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紫外光电子能谱(UPS) 技术是现代材料表面分析的一种重要手段。该技术基于光电效应,采用紫外光激发样品表面纳米尺度内的原子,得到光电子信息。作为XPS的重要补充,UPS可以得到高能量分辨的材料价带谱信息,这部分价带谱信息反映的是一些分子乃至材料整体的指纹信息。因此,利用UPS(紫外光电子能谱)可研究固体样品的价带能级结构及功函数等信息,结合REELS 功能可进一步对半导体的带隙、导带信息等进行探测。本次《UPS功能应用和Avantage数据处理》网络讲堂主要涉及以下几个方面:
1、 UPS原理和功能
a) UPS简介
b) UPS技术介绍
c) Au材料的UPS标准谱
II: Avantage软件中UPS采谱设置与数据处理
III: UPS和价带谱分析的应用
a) OLED材料的价带能级结构研究
b) 有机太阳能(OSC)电池功函数检测
c) XPS价带谱分析结合MAGCIS深度剖析共混聚合物
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第一讲:钻石的鉴定与分析
时间:2015/11/26 15:24
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主讲:麦智强
中山大学岩矿学硕士,国家注册珠...
钻石的鉴定与分析
1、钻石的性质与鉴定特征;
2、钻石的评价——4C分级;
3、钻石的仿制品;
4、钻石的克隆兄弟——合成钻石。
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消费者在选购珠宝饰品时,由于专业知识及设备所限,难以判断商品真假或者成色好坏,只能依据诸如商家信誉、商品口碑或者有关鉴定机构的鉴定证书等间接信息来进行判断和识别,这令消费者无所适从。近几年来,国家有关珠宝玉石检测机构多次对国内市场珠宝产品进行检测。检测结果显示,总体不错,但以假充真、以次充好、标识混乱和假冒证书、乱开证书的现象依然突出。
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X射线光电子能谱(XPS) 技术是一种重要的表面分析手段。该技术基于光电效应,采用X射线激发被测样品表面纳米尺度内的原子发射光电子,通过系统探测到所发射光电子的动能等信息,进而实现样品表面的元素种类及化合态的定性和定量的分析。XPS的分析范围广泛,可对从Li到U范围内的元素进行研究,因而不仅被广泛地应用于化学分析、材料开发应用研究、物理理论探讨等学术领域,还被广泛地应用于机械加工、印刷电路技术、镀膜材料工艺控制、纳米功能材料开发等工业领域。
本次《XPS实验技术和图谱分析基础》网络讲堂主要涉及一下几个方面:
XPS实验技术基础简介
XPS样品制备和影响图谱质量的相关因素探讨
Thermo Avantage软件中图谱的一般处理功能介绍
复杂XPS图谱介绍
XPS图谱谱峰拟合方法介绍
单峰拟合
双峰拟合
非线性最小二乘拟合
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最近,由于倾倒铬、铅、镉、硒等有毒重金属元素及其化合物的工业废弃物,有毒金属土壤污染已成为一个棘手的问题,由此衍生的人类饮食问题危害更加严重,而且重金属有毒物质是累积性污染物,在环境及人体中无法消耗,而且因其致癌性,此问题越来越受到重视。
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JEOL最新X射线荧光元素分析仪,精致外观,操作简单,测试准确,的确为同档次产品中的佼佼者。
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在刚刚结束的Pittcon2015 国际分析仪器展览会上,帕纳科隆重发布一款全新的X射线荧光光谱仪——Zetium。随着四种不同的X射线技术整合在一个多功能XRF平台上,最新的Zetium多功能X射线荧光光谱仪将改变科学家对XRF分析的看法。Zetium光谱仪测量平台将波长色散(WD)和能量色散(ED)整合在一台仪器中,同时Zetium光谱仪还拥有一个可用于快速元素分布Mapping的聚焦微小区域分析工具,以及一个水泥行业专用的创新THETA游离氧化钙X射线衍射分析通道。
这种独一无二的技术整合不仅满足XRF用户的传统需求,还提供了一系列新的可能。可同时进行波长色散和能量色散XRF分析,一次操作即可获取同一个样品中的所有数据,相比分别进行波长色散和能量色散XRF分析,可节省一半的实验时间。在一些特殊行业,例如水泥生产是对同一系列中游离氧化钙进行测量和评估时,Zetium比传统X射线荧光光谱仪的优势更为明显。
为了方便用户选用Zetium,帕纳科特意打造出五款行业专用版——水泥、聚合物、石油、金属和矿产,以及一款旗舰版。每款都有四个增强性能包可选:提高速度和通量,性能增强,提高稳定性和缩短运行时间,灵活性改进。
为了与硬件方面的改进相匹配,Zetium光谱仪配置了一个强大的软件系统和用户界面。“SumXcore”多核X射线分析技术是Zetium光谱仪整合软硬件系统的核心,为用户提供先进的性能和最高的灵活性。易于使用,Virtual AnalystTM系统,即“分析精灵”专家帮助系统将综合智能评估每个实验最佳的应用设置,即使非专业用户也可以通过直观的、以任务为导向的用户界面在系统的指导下完成分析任务。
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X射线光电子能谱(XPS) 技术是一种重要的表面分析手段。该技术基于光电效应,采用X射线激发被测样品表面纳米尺度内的原子发射光电子,通过系统探测到所发射光电子的动能等信息,进而实现样品表面的元素种类及化合态的定性和定量的分析。在本次报告中,我们将重点介绍XPS和角分辨XPS技术,通过这些技术我们可以精准高效的表征超薄薄膜和半导体器件材料。分享的案例包括SiO2类栅极氧化层材料、氮氧化物高介电超薄薄膜的角分辨无损深度检测,以及有机半导体器件材料的团簇无损深度剖析等。
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用于XPS深度剖析的MAGCIS复合型离子源
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赛默飞色谱与光谱技术为RoHS指令检测提供全面解决