高通量扫描电子显微镜在芯片安全分析中的应用-仪器信息网3i讲堂

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高通量扫描电子显微镜在芯片安全分析中的应用

[报告]高通量扫描电子显微镜在芯片安全分析中的应用

开始时间: 2020-06-17 10:30

主讲老师: 何伟 | 总经理兼联合创始人

所在公司: 聚束科技(北京)有限公司

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报告相关会议

第六届电子显微学网络会议（iCEM 2020）

2020年06月16日 09:00 -- 06月19日 18:00

电子显微学网络会议（iConference on Electron Microscopy,iCEM）由仪器信息网于2015年在业内首次发起，旨在利用互联网技术为国内的广大电子显微学科研及相关工作者提供一个突破时间地域限制的免费学习平台，让大家足不出户便能聆听到电子显微学专家的精彩报告。2020年6月16日-19日，仪器信息网(www.instrument.com.cn) 与中国电子显微镜学会（www.china-em.cn）联合主办“第六届电子显微学网络会议(iCEM 2020)”，在中国电子显微镜学会指导下，围绕当下电子显微学最新技术和热点应用邀请业界知名专家学者做精彩报告，分设：电子显微学技术及应用进展、原位电子显微学技术及应用、电镜实验操作技术及经验分享、先进电子显微学技术及应用、电子显微学技术在材料领域应用、电子显微学技术在生命科学领域应用6个主题专场，诚邀业界人士报名参会。

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准备中

主讲老师：

何伟

何伟，男，博士，聚束科技（北京）有限公司总经理、联合创始人，中国仪器仪表学会显微分会理事。毕业于南丹麦大学物理系，后进入丹麦Ris?国家实验室（由著名物理学家玻尔创办）从事电子背散射衍射（EBSD）分析技术研究。2009年在全球最大的半导体工业电子显微镜制造商Hermes Microvision Inc.（现为荷兰ASML旗下全资子公司）担任Hermes Microvision（Beijing）项目组长，研发出国内首款可以商用化的场发射扫描电子显微镜；2012年担任项目经理，在美国硅谷负责最新一代半导体工业级高通量扫描电镜eP4（单台售价约为700万美元）的系统开发，成功应用于Intel等半导体厂商7nm产线的开发中。2015年与两位合伙人共同创立聚束科技（北京）有限公司，致力于扫描电镜相关产品的开发与研究、新型电子显微镜系统研发及其在半导体工业、生命科学、材料分析领域的应用解决方案等。2017年带领团队成功研发出具备多倍视频级高速SEM成像能力的世界首台高通量扫描电镜Navigator-100（领航者），并成功应用于脑连接图谱的3D大数据扫描电镜成像等重大科研领域，技术能力在中国乃至在世界高速电子显微镜领域都处于领先地位。截止目前，聚束科技拥有国内外专利共35项，其中中国专利23项，海外专利12项。

参会说明：