/s:0.01m/s(*小)10.0~20.0m/s:0.1m/s风温0.1°C应答性风速1秒以下(风速在1m/s时90%应答)风温30秒以下(风速在1m/s时90%应答)显 示 功 能(1)电池剩余量(4段)(2)FAST/SLOW(1秒或5秒移动平均)(3)DIP开关更改显示单位(m/s、°C→FPM、°F)(4)显示暂停外 型 尺 寸探头:约φ6.1(φ10.6)×205mm(电缆:φ3.3×约1.5m)本体:约60(宽)×120(长)×34(厚)mm探头温度适用范围0~50°C本体温度适用范围5~40°C保存温度范围-10~50°C重 量约180g(含电池)Kanomax 6006附属品使用说明书Kanomax 6006选择件延长棒(伸缩式:166~909mm)、备用探头 加野麦克斯风速测量仪器6006加野麦克斯风速测量仪器6006
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脉源功量仪相关的资讯

  • 依工测试测量仪器(中国)有限公司苏州工厂奠基仪式顺利举行
    2月9日新春伊始,作为全球领先的材料测试测量领域解决方案的供应商,依工测试测量仪器(中国)有限公司在苏州工业园区岸芷街举行了其苏州工厂建设工程项目的开工奠基仪式。伴随着中国制造工业的蓬勃发展,越来越多的企业开始关注材料的品质和性能,并期望使用最精密的材料试验设备进行测试。此次苏州工厂的顺利破土动工,标志着美国ITW(依工)集团为未来在中国的持续发展完成了一项重要战略部署,以使更多的中国用户获得我们更便捷和灵活的产品和技术服务。 依工测试测量仪器(中国)有限公司苏州工厂建设项目奠基仪式 美国ITW(Illinois Tool Works)集团成立于1912年,是一家拥有百年历史的多元化的制造企业。在全球57个国家拥有800多个业务部门,通过提供专业知识,创新思维和增值产品来满足不同行业客户关键需求。依工测试测量仪器(中国)有限公司,是美国ITW集团在华设立的独资企业,旗下包括世界公认的英斯特朗和标乐等测试测量行业领军品牌,主要从事与用于材料、结构测试,测量的设备及相关软件的研发以及生产,面向市场包括生物医学,汽车,电子,航空航天和检测等各种领域。 奠基仪式上,来自苏州工业园区管委会副主任孙燕燕女士和依工集团测试测量部门全球总裁Yahya Gharagozlou先生分别致辞,他们都表示了对未来依工测试测量仪器(中国)有限公司的在中国发展的信心和期望。其他出席本次活动的嘉宾还包括依工集团英斯特朗事业部北美业务部副总裁Darcy Hunter先生,依工集团英斯特朗中国业务部副总裁夏乐迈先生和依工集团英斯特朗中国区总经理王志勇先生及各工业园区管委会,施工单位,监理单位,项目管理公司的领导和工作人员代表等,近百人共同见证这一历史时刻。 依工集团测试测量部门全球总裁Yahya Gharagozlou先生在奠基仪式上致辞 苏州工业园区管委会副主任孙燕燕女士在奠基仪式上致辞 此次依工测试测量仪器(中国)有限公司苏州工厂的建设和发展也得到了苏州市政府和园区管委会等部门的支持和关注,该项目预计于2015年底竣工,2016年正式投产。苏州新工厂落成后,依工测试测量必将进一步加强本地市场的服务能力,满足更多不同行业用户对全球尖端测试应用的需求。
  • 欧盟公布含汞测量仪器和含苯汞物品相关限令
    2012年9月19日,欧盟官方公报公布了欧委会第847/2012号条例,对REACH法规附录XVII中现有的18a(即汞限令)条进行修订。现行的汞限令禁止体温表和向公众销售的其它测量仪器使用汞。欧洲化学品管理局(ECHA)建议在工业和职业(包括卫生保健)用测量仪器中也限制使用汞。另外,新条例禁止此类含汞仪器于2014年4月10日后在欧盟上市。   新条例限制的测量仪器包括工业和职业用含汞气压计、湿度计、纳米计、血压计。受限含汞和使用汞的测量仪器列表可参见该条例。   最新的条例指出目前已经有无汞测量仪器,其与含汞测量仪器相比,健康和环境风险要低得多。因此,该条例希望限制含汞测量仪器。然而也有一些例外,比如用于某些环境下的血压计就被免于限制。同时,对于那些尚无可行替代产品的含汞产品,其使用也是不受限制的,例如孔隙率计、伏安测量法中使用的汞电极以及电容电压测量中使用的汞探头。   另外,2012年9月19日,《官方公报》公布了第848/2012号委员会条例,进一步修订REACH法规的附录XVII。与附录XVII限令相关的是,挪威已经准备了5种苯汞化合物的文献资料,强调有必要在欧盟范围内采取行动,避免和应对生产、使用、销售含此类物质混合物和物品所造成的健康和环境风险。   苯汞化合物专门用作聚氨酯系统的催化剂,用于涂料、黏合剂、密封剂、合成橡胶等领域。汞催化剂融入聚合物结构,并残留于最终物品,而其中的汞或苯汞化合物并非有目的释放。   欧委会认为,环境中上述物质对人类的暴露主要途径为食物。甲基水银作为苯汞化合物的降解产品,其在水产食物链中的生物放大作用明显,会对大量摄入鱼类的人群和野生生物造成较大影响。   REACH法规附录XVII现在对下列物质进行了限制:苯汞醋酸盐 苯汞丙酸盐、苯汞2-乙基已酸、苯汞辛酸、苯汞新癸酸。   “如果某物品或任何部件中含有一种或多种此类物质,且在物品或部件中的汞浓度等于或大于0.01%(以重量计),则自2017年10月10日起不得上市。”   第848/2012号条例并未给出任何豁免条款。因此,含有上述苯汞化合物的所有物品均将禁止在欧盟上市。该法规自其公布之日起20天后实施,并自2017年10月10日应用。
  • 精密测量仪器研发商迈测科技新三板挂牌上市
    挖贝网讯 3月10日消息,全国中小企业股份转让系统公告显示,迈测科技的挂牌申请获得批准,并于今日公开转让,证券代码为:835937。  公告显示,迈测科技2013年度、2014年度、2015年1-6月营业收入分别为1049.60万元、2112.59万元、1961.82万元 净利润分别为-23.41万元、-276.62万元、205.17万元。  迈测科技(深圳市迈测科技股份有限公司)成立于2009年7月8日,主营业务为激光测量技术的精密测量仪器和设备的研发、设计、制造及销售。  迈测科技目前的仪器设备产品分为手持式激光测距仪、测距望远镜、工业激光传感器,产品主要应用于工程与专业测绘、建筑与工程测量、装饰装修及工业测量领域。同时为客户提供定制化远程监测、智能自动化控制等测量解决方案。其仪器设备产品包括了手持式激光测距仪、测距望远镜、工业激光传感器以及为客户提供个性化定制测量设备等。迈测科技报告期内的主要产品为手持式激光测距仪。  挖贝新三板研究院资料显示,迈测科技本次挂牌上市的主办券商为申万宏源证券,法律顾问为北京市大成(深圳)律师事务所,财务审计为信永中和会计师事务所(特殊普通合伙)。

