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仪器信息网 3i讲堂 基本参数法与先进数学模型在XRF元素定量分析的研究进展与应用
[报告]基本参数法与先进数学模型在XRF元素定量分析的研究进展与应用
开始时间: 2021-09-08 09:30
主讲老师: 滕飞 | 技术总监
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报告相关会议
“X射线荧光分析技术与应用新进展”网络研讨会（2021）
2021年09月08日 09:00 -- 09月08日 18:00
1948年，世界第一台波长色散X射线荧光光谱仪研制成功，经历了70多年的发展，X射线荧光光谱仪已成为大多数实验室及工业部门不可或缺的分析仪器设备，X射线荧光光谱分析技术已在各种科研和工业领域得到广泛的应用，而且正在向更深的领域发展，为经济建设和改善人类生活发挥越来越大的作用。为积极推动X射线荧光光谱的快速发展，展示X射线荧光光谱最新技术及应用，由仪器信息网与国家地质实验测试中心联合举办的"X射线荧光分析技术与应用新进展2021”网络研讨会将于9月8日举行。此次网络会议为参会者提供一个突破时间地域限制的免费学习、交流平台，让大家足不出户便能聆听到精彩报告。
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报告介绍
报告介绍：
基本参数法是XRF算法研究的一项核心技术和重要分支，基本参数法与先进的数学模型相结合，提升XRF定量精度和应用范围，减少对标准样品的依赖，为更多行业元素定量分析提供应用前景。
主讲老师：
滕飞
二十年从事光谱、色谱、质谱类仪器技术与市场工作。北京安科慧生科技有限公司创始人之一，现专注于X射线荧光光谱领域尖端技术研发与应用，拥有以“全聚焦型双曲面弯晶及其应用”、“快速基本参数法”等多项发明专利，将X射线荧光光谱最新尖端技术与行业应用相结合，提高XRF分析精度，提升客户使用价值。
参会说明：

一、报名贴士（敷衍填写将不予审核）

  • 1、请认真填写各项，您的手机号为您的参会凭证。

  • 2、报名后，参与直播可获取会后资料、加交流群。

二、参会方式（手机电脑均可参会）

  • 1、直播前一天，助教会统一审核。审核通过后，会发送参会链接给报名手机号。

  • 2、如无法正常参会，请拨打页面下方电话，帮您解决

三、会议资料（交流群，会后视频）

  • 1、报名并参与直播可与专家问答交流。会议群会在直播当天展示，会议ppt无法提供。

  • 2、关注【仪器信息网微服务】，微信提醒会议进度，便捷查阅近期会议及视频回放。

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