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11月24日上午，在2022年感恩节之际，仪器信息网将携手日立科学仪器（北京）有限公司特别举办“追光逐电 与日俱新”光电行业主题网络会议。此次会议将聚焦光电材料器件研究进展与相关表征技术，同时，作为感恩节直播活动，直播间将设置多轮千元红包雨、精美礼品抽奖回馈参与直播的广大用户。【直播免费报名倒计时，赶快点击报名】一、活动背景光电产业是将光子学、电子学、信息学技术相融合的高新技术产业，是围绕光信号产生、传输、处理和接收等环节，开展各类零件、组件、设备制造及应用市场商业行为活动的总和。光电行业虽是一个新兴产业，但已呈现出生机勃勃的发展态势，产值指标一路扶摇直上。据数据，2019年光电行业总体规模已超过1.5万亿元，预计全球光电市场仍会持续以两位数的速度增长。正是这种快速增长的产业发展速度，吸引了众人的眼球，带动了世界各国光电相关产业的发展。光电子材料、器件是光电子技术的关键和核心部件，是现代光电技术与微电子技术的前沿研究领域，对应材料、器件的表征测试技术对于光电技术发展至关重要。为推动光电表征测试技术及光电产业的发展，仪器信息网携手日立科学仪器（北京）有限公司，11月24日特别举办“追光逐电 与日俱新”光电行业主题网络会议，邀请光电材料、器件研究专家及检测技术专家，以线上报告分享形式，共同探讨光电产业检测技术的最新进展。二、活动时间11月24日 09:30 –12:00三、活动报名点击会议官网报名，或扫码以下二维码报名https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/hitachi2022/ 四、活动日程时间 报告题目演讲嘉宾09:30会议开场及红包雨主持人09:32薄膜光电器件中的界面能带结构陈琪(中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 研究员)10:00日立电镜在光电行业的应用（三维形貌观察和失效分析）周海鑫 (日立科学仪器（北京）有限公司 电镜市场部 副部长)10:28抽奖及红包雨：小米充电宝主持人10:30面向未来显示的量子点发光材料与器件宋继中(郑州大学 教授)11:00日立光谱在光电材料研发测试中的应用王锡树(日立科学仪器（北京）有限公司 光谱应用工程师)11:28抽奖及红包雨：新秀丽双肩包主持人五、活动福利直播间千元惊喜红包雨（需要在微信内进入直播）；优质问答奖，日立甄选高定礼盒；二等奖，新秀丽双肩包；三等奖，小米充电宝六、活动嘉宾宋继中 郑州大学 教授【嘉宾简介】本科毕业于郑州大学，曾在显示面板公司-友达光电从事OLED研发，目前为郑州大学教授。近年来一直从事发光显示材料及器件教学及科学研究。在发光显示领域，首次实现了铯铅卤量子点的电致发光，被Science、Nature Nanotechnology等评价为“首次（first）发展”、“发起了（initiated）”、“开启了（opened）”该LED体系。研究成果在Nature Photonics、Advanced Materials等期刊上共发表SCI论文80余篇，被SCI他引12000余次，获国家发明专利授权20项。支持国家优秀青年基金、江苏省杰出青年基金等项目。2015、2017年连续指导第十四届（一等奖）、第十五届（特等奖）“挑战杯”全国大学生课外学术科技作品竞赛，获第十五届“挑战杯”全国大学生课外学术科技作品竞赛优秀指导教师奖。【分享题目】面向未来显示的量子点发光材料与器件【分享摘要】全无机铯铅卤（CsPbX3）量子点发光二极管（QLEDs）具有窄而可调谐的发射光谱，显示出高纯度和真实的色彩，被认为是未来柔性和高清显示有力的候选者。报告的内容包括： 1. 率先构筑了该体系量子点发光器件，被评论为“发展（developed）”、“发起（initiated）”了该方向； 2. 针对应用化受限于电-光转换效率低的问题，提出了该体系量子点表面态及缺陷态的调控思路，发展了“混合溶剂纯化”、“杂化钝化”、“界面钝化”、“异质相”等策略，与国际同行交替刷新了器件的最高效率； 3. 针对应用化受限于难以规模化生产的问题，发展了“三配体协同”的方法，实现了高效量子点的规模化合成。