尊敬的会员请选择进入的厂商展位

开通仪会通服务，请联系客服人员

刘老师

13717560883（微信同号）

企业微信二维码

首页
直播会议
报告视频
品牌专区
我的会议
上一月

2020年 9月

下一月

日

一

二

三

四

五

六

我要办会

仪器信息网 3i讲堂动态二次离子质谱仪DSIMS在半导体材料检测中的应用

0

2

投诉

42 2023-11-23

下载APP,观看精彩内容

动态二次离子质谱仪DSIMS在半导体材料检测中的应用

所属会议:第二届表面分析技术与应用网络会议

动态二次离子质谱仪D-SIMS利用高能量离子束对样品表面进行轰击，对样品的主体组成和痕量元素的深度分布和体相浓度进行分析，以满足对半导体材料，光伏材料，LED器件，冶金材料，绝缘体，多层薄膜材料及环境研究的元素分析需求。本次报告主要介绍二次离子质谱仪的结构和测试原理，以及根据其高分辨率、高精度等特点以及特有的深度分布测试能力，并介绍其对常见的半导体材料，如硅，碳化硅，氮化镓等材料进行测试的相关案例。

参与评论

登录后参与评论

全部评论（0）

高钟伟

技术工程师

甬江实验室微谱（浙江）技术服务有限公司

本周精选会议更多

直播中第九届色谱网络会议（iCC2024） 2024-08-30 09:00
报名中智慧检测——智能实验室信息管理系统与应用网络研讨会 2024-08-30 10:00

您好，请如实填写如下信息后观看视频

*邮箱
*姓名
*单位性质
*所属行业
*单位

确定取消

您未报名本次会议，请联系主办方报名

本次会议由中国水产科学研究院主办，若无法参会，请直接联系中国水产科学研究院

联系人：杨臻
联系电话：010-6867124 158 0116 9739

确定

联系我们

会议赞助：13717560883（微信同号）刘老师

扫描二维码联系我

关注微服务参会不迷路

下载app 回看更便捷