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仪器信息网 3i讲堂 应用单颗粒(sp)ICP-MS法对环境样品中的颗粒物进行定量检测
[报告]应用单颗粒(sp)ICP-MS法对环境样品中的颗粒物进行定量检测
开始时间: 2024-07-24 10:30
主讲老师: 董硕飞 | 工程师
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报告相关会议
第五届颗粒研究应用与检测分析网络会议
2024年07月23日 09:20 -- 07月24日 18:00
颗粒,作为微观世界的基石,无处不在且特性纷呈。颗粒学是一门融合数学、物理、化学及生物学基本原理的综合性学科,其研究内容广泛,涵盖材料、能源、医药、环境、化工、冶金等领域。随着颗粒学的研究日益深入,颗粒的检测分析技术成为该领域的关键支撑。为促进颗粒学的交流与发展,加强研发应用端与检测分析端的联系,仪器信息网与中国颗粒学会将于2024年7月23-24日联合举办第五届颗粒研究应用与检测分析网络会议。会议设置电池材料与颗粒分析表征、多孔材料与颗粒分析表征、超微及纳米颗粒分析表征、颗粒与健康专场,旨在探讨颗粒学研究应用及检测分析的前沿技术与发展趋势,分享最新研究成果,加强颗粒学同仁的互融交流,推动颗粒学的繁荣发展。
报告介绍
报告介绍:
应用单颗粒(sp)ICP-MS技术对纳米颗粒物进行定量分析的方法在近些年趋于成熟,特别是在环境研究领域被更多的研究人员接受。本报告概述(sp)ICP-MS技术对降尘、海水、底泥和土壤中的纳米颗粒物进行分析的研究方案,同时拓展该方法对单细胞中的元素进行定量分析,以及对微塑料颗粒进行分析的应用案例。
主讲老师:
董硕飞
安捷伦资深原子光谱应用开发工程师。于2012年获得英国帝国理工学院地球化学博士学位,之后分别在美国和法国做博士后研究员。主要研究金属元素的生物地球化学循环,以及其作为环境污染物的分布和传输机制。在2017年加入安捷伦全球市场开发团队后,主要从事ICP-MS新应用方法开发工作,以合作研究的形式开展颗粒物在复杂基体中的分离、检测方法研究,以及应用元素指纹图谱法和同位素示踪法进行源解析等方面的研究,并在相关领域发表论文30多篇。
参会说明:

一、报名贴士(敷衍填写将不予审核)

  • 1、请认真填写各项,您的手机号为您的参会凭证。

  • 2、报名后,参与直播可获取会后资料、加交流群。

二、参会方式(手机电脑均可参会)

  • 1、直播前一天,助教会统一审核。审核通过后,会发送参会链接给报名手机号。

  • 2、如无法正常参会,请拨打页面下方电话,帮您解决

三、会议资料(交流群,会后视频)

  • 1、报名并参与直播可与专家问答交流。会议群会在直播当天展示,会议ppt无法提供。

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