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华中科技大学--李露颖--半导体纳米材料原子尺度结构性能关系的透射电子显微学研究

仪器信息网2019/08/23点击1499

大会简介:

李露颖,女,华中科技大学武汉光电国家研究中心副教授,博士生导师。2011年5月毕业于美国电子显微学圣地亚利桑那州立大学,获博士学位,主要从事纳米材料原子分辨率微结构及纳米尺度电学性能的结合研究,重点关注材料的特定原子结构及相应电势、电场、电荷分布对宏观物理性质的影响,取得了一系列有影响力的研究成果。到目前为止累积发表SCI 收录论文72篇,发表第一作者或通讯作者论文18篇,其中包括Advanced Materials 4 篇(其中一项工作被Nature Physics 杂志选为研究亮点,被评价为结构-性能相关研究的典范)、Nano Letters 2 篇、Nature   Communications 1 篇、Advance Science 2 篇、Small 1篇、Advanced Optical   Materials 1篇等,论文总引用1700余次,H因子为21,并多次受邀在国际国内电子显微学年会上做邀请报告,目前担任湖北省电子显微镜学会理事。

   

报告题目:

半导体纳米材料原子尺度结构性能关系的透射电子显微学研究


报告摘要:

利用电子全息技术第一次获取了纳米尺度单个Ge量子点及单根Ge/Si核壳结构纳米线电荷分布情况的直接实验证据。结合利用电子全息及相关表征技术,从实验角度获得ZnSe纳米线多型体同质异构结对电荷进行裁剪的信息及InAs纳米棒中多型体原子尺度的自发极化强度及其受界面应力影响,为相关光电器件物理性质的调控提供了坚实的结构基础。

   

报名地址:https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/bdt2019/

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