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会议时间：09月20日 14:00 -- 09月20日 17:00

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大会介绍

近年来随着4D-STEM技术在不同应用领域的广泛运用，目前在电子束敏感材料结构成像、叠层衍射三维原子结构成像、磁筹/电荷密度/应力乃至在非晶材料原子结构分析等领域均有相关应用。为了更好介绍4D-STEM技术以及在前沿研究中的应用，仪器信息网联合上海微纳国际贸易有限公司共同举办4D-STEM技术专题技术交流研讨会。

4D-STEM技术是指在STEM模式下利用会聚电子束对样品进行2D实空间扫描的同时，通过像素化的探测器记录下每个扫描点的2D动量空间数据。4D-STEM的成像需要使用像素化的直接电子探测器将整幅衍射花样记录下来，后续使用“虚拟”探测器以及算法对衍射数据集进行分析处理，就能够重构出需要的图像信息。采用4D-STEM技术可以进行虚拟成像、DPC成像、电子叠层衍射分析、磁筹电场分析、电荷密度分析，应变分析、晶体取向分析。本次研讨会邀请相关领域专家基于4D-STEM技术在材料科学各个领域的应用以及最新技术进展进行交流讨论。


会议日程

我要参会 09月20日 4D-STEM技术交流研讨会
  • 14:00--14:30 电子叠层衍射成像技术的突破及应用 陈震 中国科学院物理研究所 特聘研究员
  • 14:30--15:00 新兴相位成像技术在电子束敏感材料中的应用 张辉 华南理工大学 教授
  • 15:00--15:30 Fast 4D STEM with ARINA Hybrid-Pixel Detector Daniel Stroppa DECTRIS Applications Scientist
  • 15:30--16:00 功能材料原子尺度结构与电子结构研究 王毅 南京航空航天大学 分析测试中心主任/教授
  • 16:00--16:30 原子级电子断层成像进展 杨尧 西湖大学 特聘研究员
  • 16:30--17:00 Structural Insights into Organic Thin Films and Solar Cells: from Nano-morphology to Nano-crystallites Structural Evolution 吴明健 德国埃尔朗根-纽伦堡大学 微纳结构研究所 高级研究员

演讲嘉宾
(按报告时间排序)

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联系人：周老师

电话：19801307421

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Email：zhouhh@instrument.com.cn

会议赞助：15718850776（微信同号）刘老师

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