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杭州电子科技大学-苏伟涛-原位针尖增强近场光学/电学SPM联用技术在二维材料中的应用

仪器信息网2019/08/19点击1164

报告人简介:

苏伟涛,博士,教授。2007年于中国科学院上海技术物理研究所毕业并获得物理电子学博士, 2007年起在杭州电子科技大学工作。2011-2012,2014年3月到7月, 2015年9月到2016年2月,三次受邀在英国国家物理实验室从事二维材料近场光学性质研究工作。主要从事低维材料的制备以及其光电性能、超分辨针尖增强近场光学研究等。在二维材料、量子点和光电薄膜材料的制备与光谱分析方面有十多年的工作积累。作为项目负责人已经完成国家自然科学基金、中国博士后基金和浙江省自然科学基金项目多项。迄今为止Nature Communications, Nano Research, Nanoscale, Chemical Communications等国内外学术期刊上发表SCI论文七十余篇。


报告题目:

原位针尖增强近场光学/电学SPM联用技术在二维材料中的应用


报告摘要:

针尖增强近场光学/电学SPM联用技术,将针尖增强拉曼(TERS)和荧光(TEPL)、电学探针扫描技术相结合,可同时获得晶格振动、激子分布和电学特征信息。本报告中,首先介绍TERS/TEPL原理,之后介绍针尖增强近场光学/电学SPM联用的研究进展,最后介绍我们使用该技术在氧化石墨烯、二维硫属材料等二维材料的缺陷表征和缺陷电学性质等领域取得的成果。


报名地址:

https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/lmgp/

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