陈琪 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 研究员【嘉宾简介】陈琪，研究员，博士生导师，创新实验室副主任，获评国家优秀青年科学基金，江苏科技创新U35攀峰提名奖，苏州杰出青年岗位能手等。担任Chinese Chemical Letters青年编委，TCL集团技术顾问等。2014年获中国科学技术大学博士学位，2014-2017年在中科院苏州纳米所和美国华盛顿大学从事博士后研究；2017-2020年任中科院苏州纳米所副研究员，2021年晋升为研究员。研究领域为新能源、新型显示器件中的材料与界面。迄今在Nature Commun.，J. Am. Chem. Soc.，Adv. Mater.，Energy Environ. Sci.，Nano Lett.等期刊发表论文50余篇。作为项目负责人承担科技部国家重点研发计划课题，国家自然科学基金，龙头企业合作项目等十余项。【分享题目】薄膜光电器件中的界面能带结构【分享摘要】薄膜光电器件，包括太阳能电池，光电探测器，发光二极管和激光器等，是由电极层，界面层和活性层等多层薄膜堆叠组成的光-电或者电-光转换器件，包含丰富的层间甚至层内异质结，其中的关键科学问题是界面能带结构与器件性能的构效关系。薄膜光电器件的界面能带结构非常复杂，不仅随空间位置改变，而且在工况下动态演变，难以根据界面材料组成由理论模型准确推测。 本人致力于发展横截面扫描探针显微术，突破薄膜光电器件垂直封闭结构的限制，解决包埋界面能带结构的工况表征难题。通过界面能带结构与器件性能之间构效关系的准确理解，解析薄膜光电器件未知工作机理，从而为界面设计提供判据，突破器件性能瓶颈。周海鑫 日立科学仪器（北京）有限公司电镜市场部副部长【嘉宾简介】周海鑫博士毕业于北京化工大学，主修高分子材料和化学专业，曾在德国马克斯普朗克高分子研究所电镜中心工作，主要负责电镜的测试和相关研究工作，对扫描电镜和透射电镜的原理、操作及应用非常熟悉。周博士目前主要负责日立表面科学相关产品的技术支持、应用开发和产品推广，具有将近10年的电镜相关领域工作经验。【分享题目】日立电镜在光电行业的应用（三维形貌观察和失效分析）【分享摘要】电子显微镜作为重要的微观表征设备，已经广泛的应用于光电行业。本报告将重点介绍日立各类电镜及其相关产品的特点以及其在光电相关行业的应用案例，包括各类光电材料的形貌观察和成分分析，光电器件的三维形貌观察和失效分析，光电薄膜的粗糙度测量及界面分析等。王锡树日立科学仪器（北京）有限公司光谱应用工程师【嘉宾简介】王锡树，日立科学仪器（北京）有限公司 分析应用部 光谱产品工程师，硕士毕业于上海师范大学，目前主要负责日立紫外-可见-近红外分光光度计、荧光分光光度计等光谱产品的应用工作，拥有多年光谱分析测试技术和应用解决方案等方面的工作经验。【分享题目】日立光谱在光电材料研发测试中的应用【分享摘要】介绍日立荧光光度计和紫外可见近红外分光光度计对光电材料的表征

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半导体行业是一个资金密集型、技术密集型的行业，其生产工艺复杂，设备精密度要求高，整体流程涉及到成百上千道工序。随着半导体制造工艺越来越高，其制造难度及品质管控也在呈指数级增长。因此，半导体行业呈现出来材料纯度要求高、制造精度要求高，制作过程复杂等特点。而这也对材料、器件的分析检测技术都提出了极高的要求。基于此，仪器信息网2023年10月18-20举办第四届“半导体材料与器件分析检测技术与应用”主题网络研讨会，围绕光电材料与器件、第三代半导体材料与器件、传感器与MEMS、半导体产业配套原材料等热点材料、器件和材料分析、可靠性测试、失效分析、缺陷检测和量测等热点分析检测技术，为国内广大半导体材料与器件研究、应用及检测的相关工作者提供一个突破时间地域限制的免费学习平台，让大家足不出户便能聆听到相关专家的精彩报告。为答谢广大用户，本次大会每个专场都设有一轮抽奖送专业图书活动。一、主办单位：仪器信息网&电子工业出版社二、会议时间：2023年10月18-20日三、会议日程1.专场安排第四届“半导体材料器件分析检测技术与应用”主题网络研讨会时间专场名称10月18日全天半导体材料分析技术新进展10月19日可靠性测试和失效分析技术可靠性测试和失效分析技术（赛宝实验室专场）10月20日上午缺陷检测与量测技术2.