会议时间:03月27日 14:00 -- 03月27日 15:00
转盘共聚焦、SIM(结构光显微镜)、NSPARC(尼康空间阵列共聚焦)、STED(受激发射衰减显微镜)以及SEM(扫描电子显微镜)等不同成像手段在不同分辨率荧光成像方面的适用性各有所长。为使用户更加深入的了解各类成像手段,尼康将于2024年3月27日14:00召开“如何选择适合的显微镜进行荧光成像”主题网络研讨会。
本次会议通过实际案例详细阐述如何根据样品的特性和实验需求选择适合的显微镜,以获得高分辨率、高质量的荧光成像结果。
同时,探讨影像类器官等厚样品成像的几个维度,针对这些维度的挑战,提出了一系列解决方案,包括优化成像参数、采用适当的显微镜系统、使用特定的标记方法等。
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主办单位:尼康 & 仪器信息网