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  • 目前市面的二次元测量仪、三次元测量仪、测量投影仪与五次元一键式测量仪的区别?

    随着中国市场的科技技术日新月异,制造业对产品的精度要求越来越高,人为测量已无法满足客户要求,大家都开始借助仪器测量。目前市面上对于尺寸的测量主要是有二次元及三次元等。那么这些测量仪的区别在哪儿呢?目前市面的二次元测量仪、三次元测量仪、测量投影仪与五次元一键式测量仪的区别??? 现在市场的影像尺寸测量仪,有三次元测量仪、二次元测量仪和测量投影仪。而二次元测量仪跟测量投影仪难以区别,都是光学检测仪器,在结构和原 理上二次元测量仪通常是连接PC电脑上同时连同软件一起进行操作,精度在0.002MM以内,测量投影仪内部是自带微型电脑的,因此不需要再连接电脑,但在精度上却没有二次元测量仪那么精准,影像测量仪精度一般只能达0.01MM以内。三次元测量仪是在二次元测量的基础上加一个超声测量或红外测量探头,用于测量被测物体的厚度以及盲孔深度等,这些往往二次元测量仪无法测量,但三次元测量仪也有一定的缺陷:Ø 测高探头采用接触法测量,无法测量部分表面不 能接触的物体;Ø 探头工作时,需频繁移动座标,检测速度慢;Ø 因探头有一定大小,因些无法测量过小内径的盲孔;Ø 探头因采用接触法测量,而接触面有一 定宽度,当检测凹凸不平表面时,测量值会有较大误差,同时一般测量范围都较小。 光纤同轴位移传感器以非接触方式测量高度和厚度,解决了过去三角测距方式中无法克服的误差问题,因此开发出可以同轴共焦非接触式一键测量的3D轮廓测量设备成为亟待解决的热点问题。 针对现有技术的上述不足,提供五次元测量设备及其测量计算方法,具有可以非接触检测、更高分辨率、检测速率更快、一键式测量、更高精度等优点。五次元测量仪通过采用大理石做为检测平台和基座,可获得更高的稳定性;内置软件的自动分析,可一键式测量,只需按一个启动键,既可完成尺寸测量,使用方便;采有非接触式光谱共焦测量具有快速、高精度、可测微小孔、非接触等优点,可测量Z轴高度,解决测高探头接触对部分产品造成损伤的问题;大市场光学系统可一次拍取整个工件图像,可使检测精度更高,速度更快。并且可以概据客户需要,进行自动化扩展,配合机械手自动上下料,完全可做到无人化,并可进行 SPC 过程统计。为客户提供高精度检测的同时,概据 SPC 统计数据,实时对生产数据调整, 提高产品质量,节约成本。

