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多晶薄膜材料的晶型、残余应力和织构影响着薄膜的物理和力学性能,对这些参数进行测量和分析可以为薄膜沉积工艺的调整和优化提供依据。X射线衍射法是分析残余应力和织构的常用方法,在衍射仪中构建适合薄膜分析的光路,在常规的晶型分析外,还可以对薄膜材料进行无损的残余应力和织构分析。
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传统上衍射仪分析薄膜材料,都是在大型落地式的XRD上实现的,但马尔文帕纳科在2021年推出了新一代的Aeris台式XRD,可以通过增加掠入射功能附件,实现在占地面积更小的台式衍射仪上进行薄膜的物相和掠入射残余应力分析。那么下面我们就通过一个Aeris台式衍射仪的演示短片了解一下我们是如何实现这个功能的。实际上Aeris不仅仅增加了大家视频中看到的功能,它还可以配置透射模块,对轻吸收样品,例如药片进行透射分析。这两项功能的实现,得益于马尔文帕纳科专利的PreFIX预校准光路系统和先进的测角仪技术,真正使Aeris成为“一机多能”的多功能型台式X射线衍射仪。
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在极紫外到X 射线波段,材料的折射率都接近于1,传统晶体和薄膜器件的效率急剧下降,纳米多层膜是该波段至关重要的元件,其设计、制备和表征具有特殊性。报告围绕衍射仪在纳米多层薄膜表征中的应用开展探讨,采用掠入射X射线反射、X射线衍射、X射线面内散射等测试方法,表征周期、非周期、梯度多层膜,以及膜层厚度、界面宽度、薄膜均匀性、结晶特性、粗糙度等信息。纳米多层薄膜器件的设计、制备和表征的痛点与难点,以及他利用X射线衍射的多种方法解决这一系列问题的探索和成果。
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手持式XRF具有便携、快速、无损的检测优势,可以实现半导体行业的上、中、下游产业链的材料PMI、镀层、RoHS等检测要求,帮助现场工程师快速做出决策,提高生产效率,降低生产成本,提高产品合格率。奥林巴斯新一代Vanta手持式XRF光谱仪,搭载Axon专利数字处理技术,成为行业内的首选XRF设备。
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电子探针(EPMA)是进行固体材料显微形貌、结构和成分表征的重要仪器,已广泛应用于材料科学、高技术产业、地质、冶金、商检贸易乃至刑事法庭等领域。电子探针定量分析是一种比对分析,其标准化工作对分析质量至关重要。本报告简要介绍电子探针分析技术的基本原理、主要功能,介绍国内外在电子探针标准样品研制、标准方法制定等方面开展的工作和发展方向。
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X射线光电子能谱仪是表面分析领域中一种崭新的分析技术,通过测量固体样品表面约10nm左右被激发出光电子的动能,进而对固体样品表面的元素成分进行定性、定量及价态分析。报告中主要介绍XPS原理、技术特点以及XPS在生物材料及医疗器械等领域的应用,旨在让科研工作者对XPS表面分析技术在生物医用领域的应用有所了解。
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报告主要内容包括:
1.EPMA基本原理及功能
2.岛津EPMA产品技术特点及优势
3.EPMA在金属材料、新能源材料、地质地矿研究中的应用
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通过对电子探针技术特点、扩张中的国内电子探针市场分析,提出电子探针实际操作层面的难点和应对举措,理解低含量元素的定性分析是电子探针的精华所在,理解微区ZAF定量分析的物理过程(基体效应)、数学过程的深入学习有助于ZAF实验条件的正确和准确设置,从而更好的发挥电子探针在微区成分表征方面的独有特点。
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赛默飞X射线产品固废危废应用解决方案
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X射线荧光分析独有的无损测试方式,以及无标分析方法,应用于固废分析,具有快速方便的独特优势。结合校准样品的进行方法的校正后可以提高准确度,展开定量分析。