全聚焦和相位相干成像技术及与相控阵技术的比较-仪器信息网3i讲堂

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全聚焦和相位相干成像技术及与相控阵技术的比较

[报告]全聚焦和相位相干成像技术及与相控阵技术的比较

开始时间: 2023-09-27 11:00

主讲老师: 刘沛 | 高级产品经理

所在公司: 仪景通光学科技（上海）有限公司

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报告相关会议

第二届无损检测技术进展与应用网络会议

2023年09月26日 09:00 -- 09月27日 18:00

无损检测，即在不破坏或不影响被检测对象内部组织与使用性能的前提下，利用射线、超声、电磁、红外、热成像等原理并结合仪器对物体进行缺陷、化学、物理参数检测的一种技术手段，被广泛应用于航空航天、交通运输、石油化工、特种设备、矿山机械、核电、冶金等各个工业领域。为推动我国无损检测技术发展和行业交流，促进新理论、新方法、新技术的推广与应用，仪器信息网定于2023年9月26-27日组织召开第二届无损检测技术进展与应用网络会议，邀请领域内科研、应用等专家老师围绕无损检测理论研究、技术开发、仪器研制、相关应用等方面展开研讨告，欢迎大家参会交流。主办单位：仪器信息网支持单位：吉林大学

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报告介绍

报告介绍：

目前，更高级的超声波全聚焦技术和相位相干成像技术已经逐步走入检测人员的视野，相较于与传统的超声波相控阵技术，它们在工作方式、信号特点等方面有哪些优势与不足？这将是我们今天即将讨论的话题。

主讲老师：