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仪器信息网 3i讲堂 原子力显微镜样品制备方法介绍
[报告]原子力显微镜样品制备方法介绍
开始时间: 2022-09-07 14:30
主讲老师: 潘涛 | 高级工程师
所在公司: Park原子力显微镜
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表面分析技术与应用
2022年09月07日 09:00 -- 09月09日 12:00
表面分析技术即利用电子、光子、离子、原子等与固体表面的相互作用，测量从表面散射或发射的电子、光子、离子、原子、分子的能谱、光谱、质谱、空间分布或衍射图像，得到表面成分、表面结构、表面电子态及表面物理化学过程等信息的各种技术。表面分析技术广泛应用于材料表征等领域，是目前最前沿的分析技术之一。仪器信息网将于2022年9月7-9日举办首届表面分析技术与应用主题网络研讨会旨在促进表面分析技术与应用领域的发展，利用互联网技术为国内的广大科研及相关工作者提供一个突破时间地域限制的免费学习平台，让大家足不出户便能聆听到表面分析技术专家的精彩报告，节省时间和资金成本。首届表面分析技术与应用主题网络研讨会共设置了5个主题会场 ，分别是:电子能谱（XPS/AES/UPS）技术与应用、扫描探针显微镜（AFM/STM）技术与应用、电子探针/原子探针技术与应用、二次离子质谱（SIMS）技术与应用、拉曼光谱及其他表面分析技术与应用。
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报告介绍
报告介绍：
原子力显微镜AFM是在纳米尺度上表征样品形貌的最主要的方法之一，基于样品形貌同时还可选择不同模块研究其电学，磁学，热学，电化学，力学等特性。然而样品制备的合适与否决定了样品形貌及其他特性的准确性。本讲座主要介绍不同类型的样品制备过程及注意点，包括粉末，纤维，电学模块样品等等。样品的制备是所有实验的基础，尤其是AFM样品的形貌测试，不同类型，尺寸及状态的样品的制备好坏决定测试结果是否能真实表征样品的特征结构和尺寸，排除由于样品制备不当导致的样品扭曲，虚像或图像失真。对于同一类型样品，不同制备样品的方式也比较了其优缺点及适用范围。希望讲座可以给大家在实际样品制备带来一些指引。
主讲老师：
潘涛
资深AFM应用工程师，在AFM领域工作5年，具有丰富的AFM的样品测试经验。长期从事测量力学性能的纳米尺度表征，加入帕克（Park）公司后，主要从事原子力显微镜在计量领域的相关应用。
参会说明：

一、报名贴士（敷衍填写将不予审核）

  • 1、请认真填写各项，您的手机号为您的参会凭证。

  • 2、报名后，参与直播可获取会后资料、加交流群。

二、参会方式（手机电脑均可参会）

  • 1、直播前一天，助教会统一审核。审核通过后，会发送参会链接给报名手机号。

  • 2、如无法正常参会，请拨打页面下方电话，帮您解决

三、会议资料（交流群，会后视频）

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