日立半导体FA解决方案--制样、观察、量测、分析-仪器信息网3i讲堂

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日立半导体FA解决方案--制样、观察、量测、分析

[报告]日立半导体FA解决方案--制样、观察、量测、分析

开始时间: 2024-05-10 15:00

主讲老师: 周鸥 | 专门部长

所在公司: 日立科学仪器（北京）有限公司

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报告相关会议

第三届半导体工艺及封装检测新技术网络会议

2024年05月09日 09:00 -- 05月10日 18:00

半导体工艺是当今世界中不可或缺的一项技术，它影响着我们生活的各个方面。从计算机到通信，从医疗到能源，几乎所有现代科技应用都依赖于半导体器件的存在。半导体工艺的重要性源于其能够制造出微小而精密的电子器件，这些器件能够在电子级别控制电流和信息流动。这种控制能力使得我们可以创造出计算速度极快的处理器、储存大量数据的芯片、实现高速通信的设备，甚至是探索未知领域的科学工具。基于此，仪器信息网联合电子工业出版社于5月9-10日组织召开第三届“半导体工艺及封装检测新技术”主题网络研讨会。会议旨在邀请领域内专家围绕半导体产业常用的工艺与封装检测技术，从各种半导体制造工艺及封装检测技术等方面带来精彩报告，依托成熟的网络会议平台，为半导体产业从事研发、教学、生产的工作人员提供一个突破时间地域限制的免费学习、交流平台，让大家足不出户便能聆听到精彩的报告。

报告介绍

报告介绍：

在半导体质量控制与失效分析中，囊括了样品制备，观察拍摄，尺寸量测与分析多项内容，其中选择合适的样品制备方法是观察出真实的形貌与结构的前提条件，必须避免引入人为造成的伪像。同时随着工艺技术的快速发展，图像拍摄与尺寸量测的工作量与复杂程度也日益增加，自动拍摄与自动量测是未来的发展方向，以降低对人工的占用并避免人为测量所引入的误差。本次演讲将介绍离子研磨系统、聚焦离子束系统半导体样品的制样方法，以及日立扫描电镜、透射电镜的自动拍摄与自动量测方案。

主讲老师：

周鸥

周鸥先生毕业于上海交通大学，硕士阶段即从事透射电镜和半导体材料方面研究，毕业后加入上海宏力半导体，从事半导体失效分析工作，积累了多种电镜设备在半导体领域的应用经验，之后在欧美仪器公司工作多年，进一步拓展了对多个行业电镜应用的理解。现为日立科学仪器（北京）有限公司电镜销售支援部半导体行业专门部长，主要负责电镜系列产品在半导体行业的推广及技术支持工作。

参会说明：