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仪器信息网 3i讲堂掠入射X射线衍射原理、测试方法及其应用

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81 2023-07-21

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掠入射X射线衍射原理、测试方法及其应用

所属会议:X射线衍射技术及应用进展网络研讨会

掠入射X射线衍射是一种用于薄膜材料结晶结构表征的高级测试方法，具有可以消除或减小基底信号的影响、增强衍射信号、得到薄膜的三维结晶结构信息等优点，目前被广泛应用于功能薄膜材料的研究中。本报告将介绍掠入射X射线衍射的原理和测试方法以及数据分析方法，并结合其在有机高分子薄膜材料中的典型性结果展示该方法的应用。

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张吉东

中国科学院长春应用化学研究所

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