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仪器信息网 3i讲堂 X射线光电子能谱（XPS）定量分析
0 0 投诉 分享 82 2023-12-25
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X射线光电子能谱（XPS）定量分析

所属会议:第五届材料表征与分析检测技术网络会议icmc2023
X射线光电子能谱（XPS）作为最常用的表面分析技术，表面探测灵敏度高，可以检测表面化学态物种的表面平均含量、表面偏析；分析薄膜组成结构；评估表面覆盖、表面分散、表面损伤、表面吸附污染等。本报告在简要介绍XPS表面定量分析原理基础上，通过实际工作中的一些实例，探讨XPS定量结果解释，帮助大家正确理解XPS定量分析结果，更好地利用XPS技术分析表面。

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吴正龙
教授级高工

北京师范大学

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