新型多离子源双束电镜的在三维大尺寸微观表征中的应用-仪器信息网3i讲堂

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新型多离子源双束电镜的在三维大尺寸微观表征中的应用

[报告]新型多离子源双束电镜的在三维大尺寸微观表征中的应用

开始时间: 2021-06-22 09:30

主讲老师: 韩伟 | 资深产品专家

所在公司: 赛默飞世尔科技

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报告相关会议

第七届电子显微学网络会议（iCEM 2021）

2021年06月22日 09:00 -- 06月25日 18:00

电子显微学网络会议（iConference on Electron Microscopy,iCEM）由仪器信息网于2015年在业内首次发起，旨在促进中国电子显微学领域仪器技术及前沿科学研究的发展，利用互联网技术为国内的广大电子显微学科研及相关工作者提供一个突破时间地域限制的免费学习平台，让大家足不出户便能聆听到电子显微学专家的精彩报告，节省时间和资金成本。2021年6月22-25日，由仪器信息网(www.instrument.com.cn) 主办，中国电子显微镜学会（www.china-em.cn）协办的“第七届电子显微学网络会议(iCEM 2021)”将继续线上举办。iCEM 2021将围绕当下电子显微学研究及应用热点，邀请知名电子显微学专家组织报告，分设：电子显微学技术及应用进展、原位电子显微学技术及应用、电镜实验操作技术及经验分享、先进电子显微学技术及应用、电子显微学技术在材料领域应用、电子显微学技术在生命科学领域应用6个主题专场。学无止“镜” | 历届电子显微学网络会议(iCEM 2015-2020)精彩报告

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报告介绍

报告介绍：

聚焦离子束（FIB）的广泛应用与纳米图形、透射样品制备、三维成像和分析。然而传统的Ga+离子本身也存在一些局限性，比如加工尺寸小，有些样品易于受到Ga的污染。这里将介绍新型离子束的一些应用发展比如Xe,O,Ar,N离子。这些新型离子源为应对更大的加工效率和消除对样品的污染提供全新方法。可以针对材料的种类选择最优化的离子种类。

主讲老师：

韩伟

韩伟现任赛默飞世尔科技资深电镜产品专家，2010加入FEI（后被赛默飞收购）担任和资深应用工程师。2004-2010任电镜产品经理。1991-1998年在北京工业大学材料学院攻读并取得材料学硕士学位，于2004年在德国劳斯塔尔工业大学获取物理学博士学位。曾从事金属材料、高温超导材料、催化反应及传感器、电子显微镜技术方面开发及应用研究，发表过10多篇论文，英文专著一部。

参会说明：