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仪器信息网 3i讲堂 TOF- SIMS飞行时间二次离子质谱仪的最新应用进展
[报告]TOF- SIMS飞行时间二次离子质谱仪的最新应用进展
开始时间: 2024-08-05 14:40
主讲老师: 郭茹 | 高级应用工程师
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报告相关会议
第十一届表面分析技术应用论坛暨表面化学分析国家标准宣贯会 网络研讨会
2024年08月05日 09:00 -- 08月06日 12:00
随着我国科技实力的显著提升,分析测试的发展也日新月异,科研及测试机构、人才队伍不断壮大,实验室环境条件大为改善,仪器装备水平迅速提高,科技产出量质齐升,重大成果举世瞩目。为积极推动表面分析科学与应用技术的快速发展,加强同行之间交流合作,展示表面分析技术最新的进展,推动分析测试质量保障体系、数据溯源体系和标准体系的建设,由国家大型科学仪器中心-北京电子能谱中心、全国微束分析标准化技术委员会表面化学分析分技术委员会、中国分析测试协会高校分析测试分会、北京理化分析测试学会表面分析专业委员会及仪器信息网联合举办的“第十一届表面分析技术应用论坛暨表面化学分析国家标准宣贯会”,将于2024年8月5-6日举行。论坛以线上会议形式,通过报告专家与参会者的深入交流,旨在共同提升理论与技术水平, 促进表面分析科学研究队伍的壮大。
报告介绍
报告介绍:
ToF-SIMS作为一种特殊的表面分析技术,可以接近无损的获取最表面的元素、同位素、分子等信息,拥有高质量分辨和横向空间分辨的同时,还能对样品进行高纵向空间分辨的深度剖析以及三维分析。本报告主要从ToF-SIMS原理和工作模式、最新一代M6的性能优势和技术特色、可选择的多功能解决方案和联用技术、材料表征和实际的应用进展等几个方面进行技术分享。
主讲老师:
郭茹
毕业于浙江大学环境工程专业。曾在日立、CMIC、日产化学担任分析工程师,从事材料领域的分析研究10年以上,熟悉化学分析、材料分析、表面分析、失效分析等多种分析应用。在TOF-SIMS系统上有7年+的工作经历,在半导体器件、高分子材料、电池材料以及其他有机无机材料方有着丰富的分析经验。现担任IONTOF北京代表处高级应用工程师,针对用户需求提供相应的解决方案。
参会说明:

一、报名贴士(敷衍填写将不予审核)

  • 1、请认真填写各项,您的手机号为您的参会凭证。

  • 2、报名后,参与直播可获取会后资料、加交流群。

二、参会方式(手机电脑均可参会)

  • 1、直播前一天,助教会统一审核。审核通过后,会发送参会链接给报名手机号。

  • 2、如无法正常参会,请拨打页面下方电话,帮您解决

三、会议资料(交流群,会后视频)

  • 1、报名并参与直播可与专家问答交流。会议群会在直播当天展示,会议ppt无法提供。

  • 2、关注【仪器信息网微服务】,微信提醒会议进度,便捷查阅近期会议及视频回放。

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