微观丈量 膜力无限——马尔文帕纳科 X 射线分析技术应用于薄膜测量
会议时间：2022年10月14日 14:00 -- 10月14日 17:00| 票务类型 | 参会人数量 |
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会议时间：10月14日 14:00 -- 10月14日 17:00
薄膜，通常是指形成于基底之上、厚度在一微米或几微米以下的固态材料。薄膜材料广泛应用于不同的工业领域，譬如半导体、光学器件、汽车、新能源等诸多行业。沉积工艺决定了薄膜的成分和结构，最终影响薄膜的物性。马尔文帕纳科的X射线衍射（XRD）和X射线荧光光谱（XRF）分析设备，可以对不同类型的薄膜材料进行表征，帮助用户获取薄膜成分、厚度、微结构、取向等关键信息，帮助研究者优化或控制工艺参数，以改善薄膜材料的性能。
活动福利
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会后参与课程评价还可赢得电脑包和公仔！
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主办单位：马尔文帕纳科 仪器信息网
承办单位：
我要参会
开场致词，公司介绍与薄膜应用概述
程 伟
马尔文帕纳科 先进材料行业销售经理
X射线衍射仪在纳米多层薄膜表征中的应用
朱京涛
同济大学 教授
X射线衍射及X射线荧光分析技术在半导体薄膜领域的应用
钟明光
马尔文帕纳科 亚太区半导体销售经理
多晶薄膜应力和织构分析
王林
马尔文帕纳科 中国区XRD产品经理
答疑 & 课程评价
参与评价赢定制电脑包、马尔文帕纳科公仔
X射线荧光光谱在涂层镀层分析中的应用
熊佳星
马尔文帕纳科 中国区XRF产品经理
课程评价 & 第三轮抽奖 & 结束语
倍思车载无线充电器
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本次会议由中国水产科学研究院主办，若无法参会，请直接联系中国水产科学研究院
联系人：杨臻
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