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清华大学分析中心 李展平
【报告人介绍】
李展平 ，博士，1979-1983年就读于广州中山大学物理系，获理学学士；1983-1986年就读于清华大学，获工学硕士；2004-2005年在日本东北大学，获博士学位。1986年6月-1991年4月留校任职于清华大学无线电电子学系，任助教、助理研究员。1991年6月-2005年12月赴日本ULVAC-PHI 株式会社表面分析室工作，历任俄歇电子能谱(AES)、X射线光电子能谱(XPS)、二次离子质谱(SIMS)分析实验室主事(专家)。2006年1月至今被人才引进至清华大学分析中心，任高级工程师。目前主要利用AES、XPS、SIMS等表面分析技术从事固体材料表面分析、结构表征等研究。已发表学术论文四十多篇。
【报告内容】
《飞行时间二次离子质谱分析技术及其应用》
飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)能以极高的灵敏度(ppm～ppb)探测到包括H在内的所有元素及其化合物信息。它被誉为是一种普适的分析技术。本报告介绍了TOF-SIMS的基本原理、技术特点，以及它在环境等各种领域的应用。
【报名地址】
https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/BMFXJS/
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