X射线晶体学是了解原子世界的利器，迄今为止也没有任何技术可以比拟。随着科学技术的革新和推动，X射线单晶衍射仪也在不断的完善。Bruker全新一代的D8 VENTURE单晶衍射仪配备了高强度的微焦斑X射线光源，以及采用四代光源XFEL探测器技术的PHOTON II CAPD探测器，在数据收集效率和数据质量上都有很大的提高，帮助晶体学者解决了很多以往的衍射仪无法解决的晶体学疑难问题。在新一代的衍射仪上，我们可以用数分钟的时间完成以往的衍射仪几个小时的工作，也可以对小到几个微米的晶体进行数据收集，甚至获得同步辐射的数据质量和结构。 获得好的晶体结构的前提是获得高质量的衍射数据，否则可能会在结构解析和精修上浪费大量的精力。一套高质量的数据不仅需要高的完整度，还需要保证足够的多重度，信噪比，分辨率等。新的光源和探测器技术，让新一代的单晶衍射仪的数据收集方式发生了很多改变。如何利用好新一代的D8 VENTURE 衍射仪采集更好数据质量的数据，是很多新手遇到的最大问题之一。在数据收集过程中，我们会遇到很多不同具有挑战的晶体，从而会遇到很多不同的问题。不同的实验目标，我们对数据的采集方式也会有很大不同。只有了解最新的衍射仪，以及数据收集各个方面的参数，我们才能获得更好的数据质量。 本次讲座将为您讲解第二代D8 VENTURE单晶衍射仪新的技术特点，以及数据收集的关键参数和指标的概念，期待与您相会。