JEM-ARM200F的性能特点及透射电镜原位观察-仪器信息网3i讲堂

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JEM-ARM200F的性能特点及透射电镜原位观察

[报告]JEM-ARM200F的性能特点及透射电镜原位观察

开始时间: 2024-06-25 14:30

主讲老师: 陈桐民 | 市场部技术支持专家

所在公司: 捷欧路（北京）科贸有限公司

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报告相关会议

第十届电子显微学网络会议（iCEM 2024）

2024年06月25日 09:00 -- 06月28日 18:00

2024年6月25-28日，仪器信息网(www.instrument.com.cn) 与中国电子显微镜学会（对外）（www.china-em.cn）将联合主办“第十届电子显微学网络会议(iCEM 2024)”。会议结合目前电子显微学主要仪器技术及应用热点，邀请业界知名电子显微学专家、电子显微学仪器技术专家、电子显微学应用专家等，重点邀请近来有重要工作成果进展的优秀青年学者代表线上分享精彩报告。电子显微学网络会议（iConference on Electron Microscopy,iCEM）由仪器信息网于2015年在业内首次发起，旨在利用互联网技术为广大电子显微学科研及相关工作者提供一个突破时间地域限制的免费学习平台，让大家足不出户便能聆听到电子显微学专家的精彩报告。iCEM 2024恰逢电子显微学网络会议创立十周年，会议专场将增设“十周年”主题内容，围绕过去十年我国电子显微学重要进展、未来展望等进行分享。第十届电子显微学网络会议(iCEM 2024)将设置八个分会场：1) 原位/环境电子显微学与应用；2）先进电子显微学与应用；3）扫描电镜/聚焦离子束显微镜技术与应用；4）电子能量损失谱/电镜光谱分析技术；5）低温电子显微学与应用；6）生物医学电镜技术与应用；7）电镜实验操作技术及经验分享；8）电镜开放共享平台及自主保障体系建设。诚邀业界人士线上报名参会。

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报告介绍

报告介绍：

主要讲解透射电镜JEM-ARM200F的仪器性能特点，包括冷场枪、超级EDS能谱和最新的SAAF探测器等最新技术。另外介绍透射电镜下的原位实验观察技术。

主讲老师：

陈桐民

2017-2022年在北陆先端科学技术大学院大学攻读硕士博士学位。电镜师从日本电镜专家大岛義文教授，硕士阶段开始从事透射电镜技术的应用和研究，对莫尔条纹法和几何相位分析（GPA）研究晶体结构形变，TEM原位实验的样品杆研发，二维材料结构表征等有丰富的经验。2022年博士毕业后留校任博士后。2023年加入捷欧路（北京）科贸有限公司任透射电镜应用工程师，对锂电池材料，纳米颗粒，陶瓷材料，催化剂，等材料有丰富的表征经验。现任捷欧路（北京）市场部售前技术支持，产品经理，主要从事透射电子显微镜的推广和技术支持。

参会说明：