基于原位XPS-Raman的表面分析联用技术和应用-仪器信息网3i讲堂

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基于原位XPS-Raman的表面分析联用技术和应用

[报告]基于原位XPS-Raman的表面分析联用技术和应用

开始时间: 2024-08-05 10:00

主讲老师: 葛青亲 | 资深应用专家

所在公司: 赛默飞世尔科技（中国）有限公司

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报告相关会议

第十一届表面分析技术应用论坛暨表面化学分析国家标准宣贯会网络研讨会

2024年08月05日 09:00 -- 08月06日 12:00

随着我国科技实力的显著提升，分析测试的发展也日新月异，科研及测试机构、人才队伍不断壮大，实验室环境条件大为改善，仪器装备水平迅速提高，科技产出量质齐升，重大成果举世瞩目。为积极推动表面分析科学与应用技术的快速发展，加强同行之间交流合作，展示表面分析技术最新的进展，推动分析测试质量保障体系、数据溯源体系和标准体系的建设，由国家大型科学仪器中心-北京电子能谱中心、全国微束分析标准化技术委员会表面化学分析分技术委员会、中国分析测试协会高校分析测试分会、北京理化分析测试学会表面分析专业委员会及仪器信息网联合举办的“第十一届表面分析技术应用论坛暨表面化学分析国家标准宣贯会”，将于2024年8月5-6日举行。论坛以线上会议形式，通过报告专家与参会者的深入交流，旨在共同提升理论与技术水平, 促进表面分析科学研究队伍的壮大。

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报告介绍

报告介绍：

XPS作为一种高效的表面分析手段，因其元素化学态敏感性和表面敏感的特性，可以很好地揭示材料的表面和界面信息。同时，随着表面分析技术拓展性的逐渐增强，结合其他分析技术，可以提供更丰富的样品信息。本报告主要介绍和分享基于XPS-Raman联用分析技术的应用和解决方案，并可进一步联合SEM、REELS、ISS等技术在聚合物、碳材料、BN和MoS2等二维材料表征中提供全方位的多功能性应用。

主讲老师：

葛青亲

博士毕业于复旦大学物理系凝聚态物理专业。博士期间从事复杂量子材料的光电子能谱研究。使用基于同步辐射与激光的电子能谱系统，研究对象涵盖高温超导，铁基超导，Mott绝缘体等关联体系，及人工异质界面和有机功能分子材料等低维体系的电子结构研究。拥有丰富的电子能谱系统操作、搭建和光电子能谱数据处理经验，博士期间多次赴美国、日本、德国、意大利等同步辐射中心进行交流合作，在Nature Physics、Physical Review X、Science等国际一流杂志发表论文10余篇。毕业后加入赛默飞世尔科技（中国）有限公司，现担任应用经理一职，负责XPS、EDS、EM等技术的行业性应用开发。

参会说明：