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安捷伦高效液相色谱新技术助力显示材料行业产品研发以及质量控制分析,提高传统HPLC分析效率,丰富检测手段,更全面、准确、快速的表征样品信息,为最终产出优秀性能产品提供靠“谱”保障。
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随着技术的发展,紫外可见近红外分光光度计在各种新材料领域有着越来越多的应用。新能源材料领域,安捷伦Cary 7000 全能型分光光度计,能自动采集谱图轻松应对您所有的固体采样需求,短短几分钟到几小时内完成光学组件或薄膜的表。Cary 7000 UMS 为光学元件、薄膜/镀膜、太阳能和玻璃的研究、开发和 QA/QC 提供了一站式解决方案。
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高分子材料是以高分子化合物为基体,再配有其他添加剂(助剂)所构成的材料,包括塑料、橡胶、纤维、薄膜、胶粘剂和涂料等许多种类。GCMS可以作为高分子材料的助剂、单体、结构以及温度特性的研究的手段。本次报告将介绍一些相关应用,以供大家参考。
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半导体制造和封装过程中都需要使用大量的湿电子化学品,例如氢氟酸,磷酸,双氧水,混酸、显影液等。这些湿电子化学品的主成分分析至关重要。利用滴定法进行成分分析是行业内普遍的方法。瑞士万通公司作为电位滴定仪的供应商,具有大量的半导体行业客户,积累了半导体行业样品分析的特点和经验。我们将利用本次讲座的机会讲解电位滴定仪如何分析这些湿电子化学品,如何使用全自动样品处理器提高您实验室的工作效率。欢迎您报名参会~~
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摘要:FE-1050系列分析型高分辨力场发射扫描电镜(FE-SEM)作为扫描电镜的中坚力量,以其分辨能力高、分析表征手段多、附件选配灵活性强、样品操作空间大等特点,成为材料科学、生命科学、地质勘探、工业失效分析等大型实验室必备设备之一。纳克微束作为钢研纳克旗下控股子公司,经过多年技术积累,于2022年底正式发布首款高分辨力场发射扫描电镜产品。此次发布的FE-1050系列产品是目前国内分辨能力最高、分析能力最强、平台扩展性最好的旗舰型扫描电镜产品,在具备优秀的低压分辨力(1.5nm@1kV)的同时,它还是国内第一款可以同时兼容聚焦离子束(FIB)、多通道能谱仪(EDS)、电子背散射衍射仪(EBSD)、阴极荧光(CL)探测器等标准第三方电镜附件的综合显微分析平台。此外,它还可以兼容原位拉伸加热台、冷冻传输系统、原子力显微镜、电子束曝光图形发生器等功能扩展附件。平台化、模块化的系统设计构架,使其兼容各类客户定制改造可行性,为后期模组升级和创新性实验方法提供了更加灵活的操作空间。可广泛应用于材料表征、细胞生物学研究、半导体制程工艺分析、纳米器件制造、工业失效分析、地质石油勘探、医疗超微病理等各个应用场景。
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今日云景好,水绿秋山明。值此钢研纳克70周年暨上市3周年之际,我们邀请行业领导、专家、同仁们相聚这里,共同见证钢研纳克高端仪器发展的崭新阶段。纳百川,聚科技精英;克难关,登分析前沿。在七十年的发展历程中,纳克人在国产仪器的发展和前进的道路上披荆斩棘,致力于高端科学仪器的国产化进程。钢研纳克面向国民经济主战场,植根于金属材料产业先后研发出了八大类,近 70 余种型号的仪器装备。在高端国产设备上,钢研纳克秉承着务实进取,创新突破的态度,不断打破国外技术垄断,实现多个国产和世界第一。以史为鉴,开创未来。如今钢研纳克在国产高端装备的自主研发和制造上更上一层楼,11月1日隆重推出高分辨场发射扫描电镜、电感耦合等离子体质谱仪、波长色散X射线荧光光谱仪等高端装备仪器。钢研纳克,致力于成为材料产业质量基础设施建设引领者。将以国家战略性需求为导向,集聚创新资源要素,大力推进现有国家级创新平台优化,不断提升我国高端仪器研发能力、制造能力,积极承建新型国家级创新平台,构建起体现国家意志、服务国家需求、代表国家水平的原创技术协同创新平台。点击前往会议页面欢迎访问 钢研纳克检测技术股份有限公司_首页 (instrument.com.cn)
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纳百川,聚科技精英;克难关,登分析前沿。在七十年的发展历程中,纳克人在国产仪器的发展和前进的道路上披荆斩棘,致力于高端科学仪器的国产化进程。钢研纳克面向国民经济主战场,植根于金属材料产业先后研发出了八大类,近 70 余种型号的仪器装备。在高端国产设备上,钢研纳克秉承着务实进取,创新突破的态度,不断打破国外技术垄断,实现多个国产和世界第一。以史为鉴,开创未来。如今钢研纳克在国产高端装备的自主研发和制造上更上一层楼,11月1日隆重推出高分辨场发射扫描电镜、电感耦合等离子体质谱仪、波长色散X射线荧光光谱仪等高端装备仪器。点击前面会议页面:“质镜新征程”钢研纳克70周年暨上市3周年系列活动—高端仪器装备产品发布会欢迎访问: 钢研纳克检测技术股份有限公司_首页 (instrument.com.cn)
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X射线荧光光谱通常被认为是一种成分分析技术,广泛应用于各类工业过程控制。追本溯源,其分析原理来自于X射线与物质的相互作用,因此该技术的应用也被延伸至各位薄层样品的表征,获取涂层和镀层中的层厚和薄层成分信息。在薄层样品的分析上,XRF具有无损分析、测量速度快、层间界面要求较低、样品尺寸灵活和适用多层分析的特点,被广泛用于半导体、金属、电子等领域。本环节内容将分享一些常见的XRF薄层应用。
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薄膜材料应用非常广泛,例如在半导体、光学器件、汽车、光伏、新能源等领域。其成分和结构等关键信息决定着薄膜材料的物性,所以无论在科研领域对薄膜材料的研究开发,还是生产企业对制程工艺的过程控制,都少不了检测仪器的精准、稳定的数据指引。这也是我们设立“微观丈量,’膜’力无限”这个活动主题背后的含义。那么,马尔文帕纳科的X射线分析技术可以在薄膜测量中发挥哪些重要的作用呢?我们首先有请马尔文帕纳科先进材料行业销售经理程伟先生为此次活动致开幕词,并对马尔文帕纳科公司及其薄膜测量技术做综述性简介
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从1954年飞利浦第一台用于薄膜分析的X射线衍射仪诞生以来,马尔文帕纳科X射线分析技术应用于半导体薄膜材料测量已有非常悠久的历史。无论是针对单晶外延、多晶薄膜、非晶薄膜都配有对应的专业分析解决方案,利用对称衍射、非对称衍射、反射率、摇摆曲线、双周扫描、倒易空间Mapping和正空间Mapping等测量方式,表征薄膜材料的厚度和超晶格周期、应力和弛豫;失配和成分;曲率半径;衬底材料取向;组分分析等等。新推出的衍射超净间系统套件,搭配自动加载装置,在1分钟内评估面内缺陷,最大程度的降低生产成本,提高检测效率。此外,马尔文帕纳科全自动XRF晶圆分析仪,可以快速分析晶片或器件多层膜的成分及厚度,具有非常稳健的工作方式且符合超净间环境要求,在晶圆厂圆晶质量在线控制的环节倍受认可。