ICP-MS 问世三十多年来，以其低检测限受到广泛好评。实际上，它在多个领域中都被视为用于多元素（超）痕量分析的杰出技术。然而，质谱干扰仍然困扰着某些特定的应用。 以 ICP-MS实际测定高纯稀土等地质样品为例，稀土基体所形成的MH+、MO+、MO2+、MOH+、MOH2+和MO2H+等多原子干扰离子会对被测元素产生严重的质谱干扰，影响分析结果的准确性。一些元素要经C272微型柱分离基体后，才能使用 ICP-MS测试。在安捷伦 ICP-MS/MS 中，八极杆碰撞反应池前方有一个额外的四极杆，能够进行双重质量选择，因此可以轻松消除干扰，不经基体分离，即可直接测定5N以上高纯稀土；也可以轻松测定生化应用中的 S 和 P、环境和食品应用中的 As 和 Se，或纳米颗粒应用中的 Si等等。 得益于 MS/MS 功能提供的许多分析优势，一些 ICP-MS/MS 用户在碰撞反应池中使用 NH3 或 CH3F 等反应性强的气体，监测生成的更高质荷比的反应产物离子。尽管看似很复杂，但 ICP-MS/MS 的软件提供了产物离子扫描、母离子扫描和差异化质谱扫描等工具，有助于用户更清晰地了解反应池中进行的反应，从而能够使用具有最出色（往往是前所未有）检测限的产物离子轻松完成鉴定。这种灵活度和易用性使各种类型的基体干扰问题得到有效解决。