  • 一键式非接触光谱共焦测量仪

    一键式非接触光谱共焦测量仪

    如今三C行业,或者是精密仪器行业,都要求极高精度,我们人为是无法测量0.01以上的精度的,这个时候,问题就来了,我们要如何确保精度质量呢?针对这些需求,市面上推出了很多的测量仪器,有2次元,三次元这这些测量仪已经可以满足很多企业的需求了,但是有些企业的产品,他不仅仅是需要平面尺寸,他甚至还需要测量平整度。这次候就应运而生了一种五次远,这些仪器之间都有些什么区别呢?我们该如何选择适合自己的测量仪器呢?现在就将他们的区别来理一下,也给大家参考一下:现在市场的影像尺寸测量仪,有三次元测量仪、二次元测量仪和测量投影仪。而二次元测量仪跟测量投影仪难以区别,都是光学检测仪器,在结构和原 理上二次元测量仪通常是连接PC电脑上同时连同软件一起进行操作,精度在0.002MM以内,测量投影仪内部是自带微型电脑的,因此不需要再连接电脑,但在精度上却没有二次元测量仪那么精准,影像测量仪精度一般只能达0.01MM以内。三次元测量仪是在二次元测量的基础上加一个超声测量或红外测量探头,用于测量被测物体的厚度以及盲孔深度等,这些往往二次元测量仪无法测量,但三次元测量仪也有一定的缺陷:Ø 测高探头采用接触法测量,无法测量部分表面不 能接触的物体;Ø 探头工作时,需频繁移动座标,检测速度慢;Ø 因探头有一定大小,因些无法测量过小内径的盲孔;Ø 探头因采用接触法测量,而接触面有一 定宽度,当检测凹凸不平表面时,测量值会有较大误差,同时一般测量范围都较小。 光纤同轴位移传感器以非接触方式测量高度和厚度,解决了过去三角测距方式中无法克服的误差问题,因此开发出可以同轴共焦非接触式一键测量的3D轮廓测量设备成为亟待解决的热点问题。 针对现有技术的上述不足,提供五次元测量设备及其测量计算方法,具有可以非接触检测、更高分辨率、检测速率更快、一键式测量、更高精度等优点。五次元测量仪通过采用大理石做为检测平台和基座,可获得更高的稳定性;内置软件的自动分析,可一键式测量,只需按一个启动键,既可完成尺寸测量,使用方便;采有非接触式光谱共焦测量具有快速、高精度、可测微小孔、非接触等优点,可测量Z轴高度,解决测高探头接触对部分产品造成损伤的问题;大市场光学系统可一次拍取整个工件图像,可使检测精度更高,速度更快。并且可以概据客户需要,进行自动化扩展,配合机械手自动上下料,完全可做到无人化,并可进行 SPC 过程统计。为客户提供高精度检测的同时,概据 SPC 统计数据,实时对生产数据调整, 提高产品质量,节约成本。想要了解更多,可联系:15012834563,小周[img=,690,920]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/12/201712291417_2603_3353984_3.jpg!w690x920.jpg[/img]

  • 广东计量仪器机构:热工计量仪器标准你了解吗?

