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XPS分析技术在空间和深度维度探测中的应用

[报告]XPS分析技术在空间和深度维度探测中的应用

开始时间: 2021-06-03 10:00

主讲老师: 鞠焕鑫 | 应用科学家

所在公司: 高德英特（北京）科技有限公司

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报告相关会议

第五届表面分析技术应用论坛暨X射线光电子能谱（XPS）国家标准宣贯会

2021年06月03日 08:30 -- 06月03日 17:30

随着我国科技实力的显著提升，分析测试的发展也日新月异，科研及测试机构、人才队伍不断壮大，实验室环境条件大为改善，仪器装备水平迅速提高，科技产出量质齐升，重大成果举世瞩目。同时，伴随着国家法制的逐步完善以及有关政策的发布，我国分析测试质量保障体系、数据溯源体系和标准体系也在逐步建设完善。而标准是经济活动和社会发展的技术支撑，是国家治理体系和治理能力现代化的基础性制度。为积极推动表面分析科学与应用技术的快速发展，加强同行之间交流合作，展示表面分析技术最新的进展，由国家大型科学仪器中心-北京电子能谱中心、北京理化分析测试学会表面分析专业委员会、中国分析测试协会高校分析测试分会、全国微束分析标准化技术委员会表面化学分析分技术委员会及仪器信息网联合举办的“第五届表面分析技术应用论坛暨X射线光电子能谱（XPS）国家标准宣贯会”网络研讨会将于6月3日举行。此次网络大会通过报告专家与参会者的深入交流，旨在共同提升理论与技术水平, 促进表面分析科学研究队伍的壮大。

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报告介绍

报告介绍：

XPS作为一种重要的表面分析技术，可以提供样品表面的组分和化学态信息，已经广泛应用于科学研究和高科技产业领域。但是新型材料/器件在科学研究和研发创新上的迅速发展，对XPS技术的微区检测和无损深度分析能力提出了迫切需求。本报告将介绍XPS分析技术在空间和深度两个探测维度的最新技术发展及其应用。

主讲老师：

鞠焕鑫

鞠焕鑫博士，PHI (China) Limited 高德英特(北京)科技有限公司应用科学家。2009年-2014年于中国科学技术大学获得学士和博士学位，毕业后在国家同步辐射实验室从事博士后研究。2012-2103年在美国华盛顿大学（西雅图）国家公派联合培养。2016年6月-2018年10月，中国科学技术大学国家同步辐射实验室副研究员，负责中国科学技术大学国家同步辐射实验室催化与表面科学实验站的运行管理，主要从事软X射线谱学方法学研究以及能源材料/器件界面电子性质研究。在学术研究方面与用户合作在Nature Photonics, Nature Chemistry, Nature Energy, J. Am. Chem. Soc., Angew. Chem. Int. Ed, Adv. Mater, Adv Funct Mater等期刊发表学术论文80余篇；主持/参与国家自然科学基金委青年科学基金、大科学装置联合基金培育项目和重点项目、国家重点研发计划等多个国家级科研项目。2018年11月，加入PHI (China) Limited 高德英特(北京)科技有限公司，担任应用专家，负责 PHI CHINA南京表面分析实验室的创建以及运行管理。

参会说明：