会议时间:08月07日 09:00 -- 08月07日 18:00
1948年,世界第一台波长色散X射线荧光光谱仪研制成功,经历了70多年的发展,X射线荧光光谱仪已成为大多数实验室及工业部门不可或缺的分析仪器设备,X射线荧光光谱分析技术已在各种科研和工业领域得到广泛的应用,而且正在向更深的领域发展,为经济建设和改善人类生活发挥越来越大的作用。
为积极推动X射线荧光光谱的快速发展,展示X射线荧光光谱最新技术及应用,由仪器信息网与国家地质实验测试中心联合举办的"X射线荧光分析技术与应用新进展”网络研讨会将于8月7日举行。此次网络会议为参会者提供一个突破时间地域限制的免费学习、交流平台,让大家足不出户便能聆听到精彩报告。
主办单位:仪器信息网;国家地质实验测试中心
1、单位职位填写意义:专家依此定义讲座内容范围及深度。
2、单位职位填写规范:地区+单位全称,尽量不写小众简称。
3、手机邮箱填写意义:方便会前通知,避免错过直播;您的手机号即您参会密码。请勿乱填手机号。
4、为保网络畅通,仅向全国开放200个免费席位。
1、报名成功,通过审核后您将收到通知;态度敷衍乱填将不予审核。
2、会议当天您将收到短信提醒。点击短信链接,输入报名手机号,即可参会。
1、聆听专业报告、把握前沿动态;与专家实时互动、问答交流。
2、会议群会在当天展示,会议ppt无法向大家提供。
3、视频回放需与报告人确认,下载仪器信息网app可以永久观看可供回放的视频。也可进入仪器信息网,点击进入网络会议栏目,搜您想听的报告回放。