多角度动态光散射（MADLS）结合纳米颗粒跟踪分析（NTA）精准解析颗粒粒径分布-仪器信息网3i讲堂

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多角度动态光散射（MADLS）结合纳米颗粒跟踪分析（NTA）精准解析颗粒粒径分布

[报告]多角度动态光散射（MADLS）结合纳米颗粒跟踪分析（NTA）精准解析颗粒粒径分布

开始时间: 2022-05-18 16:30

主讲老师: 张鹏 | 高级应用专家-DLS&NTA

所在公司: 马尔文帕纳科

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报告相关会议

第三届颗粒研究应用与检测分析主题网络研讨会

2022年05月17日 09:20 -- 05月19日 12:00

为促进我国颗粒学发展，仪器信息网联合中国颗粒学会将于2022年5月17-19日组织召开第三届“颗粒研究应用与检测分析”主题网络研讨会。分设生物颗粒、欧美克专场、能源颗粒、超微及纳米颗粒、颗粒测试与表征五个分会场。邀请业内著名颗粒学学者、检测分析专家及企业代表，针对颗粒学研究应用及检测分析的前沿热点和疑难问题进行探讨，为颗粒学的研发应用端与检测分析端搭建交流平台。

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报告介绍

报告介绍：

单角度动态光散射技术已经广泛应用于纳米颗粒的粒径表征，但其粒径分辨率不高、粒径结果具有角度依赖性等因素，尤其使得粒径宽分布的纳米颗粒的表征受到了极大的挑战。多角度动态光散射的出现，较大地提升了粒径结果的分辨率，并且其粒径结果的角度依赖性问题也得到了很好的解决，从而极大的提升了粒径宽分布样品粒径表征结果的准确性。纳米颗粒跟踪分析技术因其单颗粒成像跟踪分析原理，具有更高的粒径分辨率，但由于采集颗粒数量有限，往往对于粒径宽分布的样品，其粒径结果重复性不好。本报告提出，在纳米产品的研发阶段，综合多角度动态光散射技术以及纳米颗粒跟踪分析技术，可以更加精确表征纳米产品的粒径分布，并为产品的质量控制环节打下坚实的基础。

主讲老师：