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仪器信息网 3i讲堂 Dectris 混合像素直接电子探测技术在4D-STEM研究中的应用

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59 2023-07-12

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Dectris 混合像素直接电子探测技术在4D-STEM研究中的应用

所属会议:第九届电子显微学网络会议（iCEM 2023）

近年来，扫描透射(STEM)技术得到了快速的发展，在材料科学研究中收到了越来越多的重视。同时4D-STEM技术由于可以进行二维(2D)实空间会聚电子束扫描的同时，还会在对应探针的每个位置进行相应的二维(2D)动量空间的数据进行采集，这些数据共同组成了四维(4D)的数据结构。Dectris混合像素直接电子探测技术具有超快的信号读出速度，广泛的探测动态范围以及能量范围，广泛用于透射电子衍射、4D-STEM、应力分析、电场磁场分析、iDPC分析、叠层成像分析等。

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