    随着社会经济的迅速发展,计量检定行业得到了高度的重视,人们对于一些热工仪器仪表的使用变得越来越广泛化,然而由于热工仪器仪表计量检定过程具有复杂化特点,再加上大多数检定人员仍然采用以往传统的检定方法,进而给热工仪器仪表计量检定的准确性带来不利影响,下面华品小编为各位介绍今日主题热工计量仪器标准。[align=center][img]https://5b0988e595225.cdn.sohucs.com/images/20190806/3769366d79da4321b08608834f3413cb.png[/img][/align]所谓的热工计量自动检定即为热工计量仪自动化鉴定出来的参数,其参数能够直观的显示机电组是否处于正常运行状态,同时也能够保障企业机组运行调整工作可以及时开展。热工计量自动化检定技术的内容有电源、数字电压表,在实际的应用中电源存在可调性,而且也可以不在电源中设置电压,进而以保证输出电流的稳定性。通常情况下,在对热工仪器仪表进行计量检定工作时,相关检定人员一定要充分考虑到检定过程的复杂性和以往传统检定方法存在的缺陷,否则将无法保证计量检定工作的顺利展开,进而使热工仪器仪表计量检定准确性不高。以往传统检定方法相比较来说,热工仪器仪表计量的自动化检定技术完全突破了传统检定方法存在的局限性,制定了一系列的自动检定和维护系统,进而真正实现了计量检定和管理工作的有效统一,对热工仪器仪表计量检定的准确性提供了有效保障。华品计量在自动化检定中,EXCEL的热工仪器仪表自动化检定成效较好,因而得到了较为广泛的应用,其不但能最大限度降低计量检定存在的误差,还能针对整体数据信息展开系统的分析研究,进而做到科学合理化的判断,促进热工仪器仪表计量检定工作的高效进行

