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会议时间:10月15日 09:00 -- 10月16日 18:00

大会介绍

为面对国际、国内新形势,国家密集出台各项政策、措施,推动中国半导体产业高质量发展。8月,国务院印发《新时期促进集成电路产业和软件产业高质量发展的若干政策》,明确提出鼓励半导体材料和装备产业。中国是全球第一大半导体市场、第二大半导体设备市场、第三大半导体材料市场。繁荣的市场和国家扶持政策,将促进半导体产业链转向国内, 进一步催生国内半导体行业实现自主可控的大潮,开启半导体材料国产化黄金期。中国半导体产业的发展,依赖于半导体材料(硅和先进半导体材料、特种气体、光刻胶、封装材料等)和半导体器件的研究和发展,同样也离不开仪器设备、分析检测方法和标准的支撑。中国科学院半导体研究所、仪器信息网拟于2020年10月15日-16日联合主办首届“半导体材料与器件研究与应用”网络会议(i Conference on Research and Application of Semiconductor Materials and Devices, iCSMD 2020)”,聚焦半导体材料与器件的产业热点方向,组织2天的专业学术交流。本次网络会议旨在利用互联网技术,为国内广大半导体材料与器件研究、应用及检测的相关工作者提供一个突破时间地域限制的免费学习平台,让大家足不出户便能聆听到相关专家的精彩报告。


主办单位:中国科学院半导体研究所 仪器信息网

会议日程

我要参会 10月15日 半导体材料研发、应用及分析检测技术(上)
  • 09:00--09:30 看回放 钙钛矿纳米材料与SPP激光器 王智杰 中国科学院半导体研究所 研究员
  • 09:30--10:00 看回放 赛默飞色谱质谱产品在半导体行业中的的应用 钟新林 赛默飞世尔科技 应用专家
  • 10:00--10:30 看回放 PerkinElmer在半导体制程中的检测方案 华瑞 珀金埃尔默企业管理(上海)有限公司 行业市场经理
  • 10:30--11:00 半导体材料生产与工艺质量监控的先进技术进展 黄鹤 布鲁克(北京)科技有限公司 应用经理
  • 11:00--11:30 看回放 梅特勒-托利多公司半导体行业检测方案 李玉琪 梅特勒-托利多 产品专员
  • 11:30--12:00 看回放 InP基光子集成材料与器件及标准代工平台 赵玲娟 中国科学院半导体研究所 研究员
  • 12:00--13:30 午休 中午休息 全体参会人员
  • 13:30--14:00 Si基GaN材料的MOCVD外延生长及杂质缺陷研究 杨学林 北京大学 高级工程师
  • 14:00--14:30 看回放 阴极发光成像技术的发展及其在表征半导体材料研究中的应用 Sangeetha Hari 荷兰Delmic公司 阴极发光应用专家
  • 14:30--15:00 看回放 电子级水在半导体行业中的应用及解决方案 李子超 默克化工技术(上海)有限公司 高级应用专家
  • 15:00--15:30 看回放 日立电子显微镜在半导体分析中的应用 周鸥 日立高新技术(上海)国际贸易有限公司 经理
  • 15:30--16:00 看回放 半导体纳米材料原子尺度结构性能关系的透射电子显微学研究 李露颖 华中科技大学,武汉光电国家研究中心 教授
  • 16:00--16:30 看回放 扫描探针技术在半导体材料及器件表界面分析中的应用 谢伟广 暨南大学 教授
我要参会 10月16日 半导体材料研发、应用及分析检测技术(下)
  • 09:30--10:00 氧化镓基半导体器件研究进展 刘文军 复旦大学 青年研究员
  • 10:00--10:30 看回放 高纯半导体材料的无机元素分析 应钰 安捷伦科技(中国)有限公司 原子光谱应用工程师
  • 10:30--11:00 看回放 HORIBA Scientific多种分析技术在半导体材料表征中的应用 熊洪武 HORIBA科学仪器事业部 工业大客户经理
  • 11:00--11:30 半导体光电子外延材料国产化 罗帅 江苏华兴激光科技有限公司 总经理
我要参会 10月16日 半导体器件研发、应用及分析检测技术
  • 13:30--14:00 看回放 双模微腔激光器及其应用 黄永箴 中国科学院半导体研究所 研究员
  • 14:00--14:30 看回放 硅光通信与互连:一种变革性的技术 杨林 中国科学院半导体研究所 研究员
  • 14:30--15:00 半导体微纳加工中的硅干法刻蚀技术 王晓东 中国科学院半导体研究所 研究员
  • 15:00--15:30 看回放 电子束曝光及相关技术的研究 韩立 中国科学院电工研究所 副所长
  • 15:30--16:00 半导体产业现状及相关检测技术进展 席善斌 国家半导体器件质量监督检验中心 副主任
  • 16:00--16:30 看回放 硅基III-V族光电器件及其缺陷的表征 樊士钊 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 项目研究员

参会指南

一、报名贴士(敷衍填写将不予审核)

  • 1、请认真填写各项,您的手机号为您的参会凭证。

  • 2、报名后,参与直播可获取会后资料、加交流群。

二、参会方式(手机电脑均可参会)

  • 1、直播前一天,助教会统一审核。审核通过后,会发送参会链接给报名手机号。

  • 2、如无法正常参会,请“备注会议题目”加【微信wljt-02】,帮您解决。

三、会议资料(交流群,会后视频)

  • 1、报名并参与直播可与专家问答交流。会议群会在直播当天展示,会议ppt无法提供。

  • 2、关注【仪器信息网微服务】,微信提醒会议进度,便捷查阅近期会议及视频回放。

  • 3、下载【仪器信息网app】,获得会后回放视频、免费下载10万篇标准、获得实验室操作实战宝典等精品资料。

联系我们

联系人:管先生

电话:17862992005

手机:17862992005(微信同号)

Email:guancg@instrument.com.cn

会议赞助:15718850776(微信同号)刘老师

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