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仪器信息网 3i讲堂 EM RES102制备TEM离子减薄样品应用技巧及应用实例

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11606 2017-07-20

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EM RES102制备TEM离子减薄样品应用技巧及应用实例

所属会议:EM RES102制备TEM离子减薄样品应用技巧及应用实例

离子减薄技术是一种常见的透射电镜制样技术，其原理是利用高能氩离子轰击Ø3mm样品，获得纳米级薄区供后续TEM观察使用。这一方法在金属材料以及无机非金属材料科学领域都有着非常广泛的应用。但众所周知，离子减薄也是一个技巧性很高的技术：样品的前处理、离子枪加速电压、电流、离子入射角度的选择等等，都对实验成功与否起着至关重要的作用。本次讲座，以Leica EM RES102型离子减薄仪仪器载体，展示不同样品的实验结果，并详细介绍所涉及的实验技巧，让听众得以充分了解离子减薄的应用范围，同时也能够学习到相应制样技巧。

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