脉源功量仪相关的耗材

  • FEMTOEASY超短脉冲测量仪MS-FROG
    FEMTOEASY超短脉冲测量仪MS-FROG MS-FROG 代表 Multi-Shot Frequency Resolved Optical Gating。FEMTOEASY超短脉冲测量仪MS-FROG基于二次谐波发生,使其可靠且紧凑。它是专门为具有亚 nJ 脉冲能量的激光源开发的。它允许测量从 4 fs 到 80 ps 的脉冲。高扫描速度允许进行实时操作测量和优化。MS-FROG-SP 在精细扫描模式下的分辨率为 50 阿秒,因此可以测量超短脉冲和长脉冲。我们的 MS-FROG 集成了专门为 FROG 测量开发的内置光谱仪。它们保证了脉冲表征应用的高光谱分辨率和最佳性能。此外,它们完全可以根据您的激光规格进行配置。最重要的是我们的专有算法允许立即从每个记录的光谱中提取信息,从而实时重建您的脉冲!与所有Femto Easy产品一样,MS-FROG 易于安装和使用。产品特性用户友好界面:无需校准,也无需调整用途广泛:适用于不同波长范围脉冲测量脉冲宽度测量范围:4 fs到80 ps)高灵敏度(亚nJ脉冲)用户友好且功能强大的软件(STAR)精细扫描模式下的分辨率为 50as提供光纤连接头选项(FC / APC,FC / PC)FEMTOEASY超短脉冲测量仪MS-FROG参数规格:MS-FROG型号MS-FROGMS-FROG-SPMS-FROG-LPMS-FROG-SLP脉冲宽度范围最小值 110 fs-50 fs4 fs20 fs4 fs最大值40 ps40 ps80 ps80 ps精细扫描模式范围不适用4至100 fs不适用4-100 fs可达光谱范围(nm)500-2000 2光谱窗口Δλ(nm)从200到700 2最小时间分辨率1fs标准:1 fs2 fs标准:2 fs精细扫描:0.05 fs精细扫描:0.05 fs扫描速度 65 ps /秒标准: 65 ps / s 130 ps /s标准: 130 ps / s精细扫描: 400 fs / s精细扫描:400 fs / s输入脉冲重复率100 Hz至GHz 3最小输入脉冲能量41 MHz50 pJ10 nJ50 pJ10 nJ100 MHz5 pJ1 nJ5 pJ1nJ输入偏振线性垂直侦测CMOS 12位-3 Mpx-72 dBPC接口USB 3.1光束高度(mm)69-148尺寸(毫米)326 x 194x 1291 根据所需的激光规格进行优化2 有效光谱带宽可根据客户要求定义在可需要的光谱范围内。可以提供额外的光谱仪来处理不同的光谱窗口。3 低重复率可供选择4 这些值给出了一个数量级。准确的灵敏度取决于许多参数(脉冲宽度、光束轮廓、波长...) 附加 MISS 光谱仪默认的 MS-FROG 配置包括一台成像光谱仪 MISS。为了扩展设备的波长范围,可以订购额外的即插即用 MISS 光谱仪并在系统内更换光纤输入连接器 可选项描述额外晶体默认的 MS-FROG 配置包括一个晶体。为了扩展设备的波长范围,可以在系统内切换额外的即插即用晶体 带光纤连接器的即插即用准直模块。可以安装在 MS-FROG 上,轻松将输入从自由空间切换到光纤。无需对齐。低能量内部模块可在激光功率过弱时提高 MS-FROG 的灵敏度低重复率激光重复率低时使用的同步模式。100 Hz 及以下强制,500 Hz 以下推荐相位匹配默认 MS-FROG 配置适用于给定的中心波长。相位匹配允许调谐 SHG 晶体以测量具有最佳 SNR 的不同中心波长 少周期扩展 将最小脉冲持续时间扩展到几个周期脉冲范围。MS-FROG 低至 10 fs,MS-FROG-SP 和 MS-FROG-SLP 低至 4 fs 软件界面FEMTOEASY超短脉冲测量仪MS-FROG软件特性:实时提取单次脉冲特性:时间分布强度和相位、基本频谱和相位、啁啾、三阶色散… … 多种算法(包括 Ptychographic 迭代引擎)相结合,以提高重建速度和质量增强的背景和热像素处理,以获得最佳动态和信噪比客户端/服务器接口,允许通过网络远程控制所有数据都可以导出为最常见的格式
  • 多功能翘曲度测量仪配件
    多功能翘曲度测量仪配件是孚光精仪公司进口的全球领先的翘曲度检测仪器,一套翘曲度测试仪器可以测量:热沉,晶圆(wafer),太阳能电池和硅片翘曲度,应力以及表面形貌。多功能翘曲度测量仪配件是特别为半导体晶圆(wafer)和太阳能电池(solar cell)的翘曲度(warp) 和弯曲度(bow)以及表面形貌(topography)的测量而设计,可以测量晶圆翘曲度(wafer warpage) 和晶圆表面形貌, 晶圆应力,硅片张力,太阳能电池量子效率,既适合科研单位使用,也适合工业客户大产品、高效率的晶圆翘曲度和表面形貌的检测的需要。 我们还根据不同晶圆类型提供如下两种硅片翘曲度测量仪: 1. 非反射型:适合晶圆表面覆盖晶圆保护膜/胶带(wafer tape),图案化晶圆 /图样化晶圆(patterned wafer),粗糙的晶圆的应用; 2. 高反射型: 适合晶圆表面光滑 / 镜反射的应用。 多功能翘曲度测量仪配件特点: × 适合不同尺寸的晶圆检测,从0.5’‘到12' ' 的直径; * 标准检测能力为: 每小时可检测2000个晶圆或更多太阳能电池; × 同时测量多个晶圆或太阳能电池; × 测量镀膜后的晶圆或solar cell * 分析太阳能电池或晶圆应力和张力; * 对晶圆表面进行图像分析; * 测量图案化晶圆或非图案化的晶圆; * 具有太阳能电池的量子效率测量选项供选择 多功能翘曲度测量仪配件参数: × 翘曲度测量范围:1-20微米; * 重复精度: 百分之0.5 (1 sigma) * 给出结果:曲率半径,晶圆弯曲高度,翘曲度,测量日期和时间; * RMS粗糙度mapping: 0.5-20A (可选项); * 光源:根据用户的应用而配备不同光源; * 探测器:高分辨率探测器阵列并配备亚像素软件;
  • 硅片厚度测量仪配件
    硅片TTV厚度测试仪配件是采用红外干涉技术的测量仪,能够精确给出衬底厚度和厚度变化 (TTV),也能实时给出超薄晶圆的厚度(掩膜过程中的晶圆),非常适合晶圆的研磨、蚀刻、沉淀等应用。 硅片厚度测量仪配件采用的这种红外干涉技术具有独特优势,诸 多材料例如,Si, GaAs, InP, SiC, 玻璃,石英以及其他聚合物在红外光束下都是透明的,非常容易测量,标准的测量空间分辨率可达50微米,更小的测量点也可以做到。硅片厚度测量仪配件采用非接触式测量方法,对晶圆的厚度和表面形貌进行测量,可广泛用于:MEMS, 晶圆,电子器件,膜厚,激光打标雕刻等工序或器件的测量,专业为掩膜,划线的晶圆,粘到蓝宝石或玻璃衬底上的晶圆等各种晶圆的厚度测量而设计,同时,硅片厚度测试仪还适合50-300mm 直径的晶圆的表面形貌测量。硅片厚度测试仪配件具有探针系统配件,使用该探针系统后,硅片TTV厚度测试仪可以高精度地测量图案化晶圆,带保护膜的晶圆, 键合晶圆和带凸点晶圆(植球晶圆),wafers with patterns, wafer tapes,wafer bump or bonded wafers 。 硅片TTV厚度测试仪配件直接而精确地测量晶圆衬底厚度和厚度变化TTV,同时该硅片厚度测量仪能够测量晶圆薄膜厚度,硅膜厚度(membrane thickness) 和凸点厚度(wafer pump height).,沟槽深度 (trench depth)。
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