X射线荧光分析技术与应用新进展 主题网络研讨会
会议时间：2022年10月11日 14:00 -- 10月11日 17:30| 票务类型 | 参会人数量 |
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会议时间：10月11日 14:00 -- 10月11日 17:30
X射线荧光光谱仪已成为大多数实验室及工业部门不可或缺的分析仪器设备，其作为一项可用于确定各类材料成分构成的分析技术，已经成熟运用多年。一般可用于分析固体、液体和粉状物，其可识别浓度范围较宽，最低可至百万分级，既可以提供被测样品的定性信息，也可以进行定量测量。具有分析速度快，可测量多种类型的元素及其在不同类型材料中的含量浓度，技术成本较低等优势。
为积极推动X射线荧光光谱的快速发展，展示X射线荧光光谱最新技术及应用，仪器信息网将于10月11日举办"X射线荧光分析技术与应用新进展”网络研讨会。此次网络会议为参会者提供一个在线交流、学习平台，让大家足不出户便能聆听到精彩报告。
我要参会
X射线荧光光谱无标样定量分析方法及其应用
卓尚军
中国科学院上海硅酸盐研究所 研究员
材料分析利器：赛默飞EDXRF产品+UniQuant无标分析软件
居威材
赛默飞世尔科技（中国）有限公司 XRF及XRD应用专家
X射线荧光光谱仪在地质野外现场中的应用
樊兴涛
国家地质实验测试中心 研究员
EDXRF的多样化应用及新品介绍
方瑛
岛津 产品专家
X射线荧光准确快速分析及其在水泥生产质量控制中的最新应用
刘玉兵
中国国检测试控股集团股份有限公司中央研究院 总工/教授级高工
X射线荧光在钢铁（不锈钢）成分测定的应用及研究
王化明
酒钢集团不锈钢分公司 主任工程师/高级工程师
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