详细日程（含拟邀请）时间报告题目演讲嘉宾专场1：半导体材料分析技术新进展（10月18日）专场主持人：汪正（中国科学院上海硅酸盐研究所 研究员）9:30等离子体质谱在半导体用高纯材料的分析研究汪正（中国科学院上海硅酸盐研究所 研究员）10:00有机半导体材料的质谱分析技术王昊阳（中国科学院上海有机化学研究所 高级工程师）10:30牛津仪器显微分析技术在半导体中的应用进展马岚（牛津仪器科技（上海）有限公司 应用工程师）11:00透射电子显微镜在氮化物半导体结构解析中的应用王涛（北京大学 高级工程师）11:30集成电路材料国产化面临的性能检测需求桂娟（上海集成电路材料研究院 工程师）午休14:00离子色谱在高纯材料分析中的应用李青（中国科学院上海硅酸盐研究所 助理研究员）14:30拉曼光谱在半导体晶圆质量检测中的应用刘争晖（中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 教授级高级工程师）15:00半导体—离子色谱检测解决方案王一臣（青岛盛瀚色谱技术有限公司 产品经理）15:30宽禁带半导体色心的能量束直写制备及光谱表征徐宗伟（天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室 教授）16:00专业图书介绍及抽奖送书主持人：王天跃（电子工业出版社电子信息分社 编辑）专场2：可靠性测试和失效分析技术（10月19日上午）9:30碳化硅器件的新型电力系统应用与可靠性研究田鸿昌（中国电气装备集团科学技术研究院有限公司 电力电子器件专项负责人）10:00集成电路激光试验测试技术研究马英起（中国科学院国家空间科学中心 正高级工程师）10:30失效半导体器件检测技术及案例分享江海燕（北京软件产品检测检验中心 集成电路测评实验室项目经理）11:00半导体元器件材料分析、失效分析技术与案例解析贾铁锁（甬江实验室微谱（浙江）技术服务有限公司 失效分析工程师）11:30专业图书介绍及抽奖送书主持人：王天跃（电子工业出版社电子信息分社 编辑）专场3：可靠性测试和失效分析技术（赛宝实验室专场）（10月19日下午）专场主持人：吕宏峰（工业和信息化部电子第五研究所 高级工程师）14:00高端集成电路5A分析评价技术师谦（工业和信息化部电子第五研究所 高级工程师）14:30光学显微分析技术在半导体失效分析中的应用刘丽媛（工业和信息化部电子第五研究所 高级工程师）15:00集成电路振动、冲击试验评价邓传锦（工业和信息化部电子第五研究所 高级工程师）15:30光发射显微镜原理及在失效分析中的应用蔡金宝（工业和信息化部电子第五研究所 部门主任/高级工程师）16:00半导体集成电路热环境可靠性试验方法与标准陈锴彬（工业和信息化部电子第五研究所 工程师）16:30电子制造中的可靠性工程邹雅冰（工业和信息化部电子第五研究所 高级工程师/工艺总师）17:00集成电路静电放电失效分析与评价何胜宗（工业和信息化部电子第五研究所 高级工程师）17:30专业图书介绍及抽奖送书主持人：王天跃（电子工业出版社电子信息分社 编辑）专场4：缺陷检测与量测技术（10月20日上午）9:30半导体芯片量检测技术及装备杨树明（西安交通大学 教授）10:00国家纳米计量体系与半导体产业应用施玉书（中国计量科学研究院纳米计量研究室主任 主任/副研究员）10:30面向集成电路微纳检测设备产业的自溯源纳米长度计量体系邓晓（同济大学 副教授）11:00专业图书介绍及抽奖送书主持人：王天跃（电子工业出版社电子信息分社 编辑）四、会议形式仪器信息网3i讲堂直播平台五、参会方式1. 本次会议免费参会，参会报名请点击：https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/icsmd2023/或扫描二维码报名2. 温馨提示1) 报名后，直播前一天助教会统一审核，审核通过后，会发送参会链接给报名手机号。填写不完整或填写内容敷衍将不予审核。2) 通过审核后，会议当天您将收到短信提醒。点击短信链接，输入报名手机号，即可参会。六、会议联系1. 会议内容康编辑：15733280108，kangpc@instrument.com.cn2. 会议赞助周经理，19801307421，zhouhh@instrument.com.cn刘经理，15718850776，liuyw@instrument.com.cn仪器信息网2023年10月17日