目前为人们所接受的固体样品的直接分析质谱方法为激光溅射电感耦合等离子体质谱法（LA-ICPMS）、辉光放电质谱法(GDMS)和二次离子质谱法（SIMS）。它们的谱图中存在着大量干扰峰，对待测元素造成严重干扰；由于等离子体质谱的温度不够高, 不同元素的相对灵敏因子存在显著差异，必需使用大量标准样品进行校准。而匹配的标准样品难以获得是这些方法中存在的另一个主要困难，一方面购置固体标准样品十分昂贵，另一方面寻找与样品相同基体的标样十分困难，而寻找相同基体，并含有所测的元素，其含量又适中的标样更是难上加难。虽然有着前面所提到的固体表面直接分析质谱仪器的存在，但目前绝大部分的固体样品仍然是使用强酸溶解消化，再以液体的方式进行分析，无法进行固体表面原位的定性定量分析，耗费大量的人力、物力与财力。这种状况表明，目前国内外仍然缺乏对固体表面的直接定性定量的分析方法。发展有效的固体样品的直接分析方法已经势在必行。与LA-ICPMS、GDMS和SIMS技术相比，高功率激光密度激光溅射/电离质谱（LA/LI-MS）具有相当大的优势。在高功率激光密度作用时，样品表面被辐射的微区被加热，并产生爆炸式的原子化效果。所产生的等离子体可将几乎所有原子电离。在固体表面直接分析方面优势巨大。理想情况下，只需使用某一元素的峰高（峰面积）除以谱图中所有谱线峰高（峰面积）的总和，即可得到该元素在样品中的组份含量，所以无需使用标准样品。本报告将报道该技术的最新研究进展。