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仪器信息网 3i讲堂 More Clearer, More Convenient—— Development of Atomic Force Microscope Technology<br>更清晰、更便捷——原子力显微镜技术的发展
1 0 投诉 分享 339 2021-07-26
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More Clearer, More Convenient—— Development of Atomic Force Microscope Technology<br>更清晰、更便捷——原子力显微镜技术的发展

SPM自上世纪八十年代被发明以来,极大丰富了人们对材料表面各种属性的观察分析能力。但随着研究的深入,纳米尺度下材料的新结构、新性能被广泛发现,无论是科研还是检测,都迫切地需要原子力显微镜技术的更新。一方面,基本性能尤其是图像分辨率需要进一步提高;另一方面,提高操作性以保证数据的稳定性和重复性。岛津跟踪科研和应用点额需要,不断推出新产品和新技术,服务于客户的实际需要。

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