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仪器信息网 3i讲堂 二次离子质谱在SiC、GaN及GaAs等材料分析测试中的应用
[报告]二次离子质谱在SiC、GaN及GaAs等材料分析测试中的应用
开始时间: 2024-10-23 15:00
主讲老师: 姜自旺 | SIMS 经理
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报告相关会议
第五届半导体材料与器件分析检测新技术网络会议
2024年10月23日 09:30 -- 10月25日 12:00
在当今科技飞速发展的时代,半导体行业已然成为全球经济增长的关键动力源之一,正以空前的速度持续创新与变革。随着 5G 通信、人工智能、物联网等新兴技术的快速崛起,对半导体材料与器件的质量和性能要求也越来越高。半导体材料作为半导体产业的基石,其特性和质量直接决定着半导体器件的性能和可靠性。同时,半导体器件的不断演进也对材料的分析检测技术提出了新的挑战。在这样的背景下,积极探索和应用半导体材料与器件分析检测新技术显得尤为重要。基于此,仪器信息网联合电子工业出版社、我要测网、北京普天德胜科技孵化器有限公司于2024年10月23-25日举办第五届“半导体材料与器件分析检测新技术”网络研讨会,围绕宽禁带半导体材料与器件,材料、器件的缺陷检测技术、失效分析和可靠性测试等热点分析检测技术,为国内广大半导体材料与器件研究、应用及检测的相关工作者提供一个突破时间地域限制的免费学习平台,让大家足不出户便能聆听到相关专家的精彩报告。
报告介绍
报告介绍:
近年来随着半导体微电子与光电子器件的发展,高灵敏度和高分辨率(大约10Å)的二次离子质谱分析(SIMS)越来越被广泛重视。Eurofins EAG在SIMS的分析表征方面积累了40多年的经验,配置了50多台SIMS设备,可为客户提供全方位的SIMS分析测试服务。本报告将介绍SIMS相关的基本知识并将分享SIMS技术在SiC、GaN及GaAs等半导体材料测试中的一些应用案例。
主讲老师:
姜自旺
姜自旺,硕士,欧陆埃文思材料科技(上海)有限公司SIMS部门经理。2013-2016年就职于上海超导科技股份有限公司,期间积累了丰富的靶材制备、薄膜生长与薄膜材料性能表征等经验。2016年4月加入EAG上海实验室后一直从事SIMS技术的应用与研究工作。熟悉SIMS理论和不同类型的SIMS设备特点,擅长SIMS样品测试、数据处理、数据分析和数据解读,在第一代半导体材料Si、Ge,第二代半导体材料GaAs以及第三代半导体材料SiC、GaN的掺杂、注入、沾污和杂质的SIMS测试表征方面有着丰富的经验。
参会说明:

一、报名贴士(敷衍填写将不予审核)

  • 1、请认真填写各项,您的手机号为您的参会凭证。

  • 2、报名后,参与直播可获取会后资料、加交流群。

二、参会方式(手机电脑均可参会)

  • 1、直播前一天,助教会统一审核。审核通过后,会发送参会链接给报名手机号。

  • 2、如无法正常参会,请拨打页面下方电话,帮您解决

三、会议资料(交流群,会后视频)

  • 1、报名并参与直播可与专家问答交流。会议群会在直播当天展示,会议ppt无法提供。

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