X射线荧光光谱仪在镀层样品分析中的应用-仪器信息网3i讲堂

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X射线荧光光谱仪在镀层样品分析中的应用

[报告]X射线荧光光谱仪在镀层样品分析中的应用

开始时间: 2020-12-15 11:00

主讲老师: 佘晓萌 | 应用工程师

所在公司: 赛默飞世尔科技（中国）有限公司

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报告相关会议

“2020年材料表征与分析检测技术”主题网络研讨会

2020年12月15日 09:00 -- 12月16日 17:00

材料表征与检测技术，是关于材料的成分、结构、微观形貌与缺陷等的分析、测试技术及其有关理论基础的科学。是材料科学与工程的重要组成部分，是材料科学研究、相关产品质量控制的重要基础。基于此，仪器信息网（instrument.com.cn）将在2020年12月15-16日举办“2020年材料表征与检测技术”主题网络研讨会，两天的会议将分设成分分析、表面与界面分析、结构形貌分析、热性能分析等四个专场，邀请材料科学领域相关检测技术研究与应用专家、知名科学仪器企业技术代表，以线上分享报告形式，与在线网友交流互动，针对材料科学相关表征及分析检测技术进行探讨。为同行搭建学习互动平台，增进学术交流。

报告介绍

报告介绍：

X射线荧光光谱作为一种元素分析方法，广泛应用于石化、地质、陶瓷等行业。常规的XRF应用场景，面对的样品一般为块状样品或者粉末样品。而对于厚度为纳米级至微米级的镀层样品，ARL系列高性能XRF光谱仪同样提供了可靠的解决方案，能够同时获得其元素组成和厚度信息，成为科学研究和工业生产的强大工具。

主讲老师：